專利名稱：用于恢復和重新定時電磁耦合數據的接收機的制作方法
用于恢復和重新定時電磁耦合數據的接收機
背景技術：
對于包括半導體器件和總線的現代計算機系統(tǒng)，結合有邏輯/通信量跟蹤 探針的驗證系統(tǒng)/工具被用于調試和驗證新的系統(tǒng)和板以供裝運，并且還用于 快速診斷可以是設計或工藝相關的或者兩者兼有的域返回問題，以便避免昂貴 的產品召回。為了支持諸如微處理器等等的速度不斷加快的半導體器件的帶 寬，將此類器件連接到存儲器、圖形和外圍設備的總線上的數據率必須不斷地 升級到更高的速率。出于邏輯驗證的目的觀測此類器件之間的交互，以便調試 這些器件并裝運產品。
使用各種直接附連(direct-attached)方法完成對諸如輸入/輸出(I/O) 總線之類的各種數據總線的探測。示例方法包括與邏輯分析器相關聯的基于電 阻的探針技術。然而，隨著總線速度升級到更高的數據率，這種探測可導致被 測鏈路(LUT)的信號完整性問題。


圖1是根據本發(fā)明的一示例實施例的、電磁耦合到LUT的數據接收機的框圖。
圖2是根據本發(fā)明另一示例實施例的接收機的框圖。 圖3是根據本發(fā)明一個實施例的訓練操作的流程圖。 圖4是根據本發(fā)明一示例實施例的系統(tǒng)的框圖。 圖5是根據本發(fā)明一實施例的待測試系統(tǒng)的框圖。
具體實施例方式
為了減輕探測被測器件(DUT)和被測鏈路(LUT)時的信號完整性問題， 可使用基于附連到LUT的電磁(EM)耦合器的探針技術。EM耦合器使用"受控 的"串擾對LUT信號采樣而僅僅造成對LUT的最小干擾。接著，可以是獨立集 成電路(IC)或其它專用半導體器件的接收機系統(tǒng)被用于恢復、增強所采樣的信號并將其轉換成數字形式以從接收機系統(tǒng)發(fā)送。
更具體地，本發(fā)明的各實施例可提供用于直接附連EM耦合器探針(或耦
合器)的接收機。EM耦合器探針(諸如直接附連的EM耦合器探針)使用由LUT 上的信號耦合而來的反向串擾對LUT采樣。所采樣的信號被用于恢復LUT上呈 現的數字信號。這通過使用電子接收機元件(下文中也稱為接收機)來完成。 耦合器探針輸出LUT信號的類微商(derivative-like)。隨后通過首先積分 該信號來恢復LUT輸出信號。積分功能與微商功能互逆，因此即使在按比例形 式下基帶信號也能得到恢復。本發(fā)明的各實施例可使用耦合到接收機的分析器 件提供對信令驗證或邏輯調試的探測。
圖1是根據本發(fā)明一示例實施例的耦合到LUT的電磁接收機的框圖。還可 使用其它實施例和配置。圖1所示的實施例可涉及在LUT上傳送的直流(DC) 平衡或非DC平衡數據。作為一個示例，DC平衡數據可包括被編碼到數據信號 中的時鐘信號。
圖1示出通過LUT 70連接的發(fā)送器件50和接收器件60。術語LUT是指發(fā) 送器件50和接收器件60之間的至少一個信號連接。發(fā)送器件50和接收器件 60可以是通過總線、互連、信號線、印刷電路板(pcb)跡線、撓曲電纜、微 型同軸電纜和/或其它電氣連接裝置連接的不同的IC或其它半導體元件。
發(fā)送器件50可包括處理電路或其它此類電路來生成要在LUT 70上發(fā)送到 接收器件60的數據。數據可以是差分DC編碼數據。發(fā)送器件50可被設置在 一個芯片上而接收器件60可被設置在另一個芯片上，從而至少LUT 70被連接 在這兩個芯片之間以使數據能在這兩個芯片之間傳送?？稍诋a品(其包括這兩 個芯片中的至少之一)驗證過程期間、在產品(其包括這兩個芯片中的至少之 一)調試期間和/或在產品(其包括這兩個芯片中的至少之一)實際使用期間 發(fā)送和/或驗證數據。
圖1所示的EM接收機100可包括耦合到LUT 70的EM耦合器探針110和 連接到EM耦合器探針110的接收機120。接收機120可使用微型同軸電纜、印 刷電路板(pcb)跡線、撓曲電纜和/或其它電氣連接裝置連接到EM耦合器探 針I(yè)IO。 EM耦合器探針I(yè)IO可提供采樣電磁信號。作為一個示例，EM耦合器探 針110可包括為LUT 70的每個差分跡線對提供的兩個平行的信號跡線。EM耦 合器探針I(yè)IO可被耦合到LUT 70，例如直接耦合到LUT 70。另外，EM耦合器 探針110可通過電感耦合和電容耦合兩者被交流(AC)耦合到LUT70。作為一個示例，作為耦合信號對LUT信號的量度的耦合器探針強度可被設置在約
0. 1〈K?！?.2之間，其中K。被定義為用以去除LUT信號功率的約1%到4%的耦合 系數(即，耦合器輸出電壓與耦合器探針輸入端的LUT電壓的比率)。這可使 LUT信號完整性影響最小化。EM耦合器探針110的其它示例也在本發(fā)明的范圍 內。
接收機120可基于在LUT 70上傳送的數據(或數據模式)從EM耦合器探 針I(yè)IO接收采樣電磁信號。接收機120可處理該數據以生成可被發(fā)送到諸如邏
輯分析器之類的另一個器件的經恢復且經重新定時的數字信號，或者直接分析 該數據。EM接收機100的接收機120的輸入和輸出可以是差分的。接收機120 的輸出信號可被提供給分析器件以驗證LUT上的數據或使之無效。分析器件可 以是示波器、邏輯分析器或分析所恢復數據的其它裝置。接收機120還可直接 處理該數據。因此，接收機120對所接收的電磁信號執(zhí)行信號處理以使與所采 樣的信號相對應的經重新定時的數字數據信號被驗證。
在一個實施例中，從EM耦合器探針110接收的EM耦合信號首先由模擬前 端(AFE) 125恢復和放大，其中AFE125可包括諸如積分器、放大器和均衡器 以及固定偏差(droop)控制電路之類的各種電路。經調節(jié)的模擬信號從AFE 125 被提供到重新定時器130，重新定時器130將模擬波形轉換成數字位、執(zhí)行時
鐘一數據恢復并且將輸入的數據流重新定時到不同的時鐘。在一個實現中，重 新定時器130可包括至少兩個并行路徑，其中之一是生成用于輸出到發(fā)射機145
的經重新定時的數字數據的數據路徑，而被稱為誤差路徑的第二并行路徑將有 關各種信息的反饋信息提供到有限狀態(tài)機(FSM) 140，其中所述各種信息可用 于控制重新定時器130的數據路徑的釆樣時鐘。在該實現中，每個并行路徑又 可包括對處于不同時鐘相位的輸入模擬信號采樣的采樣器，這由FSM140控制。 例如，每個并行路徑可包括多個采樣器，例如四個這樣的采樣器，其中之一由 相應的采樣時鐘(即，數據路徑的數據采樣時鐘和誤差路徑的誤差采樣時鐘) 計時，而其余釆樣器可由相應的、相對于采樣時鐘處于不同相位的誤差時鐘計 時。通過反饋關于由每個采樣器在這些不同的時鐘相位所采樣的值的信息，FSM 140可精確地控制數據采樣時鐘的相位使得時鐘被定位于數據眼(data eye) 的基本中點以便獲得最佳性能。
注意，被生成用于控制采樣器的時鐘又可響應于來自FSM 140的控制信息 生成，FSM140可將這種信息提供到重新定時器130中的多個相位內插器(PI)。如此，重新定時器130還可包括諸如鎖相環(huán)路(PLL)或延遲鎖定環(huán)路(DLL) 之類的時鐘控制機制以生成被提供給相位內插器的時鐘，每個相位內插器隨后 調整該時鐘以生成各種采樣時鐘和誤差時鐘。
FSM 140為模擬前端120和重新定時器130提供控制設置的自動訓練和校 準。還可從外部重寫和監(jiān)視這些設置?？蓮耐獠坑布?軟件或其它控制接口接 收這種重寫控制信號。最后，發(fā)射機145連接到重新定時器130的輸出端以發(fā) 送來自接收機120的數字數據。
各實施例可將經重新定時的數字化位發(fā)送到不同實施例中的各種位置。例 如，在一個實現中，經重新定時的數字化數據可被發(fā)送到分析設備或包含用于 數據分析和系統(tǒng)調試的邏輯功能的專用集成電路(ASIC)?；蛘?，可通過將更 多的發(fā)射機添加到接收機中(例如，并聯的多個發(fā)射機145)將高速傳入數據 流轉換成較低速度的通信量，從而可使用現場可編程門陣列(FPGA)代替ASIC。 注意，在不同的實施例中，鏈路層和協(xié)議功能可被集成到接收機120或后端ASIC 中。
為確保最佳性能，各實施例還可包括管芯上觀測儀器(sc叩e)來監(jiān)視傳 入數據眼的眼張開(eye叩ening)以及基于眼寬(eye width)的訓練控制設 置。如圖2所示，可與圖1的接收機120類似地安排接收機120'。然而，注意， 可提供管芯上觀測儀器135來確定關于數據眼的眼張開信息。如圖所示，管芯 上觀測儀器(ODS) 135可被耦合為從重新定時器130接收信息并向FSM140提 供對眼張開的測量。在一個實施例中，這種眼張開信息可與數據眼的寬度相對 應。或者，其它眼張開信息，諸如眼張開幅度、眼張開區(qū)域或其它數據眼度量 信息。出于反饋和訓練目的，可向也被用于采樣數據的一個或多個時鐘(例如， 誤差采樣時鐘)提供這種信息。
基于該信息，FSM 140可將控制信息發(fā)送到AFE 125和重新定時器130兩 者。例如，基于所接收的信息，FSM 140可控制諸如均衡器、固定偏差控制、 偏移控制、輸入終端電阻、積分器等等各種模擬前端元件。此外，FSM 140可 向重新定時器130提供控制信息，例如一個或多個相位內插器的控制信息，從 而動態(tài)地更新在重新定時器130中使用的一個或多個采樣時鐘。
各實施例可在通電之后執(zhí)行初始校準以及實時訓練以補償諸如電壓、溫度 等等時變因素。注意，可使用已知或者未知或非確定性的(即隨機的)傳入信 息完成所執(zhí)行的初始訓練。即，對于該訓練相位，不需要耦合到LUT的發(fā)射機來發(fā)送已知訓練模式。相反，各實施例可使用隨機信息執(zhí)行訓練。更具體地，
0DS 135和FSM 140可通過使用傳入數據流中存在的轉換而不是搜索和鎖定已 知訓練模式來執(zhí)行校準。這樣，可建立窗口，數據眼的轉換在該窗口周圍發(fā)生， 并且背離該窗口且朝向數據眼的中心移動數據采樣時鐘。例如，由ODS 135向 FSM 140提供的信息可包括多個計數值，每一個對應于在與眼寬相關聯的給定 窗口中發(fā)生的轉換?；蛘?，可將轉換指示從ODS 135發(fā)送到FSM 140， FSM 140 可計數在每個窗口中發(fā)生的轉換。例如，可建立三個窗口，其中每個對應于采 樣時鐘和誤差時鐘之間的單位間隔(UI)的一部分?？蔀槊總€窗口保持計數值 并且將該計數值從ODS 135提供到FSM 140。 FSM 140可分析多個計數值以確 定具有最小數量的轉換的窗口，該窗口可能對應于基本上在數據眼的中心發(fā)生
的采樣時鐘相位。然而，其它實現是可能的。注意，同一接收機中的各個通道 (lane)可被獨立地訓練。H卩，在各種實現中，圖1的接收機120和圖2的接 收機120'可具有多個通道或路徑，每一個被配置為與圖l和圖2所示的相同， 其每個路徑與接收機所耦合到的LUT的給定差分通道相關聯。
實施訓練的各種方式可在不同實施例中實現?，F在參考圖3，所示出的是 根據本發(fā)明一個實施例的訓練操作的流程圖。如圖3所示，過程200可對應于 發(fā)生在初始化以及在正常系統(tǒng)操作期間兩者的訓練以使得能夠根據本發(fā)明的 實施例對接收機內的各種參數進行自適應控制。
如圖3所示，方法200可通過掃描偏移設置來開始。這種偏移設置可與EM 耦合器信道或接收機的模擬前端內的一個或多個增益級相關聯。因為在傳入數 據的多個循環(huán)期間各種偏移值被提供給諸如模擬前端的一個或多個增益級之 類的不同元件，所以可確定最佳設置。更具體地，當從AFE 125的輸出端生成 的輸出數據觸發(fā)(toggle)時可出現最佳設置。即，在一些實現中，尤其在差 分實現中，當正信號線和負信號線上的值觸發(fā)時，這可以是最佳偏移設置的指 示。因此，在框210，可獲得該偏移設置并將其用于向模擬前端的各種元件提 供控制信號。注意，在一些實現中，重新定時器130的反饋路徑(例如，關于 圖1)可提供被分析以確定輸出觸發(fā)的數據輸出。
仍參考圖3，接下來在框220，可在一定范圍的此類設置中掃描固定偏差 設置。通過使用這些固定偏差設置，可確定基于眼大小的最佳固定偏差設置。 注意，框220包括嵌套循環(huán)，其中在框225對于每個固定偏差設置掃描一定范 圍的均衡設置。因而對第一固定偏差設置掃描一定范圍的均衡設置。在該范圍
9的被掃描均衡設置中，可基于眼大小確定最佳設置。S卩，在該范圍的均衡設置 中， 一個這樣的設置可提供具有最大值的眼寬。被掃描均衡值的這一均衡設置
可被存儲在例如與FSM相關聯的臨時存儲器中。控制隨后返回框220以掃描固
定偏差設置，例如將固定偏差設置調整到一定范圍設置定時的下一組值。再一 次，可對該更新的固定偏差設置掃描均衡設置，并且可再次確定與最寬的眼寬 相關聯的均衡設置。可重復執(zhí)行這些操作直至所有固定偏差設置被掃描。因此，
在框220的結尾，可基于多個固定偏差設置的具有最佳性能(例如，最大眼寬) 的給定的一個設置來設定最佳確定的固定偏差/均衡設置。如此，模擬前端的 這些各種值可經由控制信號從FSM 140施加到AFE 130以實現接收機120的最 佳操作。在這種訓練之后，正常接收機操作可進行，并且圖3的訓練方法可進 入空閑階段230。
為在實時操作期間進一步提供自適應行為，附加的實時訓練可進行。具體 地，在可由用戶控制的或由外部元件設定的或者如FSM確定的給定間隔，可確 定偏移軌跡啟用是否已經開始(菱形240)。如果是這樣，則可更新偏移設置。 如框245所示，這種設置可基于眼測量。例如，偏移設置可在第一方向以及所 測眼寬上更新。如果眼寬變得更大，則可使用偏移控制的這一經更新的設置。 如果沒有，則可在另一方向上調整設置(從原始設置)以確定眼寬是否改變?yōu)?更寬的寬度。如果是這樣，則第二經更新的值可被應用于控制偏移值。否則不 進行控制值的更新。如圖3所示，控制從框245返回框230。
仍參考圖3，稍后可確定偏移軌跡啟用是否已開始。如果沒有，則控制可 傳遞到菱形250以確定固定偏差軌跡更新是否已啟用。如果是這樣，則控制傳 遞到框255，在此可更新固定偏差設置。以與以上關于框245所述的類似的方 式，是否更新固定偏差設置的判定可基于當前眼寬值與對相應的經更新的固定 偏差設置確定的眼寬值之間的眼寬測量。在這種更新(如果被執(zhí)行)之后，控 制傳遞回框230。再一次，稍后可確定偏移軌跡更新、固定偏差軌跡更新或均 衡器軌跡更新是否已啟用。如果均衡器軌跡更新已在菱形260啟用，則控制可 傳遞到框265，在此可更新均衡器設置。如同框245和255的情況一樣，這種 均衡器更新可基于眼寬的測量。在這種更新之后，控制傳遞回框230。盡管利 用圖3的實施例中的這一特殊實現來描述，但是本發(fā)明的范圍在這方面不受限 制。例如，訓練算法可擴展到可使用的任何其它控制設置(例如，AFE輸入終 端)因而各實施例提供使用非侵入性探測技術對高速串行總線進行原位調試 和測試，這降低了對于諸如桌上型電腦和服務器處理機之類的各種元件的每單 位成本。此外，通過啟用EM探針耦合，可實現顯著的管芯面積節(jié)省，因為可 去除管芯上鏡像端口 (mirror-port)(用作測試端口)。各實施例可用于探 測各種總線體系結構，諸如點對點互連技術、基于PCI Express 規(guī)范基礎說 明書1.1版本(2005年3月28日發(fā)布)的外設部件互連(PCI)ExpressTM(PCIeTM) 鏈路、雙數據率(DDR)以及其它高數據率總線/鏈路探測應用。另外，各實施 例可用于電磁探測而不需要雙列直插存儲器模塊(DIMM)或其它此類設備上的 中繼器。
在提高的被監(jiān)視鏈路速率方面改進的邏輯探測可靠性和性能可提供對產 品的更快速調試以使產品能被更快速地引入市場，以及對故障報告的現場返回 的更快速調試以確保故障可被隔離并且軟件、測試、處理或其它工作區(qū)可被及 時識別以防止昂貴的返回和召回。
圖4是根據本發(fā)明一示例實施例的系統(tǒng)的示圖。還可使用其它實施例和配 置。更具體地，圖4示出以與以上關于圖1所述的類似的方式通過LUT 70連 接的發(fā)送器件50和接收器件60。在該示例中，DC平衡數據信號或非DC平衡 數據信號可在發(fā)送器件50和接收器件60之間傳送。
圖4還示出EM接收機400，其包括耦合到LUT 70的EM耦合器探針110和 耦合到EM耦合器探針110的接收機420。 EM耦合器探針110可提供采樣電磁 信號。接收機420可基于在LUT 70上傳送的數據(或數據模式)從EM耦合器 探針110接收采樣電磁信號。接收機420可提供數字化的重新定時的信號，并 且可對應于上述的接收機120或120'或者基于從EM耦合器探針110接收的電
磁信號提供經恢復的且經重新定時的數字信號的另一接收機。
圖4另外示出耦合到接收機420的分析器件430以接收經重新定時的信號 且驗證這些信號或使之無效。分析器件430可包括示波器、邏輯分析器、定制 硬件/軟件和/或固件以分析數字信號。作為一個示例，分析器件430可將輸入 數字數據與對應于越過LUT 70傳送的數據的測試數據相比較。該測試數據可 被適當地存儲在存儲器件中的分析器件430上并且在被存儲于其上之前可從另 一個源提供。
各實施例可用于探測許多不同的系統(tǒng)類型?，F在參考圖5，所示出的是根 據本發(fā)明一實施例的系統(tǒng)的框圖。如圖5所示，多處理器系統(tǒng)500是點對點互連系統(tǒng)，并且包括經由點對點互連550耦合的第一處理器570和第二處理器 580。如圖5所示，處理器570和580中的每一個都可以是多核處理器，包括 第一和第二處理器核(即，處理器核574a與574b以及處理器核584a與584b)。 作為一個示例，可使用EM耦合探測互連550，而根據本發(fā)明一實施例EM耦合 又耦合到接收機。注意，其它體系結構是可能的。例如，代替圖5的點對點體 系結構，系統(tǒng)可實施多點總線或另一此類體系結構。
仍參考圖5，第一處理器570還包括存儲器控制器集線器(MCH) 572與點 對點(P-P)接口 576和578。類似地，第二處理器580包括MCH 582與P-P接 口 586和588。如圖5所示，MCH 572和582將各處理器耦合到各自的存儲器， 即存儲器532和存儲器534，這些存儲器可以是主存儲器(例如，動態(tài)隨機存 取存儲器(DRAM))的本地附連到相應處理器的部分。第一處理器570和第二 處理器580可分別經由P-P互連552和554耦合到芯片組590。如圖5所示， 芯片組590包括P-P接口 594和598。
此外，芯片組590包括經由P-P互連539將芯片組590與高性能圖形引擎 538耦合的接口 592。接著，芯片組590可經由接口 596耦合到第一總線516。 如圖5所示，各種1/0設備514可與將第一總線516耦合到第二總線520的總 線橋接器518 —起耦合到第一總線516。各種設備可被耦合到第二總線520， 例如鍵盤/鼠標522、通信設備526以及諸如磁盤驅動器或其它大容量存儲設備 之類的數據存儲單元528，比如在一個實施例中該數據存儲單元528可包括代 碼530。此外，音頻1/0可被耦合到第二總線520。
各實施例可被實現為代碼并且可被存儲在其上存儲有指令的存儲介質上， 其中這些指令可用于編程系統(tǒng)以執(zhí)行這些指令。存儲介質可包括但不限于任何 類型的磁盤，包括軟盤、光盤、壓縮盤只讀存儲器(CD-ROM)、可重寫壓縮盤 (CD-RW)以及磁光盤，半導體器件，比如只讀存儲器(ROM)、諸如動態(tài)隨機 存取存儲器(DRAM)、靜態(tài)隨機存取存儲器(SRAM)之類的隨機存取存儲器(RAM)、 可擦除可編程只讀存儲器(EPROM)、閃存、電可擦除可編程只讀存儲器 (EEPROM)，磁卡或光卡，或適于存儲電子指令的任何其它類型的介質。
盡管已關于有限數量的實施例描述了本發(fā)明，本領域中的技術人員將從中 認識到許多修改和變型。所附權利要求書旨在涵蓋落入本發(fā)明的真實精神和范 圍內的所有這些修改和變型。
權利要求
1.一種集成電路，包括從電磁耦合器探針接收所采樣的電磁信號的接收機器件，其中所述電磁耦合器探針對來自被測器件(DUT)或被測鏈路(LUT)的信號電磁采樣，所述接收機器件輸出與來自所述DUT或所述LUT的所述信號相對應的數字信號。
2. 如權利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述接收機器件包括接收所述經電磁采樣的信號并且將所采樣的信號轉換成所述數字信號的重新定時器。
3. 如權利要求2所述的集成電路，其特征在于，還包括耦合到所述重新定時器的、從所述重新定時器接收眼大小信息并且向有限狀態(tài)機(FSM)提供眼大小測量的管芯上觀測儀器。
4. 如權利要求3所述的集成電路，其特征在于，所述FSM響應于來自所述管芯上觀測儀器的反饋信息控制所述重新定時器的采樣時鐘的相位。
5. 如權利要求2所述的集成電路，其特征在于，還包括耦合到所述重新定時器的、調節(jié)所述數字信號以向附連到所述接收機器件的邏輯分析器或分析專用集成電路(ASIC)發(fā)送的發(fā)射機。
6. 如權利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述集成電路還包括接收所述經電磁釆樣的信號并且調節(jié)所采樣信號的模擬前端，其中所述模擬前端的輸出端連接到所述重新定時器的輸入端。
7. 如權利要求6所述的集成電路，其特征在于，所述FSM在訓練相位期間執(zhí)行對所述模擬前端的自適應控制，在所述訓練相位中在所述LUT上傳送的非確定性數據被從所述電磁耦合器探針提供到所述接收機器件。
8. 如權利要求7所述的集成電路，其特征在于，所述FSM至少部分地基于所述非確定性數據確定采樣時鐘的最佳位置。
9. 一種方法，包括從耦合到接收機電路中的被測鏈路(LUT)的電磁探針接收非確定性數據，其中所述接收機電路耦合到所述電磁探針；調整所述接收機電路的模擬前端(AFE)的至少一個第一控制設置直至來自所述AFE的輸出信號觸發(fā)；針對第一多個迭代調整至少一個第二控制設置并且在每個迭代確定與所述非確定性數據相對應的數據眼的大?。辉O置所述至少一個第一控制設置與所述輸出信號觸發(fā)時的設置相對應，并且基于所確定的數據眼大小設置所述至少一個第二控制設置以完成所述接收機電路的訓練相位；以及在對所述LUT的測試操作期間自適應地更新所述第一和第二控制設置中的至少一個。
10. 如權利要求9所述的方法，其特征在于，還包括在所述第一多個迭代的每一個針對第二多個迭代調整至少一個第三控制設置。
11. 如權利要求10所述的方法，其特征在于，所述第一控制設置、所述第二控制設置和所述第三控制設置分別包括偏移設置、固定偏差設置和均衡設置。
12. 如權利要求9所述的方法，其特征在于，還包括確定所述接收機電路的管芯上觀測儀器中的數據眼大小，其中所述接收機電路是耦合到所述電磁探針的集成電路。
13. 如權利要求12所述的方法，其特征在于，還包括從所述管芯上觀測儀器接收狀態(tài)機中的數據眼大小并且至少部分地基于所述數據眼大小控制所述接收機電路的重新定時器的采樣時鐘。
14. 如權利要求13所述的方法，其特征在于，還包括響應于所述采樣時鐘采樣所述重新定時器中的非確定性數據并且從所述接收機電路發(fā)送與所述非確定性數據相對應的數字信號。
15. —種系統(tǒng)，包括對來自被測器件(DUT)的信號電磁采樣的電磁耦合器探針；以及耦合到所述電磁耦合器探針的、從所述電磁耦合器探針接收所采樣的電磁信號并且輸出與所采樣的電磁信號相對應的數字信號的接收機器件。
16. 如權利要求15所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述接收機器件包括接收所述經采樣的電磁信號并且將所述經采樣的電磁信號轉換成所述數字信號的重新定時器。
17. 如權利要求16所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括耦合到所述重新定時器的、從所述重新定時器接收眼寬信息并且向有限狀態(tài)機(FSM)提供眼寬測量的管芯上觀測儀器。
18. 如權利要求17所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述接收機器件是還包括模擬前端的集成電路，所述模擬前端接收所述經釆樣的電磁信號并且調節(jié)所述經采樣的電磁信號，所述模擬前端的輸出端耦合到所述重新定時器的輸入端。
19. 如權利要求18所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述FSM在訓練相位期間執(zhí)行對所述重新定時器的自適應控制，在所述訓練相位中在所述DUT上傳送的非確定性數據被從所述電磁耦合器探針提供到所述接收機器件。
20. 如權利要求19所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述FSM在正常測試操作期間執(zhí)行所述自適應控制以更新在所述訓練相位期間確定的至少一個設置。
全文摘要
在一個實施例中，本發(fā)明包括具有電磁耦合器探針和接收機的系統(tǒng)，該電磁耦合器探針對來自被測器件或被測鏈路的信號進行電磁采樣，接收機例如被配置為從探針接收經采樣的電磁信號并且輸出與之相對應的數字信號的集成電路。還描述并要求保護其它實施例。
文檔編號H04L25/02GK101552749SQ20091013326
公開日2009年10月7日 申請日期2009年4月1日 優(yōu)先權日2008年4月1日
發(fā)明者L·泰特, M·貝克, Q·張, T·?？? Z·楊 申請人:英特爾公司