專利名稱：分支光纖檢測系統(tǒng)及方法、光分配網(wǎng)絡(luò)和分光器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光網(wǎng)絡(luò)通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種分支光纖檢測系統(tǒng)和方法，以及一種可以用于上述分支光纖檢測系統(tǒng)的光分配網(wǎng)絡(luò)和分光器。
背景技術(shù)：
無源光網(wǎng)絡(luò)(Passive Optical Network, PON)系統(tǒng)是一種點(diǎn)到多點(diǎn)的光接入網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，其通常包括位于局端的光線路終端(Optical Line Terminal, 0LT)和位于用戶側(cè)的多個(gè)光網(wǎng)絡(luò)單元(Optical Network Unit, 0NU)。其中OLT和ONU之間采用光分配網(wǎng)絡(luò) (Optical Distribution Network, 0DN)進(jìn)行連接，該ODN通常包括分光器。該分光器可以用來實(shí)現(xiàn)將來自局端的下行光信號通過分支光纖分配給對應(yīng)用戶，并將來自各個(gè)用戶的上行光信號匯聚到主干光纖并發(fā)送給局端設(shè)備。為實(shí)現(xiàn)光纖檢測，在現(xiàn)有的ODN的分光器中，連接不同分支光纖的用戶側(cè)端口通常會(huì)設(shè)置有不同的帶通濾波器，并且與局端設(shè)備連接的主干光纖可連接有光時(shí)域反射儀 (Optical Time Domain Ref lectometer，0TDR)。在進(jìn)行光纖檢測時(shí)，該OTDR可發(fā)出具有多個(gè)不同中心波長的測試光譜，其中該測試光譜的每個(gè)中心波長分別對應(yīng)于配置在該分光器中一個(gè)用戶側(cè)端口的帶通濾波器。該測試光譜經(jīng)過在各個(gè)帶通濾波器發(fā)生帶通濾波之后， 傳輸?shù)礁鱾€(gè)分支光纖的測試信號分別對應(yīng)于不同的中心波長。該不同波長的測試信號在分支光纖發(fā)生反射之后，反射光經(jīng)過該分光器后返回該主干光纖。該OTDR通過檢測該主干光纖傳輸?shù)姆瓷涔?，便可獲知各個(gè)分支光纖的信道特性，比如是否發(fā)生斷纖以及光纖的損耗分布等。不過，在大分光比的PON系統(tǒng)中，比如在分光比為1 N的網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)下，經(jīng)過分光器的分光和帶通濾波之后，發(fā)送到各個(gè)分支光纖的測試信號以及對應(yīng)的反射信號的光強(qiáng)度只有OTDR光源光強(qiáng)度的1/N。在采用二級分光或者多級分光的情況下，各個(gè)測試信號和反射信號的光強(qiáng)度更低。因此，現(xiàn)有技術(shù)的分支光纖檢測方案存在光利用率低的問題，此容易導(dǎo)致OTDR在主干光纖上檢測到的反射光的信噪比過低而可能造成誤檢。另一方面，在現(xiàn)有技術(shù)的分支光纖檢測方案中，需要在分光器的用戶側(cè)端口分別為各個(gè)分支光纖配置不同的帶通濾波器，此將導(dǎo)致倉儲(chǔ)和系統(tǒng)維護(hù)成本過高。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種可解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在問題的分支光纖檢測系統(tǒng)和方法，同時(shí)有必要提供一種可采用該分支光纖檢測方法的光分配網(wǎng)絡(luò)以及風(fēng)光器。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案本發(fā)明實(shí)施例一方面提供一種分支光纖檢測系統(tǒng)，包括主干光纖、分光模塊和多個(gè)分支光纖，所述主干光纖的一端耦合有測試設(shè)備，另一端通過所述分光模塊連接到所述多個(gè)分支光纖，所述分光模塊包括至少一個(gè)分光器，所述至少一個(gè)分光器的各個(gè)端口按照預(yù)設(shè)規(guī)則設(shè)置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進(jìn)行帶通濾波的光學(xué)膜，且所述光學(xué)膜使得所述分光模塊中與各個(gè)分支光纖相對應(yīng)的測試鏈路的通帶不同；所述測試設(shè)備用于根據(jù)待測分支光纖所對應(yīng)的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學(xué)膜相匹配的測試波長子帶，向光纖網(wǎng)絡(luò)發(fā)送與所選測試波長子帶相對應(yīng)的測試信號，并且接收所述測試信號在對應(yīng)分支光纖反射而形成的反射信號，并根據(jù)反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。本發(fā)明實(shí)施例另一方面提供一種分支光纖檢測方法，應(yīng)用于點(diǎn)到多點(diǎn)的光纖網(wǎng)絡(luò)，所述光纖網(wǎng)絡(luò)包括主干光纖、分光模塊和多個(gè)分支光纖，所述分光模塊包括至少一個(gè)分光器，所述至少一個(gè)分光器的各個(gè)端口按照預(yù)設(shè)規(guī)則進(jìn)行鍍膜以使所述分光模塊中與各個(gè)分支光纖相對應(yīng)的測試鏈路的通帶不同，所述方法包括根據(jù)待測分支光纖所對應(yīng)的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學(xué)膜相匹配的測試波長子帶，向所述光纖網(wǎng)絡(luò)發(fā)送與所選測試波長子帶相對應(yīng)的測試信號，通過所述分光器端口的鍍膜，所述測試信號經(jīng)過所述待測分支光纖所對應(yīng)的分光器端口并傳輸至所述待測分支光纖，而在其他分支光纖對應(yīng)的分光器端口被濾除而不進(jìn)入其他分支光纖；接收所述測試信號在待測分支光纖反射而形成的反射信號，并根據(jù)所述反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。本發(fā)明實(shí)施例還提供一種光分配網(wǎng)絡(luò)，包括主干光纖、分光模塊和多個(gè)分支光纖， 其中，所述分光模塊包括至少一個(gè)分光器，所述至少一個(gè)分光器的各個(gè)端口按照預(yù)設(shè)規(guī)則設(shè)置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進(jìn)行帶通濾波的光學(xué)膜，且所述光學(xué)膜使得所述分光模塊中與各個(gè)分支光纖相對應(yīng)的測試鏈路的通帶不同。進(jìn)一步地，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種可以用于上述光分配網(wǎng)絡(luò)的分光器，其包括多個(gè)分光器端口，其中各個(gè)分光器端口通過鍍膜的方式對傳送至所述分光器端口的光信號進(jìn)行帶通濾波，且不同分光器端口的通帶不同。本發(fā)明實(shí)施例提供的各種方案通過在光分配網(wǎng)絡(luò)中分光器端口采用預(yù)設(shè)規(guī)則進(jìn)行鍍膜以實(shí)現(xiàn)在各個(gè)分光器端口對測試信號進(jìn)行帶通濾波，從而降低分光器的倉儲(chǔ)和維護(hù)成本。并且，在進(jìn)行分支光纖檢測時(shí)，測試設(shè)備(如光時(shí)域反射儀0TDR)根據(jù)待測分支光纖所對應(yīng)的鍍膜方式，在測試光譜中選擇與所述分支光纖對應(yīng)的分光器端口相匹配的測試波長子帶并發(fā)送波長與所選擇的測試波長子帶相對應(yīng)的測試信號，使測試信號在待測分支光纖對應(yīng)的測試鏈路上的傳輸過程中不會(huì)發(fā)生大量光功率衰減，從而提高分支光纖檢測時(shí)的光利用率，提高測試精度。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的方案可以適用的PON系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1所示PON系統(tǒng)的光分配網(wǎng)絡(luò)采用一級分光時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為圖1所示PON系統(tǒng)的光分配網(wǎng)絡(luò)采用兩級分光時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為圖1所示PON系統(tǒng)的光分配網(wǎng)絡(luò)采用多級分光時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例的分支光纖檢測系統(tǒng)采用一級分光時(shí)分光器端口鍍膜示意圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例的分支光纖檢測系統(tǒng)采用兩級分光時(shí)第二級分光器端口鍍膜示意圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施例的分支光纖檢測系統(tǒng)采用兩級分光時(shí)第一級分光器端口鍍膜示意圖；圖8為本發(fā)明實(shí)施例的分支光纖檢測方法的流程圖；圖9為本發(fā)明實(shí)施例的分支光纖檢測系統(tǒng)的流程圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明實(shí)施例提供的分支光纖檢測方法、系統(tǒng)和分光器進(jìn)行詳細(xì)的說明。本發(fā)明實(shí)施例提供的各種技術(shù)方案可以適用于點(diǎn)到多點(diǎn)的光纖網(wǎng)絡(luò)，如無源光網(wǎng)絡(luò)PON系統(tǒng)。為便于理解，以下實(shí)施例以應(yīng)用在PON系統(tǒng)為例進(jìn)行描述，不過，應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明實(shí)施例提供的各種技術(shù)方案并不限于應(yīng)用在PON系統(tǒng)，所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以通過以下具體實(shí)施方式
的內(nèi)容知悉，本發(fā)明實(shí)施例提供的各種技術(shù)方案還可以應(yīng)用于其他光纖網(wǎng)絡(luò)。本發(fā)明實(shí)施例為解決現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，通過在光分配網(wǎng)絡(luò)中分光器端口采用預(yù)設(shè)規(guī)則進(jìn)行鍍膜以實(shí)現(xiàn)在各個(gè)分光器端口對測試信號進(jìn)行帶通濾波，從而降低分光器的倉儲(chǔ)和維護(hù)成本。并且，在進(jìn)行分支光纖檢測時(shí)，測試設(shè)備(如光時(shí)域反射儀0TDR)根據(jù)待測分支光纖所對應(yīng)的鍍膜方式，在測試光譜中選擇與所述分支光纖對應(yīng)的分光器端口相匹配的測試波長子帶并發(fā)送波長與所選擇的測試波長子帶相對應(yīng)的測試信號，使測試信號在待測分支光纖對應(yīng)的測試鏈路上的傳輸過程中不會(huì)發(fā)生大量光功率衰減，從而提高分支光纖檢測時(shí)的光利用率，提高測試精度。請參閱圖1，其為本發(fā)明實(shí)施例可以應(yīng)用在的無源光網(wǎng)絡(luò)PON系統(tǒng)的架構(gòu)圖。所述 PON系統(tǒng)100包括局端通信設(shè)備(比如光線路終端0LT) 110、測試設(shè)備(比如光時(shí)域反射儀 0TDR)120、光分配網(wǎng)絡(luò)ODN 130和多個(gè)用戶側(cè)通信設(shè)備(比如光網(wǎng)絡(luò)單元0NU) 140。其中， 所述局端通信設(shè)備110通過所述光分配網(wǎng)絡(luò)130以點(diǎn)到多點(diǎn)的方式連接到所述用戶側(cè)通信設(shè)備140。并且，通過所述光分配網(wǎng)絡(luò)130，在下行方向，所述局端通信設(shè)備110可以采用時(shí)分復(fù)用(TDM)的方式與所述多個(gè)用戶側(cè)通信設(shè)備140進(jìn)行通信，而在上行方向，所述多個(gè)用戶側(cè)通信設(shè)備140可采用時(shí)分多址(TDMA)的方式與所述局端通信設(shè)備110進(jìn)行通信。所述光分配網(wǎng)絡(luò)130可以包括主干光纖131、分光模塊132和多個(gè)分支光纖133。 其中所述分光模塊132包括網(wǎng)絡(luò)側(cè)端口 134和多個(gè)用戶側(cè)端口 135。所述網(wǎng)絡(luò)側(cè)端口 134 通過所述主干光纖131連接到所述局端通信設(shè)備110，且每個(gè)用戶側(cè)端口 135分別通過一個(gè)分支光纖133連接到對應(yīng)的用戶側(cè)通信設(shè)備140。所述測試設(shè)備120可通過波分復(fù)用器(WDM)耦合到所述主干光纖131，且其可以用于通過所述主干光纖131和分光模塊132向所述分支光纖133發(fā)送測試信號，并接收所述測試信號在所述分支光纖133反射而返回的反射信號。在具體實(shí)施例中，所述測試設(shè)備120 采用可調(diào)激光器進(jìn)行測試信號的發(fā)送，并且其發(fā)送的用于檢測不同分支光纖的測試信號各不相同。比如，所述測試設(shè)備120采用的測試光譜可以包括多個(gè)測試波長子帶，且其發(fā)出的用于檢測不同分支光纖的測試信號的波長可以分別位于其中不同的測試波長子帶，即不同分支光纖分別對應(yīng)于不同的測試波長子帶。并且，所述測試設(shè)備120內(nèi)部可以預(yù)先配置有所述分支光纖與波長子帶的對應(yīng)關(guān)系，并且在對某一分支光纖進(jìn)行檢測時(shí)可根據(jù)所述對應(yīng)關(guān)系選擇與所述分支光纖對應(yīng)的測試波長子帶并發(fā)送對應(yīng)的測試信號。
在所述光分配網(wǎng)絡(luò)130中，所述分光模塊132可通過分光器(Splitter)對來自局端的下行光信號(包括測試設(shè)備120發(fā)送的測試信號)進(jìn)行分路處理，并對來自用戶側(cè)的上行光信號進(jìn)行匯聚處理。在具體實(shí)現(xiàn)上，所述光分配網(wǎng)絡(luò)130可以通過一個(gè)或多個(gè)分光器實(shí)現(xiàn)一級分光、兩級分光或者多級分光。具體地，請參閱圖2，當(dāng)所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用一級分光時(shí)，所述分光模塊132可以為一個(gè)單獨(dú)的分光器，且該分光器的各個(gè)端口可作為所述用戶側(cè)端口 135。請參閱圖3， 當(dāng)所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用兩級分光時(shí)，所述分光模塊132可以具有多個(gè)分光器，包括一個(gè)第一級分光器和多個(gè)連接到所述第一級分光器的第二級分光器。其中所述第一級分光器的各個(gè)端口分別通過光纖連接到對應(yīng)的第二級分光器，且所述第二級分光器的各個(gè)端口可分別作為所述分光模塊132的用戶側(cè)端口 135。請參閱圖4，當(dāng)所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用多級分光時(shí)，所述分光模塊132的具體實(shí)現(xiàn)可在以上二級分光基礎(chǔ)上進(jìn)行對應(yīng)的擴(kuò)展。另一方面，在本發(fā)明實(shí)施例中，所述分光模塊132中的每個(gè)分光器的端口分別通過特定的鍍膜方式以實(shí)現(xiàn)帶通濾波，并且所述分光器端口的鍍膜方式可以使得所述分光模塊132中與各個(gè)分支光纖133對應(yīng)測試鏈路的通帶均為不同，即使得每個(gè)用戶側(cè)端口 135 所對應(yīng)的通帶均為不同。比如，所述分光器端口可以按照預(yù)設(shè)規(guī)定分別鍍有特定的光學(xué)膜， 所述光學(xué)膜可以相當(dāng)于一個(gè)簡化的帶通濾波器，用于限制各個(gè)分支光纖133對應(yīng)的測試鏈路可以通過的測試信號。具體地，所述光學(xué)膜可以使得由所述測試設(shè)備120提供的且波長與待測分支光纖133相匹配的測試信號可以完全通過所述待測分支光纖133連接的用戶側(cè)端口 135，并使所述測試信號在所述待測分支光纖133上反射而形成的反射信號返回給所述測試設(shè)備120，并且可以使得由所述測試設(shè)備120發(fā)出的其他波長的測試信號無法通過所述用戶側(cè)端口 135，即阻止波長與待測分支光纖133不對應(yīng)的測試信號通過所述用戶側(cè)端口 135。為便于描述，假定所述光分配網(wǎng)絡(luò)130可以實(shí)現(xiàn)分光比為1 N的分光處理。在一種具體實(shí)施例中，所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用一級分光，所述分光模塊(即一單獨(dú)的分光器)132的N個(gè)用戶側(cè)端口 135分別鍍有不同的光學(xué)膜，每種光學(xué)膜分別對應(yīng)于不同的通帶。在具體實(shí)現(xiàn)上，比如，可以將所述測試設(shè)備120采用的測試光譜進(jìn)行N等分以形成N個(gè)波長子帶Δ& Δ ，所述分光器132的每個(gè)端口所鍍的光學(xué)膜可以分別對應(yīng)于其中一個(gè)波長子帶(如圖5所示)，從而使得每個(gè)用戶側(cè)端口 135只允許波長與所述端口連接的分支光纖相對應(yīng)的測試信號通過。在另一種具體實(shí)施例中，所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用兩級分光，且N = mXn。所述分光模塊132包括一個(gè)分光比為1 m的第一級分光器和m個(gè)分光比為1 η的第二級分光器。其中，所述第一級分光器和所述m個(gè)第二級分光器的端口可按照預(yù)設(shè)規(guī)則分別進(jìn)行鍍膜處理，以使所述分光模塊132中與所述mXn個(gè)分支光纖對應(yīng)的測試鏈路分別對應(yīng)于不同的通帶，比如使得所述mXn個(gè)用戶側(cè)端口 135分別對應(yīng)不同的通帶。在具體實(shí)現(xiàn)上，可選地，可以將所述測試設(shè)備120的測試光譜進(jìn)行N等分以形成N 個(gè)測試波長子帶AB1 Δ 。并且，將所述第一級分光器的m個(gè)端口所鍍有的光學(xué)膜對應(yīng)的通帶分別定義為m個(gè)第一波長子帶，將每個(gè)第二級分光器的η個(gè)端口所鍍有的光學(xué)膜對應(yīng)的通帶分別定義為η個(gè)第二波長子帶Δ C1 ACn。其中，所述m個(gè)第一波長子帶各不相同，所述m個(gè)第二級分光器的端口鍍膜方式是一致的，且所述η個(gè)第二波長子帶可以是將測試光譜進(jìn)行η等分而形成。并且，每個(gè)第二波長子帶Δ C1 Δ Cn分別包括m個(gè)測試波長子
市ο比如，假定N = 32且m = 4、n = 8，則AC1可以包括AB1- ΔΒ4，Δ C2包括Δ& ，以此類推，如圖6所示。并且，每個(gè)第二級分光器的η個(gè)端口所鍍的光學(xué)膜可以分別
對應(yīng)于其中一個(gè)第二波長子帶Δ。、AC2......或Δ Cn，而所述第一級分光器的每個(gè)端口
所鍍的光學(xué)膜所對應(yīng)的第一波長子帶可分別包括η個(gè)相互間隔的測試波長子帶，且其中所述η個(gè)相互間隔的測試波長子帶中的每個(gè)測試波長子帶分別位于不同的第二波長子帶，另外，所述第一分光器中不同端口所對應(yīng)的第一波長子帶互不相同且互不交迭。比如，在m =4、η = 8的情況下，所述第一級分光器的第一個(gè)端口的光學(xué)膜對應(yīng)于八個(gè)測試波長子帶 Δ (其中i 1 = 1，5，9，13，17，21，25，四)，第二個(gè)端口的光學(xué)膜對應(yīng)于八個(gè)測試波長子帶 ΔΒ 2( 2 = 2，6，10，14，18，22，26，30)，以此類推，如圖 7 所示。當(dāng)然，應(yīng)當(dāng)理解，以上所述僅是在所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用兩級分光時(shí)可以采用的一種可選的鍍膜方式，在實(shí)際應(yīng)用上還可以采用其他鍍膜方式，只要所采用的鍍膜方式可以使得所述mXn個(gè)用戶側(cè)端口 135分別對應(yīng)于不同的通帶便可。進(jìn)一步地，當(dāng)所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用多級分光時(shí)，所述分光模塊132中各個(gè)分光器可以采用的具體鍍膜方式可以參照上述方案進(jìn)行類推?；谏鲜鯬ON系統(tǒng)100，本發(fā)明實(shí)施例首先提供一種分支光纖檢測方法。請參閱圖8，所述方法可以包括步驟Sl 根據(jù)待測分支光纖對應(yīng)的分光器端口，所述測試設(shè)備120在測試光譜中選擇與所述分光器端口的鍍膜相對應(yīng)的測試波長子帶，并發(fā)送與所述波長子帶相對應(yīng)的測試信號。具體地，所述測試設(shè)備120內(nèi)部可以預(yù)先配置有分支光纖與測試波長子帶的對應(yīng)關(guān)系，其中，所述測試光譜中的每一測試波長子帶分別對應(yīng)于一個(gè)分支光纖133。如上所述， 在所述光分配網(wǎng)絡(luò)130中，通過在分光器端口進(jìn)行鍍膜的方式實(shí)現(xiàn)帶通濾波，且每個(gè)分支光纖133所對應(yīng)的分光器端口的具體鍍膜方式分別可以使得帶通濾波的通帶為所述分支光纖133對應(yīng)的測試波長子帶。因此，通過所述分支光纖與測試波長子帶的對應(yīng)關(guān)系，所述測試設(shè)備120便可獲知待測分支光纖所對應(yīng)的分光器端口的鍍膜方式，并在測試光譜中選擇與所述鍍膜相匹配的測試波長子帶。在所述對應(yīng)關(guān)系中，可選地，所述分支光纖可通過分支光纖標(biāo)識(shí)進(jìn)行表示。進(jìn)一步地，所述測試設(shè)備120可以通過其內(nèi)部的可調(diào)激光器生成并發(fā)送與所述測試波長子帶相對應(yīng)的測試信號，其中所述測試信號的譜寬可以為完全覆蓋所述測試波長子帶，也可以為僅為所述測試波長子帶的一部分，甚至還可以為所述測試波長子帶中的單一波長信號?；蛘撸捎诿總€(gè)分支光纖133分別對應(yīng)于不同的分光器端口，因此所述分支光纖可以通過其對應(yīng)的分光器端口的端口號進(jìn)行表示，相對應(yīng)地，所述分支光纖與測試波長子帶的對應(yīng)關(guān)系便可通過分光器端口號與測試波波長子帶的對應(yīng)關(guān)系來實(shí)現(xiàn)。當(dāng)所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用單級分光時(shí)，每一分支光纖133分別連接在分光器的其中一端口，因此每一分支光纖133分別對應(yīng)于一個(gè)端口號，即所述分光器中與所述分支光纖133相連接的端口的端口號。當(dāng)所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用兩級分光時(shí)，每一分支光纖 133分別對應(yīng)于兩個(gè)分光器端口號，其中一個(gè)為第二級分光器中與所述分支光纖133對應(yīng)的端口號，即所述第二級分光器中與所述分支光纖133相連接的端口的端口號，另一個(gè)為第一級分光器中與所述分支光纖133對應(yīng)的端口號，即所述第一級分光器中與所述第二級分光器相連接的端口的端口號。相類似地，當(dāng)所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用多級分光時(shí)，每一分支光纖133分別對應(yīng)于多個(gè)分光器端口號。在本實(shí)施例提供的分支光纖檢測方法中，若所述分支光纖通過其對應(yīng)的分光器端口號來表示，則所述測試設(shè)備120可以根據(jù)待測分支光纖對應(yīng)的分光器端口號，在測試光譜中選擇測試波波長子帶并生成對應(yīng)的測試信號。步驟S2 所述光分配網(wǎng)絡(luò)130通過在其分光模塊132內(nèi)部的分光器端口所鍍的光學(xué)膜分別對所述測試信號進(jìn)行帶通濾波，以將所述測試信號傳送到所述待測分支光纖133 并阻止所述測試信號進(jìn)入其他分支光纖133。具體地，在所述光分配網(wǎng)絡(luò)130中，所述測試信號通過所述主干光纖131進(jìn)入所述分光模塊132，所述分光模塊132內(nèi)部的分光器對所述測試信號進(jìn)行分光處理并發(fā)送到所述分光器的各個(gè)端口，所述分光器的各個(gè)端口通過其所鍍的光學(xué)膜分別對所述測試信號進(jìn)行帶通濾波，以使所述測試信號通過所述分光器中與所述待測分支光纖相對應(yīng)的端口，并在其他端口被濾除掉，并且使得用于檢測其他分支光纖133的測試信號在所述分光器端口被濾除。可選地，當(dāng)所述光分配網(wǎng)絡(luò)130采用兩級分光時(shí)，所述步驟S2還可以包括所述分光器將與所述待測分支光纖對應(yīng)的端口通過的測試信號送入與所述端口連接的下一級分光器，所述下一級分光器進(jìn)一步對所述測試信號進(jìn)行分光處理并發(fā)送到所述下一級分光器的各個(gè)端口。相類似地，所述下一級分光器的各個(gè)端口進(jìn)一步通過其所鍍有的光學(xué)膜分別對所述測試信號進(jìn)行帶通濾波，以使所述測試信號通過與所述待測分支光纖對應(yīng)的端口并發(fā)送到所述待測分支光纖，并在所述下一級分光器的其他端口被濾除掉。步驟S3，所述待測分支光纖133在其末端對所述測試信號進(jìn)行反射，反射信號進(jìn)一步通過所述待測分支光纖133、分光模塊132和主干光纖131返回所述測試設(shè)備120。具體地，在所述光纖網(wǎng)絡(luò)中，每個(gè)分支光纖133鄰近用戶側(cè)的一端可以設(shè)置有反射鏡，比如所述反射鏡可以通過波分復(fù)用器耦合到所述分支光纖133末端，或者，所述反射鏡也可以設(shè)置在與所述分支光纖133相連接的光網(wǎng)絡(luò)單元140中。當(dāng)測試信號通過所述分支光纖133傳送到所述反射鏡時(shí)，所述測試信號將被所述反射鏡反射而轉(zhuǎn)換為反射信號。 所述反射信號沿原路徑返回，由于所述反射信號的波長與所述測試信號相對應(yīng)，因此其可以直接通過原路徑上的分光器端口所鍍的光學(xué)膜，并經(jīng)由所述主干光纖131進(jìn)入所述測試設(shè)備120。步驟S4，所述測試設(shè)備120接收所述反射信號，并對其波長進(jìn)行檢測以獲取其所對應(yīng)的波長子帶，進(jìn)一步地，所述測試設(shè)備120可以通過查詢預(yù)先設(shè)置在其內(nèi)部的波長子帶與分支光纖的對應(yīng)關(guān)系，獲知所述反射信號所對應(yīng)的分支光纖133，即所述待測分支光纖，并通過所述反射信號獲取待測分支光纖133的信道特性。為更好地理解本發(fā)明實(shí)施例提供的方案，下面以光纖網(wǎng)絡(luò)為兩級分光且分光比為 1 32(第一級分光為1 4，第二級分光為1 8)為例進(jìn)行實(shí)例說明。請參閱圖9，其為本實(shí)施例所采用對分光比為1 32的光纖網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行分支光纖檢測的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖，為更清楚直接地表示本實(shí)施例的檢測方案，圖9并沒有表示出局端和用戶側(cè)的通信設(shè)備。如圖9所示，所述分支光纖檢測系統(tǒng)包括測試儀、一個(gè)分光比為1 4的第一級分光器和四個(gè)分光比為1 8的第二級分光器。其中，所述測試儀包括測試光發(fā)射光源TLS (Tunable Laser Source，超寬帶可調(diào)諧激光器)和PD (Photo Detector，光感測器)。其中所述TLS和PD通過光纖連接器連接到主干光纖的一端。所述第一級分光器連接到所述主干光纖的另一端，且其包括四個(gè)端口。所述四個(gè)第二級分光器分別連接到所述第一級分光器的其中一端口，且每個(gè)第二級分光器包括八個(gè)端口，即所述四個(gè)第二級分光器共包括32個(gè)端口，其中每個(gè)第二級分光器端口分別連接至一分支光纖。在本實(shí)施例中，所述測試儀可采用的測試光譜的寬度U-Band為1625nm-1675nm。所述第一級分光器和第二級分光器通過在其分光器端口進(jìn)行鍍膜的方式實(shí)現(xiàn)帶通濾波，且其中第一級分光器端口所鍍的光學(xué)膜與第二級分光器端口所鍍的光學(xué)膜相互配合，使每個(gè)分支光纖所對應(yīng)的測試鏈路的通帶各不相同。比如，在本實(shí)施例中，所述第一級分光器的端口與所述四個(gè)第二級分光器的端口可以采用梳齒交叉鍍膜的方式，實(shí)現(xiàn)在所述第一級和第二級中與每一分支光纖所對應(yīng)的測試鏈路具有預(yù)先設(shè)定的帶通濾波功能。具體而言，上述梳齒交叉鍍膜方式可以如下由于所述光纖網(wǎng)絡(luò)的分光比為1 32，因此可以將所述測試光譜U-Band的寬度平均進(jìn)行32等分，從而劃分為32個(gè)測試波長子帶ABid < i < 32)，其中每個(gè)測試波長子帶 ABi 帶寬為(l675nm-l625nm)/32。將所述第一級分光器的四個(gè)端口分別記為端口 P11 P14，本實(shí)施例中，端口 P11所鍍的光學(xué)膜可以對應(yīng)于測試波長子帶AB1, ΔB5, Δ B9, ΔΒ13、ΔB17, ΔB21, ΔΒμ禾口 ABfflW 集合，端口 P12所鍍的光學(xué)膜可以對應(yīng)于測試波長子帶ΔΒ2、Δ B6, Δ B10, Δ B14, Δ B18, Δ B22, ABa^P Δ B3tl的集合，端口 P11所鍍的光學(xué)膜可以對應(yīng)于測試波長子帶ΔΒ3、Δ B7, Δ B11, ΔB15, ΔB19, ΔΒ23> ΔB27 ^P A^1的集合，端口 P11所鍍的光學(xué)膜可以對應(yīng)于測試波長子帶 Δ B4, Δ B8, Δ B12, Δ B16, Δ B20, Δ B24, Δ B28禾口 Δ B32的集合。若4奪所述第一級分光器四個(gè)端口所鍍的光學(xué)膜對應(yīng)的通帶分別定義為四個(gè)第一波長子帶，則不同的第一波長子帶互不相同和互不交迭。在所述四個(gè)第二級分光器中，將第一個(gè)第二級分光器的八個(gè)端口分別記為端口 P21 P28，第二個(gè)第二級分光器的八個(gè)端口分別記為P31 P38，第三個(gè)第二級分光器的八個(gè)端口分別記為P41 P48，第四個(gè)第二級分光器的八個(gè)端口分別記為P51 ρ58。在本實(shí)施例中，端口 P21、P31, P41和P51所鍍的光學(xué)膜是相同的，其分別對應(yīng)于測試波長子帶AB1 AB4的集合；端口 P22、P32Unh2所鍍的光學(xué)膜是相同的，其分別對應(yīng)于測試波長子帶Δ& 的集合；端口 ρ23、ρ33、ρ43和P53所鍍的光學(xué)膜是相同的，其分別對應(yīng)于測試波長子帶ΔΒ9 AB12的集合；端口 P24、P34, P44和P54所鍍的光學(xué)膜是相同的，其分別對應(yīng)于測試波長子帶ΔΒ13 八8^5的集合；端口己5、？35、 45和？55所鍍的光學(xué)膜是相同的，其分別對應(yīng)于測試波長子帶ΔΒ17 Ahtl的集合；端口 Ρ26、Ρ36、Ρ46和P56所鍍的光學(xué)膜是相同的，其分別對應(yīng)于測試波長子帶ΔΒ21 ΔΒ24的集合；端口 ρ27、ρ37、ρ47和P57所鍍的光學(xué)膜是相同的，其分別對應(yīng)于測試波長子帶ΔΒ25 AB28的集合；端口 P28、P38, P48和P58 所鍍的光學(xué)膜是相同的，其分別對應(yīng)于測試波長子帶ΔΒμ AB32W集合。也就是說，對于所述四個(gè)第二級分光器而言，其端口的鍍膜方式是統(tǒng)一的。若將所述第二級分光器八個(gè)端口所鍍的光學(xué)膜對應(yīng)的通帶分別定義為八個(gè)第二波長子帶，則不同的第二波長子帶也互不相同也互不交迭。所述八個(gè)第二波長子帶可以是通過將所述測試光譜U-Band的寬度平均進(jìn)行八等分得到。由此，每個(gè)第二級分光器的八個(gè)端口所鍍的光學(xué)膜分別對應(yīng)于其中一個(gè)第二波長子帶，且每個(gè)第二波長子帶分別包括四個(gè)相鄰的測試波長子帶。并且，通過上面的描述可以看出，每個(gè)第一波長子帶可以分別對應(yīng)于八個(gè)相互間隔的測試波長子帶，且其中所述八個(gè)相互間隔的第一波長子帶中的每個(gè)第一波長子帶分別位于不同的第二波長子帶。圖9所示的分支光纖檢測系統(tǒng)的具體工作過程可以如下首先，所述測試儀根據(jù)待測分支光纖對應(yīng)的分光器端口的鍍膜方式，選擇對應(yīng)的測試波長子帶，并調(diào)整其內(nèi)部的TLS的發(fā)射波長，以使所述TLS發(fā)射出的測試信號的波長與所述待測分支光纖對應(yīng)的分光器端口通過鍍膜形成的帶通濾波器的通帶相匹配。假定對第一個(gè)分支光纖進(jìn)行檢測，所述TLS發(fā)射的測試信號的波長對應(yīng)于測試波長子帶Δ Bp所述測試信號經(jīng)過所述第一級分光器的分光處理之后傳送至所述第一級分光器的四個(gè)端口，所述第一級分光器分別通過各個(gè)端口所鍍的光學(xué)膜分別對傳送到各個(gè)端口的測試信號進(jìn)行濾波。由于所述第一級分光器中只有端口 P11的通帶與所述測試波長子帶 AB1相匹配，因此所述測試信號只能通過所述端口 P11并進(jìn)一步進(jìn)入所述第一個(gè)第二級分光器。相類似地，由所述端口 P11輸出的測試信號經(jīng)過所述第一個(gè)第二級分光器的分光處理之后傳送至所述第一個(gè)第二級分光器的八個(gè)端口，所述第二級分光器分別通過各個(gè)端口所鍍的光學(xué)膜分別對傳送到各個(gè)端口的測試信號進(jìn)行濾波。由于所述第一級分光器中只有端口 P21的通帶與所述測試波長子帶AB1相匹配，因此所述測試信號只能通過所述端口 P21并進(jìn)一步進(jìn)入第一個(gè)分支光纖。通過分光器端口所鍍的光學(xué)膜的濾波作用，所述測試信號被限制為只能傳送至所述待測分支光纖。進(jìn)一步地，所述待測分支光纖在其末端對所述測試信號進(jìn)行發(fā)射，反射信號進(jìn)一步通過原路徑返回至所述測試儀，并被所述測試儀的PD所接收。接著，所述測試儀可對其接收到的反射信號進(jìn)行波長檢測以得到所述反射信號的波長所位于的測試波長子帶AB1, 由此獲知所述反射信號所對應(yīng)的分支光纖，即所述待測分支光纖，進(jìn)一步地，所述測試儀可以通過所述反射信號獲取到待測分支光纖的信道特性。通過以上的實(shí)施方式的描述，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，包括如上述方法實(shí)施例的步驟，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)，如R0M/RAM、磁碟、光盤等。以上所述，僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種分支光纖檢測系統(tǒng)，包括主干光纖、分光模塊和多個(gè)分支光纖，所述主干光纖的一端耦合有測試設(shè)備，另一端通過所述分光模塊連接到所述多個(gè)分支光纖，其特征在于所述分光模塊包括至少一個(gè)分光器，所述至少一個(gè)分光器的各個(gè)端口按照預(yù)設(shè)規(guī)則設(shè)置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進(jìn)行帶通濾波的光學(xué)膜，且所述光學(xué)膜使得所述分光模塊中與各個(gè)分支光纖相對應(yīng)的測試鏈路的通帶不同；所述測試設(shè)備用于根據(jù)待測分支光纖所對應(yīng)的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學(xué)膜相匹配的測試波長子帶，向光纖網(wǎng)絡(luò)發(fā)送與所選測試波長子帶相對應(yīng)的測試信號，并且接收所述測試信號在對應(yīng)分支光纖反射而形成的反射信號，并根據(jù)反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。
2.如權(quán)利要求1所述的分支光纖檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述分光模塊為一個(gè)分光比為1 N的分光器，所述測試光譜包括N個(gè)測試波長子帶，且所述分光器的每個(gè)端口所設(shè)置的光學(xué)膜分別對應(yīng)于一個(gè)測試波長子帶。
3.如權(quán)利要求1所述的分支光纖檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述測試光譜包括N個(gè)測試波長子帶，所述分光模塊的分光比為1 N，其中N = mXn，且所述分光模塊包括一個(gè)連接到所述主干光纖且分光比為1m的第一級分光器和m個(gè)分光比為1η的第二級分光器， 其中所述m個(gè)第二級分光器分別連接到所述第一級分光器的m個(gè)端口，且不同的第二級分光器端口分別連接到不同的分支光纖。
4.如權(quán)利要求3所述的分支光纖檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第一級分光器的m個(gè)端口所設(shè)置的光學(xué)膜分別對應(yīng)于m個(gè)不同的第一波長子帶，所述m個(gè)第二級分光器的端口鍍膜方式是一致的，且每個(gè)第二級分光器中η個(gè)端口所設(shè)置的光學(xué)膜分別對應(yīng)于η個(gè)不同的第二波長子帶，其中不同的第一波長子帶不相互交迭，不同的第二波長子帶也不相互交迭，每個(gè)第二波長子帶分別包括m個(gè)相鄰的測試波長子帶，每個(gè)第一波長子帶分別包括η個(gè)相互間隔的測試波長子帶，且其中所述η個(gè)相互間隔的第一波長子帶中的各個(gè)測試波長子帶分別位于不同的第二波長子帶。
5.如權(quán)利要求1所述的分支光纖檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述預(yù)設(shè)規(guī)則為梳齒交叉間隔的鍍膜方式。
6.如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的分支光纖檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述測試設(shè)備內(nèi)部預(yù)先設(shè)置有分支光纖與測試波長子帶的對應(yīng)關(guān)系，其中不同的測試波長子帶分別對應(yīng)于不同的分支光纖，且所述測試設(shè)備在對待測分支光纖進(jìn)行檢測時(shí)可根據(jù)所述對應(yīng)關(guān)系選擇與所述待測分支光纖對應(yīng)的測試波長子帶并發(fā)送對應(yīng)波長的測試信號。
7.如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的分支光纖檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述測試設(shè)備內(nèi)部預(yù)先設(shè)置有分光器端口號與測試波長子帶的對應(yīng)關(guān)系，其中不同的測試波長子帶分別對應(yīng)于不同的分光器端口號，且所述測試設(shè)備在對待測分支光纖進(jìn)行檢測時(shí)可根據(jù)所述對應(yīng)關(guān)系選擇與所述待測分支光纖連接到的分光器端口的端口號對應(yīng)的測試波長子帶并發(fā)送對應(yīng)波長的測試信號。
8.一種分支光纖檢測方法，應(yīng)用于點(diǎn)到多點(diǎn)的光纖網(wǎng)絡(luò)，所述光纖網(wǎng)絡(luò)包括主干光纖、分光模塊和多個(gè)分支光纖，所述分光模塊包括至少一個(gè)分光器，所述至少一個(gè)分光器的各個(gè)端口按照預(yù)設(shè)規(guī)則進(jìn)行鍍膜以使所述分光模塊中與各個(gè)分支光纖相對應(yīng)的測試鏈路的通帶不同，其特征在于，所述方法包括根據(jù)待測分支光纖所對應(yīng)的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學(xué)膜相匹配的測試波長子帶，向所述光纖網(wǎng)絡(luò)發(fā)送與所選測試波長子帶相對應(yīng)的測試信號， 通過所述分光器端口的鍍膜，所述測試信號經(jīng)過所述待測分支光纖所對應(yīng)的分光器端口并傳輸至所述待測分支光纖，而在其他分支光纖對應(yīng)的分光器端口被濾除而不進(jìn)入其他分支光纖；接收所述測試信號在待測分支光纖反射而形成的反射信號，并根據(jù)所述反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。
9.一種光分配網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，包括主干光纖、分光模塊和多個(gè)分支光纖，其中，所述分光模塊包括至少一個(gè)分光器，所述至少一個(gè)分光器的各個(gè)端口按照預(yù)設(shè)規(guī)則設(shè)置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進(jìn)行帶通濾波的光學(xué)膜，且所述光學(xué)膜使得所述分光模塊中與各個(gè)分支光纖相對應(yīng)的測試鏈路的通帶不同。
10.如權(quán)利要求9所述的光分配網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述至少一分光器用于接收通過所述主干光纖傳送的測試信號，其中所述測試信號的波長位于測試光譜中的預(yù)設(shè)波長子帶， 且所述預(yù)設(shè)波長子帶與待測分支光纖所鍍的光學(xué)膜相匹配。
11.如權(quán)利要求10所述的光分配網(wǎng)絡(luò)，所述測試光譜包括N個(gè)測試波長子帶，所述分光模塊的分光比為1 N，其中N = mXn，且所述分光模塊包括一個(gè)連接到所述主干光纖且分光比為1 m的第一級分光器和m個(gè)分光比為1 η的第二級分光器，所述第一級分光器的m個(gè)端口所設(shè)置的光學(xué)膜分別對應(yīng)于m個(gè)不同的第一波長子帶，所述m個(gè)第二級分光器的端口鍍膜方式是一致的，且每個(gè)第二級分光器中η個(gè)端口所設(shè)置的光學(xué)膜分別對應(yīng)于 η個(gè)不同的第二波長子帶，其中不同的第一波長子帶不相互交迭，不同的第二波長子帶也不相互交迭，每個(gè)第二波長子帶分別包括m個(gè)相鄰的測試波長子帶，每個(gè)第一波長子帶分別包括η個(gè)相互間隔的測試波長子帶，且其中所述η個(gè)相互間隔的第一波長子帶中的各個(gè)測試波長子帶分別位于不同的第二波長子帶。
12.如權(quán)利要求11所述的光分配網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述預(yù)設(shè)規(guī)則為梳齒交叉間隔的鍍膜方式。
13.一種用于如權(quán)利要求9所述的光分配網(wǎng)絡(luò)的分光器，其特征在于，包括多個(gè)分光器端口，其中各個(gè)分光器端口通過鍍膜的方式對傳送至所述分光器端口的光信號進(jìn)行帶通濾波，且不同分光器端口的通帶不同。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例提供一種分支光纖檢測系統(tǒng)，包括主干光纖、分光模塊和多個(gè)分支光纖，所述分光模塊包括至少一個(gè)分光器，其各個(gè)端口按照預(yù)設(shè)規(guī)則設(shè)置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進(jìn)行帶通濾波的光學(xué)膜，且所述光學(xué)膜使得所述分光模塊中與各個(gè)分支光纖相對應(yīng)的測試鏈路的通帶不同；所述測試設(shè)備用于根據(jù)待測分支光纖所對應(yīng)的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學(xué)膜相匹配的測試波長子帶，向光纖網(wǎng)絡(luò)發(fā)送與所選測試波長子帶相對應(yīng)的測試信號，并且接收所述測試信號在對應(yīng)分支光纖反射而形成的反射信號，并根據(jù)反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。本發(fā)明實(shí)施例還提供一種分支光纖檢測方法、光分配網(wǎng)絡(luò)和分光器。
文檔編號H04B10/077GK102244538SQ20101016715
公開日2011年11月16日 申請日期2010年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月10日
發(fā)明者單小磊, 溫運(yùn)生, 王世軍, 王波, 趙峻 申請人:華為技術(shù)有限公司