專利名稱：同時測試多部td-lte終端射頻性能的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及移動通信技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于同時測試多部TD-LTE終端射 頻性能的方法和實現(xiàn)該方法的裝置。
背景技術(shù)：
隨著現(xiàn)代通信行業(yè)的發(fā)展，以及TD-SCDMA制式終端的日益成熟，TD-LTE (TD-SCDMA Long term evolution)技術(shù)不斷完善，TD-LTE終端生產(chǎn)量將會逐漸加大。為了檢查TD-LTE 終端的生產(chǎn)質(zhì)量和性能指標(biāo)，必須通過終端綜合測試儀進行測試。目前還沒有成熟的 TD-LTE終端綜合測試儀，這樣嚴重限制了 TD-LTE終端生產(chǎn)廠家的生產(chǎn)效率，增加了 TD-LTE 終端的生產(chǎn)成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目是針對上述技術(shù)問題，提供一種可以同時測試多部TD-LTE終端射頻 性能的方法和實現(xiàn)該方法的裝置，該裝置可以在信令連接的情況下對多部TD-LTE終端進 行射頻性能測試，各TD-LTE終端的信號間干擾較小，并且多個TD-LTE終端并行測試時可以 被配置為1. 4MHZ到20MHZ帶寬的頻域資源。為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所設(shè)計的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的方 法，它包括如下步驟1)打開TD-LTE終端綜合測試儀的電源并按照3GPP (3rd Generation Paratership Project，第三代合作伙伴項目)協(xié)議關(guān)于TD-LTE終端射頻測試規(guī)范的參數(shù)要求，設(shè)置好 TD-LTE終端入網(wǎng)所需的系統(tǒng)參數(shù)，使TD-LTE終端綜合測試儀處于等待TD-LTE終端開機入 網(wǎng)的狀態(tài)，系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置1，即1個無線幀有4個下行子幀，4個上行子 幀，2個同步子幀，或系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置0，即1個無線幀有2個下行子幀，6 個上行子幀，2個同步子幀；將SIM (Subscriber Identity Module，用戶身份識別模塊)卡 編號后插入待測的2 4部TD-LTE終端中，按照所述SIM卡依次標(biāo)記相應(yīng)的TD-LTE終端； 將TD-LTE終端與TD-LTE終端綜合測試儀進行射頻連接，給TD-LTE終端上電，進行TD-LTE 終端的開機入網(wǎng)信令流程；2)在TD-LTE終端開機入網(wǎng)信令流程中，TD-LTE終端綜合測試儀通過NAS(Non access stratum，非接入層)信令查詢到所述TD-LTE終端中SIM卡的IMSI (International mobile subscriber identity，國際移動用戶識別碼)號，并與入網(wǎng)流程中分配給各TD-LTE 終端的 S-TMSI (S-Temporary Mobile Station Identifier，臨時移動用戶標(biāo)識)號和 C-RNTI (Cell Radio Network Temporary Identifier，小區(qū)無線網(wǎng)絡(luò)臨時標(biāo)識)標(biāo)識號相 關(guān)聯(lián)，以此識別TD-LTE終端是哪一部TD-LTE終端；通過這個過程，TD-LTE終端、TD-LTE終 端各自的SIM卡IMSI號、S-TMSI號和C-RNTI建立了一一對應(yīng)關(guān)系，用于在時域上區(qū)分測 試的是哪部TD-LTE終端的信號；3)TD-LTE終端綜合測試儀尋呼各TD-LTE終端并建立專用的無線承載；當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置1時，在無線幀中的子幀#1、子幀#4、子幀#6、子幀#9上以 DCI (Downlink Control Information，下行控制信息)格式0分別傳輸各TD-LTE終端的下 行PDCCH(Physical downlink control channel，物理下行控制信道)信號；當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中 上下行子幀配置為配置0時，在無線幀中的子幀#0、子幀#1、子幀#5、子幀#6上以DCI格 式0分別傳輸各TD-LTE終端的下行PDCCH信號；然后通過下行PDCCH信號攜帶的DCI信 息指定各TD-LTE終端分別在對應(yīng)的上行子幀上傳輸上行PUSCH(Physical uplink shared channel，物理上行共享信道)信號；4) TD-LTE終端綜合測試儀利用系統(tǒng)模擬器的數(shù)據(jù)采集觸發(fā)信號采集TD-LTE終端 的上行PUSCH信號，再將此采集的上行PUSCH信號傳輸給TD-LTE終端綜合測試儀的信號處 理模塊計算得到TD-LTE終端的射頻性能指標(biāo)的參數(shù)值。所述TD-LTE終端為4部。在步驟3)中，當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置1時，在子幀#1上傳輸?shù)南滦?PDCCH信號以第三部TD-LTE終端UE3 (UE，User Equipment，用戶設(shè)備即終端)的C-RNTI加 擾，指示第三部TD-LTE終端UE3在子幀#7上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#4上傳輸?shù)南?行PDCCH信號以第四部TD-LTE終端UE4的C-RNTI加擾，指示第四部TD-LTE終端UE4在子 幀#8上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#6上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第一部TD-LTE終端 UEl的C-RNTI加擾，指示第一部TD-LTE終端UEl在子幀#2上傳輸上行PUSCH信號；在子幀 #9上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第二部TD-LTE終端UE2的C-RNTI加擾，指示第二部TD-LTE 終端UE2在子幀#3上傳輸上行PUSCH信號；第一部TD-LTE終端UEl、第二部TD-LTE終端 UE2、第三部TD-LTE終端UE3、第四部TD-LTE終端UE4會根據(jù)各自的C-RNTI檢測到屬于自 己的下行PDCCH信號，解析DCI信息，并依次在子幀#2、子幀#3、子幀#7、子幀#8傳輸各自 的上行PUSCH信號；當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置0時，根據(jù)3GPP協(xié)議，在各子幀上的下行 PDCCH信號攜帶的DCI控制信息中UL Index (Up link Index，上行索引值)設(shè)置為二進制 數(shù)10 ；在子幀#0上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第二部TD-LTE終端UE2的C-RNTI加擾，指示 第二部TD-LTE終端UE2在子幀M上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#1上傳輸?shù)南滦蠵DCCH 信號以第三部TD-LTE終端UE3的C-RNTI加擾，指示第三部TD-LTE終端UE3在子幀#7上 傳輸上行PUSCH信號；在子幀#5上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第四部TD-LTE終端UE4的 C-RNTI加擾，指示第四部TD-LTE終端UE4在子幀#9上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#6上 傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第一部TD-LTE終端UEl的C-RNTI加擾，指示第一部TD-LTE終端 UEl在子幀#2上傳輸上行PUSCH信號；第一部TD-LTE終端UE1、第二部TD-LTE終端UE2、 第三部TD-LTE終端UE3、第四部TD-LTE終端UE4會根據(jù)各自的C-RNTI檢測到屬于自己的 下行PDCCH信號，解析DCI信息，并依次在子幀#2、子幀#4、子幀#7、子幀#9傳輸各自的上 行PUSCH信號；由此完成了各個TD-LTE終端在指定子幀上傳輸上行PUSCH信號的過程。在步驟4)中，數(shù)據(jù)采集觸發(fā)信號為在無線幀的子幀#0結(jié)束處設(shè)置為低電平，此無 線幀的子幀#6結(jié)束處對應(yīng)的設(shè)置為高電平。一種根據(jù)上述方法設(shè)計的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的裝置，它包 括主控單元、系統(tǒng)模擬器、功率分配單元和射頻處理單元，其中，所述系統(tǒng)模擬器和射頻處 理單元均通過PXI (PCI extensions for Instrumentation，面向儀器系統(tǒng)的PCI擴展)總線連接主控單元，所述系統(tǒng)模擬器與射頻處理單元通過LDVS (Low Voltage Differential Signaling低壓差分信號)數(shù)據(jù)接口連接，所述射頻處理單元具有射頻發(fā)射單元、射頻接收 單元和本振單元，所述本振單元用于給射頻發(fā)射單元和射頻接收單元提供載波信號以及參 考時鐘信號，所述功率分配單元通過射頻接口連接所述射頻處理單元，所述功率分配單元 通過PXI總線連接到主控單元；所述功率分配單元用于實現(xiàn)上、下行信號的功率分配，并且 將多部TD-LTE終端并聯(lián)到TD-LTE終端綜合測試儀。所述系統(tǒng)模擬器根據(jù)3GPP協(xié)議對應(yīng)的協(xié)議規(guī)范，模擬出物理層協(xié)議、數(shù)據(jù)鏈路層 協(xié)議、網(wǎng)絡(luò)層協(xié)議和NAS層協(xié)議；所述系統(tǒng)模擬器用于建立和維持TD-LTE終端綜合測試儀 和被測TD-LTE終端之間的無線承載，便于進行信令連接情況下的射頻性能的測試，所述系 統(tǒng)模擬器產(chǎn)生下行數(shù)字基帶I/Qdn-phase/Quadrature，同向正交)信號，經(jīng)過LVDS數(shù)據(jù)接 口送到射頻發(fā)射單元，所述系統(tǒng)模擬器將來自射頻接收單元的上行數(shù)字基帶I/Q信號還原 成信令和業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)。所述射頻發(fā)射單元用來將系統(tǒng)模擬器產(chǎn)生的下行數(shù)字基帶I/Q信號進行調(diào)制和 上變頻處理后發(fā)射給被測TD-LTE終端。所述射頻接收模塊接收被測TD-LTE終端的射頻信號，并將該被測TD-LTE終端的 射頻信號下變頻為中頻信號，再轉(zhuǎn)化為數(shù)字中頻信號，然后經(jīng)正交解調(diào)后轉(zhuǎn)換為上行數(shù)字 基帶信號，所述上行數(shù)字基帶I/Q信號一路經(jīng)過LVDS接口實時傳送到系統(tǒng)模擬器中恢復(fù)為 信令和數(shù)據(jù)，以保持信令的連接，另一路緩存在接收模塊的數(shù)據(jù)緩沖區(qū)中并經(jīng)過PXI總線 送到主控單元進行射頻指標(biāo)分析。所述主控單元包括人機接口單元、集成控制單元、信號處理單元和遠程控制單元， 所述集成控制單元用于控制系統(tǒng)模擬器、射頻處理單元和射頻切換開關(guān)單元；所述信號處 理單元用于分析被測TD-LTE終端的射頻性能；所述遠程控制單元用于TD-LTE終端綜合測 試儀與計算機進行遠程交互，實現(xiàn)TD-LTE終端綜合測試儀的遠程控制。本發(fā)明的方法通過首先插入SIM卡標(biāo)記各個TD-LTE終端，在開機入網(wǎng)信令流程中 關(guān)聯(lián)各TD-LTE終端的SIM卡IMSI號、S-TMSI號和C-RNTI，再在所述無線幀中的對應(yīng)子幀上 以DCI格式0分別傳輸以各TD-LTE終端的C-RNTI加擾的下行PDCCH信號，通過下行PDCCH 信號攜帶的DCI信息指定各TD-LTE終端分別在對應(yīng)的上行子幀上傳輸上行PUSCH信號，從 而在時域上區(qū)分測試的是哪部TD-LTE終端的信號，最后采集上行PUSCH信號并對該信號進 行射頻分析。使得一部TD-LTE終端綜合測試儀可以在信令連接的情況下對多部TD-LTE終 端進行射頻性能測試，各TD-LTE終端的信號間干擾較小，并且多個TD-LTE終端并行測試時 可以被配置為1. 4MHZ到20MHZ帶寬的頻域資源。本發(fā)明的裝置根據(jù)上述方法設(shè)計出一種 用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的TD-LTE終端綜合測試儀，該TD-LTE終端綜合測 試儀在同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的時候，具有準(zhǔn)確性好，測試速度快的優(yōu)點。


圖1為上、下行子幀配置1的無線幀結(jié)構(gòu)圖；圖2為上、下行子幀配置0的無線幀結(jié)構(gòu)3為四部TD-LTE終端的時域資源分配圖；圖4為數(shù)據(jù)采集用系統(tǒng)模擬器同步信號的結(jié)構(gòu)圖5為本發(fā)明的TD-LTE綜測儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；圖6為TD-LTE綜測儀與多部TD-LTE終端的射頻連接示意圖。其中，圖1中S子幀表示同步子幀，圖3中的長箭頭線表示各TD-LTE終端對應(yīng)的 PDCCH信號調(diào)度的PUSCH信號在無線幀中所對應(yīng)的子幀的位置。圖1 3中向上的箭頭表 示上行子幀，向下的箭頭表示下行子幀。
具體實施例方式以下結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的詳細說明如圖5和6所示的一種用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的裝置即TD-LTE 終端綜合測試儀，它包括主控單元、系統(tǒng)模擬器、功率分配單元和射頻處理單元，其中，系 統(tǒng)模擬器和射頻處理單元均通過PXI總線連接主控單元，系統(tǒng)模擬器與射頻處理單元通過 LDVS(低壓差分信號)數(shù)據(jù)接口連接，射頻處理單元具有射頻發(fā)射單元、射頻接收單元和本 振單元，本振單元用于給射頻發(fā)射單元和射頻接收單元提供載波信號以及10MHZ的參考時 鐘信號。該裝置具備簡化的TD-LTE基站的功能，可以與TD-LTE終端進行信令連接和數(shù)據(jù)傳 輸?shù)葮I(yè)務(wù)，并且可以對TD-LTE終端進行信令連接條件下的射頻測試。所述功率分配單元通 過射頻接口連接所述射頻處理單元，所述功率分配單元通過PXI總線連接到主控單元；所 述功率分配單元用于實現(xiàn)上、下行信號的功率分配，并且將多部TD-LTE終端并聯(lián)到TD-LTE 終端綜合測試儀。上述技術(shù)方案中，系統(tǒng)模擬器主要運行協(xié)議棧軟件，根據(jù)3GPP協(xié)議對應(yīng)的協(xié)議規(guī) 范，模擬出物理層協(xié)議、數(shù)據(jù)鏈路層協(xié)議、網(wǎng)絡(luò)層協(xié)議和NAS層協(xié)議；系統(tǒng)模擬器用于建立 和維持TD-LTE終端綜合測試儀和被測TD-LTE終端之間的無線承載，便于進行信令連接情 況下的射頻性能的測試，系統(tǒng)模擬器產(chǎn)生下行數(shù)字基帶I/Q信號，經(jīng)過LVDS數(shù)據(jù)接口送到 射頻發(fā)射單元，系統(tǒng)模擬器將來自射頻接收單元的上行數(shù)字基帶I/Q信號還原成信令和業(yè) 務(wù)數(shù)據(jù)。系統(tǒng)模擬器可模擬出基站的系統(tǒng)環(huán)境。上述技術(shù)方案中，射頻發(fā)射模塊用來將系統(tǒng)模擬器產(chǎn)生的下行數(shù)字基帶I/Q信號 進行調(diào)制和上變頻處理后發(fā)射給被測TD-LTE終端。上述技術(shù)方案中，射頻接收模塊接收被測TD-LTE終端的射頻信號，并將該被測 TD-LTE終端的射頻信號下變頻為中頻信號，再轉(zhuǎn)化為數(shù)字中頻信號，然后經(jīng)正交解調(diào)后轉(zhuǎn) 換為上行數(shù)字基帶信號，上行數(shù)字基帶I/Q信號一路經(jīng)過LVDS接口實時傳送到系統(tǒng)模擬器 中恢復(fù)為信令和數(shù)據(jù)，以保持信令的連接，另一路緩存在接收模塊的數(shù)據(jù)緩沖區(qū)中并經(jīng)過 PXI總線送到主控單元進行射頻指標(biāo)分析。上述技術(shù)方案中，主控單元包括人機接口單元、集成控制單元、信號處理單元和遠 程控制單元，集成控制單元用于控制系統(tǒng)模擬器、射頻處理單元和射頻切換開關(guān)單元；信號 處理單元用于分析被測TD-LTE終端的射頻性能；遠程控制單元用于TD-LTE終端綜合測試 儀與計算機進行遠程交互，實現(xiàn)TD-LTE終端綜合測試儀的遠程控制。上述TD-LTE終端的開機入網(wǎng)信令流程為1. TD-LTE終端發(fā)送前導(dǎo)碼，2.系統(tǒng)模 擬器隨機接入響應(yīng)，3. TD-LTE終端請求連接，4.系統(tǒng)模擬器連接建立，5. TD-LTE終端連接 建立完成，6.系統(tǒng)模擬器查詢TD-LTE終端的身份，7. TD-LTE終端的身份響應(yīng)，8.系統(tǒng)模擬 器鑒權(quán)請求，9. TD-LTE終端鑒權(quán)響應(yīng)，10.系統(tǒng)模擬器激活NAS安全模式，11. TD-LTE終端NAS安全模式完成，12.系統(tǒng)模擬器ESM信息請求，13. TD-LTE終端ESM信息響應(yīng)，14.系統(tǒng) 模擬器激活測試模式，15. TD-LTE終端測試模式機會完成，16.系統(tǒng)模擬器激活A(yù)S安全模 式，17. TD-LTE終端安全模式完成，18系統(tǒng)模擬器激對TD-LTE終端能力查詢，19. TD-LTE終 端提供其能力信息，20.系統(tǒng)模擬器連接重配，21. TD-LTE終端連接重配完成，22. TD-LTE終 端附著流程完成，23.系統(tǒng)模擬器連接釋放。上述TD-LTE終端建立無線承載的信令流程為1.系統(tǒng)模擬器尋呼TD-LTE終端， 2. TD-LTE終端連接請求，3.系統(tǒng)模擬器連接建立，4. TD-LTE終端連接建立完成，5.系統(tǒng)模 擬器激活A(yù)S安全模式，6. TD-LTE終端AS安全模式完成，7.系統(tǒng)模擬器連接重配，8. TD-LTE 終端連接重配完成，9. TD-LTE終端建立專用EPS承載，10.系統(tǒng)模擬器連接釋放。一種用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的方法，它包括如下步驟1)打開TD-LTE終端綜合測試儀的電源并按照3GPP協(xié)議關(guān)于TD-LTE終端射頻測 試規(guī)范的參數(shù)要求，設(shè)置好TD-LTE終端入網(wǎng)所需的系統(tǒng)參數(shù)，使TD-LTE終端綜合測試儀處 于等待TD-LTE終端開機入網(wǎng)的狀態(tài)，系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置1，即1個無線幀有 4個下行子幀，4個上行子幀，2個同步子幀，或系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置0，即1個 無線幀有2個下行子幀，6個上行子幀，2個同步子幀；將SIM卡編號后插入待測的2 4部 TD-LTE終端中，按照所述SIM卡依次標(biāo)記相應(yīng)的TD-LTE終端；將TD-LTE終端與TD-LTE終 端綜合測試儀進行射頻連接，給TD-LTE終端上電，進行TD-LTE終端的開機入網(wǎng)信令流程；2)在TD-LTE終端開機入網(wǎng)信令流程中，TD-LTE終端綜合測試儀通過NAS信令查 詢到所述TD-LTE終端中SIM卡的IMSI號，并與入網(wǎng)流程中分配給各終端的S-TMSI號和 C-RNTI標(biāo)識號相關(guān)聯(lián)，以此識別TD-LTE終端是哪一部TD-LTE終端；通過這個過程，TD-LTE 終端、TD-LTE終端各自的SIM卡IMSI號、S-TMSI號和C-RNTI建立了——對應(yīng)關(guān)系，用于在 時域上區(qū)分測試的是哪部TD-LTE終端的信號；3)TD-LTE終端綜合測試儀尋呼各TD-LTE終端并建立專用的無線承載；當(dāng)系統(tǒng)參 數(shù)中上下行子幀配置為配置1時，在無線幀中的子幀#1、子幀#4、子幀#6、子幀#9上以DCI 格式0分別傳輸各TD-LTE終端的下行PDCCH信號；當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置0 時，在無線幀中的子幀#0、子幀#1、子幀#5、子幀#6上以DCI格式0分別傳輸各TD-LTE終 端的下行PDCCH信號；然后通過下行PDCCH信號攜帶的DCI信息指定各TD-LTE終端分別 在對應(yīng)的上行子幀上傳輸上行PUSCH信號；4) TD-LTE終端綜合測試儀利用系統(tǒng)模擬器的數(shù) 據(jù)采集觸發(fā)信號采集TD-LTE終端的上行PUSCH信號，再將此采集的上行PUSCH信號傳輸給 TD-LTE終端綜合測試儀的信號處理模塊計算得到TD-LTE終端的射頻性能指標(biāo)的參數(shù)值。 TD-LTE終端信號射頻性能分析包括TD-LTE終端發(fā)射機和接收機的性能指標(biāo)，主要的指標(biāo) 如下發(fā)射機性能測試主要包括TD-LTE終端最大輸出功率，功率控制，最低輸出功率，發(fā)射 開/關(guān)功率，頻率誤差，誤差矢量幅度，占用帶寬，頻譜輻射模板，鄰道泄漏比；接收機性能 測試主要包括參考靈敏度，最大輸入功率，接收機誤碼率/吞吐量。上述技術(shù)方案中，TD-LTE終端優(yōu)選為4部。上述技術(shù)方案中，如圖1 2所示，在步驟3)中，上、下行子幀配置為配置1時，在 子幀#1上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第三部TD-LTE終端UE3的C-RNTI加擾，指示第三部 TD-LTE終端UE3在子幀#7上傳輸上行PUSCH信號；在子幀M上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以 第四部TD-LTE終端UE4的C-RNTI加擾，指示第四部TD-LTE終端UE4在子幀#8上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#6上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第一部TD-LTE終端UEl的C-RNTI加 擾，指示第一部TD-LTE終端UEl在子幀#2上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#9上傳輸?shù)南滦?PDCCH信號以第二部TD-LTE終端UE2的C-RNTI加擾，指示第二部TD-LTE終端UE2在子幀 #3上傳輸上行PUSCH信號；第一部TD-LTE終端UEl、第二部TD-LTE終端UE2、第三部TD-LTE 終端UE3、第四部TD-LTE終端UE4會根據(jù)各自的C-RNTI檢測到屬于自己的下行PDCCH信 號，解析DCI信息，并依次在子幀#2、子幀#3、子幀#7、子幀#8傳輸各自的上行PUSCH信號， 由此完成了各個TD-LTE終端在指定子幀上傳輸上行PUSCH信號的過程。上、下行子幀配置0與上述配置1的情況基本類似，不同之處在于1)上下行子 幀配置為配置O時，根據(jù)3GPP協(xié)議，需要將下行PDCCH信號攜帶的DCI控制信息中UL Index (Up link Index，上行索引值)設(shè)置為二進制數(shù)10 ;2)配置0時1個無線幀有2個下 行子幀，6個上行子幀，2個同步子幀；在子幀#0上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第二部TD-LTE 終端UE2的C-RNTI加擾，指示第二部TD-LTE終端UE2在子幀#4上傳輸上行PUSCH信號； 在子幀#1上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第三部TD-LTE終端UE3的C-RNTI加擾，指示第三 部TD-LTE終端UE3在子幀#7上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#5上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號 以第四部TD-LTE終端UE4的C-RNTI加擾，指示第四部TD-LTE終端UE4在子幀#9上傳輸 上行PUSCH信號；在子幀#6上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第一部TD-LTE終端UEl的C-RNTI 加擾，指示第一部TD-LTE終端UEl在子幀#2上傳輸上行PUSCH信號；第一部TD-LTE終端 UEl、第二部TD-LTE終端UE2、第三部TD-LTE終端UE3、第四部TD-LTE終端UE4會根據(jù)各自 的C-RNTI檢測到屬于自己的下行PDCCH信號，解析DCI信息，并依次在子幀#2、子幀#4、子 幀#7、子幀#9傳輸各自的上行PUSCH信號，上、下行子幀配置1或0的情況下2部TD-LTE終端和3部TD-LTE終端與上述4部 TD-LTE終端同時進行信令連接條件下射頻測試的方法基本類似。當(dāng)同時測試3部TD-LTE終 端時，不考慮TD-LTE終端UE4的開機入網(wǎng)流程、TD-LTE終端識別、PDCCH攜帶的DCI指示的 時域資源安排、數(shù)據(jù)采集和分析等相應(yīng)操作；同時測試2部TD-LTE終端時，不考慮TD-LTE 終端UE3和UE4的相應(yīng)操作；測試1部TD-LTE終端時，不考慮TD-LTE終端UE2、UE3和UE4 的相應(yīng)操作。上述技術(shù)方案中，如圖4所示，在步驟4)中，數(shù)據(jù)采集觸發(fā)信號為在子幀#0的結(jié) 束處設(shè)置為低電平，此無線幀的子幀#6結(jié)束處對應(yīng)的設(shè)置為高電平。本說明書未作詳細描述的內(nèi)容屬于本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員公知的現(xiàn)有技術(shù)。
權(quán)利要求
一種用于同時測試多部TD LTE終端射頻性能的方法，其特征在于它包括如下步驟1)打開TD LTE終端綜合測試儀的電源并按照3GPP協(xié)議關(guān)于TD LTE終端射頻測試規(guī)范的參數(shù)要求，設(shè)置好TD LTE終端入網(wǎng)所需的系統(tǒng)參數(shù)，使TD LTE終端綜合測試儀處于等待TD LTE終端開機入網(wǎng)的狀態(tài)，系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置1，即1個無線幀有4個下行子幀，4個上行子幀，2個同步子幀，或系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置0，即1個無線幀有2個下行子幀，6個上行子幀，2個同步子幀；將SIM卡編號后插入待測的2～4部TD LTE終端中，按照所述SIM卡依次標(biāo)記相應(yīng)的TD LTE終端；將TD LTE終端與TD LTE終端綜合測試儀進行射頻連接，給TD LTE終端上電，進行TD LTE終端的開機入網(wǎng)信令流程；2)在TD LTE終端開機入網(wǎng)信令流程中，TD LTE終端綜合測試儀通過NAS信令查詢到所述TD LTE終端中SIM卡的IMSI號，并與入網(wǎng)流程中分配給各TD LTE終端的S TMSI號和C RNTI標(biāo)識號相關(guān)聯(lián)，以此識別TD LTE終端是哪一部TD LTE終端；通過這個過程，TD LTE終端、TD LTE終端各自的SIM卡IMSI號、S TMSI號和C RNTI建立了一一對應(yīng)關(guān)系，用于在時域上區(qū)分測試的是哪部TD LTE終端的信號；3)TD LTE終端綜合測試儀尋呼各TD LTE終端并建立專用的無線承載；當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置1時，無線幀中的子幀#1、子幀#4、子幀#6、子幀#9上以DCI格式0分別傳輸各TD LTE終端的下行PDCCH信號；當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置0時，無線幀中的子幀#0、子幀#1、子幀#5、子幀#6上以DCI格式0分別傳輸各TD LTE終端的下行PDCCH信號；然后通過下行PDCCH信號攜帶的DCI信息指定各TD LTE終端分別在對應(yīng)的上行子幀上傳輸上行PUSCH信號；4)TD LTE終端綜合測試儀利用系統(tǒng)模擬器的數(shù)據(jù)采集觸發(fā)信號采集TD LTE終端的上行PUSCH信號，再將此采集的上行PUSCH信號傳輸給TD LTE終端綜合測試儀的信號處理模塊計算得到TD LTE終端的射頻性能指標(biāo)的參數(shù)值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的方法，其特征在 于所述TD-LTE終端為4部。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的方法，其特征在 于在步驟3)中，當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置1時，在子幀#1上傳輸?shù)南滦蠵DCCH 信號以第三部TD-LTE終端UE3的C-RNTI加擾，指示第三部TD-LTE終端UE3在子幀#7上傳 輸上行PUSCH信號；在子幀#4上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第四部TD-LTE終端UE4的C-RNTI 加擾，指示第四部TD-LTE終端UE4在子幀#8上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#6上傳輸?shù)?下行PDCCH信號以第一部TD-LTE終端UEl的C-RNTI加擾，指示第一部TD-LTE終端UEl在 子幀#2上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#9上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第二部TD-LTE終端 UE2的C-RNTI加擾，指示第二部TD-LTE終端UE2在子幀#3上傳輸上行PUSCH信號；第一 部TD-LTE終端UEl、第二部TD-LTE終端UE2、第三部TD-LTE終端UE3、第四部TD-LTE終端 UE4會根據(jù)各自的C-RNTI檢測到屬于自己的下行PDCCH信號，解析DCI信息，并依次在子幀 #2、子幀#3、子幀#7、子幀#8傳輸各自的上行PUSCH信號；當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置為配置0時，根據(jù)3GPP協(xié)議，在各子幀上的下行PDCCH 信號攜帶的DCI控制信息中UL Index設(shè)置為二進制數(shù)10 ；在子幀#0上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信 號以第二部TD-LTE終端UE2的C-RNTI加擾，指示第二部TD-LTE終端UE2在子幀#4上傳輸 上行PUSCH信號；在子幀#1上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第三部TD-LTE終端UE3的C-RNTI加擾，指示第三部TD-LTE終端UE3在子幀#7上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#5上傳輸?shù)?下行PDCCH信號以第四部TD-LTE終端UE4的C-RNTI加擾，指示第四部TD-LTE終端UE4在 子幀#9上傳輸上行PUSCH信號；在子幀#6上傳輸?shù)南滦蠵DCCH信號以第一部TD-LTE終端 UEl的C-RNTI加擾，指示第一部TD-LTE終端UEl在子幀#2上傳輸上行PUSCH信號；第一 部TD-LTE終端UEl、第二部TD-LTE終端UE2、第三部TD-LTE終端UE3、第四部TD-LTE終端 UE4會根據(jù)各自的C-RNTI檢測到屬于自己的下行PDCCH信號，解析DCI信息，并依次在子幀 #2、子幀#4、子幀#7、子幀#9傳輸各自的上行PUSCH信號；由此完成了各個TD-LTE終端在 指定子幀上傳輸上行PUSCH信號的過程。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的方法，其特征在 于在步驟4)中，數(shù)據(jù)采集觸發(fā)信號為在無線幀的子幀#0結(jié)束處設(shè)置為低電平，此無線幀 的子幀#6結(jié)束處對應(yīng)的設(shè)置為高電平。
5.一種實現(xiàn)權(quán)利要求1所述方法的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的裝置，其 特征在于它包括主控單元、系統(tǒng)模擬器、功率分配單元和射頻處理單元，其中，所述系統(tǒng)模 擬器和射頻處理單元均通過PXI總線連接主控單元，所述系統(tǒng)模擬器與射頻處理單元通過 LDVS數(shù)據(jù)接口連接，所述射頻處理單元具有射頻發(fā)射單元、射頻接收單元和本振單元，所述 本振單元用于給射頻發(fā)射單元和射頻接收單元提供載波信號以及參考時鐘信號，所述功率 分配單元通過射頻接口連接所述射頻處理單元，所述功率分配單元通過PXI總線連接到主 控單元；所述功率分配單元用于實現(xiàn)上、下行信號的功率分配，并且將多部TD-LTE終端并 聯(lián)到TD-LTE終端綜合測試儀。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的裝置，其特征在 于所述系統(tǒng)模擬器根據(jù)3GPP協(xié)議對應(yīng)的協(xié)議規(guī)范，模擬出物理層協(xié)議、數(shù)據(jù)鏈路層協(xié)議、 網(wǎng)絡(luò)層協(xié)議和NAS層協(xié)議；所述系統(tǒng)模擬器用于建立和維持TD-LTE終端綜合測試儀和被測 TD-LTE終端之間的無線承載，便于進行信令連接情況下的射頻性能的測試，所述系統(tǒng)模擬 器產(chǎn)生下行數(shù)字基帶I/Q信號，經(jīng)過LVDS數(shù)據(jù)接口送到射頻發(fā)射單元，所述系統(tǒng)模擬器將 來自射頻接收單元的上行數(shù)字基帶I/Q信號還原成信令和業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的裝置，其特征在 于所述射頻發(fā)射單元用來將系統(tǒng)模擬器產(chǎn)生的下行數(shù)字基帶I/Q信號進行調(diào)制和上變頻 處理后發(fā)射給被測TD-LTE終端。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的裝置，其特征在 于所述射頻接收模塊接收被測TD-LTE終端的射頻信號，并將該被測TD-LTE終端的射頻信 號下變頻為中頻信號，再轉(zhuǎn)化為數(shù)字中頻信號，然后經(jīng)正交解調(diào)后轉(zhuǎn)換為上行數(shù)字基帶信 號，所述上行數(shù)字基帶I/Q信號一路經(jīng)過LVDS接口實時傳送到系統(tǒng)模擬器中恢復(fù)為信令和 數(shù)據(jù)，以保持信令的連接，另一路緩存在接收模塊的數(shù)據(jù)緩沖區(qū)中并經(jīng)過PXI總線送到主 控單元進行射頻指標(biāo)分析。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的裝置，其特征在 于所述主控單元包括人機接口單元、集成控制單元、信號處理單元和遠程控制單元，所述 集成控制單元用于控制系統(tǒng)模擬器、射頻處理單元和射頻切換開關(guān)單元；所述信號處理單 元用于分析被測TD-LTE終端的射頻性能；所述遠程控制單元用于TD-LTE終端綜合測試儀 與計算機進行遠程交互，實現(xiàn)TD-LTE終端綜合測試儀的遠程控制。
全文摘要
一種用于同時測試多部TD-LTE終端射頻性能的方法和裝置，方法步驟為，將SIM卡編號插入2～4部終端；使綜合測試儀處于等待終端開機入網(wǎng)狀態(tài)，將SIM卡標(biāo)記的終端與綜合測試儀進行射頻連接，給終端上電；將終端各自的SIM卡IMSI號、S-TMSI號和C-RNTI建立對應(yīng)關(guān)系；將綜合測試儀的網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)參數(shù)中上下行子幀配置選擇為配置1或配置0；在無線幀中的對應(yīng)子幀上以DCI格式0分別傳輸各終端的下行PDCCH信號，通過下行PDCCH信號攜帶的DCI信息指定各終端分別在對應(yīng)的上行子幀上傳輸上行PUSCH信號；綜合測試儀分析該PUSCH的射頻性能。該裝置包括主控單元、系統(tǒng)模擬器和射頻處理單元，射頻處理單元具有射頻發(fā)射單元、射頻接收單元和本振單元。本發(fā)明使得一綜合測試儀可同時對多部終端進行射頻性能測試，且信號間干擾較小。
文檔編號H04B17/00GK101944962SQ201010272398
公開日2011年1月12日 申請日期2010年9月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月2日
發(fā)明者張家平, 朱富利, 王波, 王海, 羅先禮 申請人:湖北眾友科技實業(yè)股份有限公司