專利名稱：信號(hào)檢測(cè)方法、裝置和基站的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及信號(hào)檢測(cè)方法、信號(hào)檢測(cè)裝置和基站。
技術(shù)背景
在無(wú)線通信系統(tǒng)中，駐波比檢測(cè)是衡量發(fā)信系統(tǒng)工作狀態(tài)的重要手段。目前駐 波比檢測(cè)常用的方法是，采用定向耦合器耦合射頻通道上的信號(hào)，該信號(hào)包括前向信號(hào) 和反射信號(hào)，然后利用耦合到的前向信號(hào)的功率和耦合到的反射信號(hào)的功率來(lái)計(jì)算駐波 比、反射系數(shù)等反映饋線特性阻抗與負(fù)載阻抗匹配程度的表征量(簡(jiǎn)稱為阻抗匹配表征 參數(shù))。
在本發(fā)明的研究過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，這種測(cè)試方法中，定向耦合器的方向性 對(duì)阻抗匹配表征參數(shù)的影響難以確定，對(duì)駐波比檢測(cè)精度影響較大。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種信號(hào)檢測(cè)方法、信號(hào)檢測(cè)裝置和基站，以降低耦合器方向性 不理想造成的不確定誤差。
本發(fā)明一方面提供了一種信號(hào)檢測(cè)方法，該方法包括
通過(guò)第一耦合器和第二耦合器耦合待測(cè)通道上的信號(hào)，第一耦合器和第二耦合 器之間的傳輸線的長(zhǎng)度為四分之一波長(zhǎng)的奇數(shù)倍，所述第一耦合器和第二耦合器的方向 性相同；
對(duì)第一耦合器耦合到的信號(hào)進(jìn)行功率檢波獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一 檢測(cè)結(jié)果，對(duì)第二耦合器耦合到的信號(hào)進(jìn)行功率檢波獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第 二檢測(cè)結(jié)果；
獲取待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果和待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第 二檢測(cè)結(jié)果的均量本發(fā)明另一方面提供了一種信號(hào)檢測(cè)裝置，用于對(duì)待測(cè)通道進(jìn)行信號(hào) 檢測(cè)，該裝置包括第一耦合器、第二耦合器、功率檢波單元和信號(hào)獲得單元，
所述第一耦合器和第二耦合器均用于耦合所述待測(cè)通道上的信號(hào)，第一耦合器 和第二耦合器之間的傳輸線的長(zhǎng)度為四分之一波長(zhǎng)的奇數(shù)倍，所述第一耦合器和第二耦 合器的方向性相同；
功率檢波單元，與第一耦合器和第二耦合器相連，用于對(duì)第一耦合器輸出的信 號(hào)進(jìn)行功率檢波，獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果，并對(duì)第二耦合器輸出 的信號(hào)進(jìn)行功率檢波，獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢測(cè)結(jié)果；
信號(hào)獲得單元，與功率檢波單元相連，用于獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第 一檢測(cè)結(jié)果和待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢測(cè)結(jié)果的均量，作為待測(cè)通道上的信號(hào) 的功率的第三檢測(cè)結(jié)果。
本發(fā)明另一方面提供了一種基站，該基站包括射頻通道和用于對(duì)該射頻通道進(jìn) 行信號(hào)檢測(cè)的本發(fā)明提供的信號(hào)檢測(cè)裝置。
采用本發(fā)明提供的信號(hào)檢測(cè)的方法、裝置和基站，可以降低耦合器方向性不理 想造成的不確定誤差，從而使耦合器的方向性對(duì)阻抗匹配表征參數(shù)的影響可校正，降低 耦合器的方向性對(duì)駐波檢測(cè)精度的影響，并提高駐波檢測(cè)精度。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中駐波檢測(cè)裝置的示意圖2為本發(fā)明實(shí)施例一中提供的一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖3a為本發(fā)明實(shí)施例二中提供的一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖3b為本發(fā)明實(shí)施例二中提供的另一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖4為本發(fā)明實(shí)施例三中提供的一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖5為本發(fā)明實(shí)施例四中提供的一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖虹為本發(fā)明實(shí)施例五中提供的一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖冊(cè)為本發(fā)明實(shí)施例五中提供的另一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖7a為本發(fā)明實(shí)施例六中提供的一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖7b為本發(fā)明實(shí)施例六中提供的另一種信號(hào)檢測(cè)裝置的示意圖8a為本發(fā)明實(shí)施例八中提供的一種信號(hào)檢測(cè)方法的流程示意圖池為本發(fā)明實(shí)施例八中提供的另一種信號(hào)檢測(cè)方法的流程示意圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種信號(hào)檢測(cè)方法、信號(hào)檢測(cè)裝置和基站，以降低耦合器 方向性不理想造成的不確定誤差，從而使耦合器的方向性對(duì)阻抗匹配表征參數(shù)的影響可 校正，降低耦合器的方向性對(duì)駐波檢測(cè)精度的影響，并提高駐波檢測(cè)精度。
在現(xiàn)有技術(shù)中，通常采用如圖1所示的單個(gè)定向耦合器101，定向耦合器可以 對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行耦合，并將耦合到的信號(hào)從耦合端輸出。以定向耦合器耦合射頻通道上 的信號(hào)為例，該定向耦合器101可以對(duì)射頻通道上的前向信號(hào)或反射信號(hào)進(jìn)行耦合，即 輸入信號(hào)為射頻通道上的前向信號(hào)或反射信號(hào)。定向耦合器101包括兩個(gè)輸出端口，若 定向耦合器用于耦合前向信號(hào)，則將定向耦合器輸出耦合到的前向信號(hào)的端口稱為耦合 端，將另一個(gè)端口稱為隔離端，若定向耦合器用于耦合反射信號(hào)，則將定向耦合器輸出 耦合到的反射信號(hào)的端口稱為耦合端，將另一個(gè)端口稱為隔離端。圖1所示的定向耦合 器101用于耦合反射信號(hào)，包括耦合端1011和隔離端1013。
假設(shè)該定向耦合器方向性參數(shù)為D，D為非對(duì)數(shù)值，通常為大于1的值。前向 信號(hào)耦合到隔離端1013的信號(hào)的功率為A' 2，前向信號(hào)耦合到耦合端1011的信號(hào)的功 率為A2=' 2ZD,反射信號(hào)耦合到耦合端1011的信號(hào)的功率為B2，反射信號(hào)耦合到隔離 端1013的信號(hào)的功率為B2/D，若不考慮耦合到耦合端的前向信號(hào)和耦合到隔離端的反射信號(hào)，即定向耦合器方向性為無(wú)窮大，則真實(shí)的反射系數(shù)幅度為|r。| = V^7^ (0-1)
在通常情況下，定向耦合器的方向性不會(huì)無(wú)窮大，耦合到定向耦合器101耦合端的信號(hào)可以表示為
T1= A cos ω + Β cos(at + φ、，( 1 -1 )
其中ω為信號(hào)頻率，^是前向信號(hào)和反射信號(hào)耦合到耦合器耦合端的信號(hào)之間 的相位差。
式1-1可以變換為
權(quán)利要求
1.一種信號(hào)檢測(cè)裝置，用于對(duì)待測(cè)通道進(jìn)行信號(hào)檢測(cè)，其特征在于，包括第一耦合 器、第二耦合器、功率檢波單元和信號(hào)獲得單元，所述第一耦合器和第二耦合器均用于耦合所述待測(cè)通道上的信號(hào)，第一耦合器和第 二耦合器之間的傳輸線的長(zhǎng)度為四分之一波長(zhǎng)的奇數(shù)倍，所述第一耦合器和第二耦合器 的方向性相同；功率檢波單元，與第一耦合器和第二耦合器相連，用于對(duì)第一耦合器輸出的信號(hào)進(jìn) 行功率檢波，獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果，并對(duì)第二耦合器輸出的信 號(hào)進(jìn)行功率檢波，獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢測(cè)結(jié)果；信號(hào)獲得單元，與功率檢波單元相連，用于獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢 測(cè)結(jié)果和待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢測(cè)結(jié)果的均量，作為待測(cè)通道上的信號(hào)的功 率的第三檢測(cè)結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述功率檢波單元包括第一功率 檢波器和第二功率檢波器，其中，第一功率檢波器與第一耦合器和信號(hào)獲得單元相連，用于對(duì)第一耦合器的輸出進(jìn)行 功率檢波，并輸出給信號(hào)獲得單元；第二功率檢波器與第二耦合器和信號(hào)獲得單元相連，用于對(duì)第二耦合器的輸出進(jìn)行 功率檢波，并輸出給信號(hào)獲得單元。
3.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述功率檢波單元包括開關(guān)和功 率檢波器，其中，開關(guān)與第一耦合器和第二耦合器分別相連，用于對(duì)第一耦合器和第二耦合器的輸出 進(jìn)行切換，使功率檢波器分時(shí)對(duì)第一耦合器和第二耦合器的輸出進(jìn)行功率檢波；功率檢波器與開關(guān)和信號(hào)獲得單元相連，用于對(duì)第一耦合器或第二耦合器的輸出進(jìn) 行功率檢波，并輸出給信號(hào)獲得單元。
4.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述待測(cè)通道為射頻或微波通 道，所述射頻或微波通道上的信號(hào)包括前向信號(hào)和反射信號(hào)，所述第一耦合器和第二耦 合器均用于耦合所述前向信號(hào)或反射信號(hào)。
5.如權(quán)利要求4所述的信號(hào)檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括阻抗匹配表征參數(shù)獲得單 元，與所述信號(hào)獲得單元相連，用于根據(jù)所述待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第三檢測(cè)結(jié)果 計(jì)算阻抗匹配表征參數(shù)。
6.如權(quán)利要求5所述的信號(hào)檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括校正單元，與所述阻抗匹 配表征參數(shù)獲得單元相連，用于根據(jù)所獲得的第一耦合器或第二耦合器的方向性參數(shù)對(duì) 所計(jì)算出的阻抗匹配表征參數(shù)進(jìn)行校正。
7.如權(quán)利要求1至6任意一項(xiàng)所述的信號(hào)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一耦合器或 第二耦合器為定向耦合器、環(huán)行器、隔離器中的一種。
8.—種基站，其特征在于，包括射頻通道和如權(quán)利要求1至7任意一項(xiàng)所述的信號(hào)檢 測(cè)裝置，所述待測(cè)通道為射頻通道。
9.一種信號(hào)檢測(cè)方法，其特征在于，包括通過(guò)第一耦合器和第二耦合器耦合待測(cè)通道上的信號(hào)，第一耦合器和第二耦合器之 間的傳輸線的長(zhǎng)度為四分之一波長(zhǎng)的奇數(shù)倍，所述第一耦合器和第二耦合器的方向性相同；對(duì)第一耦合器耦合到的信號(hào)進(jìn)行功率檢波獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè) 結(jié)果，對(duì)第二耦合器耦合到的信號(hào)進(jìn)行功率檢波獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢 測(cè)結(jié)果；獲取待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果和待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢 測(cè)結(jié)果的均量。
10.如權(quán)利要求9所述的信號(hào)檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)第一耦合器耦合到的信 號(hào)進(jìn)行功率檢波獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果，對(duì)第二耦合器耦合到的 信號(hào)進(jìn)行功率檢波獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢測(cè)結(jié)果包括通過(guò)第一功率檢波器對(duì)第一耦合器耦合到的信號(hào)進(jìn)行功率檢波獲得待測(cè)通道上的信 號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果，通過(guò)第二功率檢波器對(duì)第二耦合器耦合到的信號(hào)進(jìn)行功率檢 波獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢測(cè)結(jié)果；或者，分時(shí)對(duì)第一耦合器耦合到的信號(hào)和第二耦合器耦合到的信號(hào)進(jìn)行功率檢波，分時(shí) 獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果和待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第二檢測(cè)結(jié)果。
11.如權(quán)利要求9或10所述的信號(hào)檢測(cè)方法，其特征在于，還包括根據(jù)所述待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果和待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第 二檢測(cè)結(jié)果的均量計(jì)算阻抗匹配表征參數(shù)。
12.如權(quán)利要求11所述的信號(hào)檢測(cè)方法，其特征在于，還包括根據(jù)第一耦合器或第二耦合器的方向性參數(shù)對(duì)阻抗匹配表征參數(shù)進(jìn)行校正。
13.如權(quán)利要求11所述的信號(hào)檢測(cè)方法，其特征在于，所述阻抗匹配表征參數(shù)為駐波 比或反射系數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種信號(hào)檢測(cè)方法、裝置和基站。一種信號(hào)檢測(cè)裝置，包括第一耦合器、第二耦合器、功率檢波單元和信號(hào)獲得單元，第一耦合器和第二耦合器之間的傳輸線的長(zhǎng)度為四分之一波長(zhǎng)的奇數(shù)倍，第一耦合器和第二耦合器的方向性相同；功率檢波單元，與第一耦合器和第二耦合器相連，用于對(duì)第一耦合器和第二耦合器輸出的信號(hào)進(jìn)行功率檢波，分別獲得待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第一檢測(cè)結(jié)果和第二檢測(cè)結(jié)果；信號(hào)獲得單元，與功率檢波單元相連，用于獲得第一檢測(cè)結(jié)果和第二檢測(cè)結(jié)果的均量，作為待測(cè)通道上的信號(hào)的功率的第三檢測(cè)結(jié)果。采用本發(fā)明提供的方法、裝置和基站，可以降低耦合器方向性不理想造成的不確定誤差。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102025433SQ20101061282
公開日2011年4月20日 申請(qǐng)日期2010年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月29日
發(fā)明者孫捷, 孫益軍, 曾志雄 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司