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      千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀的制作方法

      文檔序號(hào):7584723閱讀:272來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種通信測(cè)試設(shè)備中的突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀,尤其涉及一種用于千兆 無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端(GPON 0LT)光模塊突發(fā)接收測(cè)試的千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端 (GPON 0LT)光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀。
      背景技術(shù)
      最近幾年,F(xiàn)TTH發(fā)展迅猛,PON作為FTTH的首選方案,其中的核心部件之一就是 OLT光模塊,GPON由于高效率和全業(yè)務(wù)能力得到了業(yè)界的公認(rèn),采用P2MP方式,OLT接收機(jī) 工作于突發(fā)模式,對(duì)其突發(fā)靈敏度的測(cè)試必須采用突發(fā)模式的誤碼檢測(cè)儀,而常見(jiàn)的誤碼 儀只能測(cè)試工作于連續(xù)模式下的接收機(jī)靈敏度,使得OLT突發(fā)靈敏度測(cè)試成為一個(gè)業(yè)界難 題,在國(guó)際知名測(cè)試設(shè)備提供商(如美國(guó)Agilent公司等)提供的測(cè)試方案中,系統(tǒng)搭建和 使用復(fù)雜,且價(jià)格高昂,限制了推廣使用。

      發(fā)明內(nèi)容
      有鑒于此,本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種用于千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終 端(GPON 0LT)光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀,通過(guò)本技術(shù)方案,能夠簡(jiǎn)單方便地測(cè)試千兆無(wú) 源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端(GPON 0LT)光模塊在不同防護(hù)時(shí)間(GUARD TIME)、前導(dǎo)碼(PREAMBLE BIT)長(zhǎng)度、連續(xù)相同碼(CID)長(zhǎng)度、復(fù)位(RESET)脈沖位置下的靈敏度、飽和值及動(dòng)態(tài)范圍, 滿足GPON OLT光模塊研發(fā)和生產(chǎn)的需要。為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路 終端(GPON 0LT)光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀,包括突發(fā)信號(hào)混合電路、突發(fā)信號(hào)提取電路、 時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路、時(shí)序控制電路、突發(fā)光產(chǎn)生單元、通訊接口電路和電源電路;所述突發(fā)信號(hào)混合電路分別連接至突發(fā)光產(chǎn)生單元、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路、時(shí)序控 制電路和脈沖碼型發(fā)生器;所述突發(fā)信號(hào)提取電路分別連接至待測(cè)光模塊、時(shí)序控制電路和誤碼檢測(cè)儀;所述時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路與時(shí)序控制電路相連接;所述時(shí)序控制電路分別連接至突發(fā)光產(chǎn)生單元、通訊接口電路和待測(cè)光模塊;所述通訊接口電路分別連接至微機(jī);所述電源電路為整個(gè)測(cè)試儀中所述的各項(xiàng)電路和單元提供穩(wěn)定的直流電壓。所述突發(fā)信號(hào)混合電路由扇出器、高速或門、電平轉(zhuǎn)換器、分頻器、高速與門組成; 所述扇出器分別與高速或門、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路及脈沖碼型發(fā)生器相連,高速或門分別與 電平轉(zhuǎn)換器及高速與門相連,電平轉(zhuǎn)換器分別與突發(fā)光產(chǎn)生單元相連,分頻器分別與脈沖 碼型發(fā)生器和高速與門相連,高速與門與時(shí)序控制電路相連。所述突發(fā)信號(hào)提取電路由高速與門和電平轉(zhuǎn)換器組成,所述高速與門分別與時(shí)序 控制電路、電平轉(zhuǎn)換器和待測(cè)光模塊相連,電平轉(zhuǎn)換器分別與誤碼檢測(cè)儀相連。所述時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路由包絡(luò)檢測(cè)器、信號(hào)跳變鎖存器、電平轉(zhuǎn)換器組成;所述包絡(luò)檢測(cè)器分別與突發(fā)信號(hào)混合電路、時(shí)序控制電路相連,跳變信號(hào)鎖存器分別與突發(fā)信號(hào) 混合電路、時(shí)序控制電路、電平轉(zhuǎn)換器相連,電平轉(zhuǎn)換器分別與時(shí)序控制電路相連。在進(jìn)行檢測(cè)工作時(shí),脈沖碼型發(fā)生器(PPG)給突發(fā)信號(hào)混合電路輸入兩路信號(hào), 一路信號(hào)為每個(gè)周期插入固定數(shù)量長(zhǎng)連的0信號(hào)偽隨機(jī)碼,另一路信號(hào)為時(shí)鐘信號(hào);時(shí)基 信號(hào)檢測(cè)電路對(duì)插入長(zhǎng)0信號(hào)偽隨機(jī)碼進(jìn)行檢測(cè),輸出該偽隨機(jī)碼非長(zhǎng)連0的,以邏輯電 平表示(ENVELOP)的包絡(luò)和起始點(diǎn)檢測(cè)信號(hào)(SD),以上升沿表示給時(shí)序控制電路;該時(shí)序 控制電路將檢測(cè)信號(hào)(SD)的上升沿作為偽隨機(jī)碼非長(zhǎng)0部分的起始點(diǎn),其它時(shí)序控制信 號(hào)將該起始點(diǎn)作為時(shí)間信號(hào)的基準(zhǔn);時(shí)序控制電路將以邏輯電平表示(ENVELOP)的下降沿 作為偽隨機(jī)碼非長(zhǎng)0部分的結(jié)束點(diǎn),用于給檢測(cè)信號(hào)(SD)檢測(cè)器復(fù)位之用;時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò) 分頻后,在前導(dǎo)碼使能(PREAMBLE EN)信號(hào)的控制下,將指定長(zhǎng)度的0和1交替的信號(hào)替 換到每個(gè)長(zhǎng)連0周期的固定位置,和插入長(zhǎng)0的偽隨機(jī)碼混合成指定幀格式的上行突發(fā)數(shù) 字電信號(hào);突發(fā)光產(chǎn)生單元的兩只光網(wǎng)絡(luò)單元(ONU)在時(shí)序控制電路發(fā)出的突發(fā)使能信號(hào) I(BENl)和突發(fā)使能信號(hào)2(BEN2)的激勵(lì)下,將上行突發(fā)數(shù)字電信號(hào)轉(zhuǎn)換為上行突發(fā)光信 號(hào),兩路上行突發(fā)光合波后送給待測(cè)光模塊,待測(cè)光模塊在復(fù)位信號(hào)的配合下,將此上行突 發(fā)光信號(hào)進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換后恢復(fù)成電信號(hào),突發(fā)信號(hào)提取電路,依據(jù)時(shí)序控制電路發(fā)出的掩 碼(MASK)信號(hào)對(duì)待測(cè)光模塊恢復(fù)出來(lái)的電信號(hào)進(jìn)行截取,將需要進(jìn)行誤碼檢測(cè)的部分送 入誤碼檢測(cè)儀(ED)進(jìn)行誤碼比對(duì),完成GPON OLT光模塊接收性能的測(cè)試。本發(fā)明達(dá)到的技術(shù)效果如下一種千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端(GP0N0LT)光模塊 突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀,通過(guò)本技術(shù)方案,實(shí)現(xiàn)了對(duì)GPON OLT光模塊進(jìn)行性能測(cè)試的要求; 測(cè)試平臺(tái)搭建簡(jiǎn)單,實(shí)現(xiàn)成本低,使用方便;能夠通過(guò)微機(jī)界面實(shí)現(xiàn)對(duì)各種參數(shù)的調(diào)節(jié),各 種參數(shù)的時(shí)序關(guān)系能夠在微機(jī)界面上直觀的顯示,總之本發(fā)明的產(chǎn)品能夠方便地測(cè)試GPON OLT光模塊在不同防護(hù)時(shí)間(GUARD TIME)、前導(dǎo)碼(PREAMBLE BIT)長(zhǎng)度、連續(xù)相同碼(CID) 長(zhǎng)度、復(fù)位(RESET)脈沖位置下的靈敏度、飽和值及動(dòng)態(tài)范圍,從而滿足千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光 線路終端(GPON 0LT)光模塊性能測(cè)試的需要。


      圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)連接方框圖;圖2為時(shí)序控制信號(hào)的時(shí)序圖;圖3為突發(fā)信號(hào)混合電路的連接結(jié)構(gòu)方框圖;圖4為突發(fā)信號(hào)提取電路的連接結(jié)構(gòu)方框圖;圖5為時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路的連接結(jié)構(gòu)方框圖;圖6為時(shí)序控制電路的連接結(jié)構(gòu)方框圖;圖中,100-突發(fā)信號(hào)混合電路;110-扇出器電路,120-高速或門電路,130-電平轉(zhuǎn)換器電路,140-分頻器電路,150-高速與門電路。
      200-突發(fā)信號(hào)提取電路;
      210-高速與門電路,
      220-電平轉(zhuǎn)換器電路。
      300-時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路;
      310-包絡(luò)檢測(cè)器電路,
      320-跳變信號(hào)鎖存器電路,
      330-電平轉(zhuǎn)換器電路。
      400-時(shí)序控制電路;
      500-突發(fā)光產(chǎn)生單元;
      600-通訊接口電路;
      700-電源電路;
      800-脈沖碼型發(fā)生器;
      900-待測(cè)光模塊;
      1000-誤碼檢測(cè)儀;
      1100-微機(jī)。
      具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案和實(shí)施例作進(jìn)一步說(shuō)明。本發(fā)明涉及的一種千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端(GPON 0LT)光模塊突發(fā)模式誤碼 測(cè)試儀,如圖1所示,包括突發(fā)信號(hào)混合電路100、突發(fā)信號(hào)提取電路200、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電 路300、時(shí)序控制電路400、突發(fā)光產(chǎn)生單元500、通訊接口電路600和電源電路700 ;所述突發(fā)信號(hào)混合電路100分別連接至突發(fā)光產(chǎn)生單元500、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路 300、時(shí)序控制電路400和脈沖碼型發(fā)生器800 ;所述突發(fā)信號(hào)提取電路200分別連接至待測(cè)光模塊900、時(shí)序控制電路400和誤碼 檢測(cè)儀1000 ;所述時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路300與時(shí)序控制電路400相連接;所述時(shí)序控制電路400分別連接至突發(fā)光產(chǎn)生單元500、通訊接口電路600和待測(cè) 光模塊900 ;所述通訊接口電路600分別連接至微機(jī)1100 ;所述電源電路700為整個(gè)測(cè)試儀中所述的各項(xiàng)電路和單元提供穩(wěn)定的直流電壓。如圖2和圖3所示,所述突發(fā)信號(hào)混合電路100由扇出器110、高速或門120、電平 轉(zhuǎn)換器130、分頻器140、高速與門150組成;其功能為產(chǎn)生光模塊測(cè)試所需的上行數(shù)字突發(fā) 電信號(hào);扇出器110分別與高速或門120、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路300及脈沖碼型發(fā)生器PPG相 連,高速或門120分別與扇出器110、電平轉(zhuǎn)換器130及高速與門150相連,電平轉(zhuǎn)換器130 分別與高速或門120、突發(fā)光產(chǎn)生單元500相連,分頻器140分別與脈沖碼型發(fā)生器和高速 與門相連,高速與門150分別與分頻器140、高速或門120、時(shí)序控制電路400相連。所述扇出器110由芯片SY58012及常用外圍電路組成,其功能是將信號(hào)發(fā)生器產(chǎn) 生的插入長(zhǎng)0的偽隨機(jī)碼分為兩路,一路繼續(xù)作為高速數(shù)據(jù)信號(hào)給后續(xù)電路,另一路則送 給時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路300,用于檢測(cè)插入長(zhǎng)0的偽隨機(jī)碼的非長(zhǎng)0起始點(diǎn)。
      所述高速或門120由芯片STO8051及常用外圍電路組成,其功能是將帶長(zhǎng)0的偽 隨機(jī)碼和高速與門150輸出的前導(dǎo)碼信號(hào)進(jìn)行邏輯或,產(chǎn)生GPON OLT光模塊性能測(cè)試所需 的上行突發(fā)電信號(hào)。所述電平轉(zhuǎn)換器130由芯片SY89327及常用外圍電路組成,其功能是將高速或門 120輸出的電信號(hào)電平轉(zhuǎn)換成ONU發(fā)射輸入端可接受的電平。所述分頻器140由芯片MC10EP32及常用外圍電路組成,其功能是將信號(hào)發(fā)生器產(chǎn) 生的時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行2分頻,使分頻后的信號(hào)速率和信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的偽隨機(jī)碼信號(hào)速率一 致。所述高速與門150由芯片STO8051及常用外圍電路組成,其功能是將分頻器140 的輸出信號(hào)和時(shí)序控制電路400發(fā)出的前導(dǎo)碼使能信號(hào)進(jìn)行邏輯與,產(chǎn)生所需的前導(dǎo)碼信號(hào)。如圖4所示,所述突發(fā)信號(hào)提取電路200由高速與門210和電平轉(zhuǎn)換器220組成; 其功能為對(duì)待測(cè)光模塊輸出的電信號(hào)進(jìn)行截取,提取出其中需要進(jìn)行誤碼比對(duì)的部分;所 述高速與門210分別與時(shí)序控制電路400、電平轉(zhuǎn)換器220及待測(cè)光模塊相連,電平轉(zhuǎn)換器 220分別與高速與門210和誤碼儀ED相連。所述高速與門210由芯片STO8051及常用外圍電路組成,其功能是將待測(cè)光模塊 輸出的電信號(hào)和時(shí)序控制電路400輸出的信號(hào)提取使能信號(hào)進(jìn)行邏輯與,截取出待測(cè)光模 塊輸出電信號(hào)中需要進(jìn)行誤碼比對(duì)的信號(hào)部分;電平轉(zhuǎn)換器220由芯片SY89327及常用外 圍電路組成,其功能是將高速與門210輸出的電信號(hào)電平轉(zhuǎn)換成誤碼儀可接受的電平。如圖5所示,所述時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路300由包絡(luò)檢測(cè)器310、信號(hào)跳變鎖存器320、 電平轉(zhuǎn)換器330組成;其功能為檢測(cè)插入長(zhǎng)0的偽隨機(jī)碼的非長(zhǎng)0起始點(diǎn);包絡(luò)檢測(cè)器310 分別與突發(fā)信號(hào)混合電路100、時(shí)序控制電路400相連,跳變信號(hào)鎖存器320分別與突發(fā)信 號(hào)混合電路100、時(shí)序控制電路400、電平轉(zhuǎn)換器330相連,電平轉(zhuǎn)換器330分別與信號(hào)跳變 鎖存器320、時(shí)序控制電路400相連。所述包絡(luò)檢測(cè)器310由芯片SY88149及常用外圍電路組成,其功能是檢測(cè)插入長(zhǎng) 0的偽隨機(jī)碼的包絡(luò),將包絡(luò)信號(hào)的下降沿作為一個(gè)循環(huán)周期的結(jié)束點(diǎn),時(shí)序控制電路400 檢測(cè)到包絡(luò)信號(hào)的下降沿后輸出鎖存器復(fù)位信號(hào),對(duì)跳變信號(hào)鎖存器320進(jìn)行復(fù)位。所述跳變信號(hào)鎖存器320由芯片MC100LVEL51及常用外圍電路組成,其功能是檢 測(cè)插入長(zhǎng)0的偽隨機(jī)碼的起始點(diǎn)。信號(hào)跳變鎖存器的數(shù)據(jù)輸入腳拉至高電平,插入長(zhǎng)0的 偽隨機(jī)碼接至信號(hào)跳變鎖存器的時(shí)鐘輸入腳,當(dāng)時(shí)鐘輸入腳檢測(cè)到電平跳變時(shí),信號(hào)跳變 鎖存器的輸出也發(fā)生翻轉(zhuǎn)。鎖存器輸出信號(hào)發(fā)生翻轉(zhuǎn)后不會(huì)自行復(fù)位,時(shí)序控制電路400 發(fā)出的SD RESET復(fù)位信號(hào)對(duì)鎖存器進(jìn)行復(fù)位,使鎖存器能夠捕捉下一個(gè)循環(huán)中插入長(zhǎng)0的 偽隨機(jī)碼的起始點(diǎn)。所述電平轉(zhuǎn)換器330由芯片SY89323及常用外圍電路組成,其功能是將信號(hào)跳變 鎖存器320輸出的電信號(hào)電平轉(zhuǎn)換成時(shí)序控制電路400可接受的電平。如圖6所示,所述時(shí)序控制電路400由芯片V3P250-VQ100、外部時(shí)鐘電路及常用外 圍電路組成 ’芯片V3P250-VQ100為(ACTEL公司)的ft~oASIC3系列高速FPGA,能夠提供片 內(nèi)Ilcbit的片內(nèi)可編程非易失性FlashROM存儲(chǔ)器和基于一個(gè)集成鎖相環(huán)(PLL)的時(shí)鐘調(diào) 節(jié)電路。該芯片主要由邏輯單元、布線資源、時(shí)鐘源、非易失性存儲(chǔ)器、輸入輸出口等組成;所述時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路300中,包絡(luò)檢測(cè)器310輸出的ENVELOP信號(hào)和電平轉(zhuǎn)換器320輸 出的SD信號(hào)送給時(shí)序控制電路400。時(shí)序控制電路400檢測(cè)ENVELOP信號(hào)的下降沿作為插 入長(zhǎng)0的偽隨機(jī)碼的結(jié)束點(diǎn),并產(chǎn)生鎖存器復(fù)位信號(hào)給跳變信號(hào)鎖存器320用于復(fù)位;時(shí)序 控制電路400檢測(cè)SD信號(hào)的上升沿作為插入長(zhǎng)0的偽隨機(jī)碼的起始點(diǎn),OLT復(fù)位信號(hào)、信號(hào) 提取使能信號(hào)、前導(dǎo)碼使能信號(hào)、突發(fā)使能信號(hào)1、突發(fā)使能信號(hào)2以該起始點(diǎn)作為時(shí)間基 準(zhǔn),根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)工作時(shí)序的需要可分別對(duì)上述控制信號(hào)的起始點(diǎn)和信號(hào)寬度進(jìn)行調(diào)整;所述時(shí)序控制電路400還連接至通訊接口電路600,上位機(jī)給通訊接口電路600下 達(dá)各時(shí)序控制信號(hào)調(diào)整的指令,時(shí)序控制電路400接受來(lái)自通訊接口電路600的指令并對(duì) 各時(shí)序控制信號(hào)進(jìn)行調(diào)整。本發(fā)明附圖中有關(guān)英文的中文說(shuō)明,GPON-千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò);FTTH-光纖到戶; P2MP-點(diǎn)對(duì)多點(diǎn);OLT-光線路終端;PRBS-偽隨機(jī)碼;GUARD TIME-防護(hù)時(shí)間;PREAMBLE BIT-前導(dǎo)碼;CID-連續(xù)相同碼;RESET-復(fù)位;ONU-光網(wǎng)絡(luò)單元;FPGA-現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣 列;PPG-脈沖碼型發(fā)生器;ED-誤碼檢測(cè)儀;SD-信號(hào)檢測(cè);MASK-掩碼;BEN-突發(fā)使能; PREAMBLE EN-前導(dǎo)碼使能;ENVELOP-包絡(luò);PAYL0AD-凈荷。以上所述,僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
      權(quán)利要求
      1.一種千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀,其特征在于,包括突 發(fā)信號(hào)混合電路、突發(fā)信號(hào)提取電路、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路、時(shí)序控制電路、突發(fā)光產(chǎn)生單元、 通訊接口電路和電源電路;所述突發(fā)信號(hào)混合電路分別連接至突發(fā)光產(chǎn)生單元、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路、時(shí)序控制電 路和脈沖碼型發(fā)生器;所述突發(fā)信號(hào)提取電路分別連接至待測(cè)光模塊、時(shí)序控制電路和誤碼檢測(cè)儀;所述時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路與時(shí)序控制電路相連接;所述時(shí)序控制電路分別連接至突發(fā)光產(chǎn)生單元、通訊接口電路和待測(cè)光模塊;所述通訊接口電路分別連接至微機(jī);所述電源電路為整個(gè)測(cè)試儀中所述的各項(xiàng)電路和單元提供穩(wěn)定的直流電壓。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀, 其特征在于,所述突發(fā)信號(hào)混合電路由扇出器、高速或門、電平轉(zhuǎn)換器、分頻器、高速與門組 成;所述扇出器分別與高速或門、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路及脈沖碼型發(fā)生器相連,高速或門分別 與電平轉(zhuǎn)換器及高速與門相連,電平轉(zhuǎn)換器分別與突發(fā)光產(chǎn)生單元相連,分頻器分別與脈 沖碼型發(fā)生器和高速與門相連,高速與門與時(shí)序控制電路相連。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀,其 特征在于,所述突發(fā)信號(hào)提取電路由高速與門和電平轉(zhuǎn)換器組成,所述高速與門分別與時(shí) 序控制電路、電平轉(zhuǎn)換器和待測(cè)光模塊相連,電平轉(zhuǎn)換器分別與誤碼檢測(cè)儀相連。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀,其 特征在于,所述時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路由包絡(luò)檢測(cè)器、信號(hào)跳變鎖存器、電平轉(zhuǎn)換器組成;所述 包絡(luò)檢測(cè)器分別與突發(fā)信號(hào)混合電路、時(shí)序控制電路相連,跳變信號(hào)鎖存器分別與突發(fā)信 號(hào)混合電路、時(shí)序控制電路、電平轉(zhuǎn)換器相連,電平轉(zhuǎn)換器分別與時(shí)序控制電路相連。
      全文摘要
      本發(fā)明公開(kāi)了一種千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊突發(fā)模式誤碼測(cè)試儀,包括突發(fā)信號(hào)混合電路、突發(fā)信號(hào)提取電路、時(shí)基信號(hào)檢測(cè)電路、時(shí)序控制電路、突發(fā)光產(chǎn)生單元、通訊接口電路和電源電路;通過(guò)本技術(shù)方案,實(shí)現(xiàn)了對(duì)千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊進(jìn)行性能測(cè)試的要求;測(cè)試平臺(tái)搭建簡(jiǎn)單,實(shí)現(xiàn)成本低,使用方便;能夠通過(guò)微機(jī)界面實(shí)現(xiàn)對(duì)各種參數(shù)的調(diào)節(jié),各種參數(shù)的時(shí)序關(guān)系能夠在微機(jī)界面上直觀的顯示,總之本發(fā)明的產(chǎn)品能夠方便地測(cè)試千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊在不同防護(hù)時(shí)間、前導(dǎo)碼長(zhǎng)度、連續(xù)相同碼長(zhǎng)度、復(fù)位脈沖位置下的靈敏度、飽和值及動(dòng)態(tài)范圍,從而滿足千兆無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)光線路終端光模塊性能測(cè)試的需要。
      文檔編號(hào)H04L1/00GK102098102SQ20111003826
      公開(kāi)日2011年6月15日 申請(qǐng)日期2011年2月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年2月15日
      發(fā)明者袁濤, 譚祖煒, 陳志強(qiáng), 陳旭光 申請(qǐng)人:武漢電信器件有限公司
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