專利名稱：一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，尤其涉及一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置。
背景技術(shù)：
在長期演進(jìn)(LTE, Long Term Evolution)協(xié)議下的下行物理控制信道(PDCCH,Physical Downlink Control Channel)中進(jìn)行下行控制信息(DCI, Downlink ControlInformation)的傳輸，由于用戶設(shè)備(UE,User Equipment) 一般不知道當(dāng)前傳送的DCI是什么類型的信息，也不知道自己需要的信息在哪個位置。但是UE知道自己當(dāng)前在期待什么信息，例如在空閑(Idle)狀態(tài)的UE期待的信息是paging，SI ;在發(fā)起隨機訪問(RandomAccess)后，期待的是RACH Response ;在有上行數(shù)據(jù)等待發(fā)送的時，期待UL Grant等。對于不同的期望信息，UE用相應(yīng)的無線網(wǎng)絡(luò)臨時標(biāo)識(RNTI, radio network temporaryidentifier)去和控制信道單兀(CCE,Control Channel Element)信息(承載DCI的基本·單元是CCE)做循環(huán)冗余校驗碼(CRC, Cyclic Redundancy Check)校驗,如果CRC校驗成功，那么UE就知道這個信息是自己需要的，也知道相應(yīng)的DCI類型，從而進(jìn)一步解出DCI內(nèi)容，這就是盲檢的過程。在下行控制信息的發(fā)送端確定好相關(guān)數(shù)據(jù)之后，對下行控制信息依次進(jìn)行編碼，CRC校驗，RNTI加掩以及速率匹配等處理，將進(jìn)行上述處理后的下行控制信息映射到空口資源上進(jìn)行發(fā)送。在現(xiàn)有技術(shù)中，UE端若需要接收上述下行控制信息，則需要對該下行控制信息進(jìn)行盲檢，即在計算得到的搜索空間上搜索該下行控制信息所在的位置，對該位置的下行控制信息進(jìn)行譯碼，并依次對譯碼后的下行控制信息進(jìn)行RNTI解掩和CRC校驗，若經(jīng)CRC校驗后，該下行控制消息的值全為零，則UE端的盲檢成功?，F(xiàn)有技術(shù)在檢驗盲檢結(jié)果時是按發(fā)送端的逆操作進(jìn)行檢驗的，即先對譯碼后的下行控制信息進(jìn)行RNTI解掩，然后對每次RNTI解掩的結(jié)果進(jìn)行一次CRC校驗，由于UE端需要對每個RNTI值都進(jìn)行一次解掩，若需要對A次盲檢結(jié)果進(jìn)行RNTI解掩，后續(xù)則需要進(jìn)行AXB (B為RNTI的個數(shù))次CRC校驗；顯然，隨著盲檢次數(shù)以及RNTI個數(shù)的增加，CRC校驗次數(shù)也會陡增，大大增加了處理時延。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供了一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置，用于快速地完成下行控制信息的盲檢校驗。本發(fā)明提供的盲檢校驗方法，包括獲取譯碼后的N位下行控制信息；對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于I的整數(shù)，所述N大于M ;對所述M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標(biāo)識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。
本發(fā)明提供的盲檢校驗方法，包括獲取譯碼后的N位下行控制信息；對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M大于I的整數(shù)，所述N大于M ;對所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果；將所述M位RNTI解掩結(jié)果與所述M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。本發(fā)明提供的盲檢校驗裝置，包括獲取單元，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息；校驗單元，用于對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于I的整數(shù)，所述N大于M ;加掩單元，用于對所述M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標(biāo)識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；對比單元，用于將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。本發(fā)明提供的盲檢校驗裝置，包括獲取單元，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息；校驗單元，用于對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC 校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于I的整數(shù)，所述N大于M ;解掩單元，用于對所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果；盲檢判斷單元，用于將所述M位RNTI解掩結(jié)果與所述M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。從以上技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實施例具有以下優(yōu)點本發(fā)明在對下行控制信息進(jìn)行CRC校驗時，先去掉該下行控制信息的CRC校驗位(即只對N減M位的下行控制信息進(jìn)行CRC校驗)，使得在盲檢校驗的過程中無需先執(zhí)行RNTI解掩，也可以完成盲檢校驗。由于UE端先進(jìn)行CRC校驗，在執(zhí)行RNTI解掩，則在需要對A次盲檢結(jié)果進(jìn)行盲檢校驗的情況下，UE端只需執(zhí)行A次CRC校驗，有效的減小了處理時延，提高了盲檢校驗的效率。


圖I是本發(fā)明實施例中盲檢校驗方法的一個流程示意圖；圖2是本發(fā)明實施例中盲檢校驗方法的一個信令流程圖；圖3是本發(fā)明實施例中CRC校驗電路的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本發(fā)明實施例中盲檢校驗方法的另一個流程示意圖；圖5是本發(fā)明實施例中盲檢校驗裝置的一個結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是本發(fā)明實施例中盲檢校驗裝置的另一個結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式本發(fā)明實施例提供了一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置，用于快速地完成下行控制信息的盲檢校驗。請參閱圖1，本發(fā)明實施例中盲檢檢驗方法的一個實施例包括101、UE端獲取譯碼后的N位下行控制信息；UE端獲取譯碼后的N位下行控制信息，N的具體數(shù)值(即該下行控制信息的數(shù)據(jù)長度)由該下行控制信息的發(fā)送端決定。假設(shè)原始的下行控制消息有K位，發(fā)送端在對K位的下行控制消息進(jìn)行編碼之后，先對編碼后的下行控制消息進(jìn)行CRC校驗，得到M位的CRC校驗結(jié)果，M為CRC校驗位數(shù)，M值取決于CRC校驗電路中寄存器的數(shù)目，M為大于I的整數(shù)，N大于M ;然后，對該則立的CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；最后，將該M位RNTI加掩結(jié)果追加到編碼后的K位下行控制消息之后，得到N位下行控制信息，將該N位下行控制信息映射到空口資源上進(jìn)行發(fā)送；上述的K和M皆正整數(shù)，且K+M = N。UE端在計算得到的搜索空間上搜索該N位下行控制信息所在的位置，對該位置的N位下行控制信息進(jìn)行譯碼，得到譯碼后的N位下行控制信息。102、UE端對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗；UE端對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，M為CRC校驗位數(shù)，且為小于N的正整數(shù)。
上述CRC校驗的方法和發(fā)送端的CRC校驗一致，在實際應(yīng)用中，發(fā)送端可以將具體的CRC校驗方法通過傳輸消息的形式發(fā)送給接收端，也可以在預(yù)設(shè)CRC校驗方法時，將發(fā)送端和UE端的CRC校驗方法預(yù)設(shè)為相同的，具體的實現(xiàn)方式此處不作限定。在本發(fā)明實施例中，在進(jìn)行CRC校驗時，先去掉該下行控制信息的CRC校驗位(由于UE端的CRC校驗與發(fā)送端的一致，因此也可以獲知CRC校驗位的長度)，使得在盲檢校驗的過程中無需先執(zhí)行RNTI解掩，也可得到原K (即N減M)位下行控制信息在發(fā)送端進(jìn)行CRC校驗后得到的M位CRC校驗結(jié)果。103、UE端對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩；UE端對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果。UE端的RNTI加掩方法和上述發(fā)送端所使用的RNTI加掩方法也是相同的。104、UE端將M位RNTI加掩結(jié)果與N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對。UE端將M位RNTI加掩結(jié)果與上述譯碼后的N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。由于上述得到的M位CRC校驗結(jié)果和發(fā)送端得到的M位CRC校驗結(jié)果是一致的，只要仿照發(fā)送端進(jìn)行RNTI加掩的處理過程對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行加掩，得到的M位RNTI加掩結(jié)果和發(fā)送端的RNTI加掩結(jié)果也會是相同的，且發(fā)送端的RNTI加掩結(jié)果追加在K位下行控制消息之后，即N位下行控制信息中的最后M位，因此，只要UE端的譯碼沒有出錯，且UE端盲檢到了正確的下行控制信息，則M位RNTI加掩結(jié)果與譯碼后的N位下行控制信息中的最后M位肯定是相同的。本發(fā)明在對下行控制信息進(jìn)行CRC校驗時，先去掉該下行控制信息的CRC校驗位(即只對N減M位的下行控制信息進(jìn)行CRC校驗)，使得在盲檢校驗的過程中無需先執(zhí)行RNTI解掩，也可以完成盲檢校驗。由于UE端先進(jìn)行CRC校驗，再執(zhí)行RNTI解掩，則在需要對A次盲檢結(jié)果進(jìn)行盲檢校驗的情況下，UE端只需執(zhí)行A次CRC校驗，有效的減小了處理時延，提高了盲檢校驗的效率。下面從下行控制信息的發(fā)送端到UE端對本發(fā)明的盲檢校驗方法進(jìn)行描述，本發(fā)明實施例中盲檢檢驗方法的另一個實施例包括201、發(fā)送端確定下行控制信息所在CCE資源的位置；發(fā)送端根據(jù)資源使用情況確定下行控制信息的發(fā)送時需要采用的聚合級別(L)，然后根據(jù)RNTI值和子幀號信息計算出下行控制信息所在CCE資源的位置。
202、發(fā)送端對下行控制信息依次進(jìn)行編碼；在確定上述下行控制信息所在CCE資源的位置之后，發(fā)送端再根據(jù)當(dāng)前資源的使用情況確定機會編號m ;發(fā)送端再根據(jù)上述聚合級別L以及機會編號m對下行控制信息依次進(jìn)行編碼以及速率匹配，得到承載了 K位下行控制信息的數(shù)據(jù)流。203、發(fā)送端對下行控制信息進(jìn)行CRC校驗；發(fā)送端對上述K位的下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，得到M位的CRC校驗結(jié)果，M為CRC校驗位數(shù)，K和M皆為正整數(shù)。假設(shè)K值為57，確定的CRC校驗位為16位，16位CRC校驗電路的生成多項式為gCEC16 (D) = [D16+D12+D5+l] for a CRC length L = 16 上述多項式對應(yīng)本發(fā)明實施例中的圖3，上述length L為聚合級別，上述公式中的D為輸入的延時節(jié)拍，如D16表示延時16個節(jié)拍；發(fā)送端對57位的下行控制信息進(jìn)行CRC校驗的具體過程如下首先，發(fā)送端建立16位的CRC校驗電路，其中，包括有16個寄存器，自右而左，如圖3所述，16個寄存器分別對應(yīng)圖中的D15至DO ;在該16個寄存器中，位值為I的寄存器的右邊都有一個異或電路；然后，上述57位的下行控制信息從圖3中的最左邊進(jìn)入CRC校驗電路，每次一個比特位，每下一個比特位進(jìn)入時，寄存器中的比特位右移一位。經(jīng)過異或電路的異或后進(jìn)入下一位；最右邊的寄存器發(fā)送比特位到各異或電路，作為第二個操作數(shù)；初始時寄存器全為零，進(jìn)入的下行控制信息從第一位的寄存器開始，到進(jìn)入最后一位的寄存器結(jié)束，此時16位寄存器中的內(nèi)容即為57位下行控制信息的16位CRC校驗結(jié)果。上面僅以一些例子對本發(fā)明實施例中的應(yīng)用場景進(jìn)行了說明，可以理解的是，在實際應(yīng)用中，還可以有更多的應(yīng)用場景，具體此處不作限定。204、發(fā)送端對CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩；發(fā)送端對上述M位的CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩，并把M位的RNTI加掩結(jié)果追加在上述K位編碼后的下行控制信息之后，得到N(K+M = N)位的下行控制信息。205、發(fā)送端向UE端發(fā)送N位的下行控制信息；發(fā)送端將上述N位下行控制信息進(jìn)行調(diào)制以及資源映射，將處理后的N位下行控制信息映射到空口資源上，向UE端發(fā)送。206、UE端在空口資源上搜索N位下行控制信息；UE端根據(jù)當(dāng)前的RNTI值計算出上述N位下行控制信息在PDCCH中的搜索空間，UE端再根據(jù)計算得到的搜索空間搜索該N位下行控制信息(即為盲檢過程)。207、UE端對N位下行控制信息進(jìn)行譯碼；UE端對上述搜索到的N位下行控制信息進(jìn)行譯碼，得到譯碼后的N位下行控制信
肩、O208、UE端對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗；UE端使用發(fā)送端的CRC校驗電路對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果。在本發(fā)明實施例中，在進(jìn)行CRC校驗時，先去掉該下行控制信息的CRC校驗位(由于UE端的CRC校驗與發(fā)送端的一致，因此也可以獲知CRC校驗位的長度)，使得在盲檢校驗的過程中無需先執(zhí)行RNTI解掩，也可得到原K (即N減M)位下行控制信息在發(fā)送端進(jìn)行CRC校驗后得到的M位CRC校驗結(jié)果。209、UE端對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩；UE端對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果。 UE端的RNTI加掩方法和上述發(fā)送端所使用的RNTI加掩方法也是相同的。210、UE端將M位RNTI加掩結(jié)果與N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對。UE端將M位RNTI加掩結(jié)果與上述譯碼后的N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。上述實施例中，UE端在盲檢校驗中對比的是發(fā)送端加掩后的CRC校驗位，而在實 際應(yīng)用中，UE端也可以對比加掩前的CRC校驗位，同樣可以實現(xiàn)下行控制信息的盲檢校驗，請參閱圖4，本發(fā)明實施例中盲檢檢驗方法的另一個實施例包括401、UE端獲取譯碼后的N位下行控制信息；UE端獲取譯碼后的N位下行控制信息，N的具體數(shù)值由該下行控制信息的發(fā)送端決定。假設(shè)原始的下行控制消息有K位，發(fā)送端在對K位的下行控制消息進(jìn)行編碼之后，先對編碼后的下行控制消息進(jìn)行CRC校驗，得到M位的CRC校驗結(jié)果，M為CRC校驗位數(shù)，M值取決于CRC校驗電路中寄存器的數(shù)目，M為大于I的整數(shù)，N大于M ;然后，對該則立的CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；最后，將該M位RNTI加掩結(jié)果追加到編碼后的K位下行控制消息之后，得到N位下行控制信息，將該N位下行控制信息映射到空口資源上進(jìn)行發(fā)送；上述的K和M皆正整數(shù)，且K+M = N。UE端在計算得到的搜索空間上搜索該N位下行控制信息所在的位置，對該位置的N位下行控制信息進(jìn)行譯碼，得到譯碼后的N位下行控制信息。402、UE端對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗；UE端對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，M為CRC校驗位數(shù)，且為小于N的正整數(shù)。 上述CRC校驗的方法和發(fā)送端的CRC校驗一致，在實際應(yīng)用中，發(fā)送端可以將具體的CRC校驗方法通過傳輸消息的形式發(fā)送給發(fā)送端，也可以在預(yù)設(shè)CRC校驗方法時，將發(fā)送端和UE端的CRC校驗方法預(yù)設(shè)為相同的，具體的實現(xiàn)方式此處不作限定。對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗的具體過程可以為建立由M個寄存器組成的校驗電路，該M個寄存器的初始值為O ;將上述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當(dāng)該N減M位下行控制信息完全經(jīng)過CRC校驗電路的處理后，將該M個寄存器中的當(dāng)前值作為M位CRC校驗結(jié)果。在本發(fā)明實施例中，在進(jìn)行CRC校驗時，先去掉該下行控制信息的CRC校驗位，使得在盲檢校驗的過程中無需先執(zhí)行RNTI解掩，也可得到原K位下行控制信息在發(fā)送端進(jìn)行CRC校驗后得到的M位CRC校驗結(jié)果。403、UE端N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩；UE端對上述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果。由于發(fā)送端是將加掩后的M位CRC校驗結(jié)果追加在K位的下行控制消息之后，故直接對上述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩后，即可得到發(fā)送端加掩前的M位CRC校驗結(jié)果。404、UE端將M位RNTI解掩結(jié)果與M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行比對。UE端將步驟403得到的M位RNTI解掩結(jié)果與步驟402得到的M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。在UE端對譯碼后的N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，相對于在發(fā)送端對原始的K位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，得到的M位CRC校驗也是一致的，因此，直接將M位RNTI解掩結(jié)果與則立CRC校驗結(jié)果作比對，也可以實現(xiàn)下行控制信息的盲檢校驗，同時，又不會產(chǎn)生由于先對整體的N為下行控制信息進(jìn)行解掩而導(dǎo)致的大量處理時延。 下面對用于執(zhí)行上述盲檢校驗方法的本發(fā)明盲檢校驗裝置的實施例進(jìn)行說明，其 邏輯結(jié)構(gòu)請參考圖5，本發(fā)明實施例中盲檢校驗裝置的一個實施例包括獲取單元501，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息；校驗單元502，用于對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，M為大于I的整數(shù)，N大于M ；加掩單元503，用于對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標(biāo)識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；對比單元504，用于將上述M位RNTI加掩結(jié)果與上述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。本發(fā)明實施例中的校驗單元502可以包括電路建立模塊5021，用于建立由M個寄存器組成的校驗電路，該M個寄存器的初始值為O ;輸入校驗?zāi)K5022，用于將N減M位下行控制信息依次輸入上述校驗電路，當(dāng)該N減M位下行控制信息完全經(jīng)過該校驗電路的處理后，將M個寄存器的當(dāng)前值作為M位CRC校驗結(jié)果。本發(fā)明實施例盲檢校驗裝置中各個單元具體的交互過程如下獲取單元501獲取譯碼后的N位下行控制信息，N的具體數(shù)值(即該下行控制信息的數(shù)據(jù)長度)由該下行控制信息的發(fā)送端決定。校驗單元502對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，M為CRC校驗位數(shù),且為小于N的正整數(shù)。上述CRC校驗的方法和發(fā)送端的CRC校驗一致，在實際應(yīng)用中，發(fā)送端可以將具體的CRC校驗方法通過傳輸消息的形式發(fā)送給發(fā)送端，也可以在預(yù)設(shè)CRC校驗方法時，將發(fā)送端和UE端的CRC校驗方法預(yù)設(shè)為相同的，具體的實現(xiàn)方式此處不作限定。在本發(fā)明實施例中，在進(jìn)行CRC校驗時，先去掉該下行控制信息的CRC校驗位(由于UE端的CRC校驗與發(fā)送端的一致，因此也可以獲知CRC校驗位的長度)，使得在盲檢校驗的過程中無需先執(zhí)行RNTI解掩，也可得到原K (即N減M)位下行控制信息在發(fā)送端進(jìn)行CRC校驗后得到的M位CRC校驗結(jié)果。校驗單元502對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗具體可以包括電路建立模塊5021建立由M個寄存器組成的校驗電路，M個寄存器的初始值為O ;然后輸入校驗?zāi)K5022將N減M位下行控制信息依次輸入上述校驗電路，當(dāng)該N減M位下行控制信息完全經(jīng)過該校驗電路的處理后，將M個寄存器的當(dāng)前值作為M位CRC校驗結(jié)果。在得到M位CRC校驗結(jié)果之后，加掩單元503對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果，UE端的RNTI加掩方法與發(fā)送端所使用的RNTI加掩方法相同。最后，對比單元504將M位RNTI加掩結(jié)果與上述譯碼后的N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。由于上述得到的M位CRC校驗結(jié)果和發(fā)送端得到的M位CRC校驗結(jié)果是一致的，只要仿照發(fā)送端進(jìn)行RNTI加掩的處理過程對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行加掩，得到的M位RNTI加掩結(jié)果和發(fā)送端的RNTI加掩結(jié)果也 會是相同的，且發(fā)送端的RNTI加掩結(jié)果追加在K位下行控制消息之后，即N位下行控制信息中的最后M位，因此，只要UE端的譯碼沒有出錯，且UE端盲檢到了正確的下行控制信息，則M位RNTI加掩結(jié)果與譯碼后的N位下行控制信息中的最后M位肯定是相同的。請參考圖6，本發(fā)明實施例中盲檢校驗裝置的另一個實施例包括獲取單元601，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息；校驗單元602，用于對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，M為CRC校驗位數(shù)，M為小于N的正整數(shù)；解掩單元603，用于對上述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果；盲檢判斷單元604，用于將上述M位RNTI解掩結(jié)果與M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行比對，若相同，貝1J盲檢成功，若不相同，貝1J盲檢失敗。本發(fā)明實施例中的校驗單元可以包括電路建立模塊6021，用于建立由M個寄存器組成的校驗電路，該M個寄存器的初始值為O ;輸入校驗?zāi)K6022，用于將N減M位下行控制信息依次輸入上述校驗電路，當(dāng)該N減M位下行控制信息完全經(jīng)過該校驗電路的處理后，將M個寄存器的當(dāng)前值作為M位CRC校驗結(jié)果。本發(fā)明實施例盲檢校驗裝置中各個單元具體的交互過程如下獲取單元601獲取譯碼后的N位下行控制信息，N的具體數(shù)值(即該下行控制信息的數(shù)據(jù)長度)由該下行控制信息的發(fā)送端決定。校驗單元602對N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，M為CRC校驗位數(shù),且為小于N的正整數(shù)。上述CRC校驗的方法和發(fā)送端的CRC校驗一致，在實際應(yīng)用中，發(fā)送端可以將具體的CRC校驗方法通過傳輸消息的形式發(fā)送給發(fā)送端，也可以在預(yù)設(shè)CRC校驗方法時，將發(fā)送端和UE端的CRC校驗方法預(yù)設(shè)為相同的，具體的實現(xiàn)方式此處不作限定。在本發(fā)明實施例中，在進(jìn)行CRC校驗時，先去掉該下行控制信息的CRC校驗位(由于UE端的CRC校驗與發(fā)送端的一致，因此也可以獲知CRC校驗位的長度)，使得在盲檢校驗的過程中無需先執(zhí)行RNTI解掩，也可得到原K (即N減M)位下行控制信息在發(fā)送端進(jìn)行CRC校驗后得到的M位CRC校驗結(jié)果。電路建立模塊6021和輸入校驗?zāi)K6022的具體實現(xiàn)功能與上述圖5實施例中電路建立模塊5021和輸入校驗?zāi)K5022的相同，此處不再贅述。解掩單元603對上述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果。由于發(fā)送端是將加掩后的M位CRC校驗結(jié)果追加在K位的下行控制消息之后，故直接對上述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩后，即可得到發(fā)送端加掩前的M位CRC校驗結(jié)果。在得到M位RNTI解掩結(jié)果以及M位CRC校驗結(jié)果之后，盲檢判斷單元604將該M位RNTI解掩結(jié)果以及M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。在UE端對譯碼后的N減M位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，相對于在發(fā)送端對原始的K位下行控制信息進(jìn)行CRC校驗，得到的M位CRC校驗也是一致的，因此，直接將M位RNTI解掩結(jié)果與M位CRC校驗結(jié)果作比對，也可以實現(xiàn)下行控制信息的盲檢校驗。在本申請所提供的幾個實施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的裝置和方法，可以通過其它的方式實現(xiàn)。例如，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如，所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點，所顯示或討論的 相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機械或其它的形式。所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網(wǎng)絡(luò)單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。另外，在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可以是個人計算機，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括U盤、移動硬盤、只讀存儲器(ROM，Read-OnlyMemory)、隨機存取存儲器(RAM, Random Access Memory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。以上所述，僅為本發(fā)明的具體實施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)所述以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種盲檢校驗方法，其特征在于，包括 獲取譯碼后的N位下行控制信息； 對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于I的整數(shù)，所述N大于M ; 對所述M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標(biāo)識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果； 將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的方法，其特征在于，所述對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果的過程，包括 建立由M個寄存器組成的校驗電路，所述M個寄存器的初始值為O ; 將所述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當(dāng)所述N減M位下行控制信息完全經(jīng)過所述校驗電路的處理后，將所述M個寄存器的當(dāng)前值作為M位CRC校驗結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的方法，其特征在于，所述M為16。
4.一種盲檢校驗方法，其特征在于，包括 獲取譯碼后的N位下行控制信息； 對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M大于I的整數(shù)，所述N大于M ; 對所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果； 將所述M位RNTI解掩結(jié)果與所述M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果的過程，包括 建立由M個寄存器組成的校驗電路，所述M個寄存器的初始值為O ; 將所述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當(dāng)所述N減M位下行控制信息完全經(jīng)過所述校驗電路的處理后，將所述M個寄存器的當(dāng)前值作為M位CRC校驗結(jié)果。
6.一種盲檢校驗裝置，其特征在于，包括 獲取單元，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息； 校驗單元，用于對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于I的整數(shù)，所述N大于M ; 加掩單元，用于對所述M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標(biāo)識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果； 對比單元，用于將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述校驗單元包括 電路建立模塊，用于建立由M個寄存器組成的校驗電路，所述M個寄存器的初始值為O ； 輸入校驗?zāi)K，用于將所述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當(dāng)所述N減M位下行控制信息完全經(jīng)過所述校驗電路的處理后，將所述M個寄存器的當(dāng)前值作為M位CRC校驗結(jié)果。
8.一種盲檢校驗裝置，其特征在于，包括 獲取單元，用于獲取譯碼后的N位下行控制信息； 校驗單元，用于對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于I的整數(shù)，所述N大于M ; 解掩單元，用于對所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩結(jié)果； 盲檢判斷單元，用于將所述M位RNTI解掩結(jié)果與所述M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述校驗單元包括 電路建立模塊，用于建立由M個寄存器組成的校驗電路，所述M個寄存器的初始值為O； 輸入校驗?zāi)K，用于將所述N減M位下行控制信息依次輸入所述校驗電路，當(dāng)所述N減M位下行控制信息完全經(jīng)過所述校驗電路的處理后，將所述M個寄存器的當(dāng)前值作為M位CRC校驗結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種盲檢校驗方法以及相關(guān)裝置，用于快速地完成下行控制信息的盲檢校驗。本發(fā)明實施例方法包括獲取譯碼后的N位下行控制信息；對N減M位下行控制信息進(jìn)行循環(huán)冗余校驗碼CRC校驗，得到M位CRC校驗結(jié)果，所述M為CRC校驗位數(shù)，所述M為大于1的整數(shù)，所述N大于M；對M位CRC校驗結(jié)果進(jìn)行無線網(wǎng)絡(luò)臨時標(biāo)識RNTI加掩，得到M位RNTI加掩結(jié)果；將所述M位RNTI加掩結(jié)果與所述N位下行控制信息中的最后M位進(jìn)行比對，若相同，則盲檢成功，若不相同，則盲檢失敗。此外，本發(fā)明還提供了實現(xiàn)該方法的相關(guān)裝置。
文檔編號H04L1/00GK102957494SQ20111023806
公開日2013年3月6日 申請日期2011年8月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月18日
發(fā)明者矯淵培 申請人:上海華為技術(shù)有限公司