專利名稱：一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及移動終端生產(chǎn)測試領(lǐng)域，具體涉及一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置和方法。
背景技術(shù)：
隨著無線通信發(fā)達(dá)越來越快，對移動終端射頻性能的要求也越來越高，除了在產(chǎn)品研發(fā)階段各器件的匹配調(diào)整、硬件線路的最優(yōu)化調(diào)節(jié)之外，最主要的是在移動終端生產(chǎn)測試時通過一個校調(diào)工位來保證移動終端射頻性能。生產(chǎn)測試會對校調(diào)工位的射頻做一個綜合測試，校調(diào)工位對射頻器件的一致性、貼片、溫度等方面導(dǎo)致的差異做補(bǔ)償，使射頻性能達(dá)到通信行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)。校調(diào)工位和綜合測試是移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)最關(guān)鍵的組成部分，如圖1所示，移動終端生產(chǎn)測試系統(tǒng)包括測試設(shè)備、待測件、PC機(jī)及連接線纜，測試設(shè)備一般用綜測儀，有的廠家也用信號源加頻譜儀的方式，連接線纜有串口數(shù)據(jù)通信線纜，儀表控制通信線纜(GPIB總線、PXI總線或網(wǎng)線)及射頻信號通訊線纜三種。測試系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵因素有兩方面，一方面是芯片的校調(diào)及測試算法，另一方面是測試系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差。芯片校調(diào)及測試算法一般都是根據(jù)芯片的規(guī)則及移動終端業(yè)界的測量方面而定，系統(tǒng)誤差在測試系統(tǒng)中以線損的方式出現(xiàn)，在通訊通路上區(qū)分為上行鏈路線損和下行鏈路線損兩部分。目前的生產(chǎn)測試系統(tǒng)誤差計量一般將一個特制的主板或終端(以下稱為金機(jī)金板)作為基準(zhǔn)來計量測試系統(tǒng)的線損，該金機(jī)金板的最大功率是預(yù)先測量出來的，系統(tǒng)誤差一般通過線纜廠家的推薦值估算，測量設(shè)備(包括綜測儀或頻譜儀)可以測出金機(jī)金板發(fā)出信號的功率與金板設(shè)定的發(fā)射信號功率的差值，即系統(tǒng)的上行鏈路線損，作為測試系統(tǒng)的測試誤差，現(xiàn)有的方法將測試系統(tǒng)的下行鏈路線損設(shè)置為與該上行鏈路線損一致。在實(shí)際應(yīng)用中上述計量系統(tǒng)誤差方法表現(xiàn)出來的缺點(diǎn)是1.金機(jī)金板在制作時本身就存在一定的制作誤差問題，系統(tǒng)線損采用的是一個估算值，并不準(zhǔn)確；2.金機(jī)金板本身在測量時，每次發(fā)射信號的功率都會存在一點(diǎn)差別，有波動，一致性不好；3.測量設(shè)備本身有線路衰減，且實(shí)際情況中測試系統(tǒng)的上下行鏈路線損是不一致的，而現(xiàn)有的方法為了方便將兩者設(shè)置為一致，忽略了上下行鏈路線損的不一致性。綜上，現(xiàn)有的移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量方法在系統(tǒng)精度上不準(zhǔn)確， 由于金機(jī)金板發(fā)射信號時就存在誤差，使得測量設(shè)備不能準(zhǔn)確地測出射頻線路衰減以及測量設(shè)備本身的內(nèi)部損耗，最終無法準(zhǔn)確地計量測試系統(tǒng)的誤差，面對目前市場上對移動終端射頻性能越來越高的要求，這會影響產(chǎn)品的質(zhì)量及可靠性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明需要解決的技術(shù)問題是提供一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量
4裝置及方法，提高移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的精度、穩(wěn)定性及可靠性。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置，包括測試設(shè)備、輸出模塊，其特征在于還包括信號源和功率計，其中，所述信號源用于發(fā)射上行測試信號；所述功率計與所述信號源相連，用于根據(jù)所述上行測試信號測量所述信號源的內(nèi)部損耗；所述測試設(shè)備與所述信號源相連，用于測量所述上行測試信號的線路損耗；所述輸出模塊分別與所述功率計和所述測試設(shè)備相連，用于讀取所述功率計的測量值和所述測試設(shè)備的測量值，將所述測試設(shè)備測量得到的所述上行測試信號的線路損耗與所述功率計測量得到的所述信號源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。進(jìn)一步地，所述上行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。進(jìn)一步地，所述功率計用于測量信號源的內(nèi)部損耗，包括所述功率計獲取所述信號源設(shè)定的該上行測試信號功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的該上行測試信號的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號源的內(nèi)部損耗。進(jìn)一步地，所述測試設(shè)備用于測量所述上行測試信號的線路損耗，包括所述測試設(shè)備獲取所述信號源設(shè)定的所述上行測試信號的功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的所述上行測試信號的實(shí)際功率值為D，將A-D作為所述上行測試信號的線路損耗。進(jìn)一步地，所述測試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，用于發(fā)射下行測試信號；所述功率計還與所述測試設(shè)備相連，用于測量所述下行測試信號的線路損耗；所述輸出模塊，還用于讀取所述功率計的測量值，將所述功率計測量得到的所述下行測試信號的線路損耗作為所述測試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。進(jìn)一步地，所述下行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。進(jìn)一步地，所述功率計用于測量所述下行測試信號的線路損耗，包括所述功率計獲取所述測試設(shè)備設(shè)定的該下行測試信號功率為F，測量所述測試設(shè)備發(fā)射的該下行測試信號的實(shí)際功率值為G，將F-G作為所述下行測試信號的線路損耗。進(jìn)一步地，所述功率計與所述信號源相連的方式為直連，所述測試設(shè)備與所述信號源通過射頻線相連。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供了一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量方法，包括信號源發(fā)射上行測試信號；功率計根據(jù)所述上行測試信號測量所述信號源的內(nèi)部損耗；測試設(shè)備測量所述上行測試信號的線路損耗；將所述測試設(shè)備測量得到的所述上行測試信號的線路損耗與所述功率計測量得到的所述信號源的內(nèi)部損耗的差值作為所述移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。進(jìn)一步地，所述上行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。進(jìn)一步地，所述功率計測量信號源的內(nèi)部損耗的方式包括
所述功率計獲取所述信號源設(shè)定的該上行測試信號功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的該上行測試信號的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號源的內(nèi)部損耗。進(jìn)一步地，所述測試設(shè)備測量所述上行測試信號的線路損耗的方式包括所述測試設(shè)備獲取所述信號源設(shè)定的所述上行測試信號的功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的所述上行測試信號的實(shí)際功率值為D，將A-D作為所述上行測試信號的線路損耗。進(jìn)一步地，所述方法還包括所述測試設(shè)備發(fā)射下行測試信號；所述功率計測量所述下行測試信號的線路損耗，將所述下行測試信號的線路損耗作為所述測試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。進(jìn)一步地，所述下行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。進(jìn)一步地，所述功率計測量所述下行測試信號的線路損耗的方式包括所述功率計獲取所述測試設(shè)備設(shè)定的該下行測試信號功率為F，測量所述測試設(shè)備發(fā)射的該下行測試信號的實(shí)際功率值為G，為將F-G作為所述下行測試信號的線路損耗。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置及方法避免了由金機(jī)金板自身誤差帶來的隱患，采用穩(wěn)定的信號源，提高了移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性及可靠性，利用精度更高的功率計測試信號源的內(nèi)部損耗，提高了移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的精度；并且還能夠計量測試系統(tǒng)的下行鏈路線損，使系統(tǒng)誤差計量更加準(zhǔn)確，進(jìn)一步提高了移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的精度。


圖1是現(xiàn)有的移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；圖2是實(shí)施例中移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置結(jié)構(gòu)圖；圖3是實(shí)施例中移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的上行鏈路線損計量流程圖；圖4是實(shí)施例中移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的下行鏈路線損計量流程圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互任意組合。實(shí)施例如圖2所示，本實(shí)施例提供了一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置， 除了測試設(shè)備、輸出模塊(例如PC機(jī))之外，還包括信號源和功率計，其中，所述信號源用于發(fā)射上行測試信號；其中，信號源是一個信號發(fā)生器，其發(fā)射的上行測試信號可以為連續(xù)波(CW)脈沖信號，該脈沖信號是穩(wěn)定的，即每次信號的發(fā)射功率、參數(shù)等都能保持一致，但并不排除其他穩(wěn)定的測試信號。本實(shí)施例中用穩(wěn)定的信號源代替現(xiàn)有技術(shù)中相對不穩(wěn)定的金機(jī)金板的發(fā)射信號，提高了計量裝置的穩(wěn)定性及可靠性。所述功率計與信號源相連，用于根據(jù)所述上行測試信號測量信號源的內(nèi)部損耗；
其中，作為一種優(yōu)選的方式，所述功率計獲取所述信號源設(shè)定的該上行測試信號功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的該上行測試信號的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號源的內(nèi)部損耗。此外，所述功率計還與所述測試設(shè)備相連，用于測量下行測試信號的線路損耗。所述測試設(shè)備與信號源相連，用于測量所述上行測試信號的線路損耗；其中，所述測試設(shè)備可以采用綜測儀或“頻譜儀+信號源”的方式，作為一種優(yōu)選的方式，本實(shí)施例以測試設(shè)備是綜測儀為例，該綜測儀獲取所述信號源設(shè)定的所述上行測試信號的功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)出的所述上行測試信號的實(shí)際功率值為D，將 A-D作為所述上行測試信號的線路損耗。此外，如圖2所示，本實(shí)施例中的測試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，以“頻譜儀+信號源” 的方式為例，發(fā)射模塊即為信號源，用于發(fā)射下行測試信號；在本實(shí)施例中，為了提高計量裝置的穩(wěn)定性及可靠性，該下行測試信號與上行測試信號一樣采用連續(xù)波(CW)脈沖信號，但并不排除其他穩(wěn)定簡單的測試信號。其中，所述功率計用于測量所述下行測試信號的線路損耗，包括所述功率計獲取所述測試設(shè)備設(shè)定的該下行測試信號功率為F，測量所述測試設(shè)備發(fā)射的該下行測試信號的實(shí)際功率值為G，將F-G作為所述下行測試信號的線路損耗。所述輸出模塊(如PC機(jī))分別與功率計和測試設(shè)備相連，用于讀取功率計的測量值和測試設(shè)備的測量值，將所述測試設(shè)備測量得到的上行測試信號的線路損耗與所述功率計測量得到的信號源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出，即 (A-D)-(A-B) = B-D ；并將功率計測量得到的所述下行測試信號的線路損耗作為所述測試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出，即F-G。其中，所述上行鏈路線損即為上行測試信號在射頻線上的線路損耗與測試設(shè)備本身內(nèi)部的損耗之和，實(shí)際上，這也是現(xiàn)有的測試系統(tǒng)所要測量的上行鏈路線損的含義，但是相對于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)施例還考慮到了信號源發(fā)射信號本身存在的誤差，從而提高了移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的精度。此外，所述功率計與所述信號源相連的方式為直連，所述測試設(shè)備與所述信號源通過射頻線相連。此外，如圖3所示，本實(shí)施例還提供了一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量方法，用來計量上行鏈路線損，包括以下步驟SlOl 信號源發(fā)射上行測試信號；在本實(shí)施例中，上行測試信號可以采用連續(xù)波(CW)脈沖信號，但并不排除其他穩(wěn)定簡單的測試信號。本實(shí)施例用穩(wěn)定的信號源代替相對不穩(wěn)定的金機(jī)金板的發(fā)射信號，每次信號的發(fā)射功率、參數(shù)等都是一樣的，提高了計量裝置的穩(wěn)定性及可靠性。S102 功率計測量信號源的內(nèi)部損耗；其中，采用精度相對較高的功率計作為基準(zhǔn)來計量測試系統(tǒng)的線損，所述功率計獲取所述信號源設(shè)定的該上行測試信號功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的該上行測試信號的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號源的內(nèi)部損耗。S103 測試設(shè)備測量所述上行測試信號的線路損耗；其中，測試設(shè)備通常采用綜測儀或頻譜儀+信號源的方式，本實(shí)施例以測試設(shè)備是綜測儀為例，該綜測儀獲取所述信號源設(shè)定的所述上行測試信號的功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)出的所述上行測試信號的實(shí)際功率值為D，將A-D作為所述上行測試信號的線路損耗。S104:將所述測試設(shè)備測量得到的所述上行測試信號的線路損耗與所述功率計測量得到的所述信號源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。至此，該測試系統(tǒng)誤差的上行鏈路線損計量流程結(jié)束。此外，本實(shí)施例中的測試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，可以發(fā)射下行測試信號，如圖4所示，本實(shí)施例還提供了一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量方法，用于計量下行鏈路線損，包括以下步驟S201 所述測試設(shè)備發(fā)射下行測試信號；在本實(shí)施例中，為了提高了計量裝置的穩(wěn)定性及可靠性，該下行測試信號與上行測試信號一樣采用連續(xù)波(CW)脈沖信號，但并不排除其他穩(wěn)定簡單的測試信號。S202 功率計測量所述下行測試信號的線路損耗；其中，所述功率計獲取所述測試設(shè)備設(shè)定的該下行測試信號功率為F，測量所述測試設(shè)備發(fā)射的該下行測試信號的實(shí)際功率值為G，將F-G作為所述下行測試信號的線路損
^^ οS203 將所述下行測試信號的線路損耗作為所述測試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。至此，該測試系統(tǒng)誤差的下行鏈路線損計量流程結(jié)束。從上述實(shí)施例可以看出，相對于現(xiàn)有技術(shù)，上述實(shí)施例中的本發(fā)明提供的移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置及方法避免了由金機(jī)金板自身誤差帶來的隱患，用穩(wěn)定的信號源代替現(xiàn)有技術(shù)中相對不穩(wěn)定的金機(jī)金板的發(fā)射信號，提高了移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性及可靠性，利用精度更高的功率計測試信號源的內(nèi)部損耗，使得測量設(shè)備能夠準(zhǔn)確地測出射頻線路衰減以及測量設(shè)備本身的內(nèi)部損耗，最終無法準(zhǔn)確地計量測試系統(tǒng)的誤差，提高了移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的精度；并且還能夠計量測試系統(tǒng)的下行鏈路線損，使系統(tǒng)誤差計量更加準(zhǔn)確，克服了現(xiàn)有技術(shù)中忽略上下行鏈路線損的不一致性的缺陷，進(jìn)一步提高了移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的精度。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述方法中的全部或部分步驟可通過程序來指令相關(guān)硬件完成，所述程序可以存儲于計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中，如只讀存儲器、磁盤或光盤等。可選地，上述實(shí)施例的全部或部分步驟也可以使用一個或多個集成電路來實(shí)現(xiàn)。相應(yīng)地，上述實(shí)施例中的各模塊/單元可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明不限制于任何特定形式的硬件和軟件的結(jié)合。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。根據(jù)本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容，還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置，包括測試設(shè)備、輸出模塊，其特征在于還包括信號源和功率計，其中，所述信號源用于發(fā)射上行測試信號；所述功率計與所述信號源相連，用于根據(jù)所述上行測試信號測量所述信號源的內(nèi)部損耗；所述測試設(shè)備與所述信號源相連，用于測量所述上行測試信號的線路損耗； 所述輸出模塊分別與所述功率計和所述測試設(shè)備相連，用于讀取所述功率計的測量值和所述測試設(shè)備的測量值，將所述測試設(shè)備測量得到的所述上行測試信號的線路損耗與所述功率計測量得到的所述信號源的內(nèi)部損耗的差值作為所述測試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出ο
2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述上行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于 所述功率計用于測量信號源的內(nèi)部損耗，包括所述功率計獲取所述信號源設(shè)定的該上行測試信號功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的該上行測試信號的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號源的內(nèi)部損耗。
4.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述測試設(shè)備用于測量所述上行測試信號的線路損耗，包括 所述測試設(shè)備獲取所述信號源設(shè)定的所述上行測試信號的功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的所述上行測試信號的實(shí)際功率值為DJfA-D作為所述上行測試信號的線路損^^ ο
5.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述測試設(shè)備還包括發(fā)射模塊，用于發(fā)射下行測試信號； 所述功率計還與所述測試設(shè)備相連，用于測量所述下行測試信號的線路損耗； 所述輸出模塊，還用于讀取所述功率計的測量值，將所述功率計測量得到的所述下行測試信號的線路損耗作為所述測試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于所述下行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。
7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于所述功率計用于測量所述下行測試信號的線路損耗，包括所述功率計獲取所述測試設(shè)備設(shè)定的該下行測試信號功率為F，測量所述測試設(shè)備發(fā)射的該下行測試信號的實(shí)際功率值為G，將F-G作為所述下行測試信號的線路損耗。
8.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述功率計與所述信號源相連的方式為直連，所述測試設(shè)備與所述信號源通過射頻線相連。
9.一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量方法，包括 信號源發(fā)射上行測試信號；功率計根據(jù)所述上行測試信號測量所述信號源的內(nèi)部損耗； 測試設(shè)備測量所述上行測試信號的線路損耗；將所述測試設(shè)備測量得到的所述上行測試信號的線路損耗與所述功率計測量得到的所述信號源的內(nèi)部損耗的差值作為所述移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。
10.如權(quán)利要求9所述的計量方法，其特征在于 所述上行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。
11.如權(quán)利要求9所述的計量方法，其特征在于 所述功率計測量信號源的內(nèi)部損耗的方式包括所述功率計獲取所述信號源設(shè)定的該上行測試信號功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的該上行測試信號的實(shí)際功率值為B，將A-B作為所述信號源的內(nèi)部損耗。
12.如權(quán)利要求9所述的計量方法，其特征在于所述測試設(shè)備測量所述上行測試信號的線路損耗的方式包括 所述測試設(shè)備獲取所述信號源設(shè)定的所述上行測試信號的功率為A，以及，測量所述信號源發(fā)射的所述上行測試信號的實(shí)際功率值為D，將A-D作為所述上行測試信號的線路損
13.如權(quán)利要求9所述的計量方法，其特征在于， 所述方法還包括所述測試設(shè)備發(fā)射下行測試信號；所述功率計測量所述下行測試信號的線路損耗，將所述下行測試信號的線路損耗作為所述測試系統(tǒng)的下行鏈路線損輸出。
14.如權(quán)利要求13所述的計量方法，其特征在于 所述下行測試信號包括連續(xù)波(CW)脈沖信號。
15.如權(quán)利要求14所述的計量方法，其特征在于所述功率計測量所述下行測試信號的線路損耗的方式包括所述功率計獲取所述測試設(shè)備設(shè)定的該下行測試信號功率為F，測量所述測試設(shè)備發(fā)射的該下行測試信號的實(shí)際功率值為G，為將F-G作為所述下行測試信號的線路損耗。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)誤差的計量裝置及方法，所述裝置包括信號源、功率計、測試設(shè)備和輸出模塊，所述方法包括信號源發(fā)射上行測試信號；功率計根據(jù)所述上行測試信號測量所述信號源的內(nèi)部損耗；測試設(shè)備測量所述上行測試信號的線路損耗；輸出模塊將所述測試設(shè)備測量得到的所述上行測試信號的線路損耗與所述功率計測量得到的所述信號源的內(nèi)部損耗的差值作為所述移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的上行鏈路線損輸出。該計量裝置及方法避免了由金機(jī)金板自身誤差帶來的隱患，采用穩(wěn)定的信號源，精度更高的功率計測試信號源的內(nèi)部損耗，使系統(tǒng)誤差計量更加準(zhǔn)確，進(jìn)一步提高了移動終端生產(chǎn)射頻測試系統(tǒng)的精度、穩(wěn)定性及可靠性。
文檔編號H04B17/00GK102386982SQ20111031317
公開日2012年3月21日 申請日期2011年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月14日
發(fā)明者萬燕斌 申請人:中興通訊股份有限公司