一種olt測試的方法及裝置的制作方法

文檔序號：7852151閱讀：302來源：國知局

專利名稱：一種olt測試的方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及通信技術領域，具體涉及ー種OLT測試的方法及裝置。
背景技術：
現(xiàn)有的GPON (Gigabit-Capable PON,千兆無源光網(wǎng)絡，其中，PON 是 PassiveOptical Network的簡稱)系統(tǒng)主要包括局端的OLT (optical line terminal,光線路終端)和用戶端的ONU(Optical Network Unit，光網(wǎng)絡單元)，OLT與ONU的數(shù)量比是I N，OLT可通過分光器將下行數(shù)據(jù)分發(fā)給N個0NU，而N個ONU又可通過分光器將上行數(shù)據(jù)匯聚至 0LT。為了保證OLT可以與多個ONU正常通信，在生產(chǎn)測試階段以及工程測試階段都需要對OLT功能進行測試，然而，因為GPON系統(tǒng)的上行幀結構與下行幀結構的格式不同(上行幀結構為PLOu+PLOAMu+DBRu格式的幀頭+GEM報文，下行幀結構為PCBd格式的幀頭+GEM報文)，且上行數(shù)據(jù)速率與下行數(shù)據(jù)速率也可能不同(GP0N系統(tǒng)中定義的上下行速率有兩個模式上行I. 24416Gbit/s，下行2. 48832Gbit/s ；以及上行2. 48832Gbit/s，下行2.48832Gbit/s。如果采用第一種模式，則上下行數(shù)據(jù)速率不同，如果采用第二種模式，則上下行數(shù)據(jù)速率相同)，因此，目前在檢測OLT的功能吋，不能直接對GPON芯片進行環(huán)回測試，只能在應用GPON芯片的單板的每個PON 口上掛ー個測試車(即多ONU測試設備，用以測試每個ONU對應的多個業(yè)務通道是否正常)，測試車通過分光器下掛32 128個測試用ONU (所謂測試用ONU是指，設置在用戶端、且僅用于OLT功能測試，而不向用戶提供服務的光網(wǎng)絡單元)。在進行OLT功能測試時，GPON芯片向測試車下掛的ONUtl發(fā)送下行數(shù)據(jù)，如果芯片中針對ONUtl的下行業(yè)務通道以及上行業(yè)務通道均正常工作，則數(shù)據(jù)經(jīng)過ONUtl可環(huán)回至GPON芯片；如果針對ONUtl的上行業(yè)務通道或者下行業(yè)務通道存在故障，數(shù)據(jù)則無法環(huán)回至GPON芯片。如果數(shù)據(jù)正常環(huán)回至GPON芯片，則芯片會繼續(xù)向測試車下掛的ONU1發(fā)送下行數(shù)據(jù)，以檢測與ONU1對應的多個業(yè)務通道是否正常，如此循環(huán)往復，GPON芯片逐個地向每個測試車下掛的ONU發(fā)送下行數(shù)據(jù)，最終實現(xiàn)檢測其內部與各個ONU對應的業(yè)務通道是否正常的目的。上述的測試過程雖能完成OLT功能檢測，但是，因為芯片內部的業(yè)務通道數(shù)量遠遠大于單個ONU內部的業(yè)務通道數(shù)量，因此需要在用戶端布置大量的測試用0NU，這就造成了 ONU資源的極大浪費，増加了測試成本。此外，在判斷業(yè)務通道是否正常時，芯片需要等待數(shù)據(jù)從用戶端的測試用ONU環(huán)回至局端，這ー方面使得測試效率很低，另ー方面是這種測試方法只能確定針對某ー測試用ONU的多個業(yè)務通道是否正常，而不能快速確定出現(xiàn)故障的具體業(yè)務通道。

發(fā)明內容
本發(fā)明實施例提供ー種OLT測試的方法及裝置，通過直接對GPON芯片進行環(huán)回測試，實現(xiàn)節(jié)省測試成本，提高測試效率以及快速定位故障的目的。為此，本發(fā)明實施例提供如下技術方案ー種OLT測試的方法，所述方法包括下行GTC層接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)；所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC 層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM 層。ー種OLT測試的裝置，所述裝置包括封裝單元，用于接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)；發(fā)送單元，用于將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。本發(fā)明實施例OLT測試的方法及裝置，從匹配上下行幀結構格式以及匹配上下行數(shù)據(jù)速率兩方面出發(fā)，實現(xiàn)OLT的環(huán)回測試過程，進而實現(xiàn)檢測OLT功能是否正常的目的。在OLT的上下行數(shù)據(jù)速率相同的情況下，本發(fā)明實施例只需要匹配上下行幀結構格式即可；在上下行數(shù)據(jù)速率不同的情況下，則需要匹配幀結構格式以及傳輸速率兩方面，以此保證幀數(shù)據(jù)能夠正常的從上行業(yè)務通道環(huán)回至下行業(yè)務通道，實現(xiàn)檢測OLT功能的目的。采用本發(fā)明實施例就不需要設置多個測試用0NU，這就節(jié)省了測試成本，提高了測試效率；另夕卜，因為本發(fā)明實施例不再針對單個測試用ONU進行多業(yè)務通道檢測，因此還實現(xiàn)了故障的快速定位。

為了更清楚地說明本申請實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請中記載的ー些實施例，對于本領域普通技術人員來講，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I是本發(fā)明實施例OLT測試的方法實施例I的流程圖；圖2是本發(fā)明實施例方法實施例I的環(huán)回路徑示意圖；圖3是本發(fā)明實施例中包含第一種預設GTC幀頭格式的幀結構示意圖；圖4是本發(fā)明實施例中包含第二種預設GTC幀頭格式的幀結構示意圖；圖5是本發(fā)明實施例中包含第三種預設GTC幀頭格式的幀結構示意圖；圖6是本發(fā)明實施例中包含第四種預設GTC幀頭格式的幀結構示意圖；圖7是本發(fā)明實施例OLT測試的方法實施例2的流程圖；圖8是本發(fā)明實施例方法實施例2的環(huán)回路徑示意圖；圖9是本發(fā)明實施例OLT測試的方法實施例3的流程圖；圖10是本發(fā)明實施例方法實施例3的環(huán)回路徑示意圖；圖11是本發(fā)明實施例OLT測試的方法實施例4的流程圖12是本發(fā)明實施例OLT測試的裝置實施例I的結構示意圖；圖13是本發(fā)明實施例OLT測試的裝置實施例2的結構示意圖；圖14是本發(fā)明實施例中速率調整單元實施例I的結構示意圖；圖15是本發(fā)明實施例中速率調整單元實施例2的結構示意圖。
具體實施例方式為了使本技術領域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面結合附圖和實施方式對本發(fā)明實施例作進ー步的詳細說明。本發(fā)明實施例OLT測試的方法及裝置，綜合考慮OLT的上下行幀結構格式以及上下行數(shù)據(jù)速率兩方面因素在上下行數(shù)據(jù)速率相同的情況下，匹配上下行幀結構格式，實現(xiàn)幀數(shù)據(jù)在OLT的環(huán)回；在上下行數(shù)據(jù)速率也不同的情況下，同時匹配上下行的幀結構格式和數(shù)據(jù)速率兩個因素，實現(xiàn)幀數(shù)據(jù)在OLT的環(huán)回。如圖I所示，是本發(fā)明實施例OLT測試的方法實施例I的流程圖，包括步驟101,下行 GTC(GPC)N Transmission Convergence)層接收 GEM 層發(fā)送的 GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)。步驟102，所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。在本實施例中，為了在上下行數(shù)據(jù)速率相同但幀結構不同的情況下，實現(xiàn)OLT環(huán)回測試的目的，要先預設ー個上行GTC層和下行GTC層通用的GTC幀頭格式。參見圖2所示的環(huán)回路徑，方法實施例I具體實現(xiàn)環(huán)回測試的過程可描述如下 (I)下行GTC層(即D0WN_GTC)在接收到GEM層封裝的GEM報文后，采用預設的GTC幀頭格式將GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)。因為上行數(shù)據(jù)速率與下行數(shù)據(jù)速率相同，均為2. 48832Gbit/s，因此下行GTC層可以直接將GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送給上行GTC層。(2)上行GTC層(即UP_GTC)在接收到下行GTC層發(fā)送的GTC幀數(shù)據(jù)后，可以采用預設的GTC幀頭格式解析GTC幀數(shù)據(jù)，獲得其中包含的GEM報文，然后再將GEM報文發(fā)送至GEM層，這就實現(xiàn)了 GTC幀數(shù)據(jù)在OLT的環(huán)回。
上述實施例I就可實現(xiàn)檢測OLT內部的GPON芯片的目的，特別是可實現(xiàn)檢測GPON芯片內部的GTC邏輯接ロ的目的。如果GTC邏輯接ロ都正常工作，則GTC幀數(shù)據(jù)可正常環(huán)回至上行GTC層，且上行GTC層可以正確的從中解析出GEM報文發(fā)送至GEM層。而如果上行GTC層沒有正確檢測到環(huán)回數(shù)據(jù)的幀頭，則認為下行GTC幀頭數(shù)據(jù)存在錯誤。如果上行GTC層能夠正確檢測到環(huán)回數(shù)據(jù)幀頭，但環(huán)回數(shù)據(jù)(即GEM報文)丟包，則可以認為上行GTC層解析環(huán)回數(shù)據(jù)錯誤。這樣，通過檢測環(huán)回數(shù)據(jù)的不同錯誤類型，就可以確定GTC邏輯接ロ存在的故障，進而對其進行故障定位。需要說明的是，上述預設的GTC幀頭格式可以具體為下行幀結構中的幀頭格式，參見圖3所示、上行幀結構中的幀頭格式，參見圖4所示、下行GTC層與上行GTC層協(xié)定的幀頭格式(即可以自定義ー種上下GTC層均可通用的幀頭格式，如圖5所示；也可以在下行GTC層的固定位置填充固定字段，相應地上行GTC層要在該固定位置上解析該固定字段以實現(xiàn)匹配幀結構的目的，如圖6所示)中的ー種。
如圖7所示，是本發(fā)明實施例OLT測試的方法實施例2的流程圖，包括步驟201，下行GTC層接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)。步驟202，所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至井串行與串并行轉換器berDes0步驟203，SerDes先對接收到GTC幀數(shù)據(jù)進行并串轉換，然后在將數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層之前再進行串并轉換，最后再將GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。
本實施例與實施例I的不同之處在于，下行GTC層輸出GTC幀數(shù)據(jù)之后，并不直接將GTC幀數(shù)據(jù)環(huán)回至上行GTC層，而是經(jīng)由SerDes再發(fā)送至上行GTC層。參見圖8所示的環(huán)回路徑，本實施例實現(xiàn)環(huán)回的過程如下(I)下行GTC層接收GEM報文，并采用預設的GTC幀頭格式將GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至SerDes。其中，預設的GTC幀頭格式可為PCBd格式、PLOu格式、或者下行GTC層和上行GTC層協(xié)定的格式。(2)與下行GTC層通信的SerDes接ロ(即并串行轉換器Serialize)接收GTC幀數(shù)據(jù)，并對GTC幀數(shù)據(jù)進行并串轉換。(3)轉換為串行數(shù)據(jù)后，與上行GTC層通信的SerDes接ロ(即串并行轉換器Deserialize)再對串行數(shù)據(jù)進行串并轉換，因為上行數(shù)據(jù)速率與下行數(shù)據(jù)速率相同，均為2. 48832Gbit/s，因此SerDes可以直接將GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層。(4)上行GTC層采用預設的GTC幀頭格式解析GTC幀數(shù)據(jù)，將獲得的GEM報文后發(fā)送至GEM層，這就實現(xiàn)了 GTC幀數(shù)據(jù)在OLT的環(huán)回。上述實施例2就實現(xiàn)了在一次OLT環(huán)回測試中，既檢測GTC邏輯接ロ還檢測SerDes的目的。對于GTC邏輯接ロ的檢測以及故障定位過程同實施例I相同，對于SerDes來說，如果上行GTC層可以正確完整的接收環(huán)回數(shù)據(jù)，就認為SerDes和GTC邏輯接ロ都可以正常工作，如果上行GTC層不能正確接收環(huán)回數(shù)據(jù)，則按照本發(fā)明方法實施例I的環(huán)回方法進行數(shù)據(jù)檢測，如果正確(即GTC邏輯接ロ正常)，就認為是SerDes出現(xiàn)了故障，才導致上行GTC層不能正確接收環(huán)回數(shù)據(jù)。如圖9所示，是本發(fā)明實施例OLT測試的方法實施例3的流程圖，包括步驟301，下行GTC層接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)。步驟302，所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至井串行與串并行轉換器berDes0步驟303，SerDes將所述GTC幀數(shù)據(jù)進行并串轉換后，發(fā)送至光電轉換組件。步驟304，光電轉換組件先將接收到的串行數(shù)據(jù)轉換為光信號，然后在將數(shù)據(jù)環(huán)回至SerDes之前，再將光信號轉換為的電信號發(fā)送給SerDes。步驟305，SerDes將光電轉換組件發(fā)送的串行信號轉換為并行信號，再發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。
本實施例與實施例2的不同之處在干，下行GTC層輸出GTC幀數(shù)據(jù)之后，經(jīng)由SerDes和光電轉換組件之后再發(fā)送至上行GTC層。參見圖10所示的環(huán)回路徑，本實施例實現(xiàn)環(huán)回的過程如下(I)下行GTC層接收GEM報文，并采用預設的GTC幀頭格式將GEM報文封裝為GTC中貞數(shù)據(jù)發(fā)送至SerDes (即并串行轉換器Serialize)。(2)與下行GTC層通信的SerDes接ロ接收GTC幀數(shù)據(jù)，并對GTC幀數(shù)據(jù)進行并串轉換，然后再將轉換后的串行數(shù)據(jù)傳遞至光電轉換組件(即Optjnodule)，經(jīng)光電轉換組件再環(huán)回至SerDes (即串并行轉換器Deserialize)。(3) SerDes將光電轉換組件發(fā)送的串行數(shù)據(jù)轉換為并行數(shù)據(jù)，因為上行數(shù)據(jù)速率與下行數(shù)據(jù)速率相同，均為2. 48832Gbit/s,因此SerDes可以直接將GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC 層。 (4)上行GTC層采用預設的GTC幀頭格式解析GTC幀數(shù)據(jù)，將獲得的GEM報文后發(fā)送至GEM層，這就實現(xiàn)了 GTC幀數(shù)據(jù)在OLT的環(huán)回。上述實施例3就實現(xiàn)了在一次OLT環(huán)回測試中，檢測GTC邏輯接ロ、檢測SerDes、以及檢測光電轉換組件的目的。對于GTC邏輯接ロ以及SerDes的檢測過程同實施例2相同，對于光電轉換組件來說，如果上行GTC層可以正確完整的接收環(huán)回數(shù)據(jù)，就認為光電轉換組件、SerDes和GTC邏輯接ロ斗可以正常工作，如果上行GTC層不能正確接收環(huán)回數(shù)據(jù)，則按照本發(fā)明方法實施例2的環(huán)回方法進行數(shù)據(jù)檢測，如果正確(即SerDes和GTC邏輯接ロ都正常)，就認為是光電轉換組件出現(xiàn)了故障，才導致上行GTC層不能正確接收環(huán)回數(shù)據(jù)。上述3個實施例均是針對上下行數(shù)據(jù)速率相同但幀結構不同情況，用以實現(xiàn)OLT環(huán)回測試的實現(xiàn)方式，在這種情況下，只需要匹配上下行數(shù)據(jù)幀結構即可；但是，對于上下行數(shù)據(jù)速率以及幀結構都不同的情況來說，在實現(xiàn)OLT環(huán)回測試時，就需要同時匹配幀結構以及數(shù)據(jù)速率兩個方面。如圖11所示，是本發(fā)明實施例OLT測試的方法實施例4的流程圖，包括步驟401，下行GTC層接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)。步驟402，所述下行GTC層按照與上行數(shù)據(jù)速率相同的速率將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。在實施例4中，除了要預設ー個上下行GTC層都通用的GTC幀頭格式之外，還需要調整上行數(shù)據(jù)速率或者下行數(shù)據(jù)速率，只有在發(fā)送數(shù)據(jù)的格式以及發(fā)送數(shù)據(jù)的速度兩方面都相同的情況下，才能實現(xiàn)上行GTC層與下行GTC層的數(shù)據(jù)環(huán)回。如果上行數(shù)據(jù)速率為I. 24416Gbit/s，下行數(shù)據(jù)速率為2. 48832Gbit/s，那么匹配數(shù)據(jù)速率的方式可以是提高上行數(shù)據(jù)速率，也可以是降低下行數(shù)據(jù)速率。但是需要說明的是，在不對上行GTC層進行改造的情況下，一般采用降低下行數(shù)據(jù)速率的方式實現(xiàn)匹配速率的目的，這是因為提高上行數(shù)據(jù)速率就意味著需要提高上行GTC層處理數(shù)據(jù)的能力，即需要改造上行GTC層的性能。由數(shù)據(jù)速率=時鐘頻率*位寬可知，對于降低下行數(shù)據(jù)速率的方式，可包括以下兩個具體實現(xiàn)過程(I)調整下行GTC層的時鐘頻率為正常下行時鐘頻率的1/2倍。具體地，如果采用下調時鐘頻率來降低下行數(shù)據(jù)速率的方式，則可通過鎖相環(huán)分頻來實現(xiàn)。在鑒相鑒頻器與壓控振蕩器之間增加ー個分頻電路，分頻電路用以實現(xiàn)對壓控振蕩器輸出時鐘的分頻，然后再將分頻后的時鐘反饋給鑒相鑒頻器，進而實現(xiàn)調整壓控振蕩器輸出時鐘的目的。對于分頻電路來說，主要是通過改變分頻電路的分頻系數(shù)，實現(xiàn)增大或者縮小輸出時鐘的頻率的目的。例如，在GPON系統(tǒng)正常工作時，下行的時鐘頻率為155. 52MHz,出口數(shù)據(jù)位寬為16bit，若使數(shù)據(jù)速率從2. 48832Gbit/s降低為I. 24416Gbit/s，則改變分頻電路的分頻系數(shù)為1/2，那么在經(jīng)鎖相環(huán)分頻后下行時鐘頻率就降低為77. 76MHz，相應地下行數(shù)據(jù)速率也就降低為I. 24416Gbit/s。(2)調整下行GTC層的數(shù)據(jù)傳輸位寬為正常下行傳輸位寬的1/2倍。具體地，如果采用減少位寬來降低下行數(shù)據(jù)速率的方式，則可通過配置寄存器來實現(xiàn)。例如，在GPON系統(tǒng)正常工作時，下行的時鐘頻率為155. 52MHz，出口數(shù)據(jù)位寬為16bit，若使數(shù)據(jù)速率從2. 48832Gbit/s降低為I. 24416Gbit/s，則可配置寄存器的出口數(shù)據(jù)位寬，將其輸出的16bit數(shù)據(jù)分為兩部分，一部分是前8bit被視為有效的數(shù)據(jù)(在本時隙輸出，且是有效輸出)，另一部分是后Sbit被視為無效的數(shù)據(jù)(在本時隙輸出時視為無效，但在下一時隙輸出時視為有效輸出)，也就是說，將GPON系統(tǒng)正常工作時姆個時隙的出口數(shù)據(jù)bit數(shù)分兩次發(fā)出去。在出口數(shù)據(jù)位寬從16bit配置為Sbit吋，下行數(shù)據(jù)速率也就降低為 I. 24416Gbit/s。同樣地，由數(shù)據(jù)速率=時鐘頻率*位寬可知,對于提高上行數(shù)據(jù)速率的方式,也可包括以下兩個具體實現(xiàn)過程(I)調整上行GTC層的時鐘頻率為正常上行時鐘頻率的2倍。(2)調整上行GTC層的數(shù)據(jù)傳輸位寬為正常上行傳輸位寬的2倍。在GPON系統(tǒng)正常工作時，上行的時鐘頻率為155. 52MHz，出口數(shù)據(jù)位寬為8bit，若使數(shù)據(jù)速率從I. 24416Gbit/s提高為2. 48832Gbit/s，一方面可以改變分頻電路的分頻系數(shù)為2，將時鐘頻率提高為311. 04MHz，另ー方面還可以將出口數(shù)據(jù)位寬配置為16bit，實現(xiàn)提高上行數(shù)據(jù)速率的目的。其調整原理與上述降低下行數(shù)據(jù)速率的調整原理相同，此處不再贅述。上述實施例4就可實現(xiàn)檢測OLT內部的GPON芯片的目的，特別是可實現(xiàn)檢測GPON芯片內部的GTC邏輯接ロ的目的。與本發(fā)明方法實施例I相同，如果數(shù)據(jù)環(huán)回檢測正確且完整，就說明GTC邏輯接ロ可正常工作，如果數(shù)據(jù)環(huán)回檢測存在丟包或數(shù)據(jù)誤碼，就說明GTC邏輯接ロ存在故障，即可對其進行故障定位。作為本發(fā)明OLT測試的方法的實施例5，對于上下行數(shù)據(jù)速率以及幀結構都不同的情況來說，也可以在一次OLT環(huán)回測試中，既檢測GTC邏輯接ロ又檢測SerDes，此時，SerDes的上行數(shù)據(jù)速率也要與下行數(shù)據(jù)速率保持一致。也就是說，為了可以正確的接收下行GTC層發(fā)送的GTC幀數(shù)據(jù)，以及正確的將接收到的GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送給上行GTC層，也要保證SerDes的上下行數(shù)據(jù)速率的一致性，否則將無法實現(xiàn)GTC幀數(shù)據(jù)在OLT的環(huán)回。需要說明的是，如果實施例4通過調整下行數(shù)據(jù)速率的方式使上下行數(shù)據(jù)速率保持一致，則SerDes的下行數(shù)據(jù)速率也要進行相應地調整，例如，在下行GTC層的時鐘頻率降低為正常時鐘頻率的1/2(77. 76MHz)吋，SerDes的下行時鐘頻率同樣也要降低為77. 76MHz。如果實施例4通過調整上行數(shù)據(jù)速率的方式使上下行數(shù)據(jù)速率保持一致，則SerDes也要相應地進行上行數(shù)據(jù)速率的調整，例如，在上行GTC層的位寬增加至正常位寬的2倍(16bit)時，SerDes的上行數(shù)據(jù)位寬也要增加至16bit。作為本發(fā)明OLT測試的方法的實施例6，對于上下行數(shù)據(jù)速率以及幀結構都不同的情況來說，也可以在一次OLT環(huán)回測試中，同時檢測GTC邏輯接ロ、SerDes以及光電轉換組件，此時，光電轉換組件的上行數(shù)據(jù)速率也要與下行數(shù)據(jù)速率保持一致。也就是說，為了正確的將下行GTC層封裝的GTC幀數(shù)據(jù)環(huán)回至上行GTC層，必須也要保證光電轉換組件的上下行數(shù)據(jù)速率的一致性。需要說明的是，如果實施例5通過調整下行數(shù)據(jù)速率的方式使GTC層以及SerDes的上下行數(shù)據(jù)速率保持一致，則光電轉換組件的下行數(shù)據(jù)速率也要進行相應地調整，例如，在下行GTC層以及SerDes的位寬減少為正常位寬的l/2(8bit)時，光電轉換組件的出口數(shù)據(jù)位寬同樣也要減少為8bit。如果實施例5通過調整上行數(shù)據(jù)速率的方式使GTC層以及SerDes的上下行數(shù)據(jù)速率保持一致，則光電轉換組件也要相應地進行上行數(shù)據(jù)速率的調整，例如，在上行GTC層以及SerDes的數(shù)據(jù)速率提高至正常數(shù)據(jù)速率的2倍(2. 48832Gbps)時，光電轉換組件的數(shù)據(jù)速率也要提高至2. 48832Gbps。在生產(chǎn)測試階段以及工程測試階段需要檢測OLT功能吋，就可利用本發(fā)明提供的上述6個實施例，通過數(shù)據(jù)環(huán)回的方式來檢測。因為本發(fā)明實施例可以直接對GPON芯片進行環(huán)回測試，因此就不需要再在用戶端設置多個測試用0NU，這就可大大節(jié)省測試成本；另夕卜，直接進行環(huán)回測試還節(jié)省了數(shù)據(jù)傳送至測試用ONU后再傳回OLT的時間，提高了測試效率。除此之外，本發(fā)明實施例還實現(xiàn)了快速進行故障定位的功能，這是因為本發(fā)明實施例不再針對單個ONU進行多業(yè)務通道測試，而是針對每個業(yè)務通道進行測試，具體體現(xiàn)為因為業(yè)務通道是由GEM層處理的，每個業(yè)務通道都對應有一個通道ID，即GEM Port ID,范圍為0 4095,通過配置環(huán)回業(yè)務的不同GEM Port ID,就可以實現(xiàn)對姆個業(yè)務通道進行功能測試的目的。需要說明的是，本發(fā)明實施例匹配幀結構甚至匹配數(shù)據(jù)速率的過程都是在測試階段采用的方案，在實際應用吋，GPON芯片還是要按照協(xié)議規(guī)定的上下行幀結構以及上下行數(shù)據(jù)速率與用戶端的ONU進行通信。關于測試階段以及應用階段采用哪種幀結構以及數(shù)據(jù)速率可以通過CPU控制進行切換。也就是說，在測試階段，CPU就控制GPON芯片處于可調整幀結構甚至調整數(shù)據(jù)速率的狀態(tài)；在應用階段，CPU就控制GPON芯片按照協(xié)議規(guī)定的幀結構和數(shù)據(jù)速率與ONU通信，因此，本發(fā)明實施例不會影響包含GPON芯片的OLT的正常應用。相應地，本發(fā)明實施例還提供ー種OLT測試的裝置，如圖12所示，是該系統(tǒng)的ー種結構示意圖。在裝置的實施例I中，包括封裝單元501，用于接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)；發(fā)送單元502，用于將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述(SM層。上述實施例是與方法實施例1、2、3相對應的裝置結構，主要針對上下行數(shù)據(jù)速率相同但幀結構不同的情況。通過預設ー個上下GTC層都通用的GTC幀頭格式，實現(xiàn)GTC幀數(shù)據(jù)在OLT的環(huán)回，具體包括如果發(fā)送単元直接將GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層的話，那么本實施例就實現(xiàn)了下行GTC層與上行GTC層間的環(huán)回；如果發(fā)送單元經(jīng)由SerDes再將GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層的話，那么本實施例就實現(xiàn)了下行GTC層與SerDes以及上行GTC層間的環(huán)回；如果發(fā)送單元經(jīng)由SerDes和光電轉換組件再將GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層的話，那么本實施例就實現(xiàn)了下行GTC層與SerDes、光電轉換組件以及上行GTC層間的環(huán)回。上述環(huán)回過程就可實現(xiàn)檢測GTC邏輯接ロ、SerDes、光電轉換組件是否正常的目的。其檢測判斷方法和故障定位方法在方法實施例中已有描述，此處不再贅述。相應地，本發(fā)明實施例還提供ー種OLT測試的裝置，如圖13所示，是該系統(tǒng)的ー種結構示意圖。在裝置的實施例2中，包括封裝単元601，用于接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)；速率調整單元602，用于調整上行GTC層的上行數(shù)據(jù)速率或者調整下行GTC層的數(shù)據(jù)速率，以使二者的數(shù)據(jù)速率相同；發(fā)送單元603，用于按照與上行數(shù)據(jù)速率相同的速率將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。上述實施例是與方法實施例4、5、6相對應的裝置結構，主要針對上下行數(shù)據(jù)速率與幀結構均不同的情況。本實施例中，除了要預設ー個上下行GTC層都通用的GTC幀頭格式之外，還需要調整上行數(shù)據(jù)速率或者下行數(shù)據(jù)速率，只有在發(fā)送數(shù)據(jù)的格式以及發(fā)送數(shù)據(jù)的速度兩方面都相同的情況下，才能實現(xiàn)上行GTC層與下行GTC層的數(shù)據(jù)環(huán)回。如果上行數(shù)據(jù)速率為1.24416Gbit/s，下行數(shù)據(jù)速率為2. 48832Gbit/s，那么匹配數(shù)據(jù)速率的方式可以是提高上行數(shù)據(jù)速率，也可以是降低下行數(shù)據(jù)速率。具體地，如果采用提高上行數(shù)據(jù)速率的方式匹配上下行數(shù)據(jù)速率，如圖14所示，速率調整單元具體包括上行時鐘頻率調整單元701，用于調整上行GTC層的時鐘頻率為正常上行時鐘頻率的2倍；或者，所述速率調整單元具體包括上行傳輸位寬調整単元702，用于調整上行GTC層的數(shù)據(jù)傳輸位寬為正常上行傳輸位寬的2倍。具體地，如果采用降低下行數(shù)據(jù)速率的方式匹配上下行數(shù)據(jù)速率，如圖15所示，速率調整單元具體包括下行時鐘頻率調整單元801，用于調整下行GTC層的時鐘頻率為正常下行時鐘頻率的1/2倍；或者，
所述速率調整單元具體包括下行傳輸位寬調整単元802，用于調整下行GTC層的數(shù)據(jù)傳輸位寬為正常下行傳輸位寬的1/2倍。本發(fā)明方案可以在由計算機執(zhí)行的計算機可執(zhí)行指令的一般上下文中描述，例如程序単元。一般地，程序単元包括執(zhí)行特定任務或實現(xiàn)特定抽象數(shù)據(jù)類型的例程、程序、對象、組件、數(shù)據(jù)結構等等。也可以在分布式計算環(huán)境中實踐本發(fā)明方案，在這些分布式計算環(huán)境中，由通過通信網(wǎng)絡而被連接的遠程處理設備來執(zhí)行任務。在分布式計算環(huán)境中，程序単元可以位于包括存儲設備在內的本地和遠程計算機存儲介質中。本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處。尤其，對于裝置實施例而言，由于其基本相似于方法實施例，所以描述得比較簡單，相關之處參見方法實施例的部分說明即可。以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，其中所述作為分離部件說明的単元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理単元，即可以位于ー個地方，或者也可以分布到多個網(wǎng)絡単元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部模塊來實現(xiàn)本實施例方案的目的。本領域普通技術人員在不付出創(chuàng)造性勞動的情況下，即可以理解并實施。以上對本發(fā)明實施例進行了詳細介紹，本文中應用了具體實施方式
對本發(fā)明進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及設備；同時，對于本領域的一般技術人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實施方式
及應用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本發(fā)明的限制。
權利要求
1.ー種OLT測試的方法，其特征在于，所述方法包括下行GTC層接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)；所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。
2.根據(jù)權利要求I所述的方法，其特征在于，所述預設的GTC幀頭格式具體為下行GTC中貞頭格式、上行GTC巾貞頭格式、下行GTC層與上行GTC層協(xié)定的巾貞頭格式中的ー種。
3.根據(jù)權利要求I所述的方法，其特征在于，所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層具體包括所述下行GTC層按照與上行數(shù)據(jù)速率相同的速率將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層。
4.根據(jù)權利要求3所述的方法，其特征在于，所述下行GTC層按照與上行數(shù)據(jù)速率相同的速率發(fā)送所述GTC幀數(shù)據(jù)具體包括調整上行GTC層的上行數(shù)據(jù)速率或者調整下行GTC層的數(shù)據(jù)速率，以使二者的數(shù)據(jù)速率相同。
5.根據(jù)權利要求4所述的方法，其特征在于，所述調整上行GTC層的上行數(shù)據(jù)速率具體包括調整上行GTC層的時鐘頻率為正常上行時鐘頻率的2倍；或者，調整上行GTC層的數(shù)據(jù)傳輸位寬為正常上行傳輸位寬的2倍。
6.根據(jù)權利要求4所述的方法，其特征在于，所述調整下行GTC層的下行數(shù)據(jù)速率具體包括調整下行GTC層的時鐘頻率為正常下行時鐘頻率的1/2倍；或者，調整下行GTC層的數(shù)據(jù)傳輸位寬為正常下行傳輸位寬的1/2倍。
7.根據(jù)權利要求I至6任一項所述的方法，其特征在于，所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層具體包括所述下行GTC層通過井串行與串并行轉換器將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層。
8.根據(jù)權利要求I至6任一項所述的方法，其特征在于，所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層具體包括所述下行GTC層通過并串行與串并行轉換器與光電轉換組件將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層。
9.ー種OLT測試的裝置，其特征在于，所述裝置包括封裝單元，用于接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)；發(fā)送單元，用于將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。
10.根據(jù)權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括速率調整單元，用于調整上行GTC層的上行數(shù)據(jù)速率或者調整下行GTC層的數(shù)據(jù)速率，以使二者的數(shù)據(jù)速率相同；所述發(fā)送単元，具體用于按照與上行數(shù)據(jù)速率相同的速率將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層。
11.根據(jù)權利要求10所述的裝置，其特征在干，所述速率調整單元具體包括上行時鐘頻率調整單元，用于調整上行GTC層的時鐘頻率為正常上行時鐘頻率的2倍；或者，所述速率調整單元具體包括上行傳輸位寬調整単元，用于調整上行GTC層的數(shù)據(jù)傳輸位寬為正常上行傳輸位寬的2倍。
12.根據(jù)權利要求10所述的裝置，其特征在干，所述速率調整單元具體包括下行時鐘頻率調整單元，用于調整下行GTC層的時鐘頻率為正常下行時鐘頻率的1/2倍；或者，所述速率調整單元具體包括下行傳輸位寬調整単元，用于調整下行GTC層的數(shù)據(jù)傳輸位寬為正常下行傳輸位寬的1/2 倍。
全文摘要
本發(fā)明提供一種OLT測試的方法及裝置，所述方法包括下行GTC層接收GEM層發(fā)送的GEM報文，并按預設的GTC幀頭格式將所述GEM報文封裝為GTC幀數(shù)據(jù)；所述下行GTC層將所述GTC幀數(shù)據(jù)發(fā)送至上行GTC層，以使所述上行GTC層按照所述預設的GTC幀頭格式解析所述GTC幀數(shù)據(jù)，并將解析獲得的所述GEM報文發(fā)送至所述GEM層。本發(fā)明實施例從匹配上下行幀結構格式以及匹配上下行數(shù)據(jù)速率兩方面出發(fā)，實現(xiàn)OLT的環(huán)回測試過程，進而實現(xiàn)檢測OLT功能是否正常的目的。
文檔編號H04Q11/00GK102710998SQ201210168978
公開日2012年10月3日申請日期2012年5月28日優(yōu)先權日2012年5月28日
發(fā)明者吳廣東, 聶世瑋申請人:華為技術有限公司

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