一種無源射頻識(shí)別系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種無源射頻識(shí)別系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試裝置，以解決利用外加信號(hào)源進(jìn)行接收性能靈敏度測(cè)試需要進(jìn)行時(shí)鐘同步的問題。該裝置包括：信號(hào)接收模塊，接收無源被測(cè)設(shè)備發(fā)射的射頻信號(hào)并輸出；信號(hào)生成模塊，根據(jù)所述射頻信號(hào)生成性能測(cè)試所需的測(cè)試信號(hào)；信號(hào)傳送模塊，將測(cè)試信號(hào)傳送給所述無源被測(cè)設(shè)備，由所述無源被測(cè)設(shè)備確定最小接收功率。通過本發(fā)明無需進(jìn)行時(shí)鐘同步，實(shí)現(xiàn)過程簡(jiǎn)單，并提高了性能測(cè)試的準(zhǔn)確性。
【專利說明】一種無源射頻識(shí)別系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及射頻識(shí)別【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種無源射頻識(shí)別系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)
試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]射頻識(shí)別(RFID, Radio Frequency Identify)是一種非接觸式的自動(dòng)識(shí)別技術(shù)， 通過射頻信號(hào)自動(dòng)識(shí)別目標(biāo)對(duì)象并獲取相關(guān)數(shù)據(jù)，識(shí)別工作無須人工干預(yù)，可工作于各種 惡劣環(huán)境。
[0003]RFID系統(tǒng)包括電子標(biāo)簽和閱讀器。電子標(biāo)簽與閱讀器之間通過耦合元件實(shí)現(xiàn)射頻 信號(hào)的無接觸耦合，在耦合通道內(nèi)，根據(jù)時(shí)序關(guān)系，實(shí)現(xiàn)能量的傳遞、數(shù)據(jù)的交換。依據(jù)電子 標(biāo)簽供電方式的不同，電子標(biāo)簽可以分為有源標(biāo)簽和無源標(biāo)簽兩種，有源標(biāo)簽內(nèi)裝有電池， 無源標(biāo)簽沒有內(nèi)裝電池，依靠標(biāo)簽天線接收到的電波能量來給標(biāo)簽提供能量。
[0004]利用無源標(biāo)簽進(jìn)行通信的無源RFID系統(tǒng)中，標(biāo)簽與閱讀器進(jìn)行通信時(shí)，閱讀器需 要前向發(fā)送射頻載波給標(biāo)簽供電，標(biāo)簽通過反向散射將信息發(fā)送給閱讀器。因此在閱讀器 接收標(biāo)簽的反向信號(hào)時(shí)，閱讀器前向發(fā)送的射頻載波會(huì)泄漏到閱讀器反向接收的部分。由 于標(biāo)簽反向散射回來的信號(hào)強(qiáng)度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于前向發(fā)送的載波信號(hào)強(qiáng)度，實(shí)際的系統(tǒng)中信號(hào)強(qiáng) 度差達(dá)到90dB以上，而泄漏到接收電路的信號(hào)幅度較大，即使增加泄漏對(duì)消功能，信號(hào)幅 度也只能達(dá)到_20dBm，并且實(shí)際應(yīng)用中天線駐波會(huì)隨著環(huán)境的變化而變化，標(biāo)簽通過控制 天線負(fù)載阻抗情況來改變散射信號(hào)的功率或者相位，對(duì)閱讀器發(fā)射的載波進(jìn)行調(diào)制后反向 散射給閱讀器，使閱讀器接收到的標(biāo)簽反向散射信號(hào)是與閱讀器本振信號(hào)完全同頻的ASK (幅度調(diào)制)或者PSK (相位調(diào)制)調(diào)制信號(hào)。目前相當(dāng)多的無源RFID閱讀器的接收電路中 采用零中頻接收方案，對(duì)接收到的調(diào)制信號(hào)先進(jìn)行解調(diào)，然后進(jìn)行基帶信號(hào)的放大。因此， 無源RFID閱讀器的接收電路只能對(duì)閱讀器發(fā)射或者標(biāo)簽散射的信號(hào)接收并分析，并不能 對(duì)閱讀器進(jìn)行接收性能的測(cè)試。
[0005]閱讀器的接收性能是無源RFID系統(tǒng)性能中最基本、最重要的指標(biāo)，因此，無源 RFID系統(tǒng)進(jìn)行通信的過程中需要對(duì)接收端設(shè)備進(jìn)行靈敏度測(cè)試。傳統(tǒng)方式中進(jìn)行設(shè)備接收 性能的測(cè)試，即進(jìn)行無源設(shè)備接收靈敏度測(cè)試，通常是采用一個(gè)外部信號(hào)源作為發(fā)射源模 擬發(fā)射機(jī)，根據(jù)系統(tǒng)的通信方式進(jìn)行相同的頻譜設(shè)定和調(diào)制方式并發(fā)送數(shù)據(jù)包，然后直接 或間接發(fā)送到被測(cè)設(shè)備，被測(cè)設(shè)備對(duì)信號(hào)進(jìn)行解調(diào)解碼等接收信號(hào)處理。在誤碼率或者誤 幀率不超過某個(gè)指定的值時(shí)，最小的接收功率為接收靈敏度。
[0006]然而采用上述外加信號(hào)源進(jìn)行靈敏度測(cè)試的方法，一方面，由于信號(hào)源的信號(hào)與 閱讀器信號(hào)之間有頻差，并且RFID系統(tǒng)中的基帶信號(hào)速率較低，信號(hào)源信號(hào)和閱讀器信號(hào) 之間的頻差會(huì)惡化解調(diào)后的基帶信號(hào)質(zhì)量，從而影響接收性能測(cè)試的準(zhǔn)確性。另一方面，使 用外部信號(hào)源發(fā)射信號(hào)模擬標(biāo)簽反向散射信號(hào)，需要進(jìn)行時(shí)鐘同步。

【發(fā)明內(nèi)容】
[0007]本發(fā)明的目的是提供一種無源射頻識(shí)別系統(tǒng)接收性能測(cè)試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù) 中利用外部信號(hào)源進(jìn)行接收性能靈敏度測(cè)試時(shí)，需要進(jìn)行時(shí)鐘同步，實(shí)現(xiàn)過程復(fù)雜，測(cè)試準(zhǔn) 確性不高的問題。
[0008]本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
[0009]本發(fā)明提供一種無源射頻識(shí)別系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試裝置，該裝置包括:
[0010]信號(hào)接收模塊，用于接收無源被測(cè)設(shè)備發(fā)射的射頻信號(hào)并輸出；
[0011]信號(hào)生成模塊，用于根據(jù)所述信號(hào)接收模塊輸出的所述射頻信號(hào)生成性能測(cè)試所 需的測(cè)試信號(hào)；
[0012]信號(hào)傳送模塊，用于將所述信號(hào)生成模塊生成的測(cè)試信號(hào)傳送給所述無源被測(cè)設(shè) 備，由所述無源被測(cè)設(shè)備確定最小接收功率。
[0013]本發(fā)明提供的無源射頻識(shí)別系統(tǒng)設(shè)備性能測(cè)試裝置進(jìn)行設(shè)備接收性能靈敏度測(cè) 試時(shí)，由于利用無源被測(cè)設(shè)備發(fā)射的射頻信號(hào)生成性能測(cè)試所需的測(cè)試信號(hào)，實(shí)現(xiàn)外部信 號(hào)源的功能，無需進(jìn)行時(shí)鐘同步，實(shí)現(xiàn)過程簡(jiǎn)單，并提高了性能測(cè)試的準(zhǔn)確性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的無源RFID系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試的裝置構(gòu)成示意 圖；
[0015]圖2為本發(fā)明實(shí)施例二提供的無源RFID系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試的裝置構(gòu)成示意 圖；
[0016]圖3為本發(fā)明實(shí)施例三提供的無源RFID系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試的裝置構(gòu)成示意 圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]本發(fā)明提供了一種無源射頻識(shí)別RFID系統(tǒng)設(shè)備接收性能的測(cè)試裝置，該裝置中， 直接利用無源被測(cè)設(shè)備發(fā)射的射頻信號(hào)生成性能測(cè)試所需的測(cè)試信號(hào)，利用該測(cè)試信號(hào)進(jìn) 行接收性能靈敏的測(cè)試，無需進(jìn)行時(shí)鐘同步。
[0018]本發(fā)明實(shí)施例一提供的無源RFID系統(tǒng)設(shè)備接收性能的測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示，該裝置包括:
[0019]信號(hào)接收模塊10，用于接收無源被測(cè)設(shè)備發(fā)射的射頻信號(hào)并輸出。
[0020]信號(hào)生成模塊11，用于根據(jù)所述信號(hào)接收模塊輸出的所述射頻信號(hào)生成性能測(cè)試 所需的測(cè)試信號(hào)。
[0021]信號(hào)傳送模塊12，用于將所述信號(hào)生成模塊生成的測(cè)試信號(hào)傳送給所述無源被測(cè) 設(shè)備，由所述無源被測(cè)設(shè)備確定最小接收功率。
[0022]本發(fā)明實(shí)施例提供的上述無源RFID系統(tǒng)設(shè)備性能測(cè)試裝置，直接利用無源被測(cè) 設(shè)備發(fā)射的射頻信號(hào)生成性能測(cè)試所需的測(cè)試信號(hào)，實(shí)現(xiàn)外部信號(hào)源的功能，因此，利用該 裝置進(jìn)行設(shè)備接收性能靈敏度測(cè)試時(shí)無需進(jìn)行時(shí)鐘同步，實(shí)現(xiàn)過程簡(jiǎn)單，并且無需外加信 號(hào)源，成本低廉。
[0023]本發(fā)明實(shí)施例二對(duì)上述實(shí)施例一提供的無源RFID設(shè)備接收性能測(cè)試裝置的構(gòu)成 做更為詳細(xì)的說明，該測(cè)試裝置的構(gòu)成示意圖如圖2所示。[0024]信號(hào)接收模塊10包括環(huán)形器101，環(huán)形器101的輸入口接收無源被測(cè)設(shè)備發(fā)送的 射頻信號(hào)，并通過環(huán)形器101的輸出口將該射頻信號(hào)輸出。
[0025]信號(hào)接收模塊10中還可以設(shè)置衰減器對(duì)環(huán)形器101輸出的射頻信號(hào)進(jìn)行功率衰 減，使輸出的射頻信號(hào)功率更為接近靈敏測(cè)試所需的功率。優(yōu)選的，本發(fā)明實(shí)施例中以具有 信號(hào)隔離、分離和混合功能的定向耦合器為例進(jìn)行說明。環(huán)形器101輸出口輸出的射頻信 號(hào)可以直接輸入到定向耦合器102中進(jìn)行信號(hào)的衰減，并且定向耦合器102的可以外接具 有顯示數(shù)值功能的儀器103，通過該儀器顯示定向耦合器102耦合到的各部分射頻信號(hào)的 功率值。進(jìn)一步的，定向耦合器102還需要外接負(fù)載104，用于吸收定向耦合器102的輸出 信號(hào)完成阻抗匹配。
[0026]優(yōu)選的，可以在所述信號(hào)接收模塊與所述信號(hào)生成模塊之間設(shè)置一環(huán)形器13用 于當(dāng)后級(jí)電路駐波特性不好時(shí)，隔離所述信號(hào)生成模塊反向散射的測(cè)試信號(hào)發(fā)射到環(huán)形器 101 中。
[0027]本發(fā)明實(shí)施例中，信號(hào)生成模塊11包括數(shù)字電路110、電平轉(zhuǎn)換電路111、射頻開 關(guān)112和調(diào)制子模塊113，通過射頻開關(guān)調(diào)制射頻信號(hào)，具體的:
[0028]通過所述數(shù)字電路110生成性能測(cè)試所需測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的調(diào)制信號(hào)，并輸入至所 述電平轉(zhuǎn)換電路；優(yōu)選的可以通過FPGA (Field 一 Programmable Gate Array,即現(xiàn)場(chǎng)可編 程門陣列)生成所需的調(diào)制信號(hào)，該調(diào)制信號(hào)優(yōu)選方形波。
[0029]電平轉(zhuǎn)換電路111，根據(jù)所述調(diào)制信號(hào)進(jìn)行高低電平的轉(zhuǎn)換，將轉(zhuǎn)換后的高低電平 輸入至所述射頻開關(guān)112的控制端；
[0030]射頻開關(guān)112，根據(jù)所述控制端的高低電平進(jìn)行通斷切換；射頻開關(guān)的切換速度 需要保證調(diào)制后波形的信號(hào)質(zhì)量。
[0031]調(diào)制子模塊113，根據(jù)所述射頻開關(guān)112的通斷狀態(tài)將接收到的射頻信號(hào)調(diào)制為 測(cè)試信號(hào)。
[0032]優(yōu)選的，上述生成測(cè)試信號(hào)的方法中，由于直接將射頻信號(hào)調(diào)制為所需的測(cè)試信 號(hào)，可以在射頻信號(hào)傳送至信號(hào)生成模塊之前再次進(jìn)行衰減處理，使調(diào)制出的測(cè)試信號(hào)功 率更接近所需的接收功率，因此，本發(fā)明實(shí)施例中可以在環(huán)形器13與信號(hào)生成模塊12之間 連接一衰減器14。
[0033]信號(hào)模塊11生成測(cè)試信號(hào)以后，將該測(cè)試信號(hào)輸入至信號(hào)傳送模塊12，通過該信 號(hào)傳送模塊12將該測(cè)試信號(hào)傳送至無源被測(cè)設(shè)備，由無源被測(cè)設(shè)備對(duì)接收到的測(cè)試信號(hào) 進(jìn)行解調(diào)處理，并最終確定最小接收功率。優(yōu)選的，測(cè)試信號(hào)可以通過信號(hào)接收模塊10中 的環(huán)形器101傳送至無源被測(cè)設(shè)備，此時(shí)環(huán)形器101是右旋的，可以隔離接收到的發(fā)射信號(hào) 和測(cè)試信號(hào)，并保證收發(fā)同頻和雙工。
[0034]優(yōu)選的，由于生成的測(cè)試信號(hào)功率仍然比較高，因此為了提高測(cè)試準(zhǔn)確性，可以再 次對(duì)生成的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行功率的衰減，并控制接收功率的范圍。
[0035]優(yōu)選的，本發(fā)明實(shí)施例中傳送模塊12可以包括衰減器120和功率控制子模塊121， 具體的:
[0036]所述衰減器120，用于對(duì)所述信號(hào)生成模塊生成的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行功率衰減，并將衰 減后的測(cè)試信號(hào)輸入至所述功率控制子模塊121 ；
[0037]功率控制子模塊121，用于控制接收到的所述衰減后的測(cè)試信號(hào)的功率值大于所述信號(hào)生成模塊11反向散射的測(cè)試信號(hào)的功率值。
[0038]優(yōu)選的，可以通過數(shù)控衰減器進(jìn)行信號(hào)功率的控制，將信號(hào)功率控制在滿足信號(hào) 接收功率的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)，該動(dòng)態(tài)范圍是根據(jù)整個(gè)環(huán)路的衰減以及無源被測(cè)設(shè)備發(fā)射的功率 所決定的，但需要將功率控制子模塊121輸出的信號(hào)功率遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于生成模塊11反向散射信 號(hào)的功率值。
[0039]假設(shè)環(huán)行器101的隔離度為A，定向耦合器102的耦合度為C，衰減器14的衰減為 D1，衰減器120的衰減為D2，數(shù)控衰減器的最小衰減插損一般很小，可以忽略不計(jì)，最大衰 減為Y。那么從無源被測(cè)設(shè)備到信號(hào)生成模塊11的插損為C+D1，調(diào)制信號(hào)從信號(hào)生成模塊 11反向散射到環(huán)形器101的衰減為D1+C+A，從信號(hào)生成模塊11經(jīng)過傳送模塊12到環(huán)形器 101的衰減為D2+Y，需要D1+C+A遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于D2+Y。
[0040]數(shù)控衰減器的動(dòng)態(tài)決定了無源被測(cè)設(shè)備接收功率的可調(diào)范圍，為了保證測(cè)試的動(dòng) 態(tài)范圍足夠，可以使用多個(gè)數(shù)控衰減器來完成。
[0041]本發(fā)明實(shí)施例提供的上述無源RFID接收性能靈敏度測(cè)試的方法，通過耦合無源 被測(cè)設(shè)備的信號(hào)進(jìn)行調(diào)制衰減，提高了超高頻無源射頻識(shí)別接收設(shè)備的靈敏度測(cè)試準(zhǔn)確 性。并且本發(fā)明實(shí)施例中利用無源被測(cè)設(shè)備的發(fā)射信號(hào)生成測(cè)試信號(hào)，相比外加信號(hào)源進(jìn) 行靈敏度測(cè)試的方法具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低的優(yōu)點(diǎn)，并且避免了進(jìn)行時(shí)鐘同步時(shí)相位誤差 導(dǎo)致的測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的缺陷。
[0042]本發(fā)明實(shí)施例三中提供的無源RFID系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試裝置中，利用現(xiàn)有無 源RFID系統(tǒng)中標(biāo)簽芯片發(fā)射的應(yīng)答信號(hào)作為所需的測(cè)試信號(hào)。優(yōu)選的，本發(fā)明實(shí)施例中可 以在信號(hào)生成模塊11中設(shè)置環(huán)形器114，通過環(huán)形器114將所述射頻信號(hào)發(fā)送給所述無源 射頻識(shí)別系統(tǒng)的標(biāo)簽芯片，并接收所述標(biāo)簽芯片對(duì)所述射頻信號(hào)進(jìn)行調(diào)制后反向散射的應(yīng) 答信號(hào)，將所述應(yīng)答信號(hào)作為所述測(cè)試信號(hào)。因此，本發(fā)明實(shí)施例提供的無源RFID系統(tǒng)設(shè) 備接收性能測(cè)試裝置中可以包括實(shí)施例二中所提供的除生成模塊以外的其他各部分，在此 不再贅述，具體的本發(fā)明實(shí)施例中提供的無源RFID系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試裝置構(gòu)成示意 圖如圖3所示。
[0043]采用標(biāo)簽芯片與環(huán)形器生成測(cè)試信號(hào)的方式，無源被測(cè)設(shè)備需按照RFID協(xié)議發(fā) 射清點(diǎn)信號(hào)，清點(diǎn)信號(hào)通過環(huán)形器114發(fā)送給所述無源射頻識(shí)別系統(tǒng)的標(biāo)簽芯片，標(biāo)簽芯 片反向散射生成應(yīng)答信號(hào)后，通過環(huán)形器114輸入到信號(hào)傳送模塊，該環(huán)形器114 一方面可 以隔離無源被測(cè)設(shè)備發(fā)射的清點(diǎn)信號(hào)與標(biāo)簽的應(yīng)答信號(hào)，另一方面也避免了經(jīng)過天線進(jìn)行 信號(hào)收發(fā)的不穩(wěn)定性。
[0044]采用上述標(biāo)簽芯片與環(huán)形器進(jìn)行測(cè)試信號(hào)生成的方式中，由于標(biāo)簽芯片的阻抗很 高，可以達(dá)到幾百歐，所以需要匹配電路完成電路的阻抗匹配。并且，標(biāo)簽芯片一般都存在 啟動(dòng)功率的問題，所以輸入標(biāo)簽芯片的功率最好大于-1OdBm,從而保證標(biāo)簽芯片可以正常工作。
[0045]本發(fā)明實(shí)施例提供的上述利用環(huán)形器與標(biāo)簽芯片生成測(cè)試信號(hào)的無源RFID系統(tǒng) 設(shè)備接收性能測(cè)試裝置，通過將標(biāo)簽芯片反向散射射頻信號(hào)的應(yīng)答信號(hào)作為測(cè)試信號(hào)，僅 需要在原有系統(tǒng)中添加一環(huán)形器，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)易的優(yōu)點(diǎn)。
[0046]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精 神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種無源射頻識(shí)別系統(tǒng)設(shè)備接收性能測(cè)試裝置，其特征在于，該裝置包括:信號(hào)接收模塊，用于接收無源被測(cè)設(shè)備發(fā)射的射頻信號(hào)并輸出；信號(hào)生成模塊，用于根據(jù)所述信號(hào)接收模塊輸出的所述射頻信號(hào)生成性能測(cè)試所需的測(cè)試信號(hào)；信號(hào)傳送模塊，用于將所述信號(hào)生成模塊生成的測(cè)試信號(hào)傳送給所述無源被測(cè)設(shè)備， 由所述無源被測(cè)設(shè)備確定最小接收功率。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)生成模塊包括數(shù)字電路、電平轉(zhuǎn)換電路、射頻開關(guān)和調(diào)制子模塊，具體的:所述數(shù)字電路生成性能測(cè)試所需測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的調(diào)制信號(hào)，并輸入至所述電平轉(zhuǎn)換電路；所述電平轉(zhuǎn)換電路，根據(jù)所述調(diào)制信號(hào)進(jìn)行高低電平的轉(zhuǎn)換，將轉(zhuǎn)換后的高低電平輸入至所述射頻開關(guān)的控制端；所述射頻開關(guān)，根據(jù)所述控制端的高低電平進(jìn)行通斷切換；所述調(diào)制子模塊，根據(jù)所述射頻開關(guān)的通斷狀態(tài)將接收的所述射頻信號(hào)調(diào)制為測(cè)試信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)生成模塊包括:第一環(huán)形器，用于將所述射頻信號(hào)發(fā)送給所述無源射頻識(shí)別系統(tǒng)的標(biāo)簽芯片，并接收所述標(biāo)簽芯片對(duì)所述射頻信號(hào)進(jìn)行調(diào)制后反向散射的應(yīng)答信號(hào)，將所述應(yīng)答信號(hào)作為所述測(cè)試信號(hào)。`
4.如權(quán)利要求2或3所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)接收模塊包括第二環(huán)形器，具體的:所述第二環(huán)形器與所述無源被測(cè)設(shè)備連接，用于接收并輸出所述射頻信號(hào)。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二環(huán)形器還用于接收并輸出所述信號(hào)傳送模塊傳送的測(cè)試信號(hào)。
6.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)接收模塊還包括一第一衰減器，具體的:所述第一衰減器設(shè)置于所述第二環(huán)形器與所述信號(hào)生成模塊之間，用于隔離所述射頻信號(hào)的反射。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一衰減器為定向耦合器。
8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述定向耦合器外接具有顯示數(shù)值功能的儀器，所述儀器用于顯示所述定向耦合器耦合到的各部分射頻信號(hào)的功率值。
9.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試裝置還包括第三環(huán)形器，具體的:所述第三環(huán)形器設(shè)置于所述信號(hào)接收模塊與所述信號(hào)生成模塊之間，用于隔離所述信號(hào)生成模塊反向散射的測(cè)試信號(hào)。
10.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)傳送模塊包括第二衰減器與功率控制子模塊，具體的:所述第二衰減器，用于對(duì)所述信號(hào)生成模塊生成的測(cè)試信號(hào)進(jìn)行功率衰減，并將衰減后的測(cè)試信號(hào)輸入至所述功率控制子模塊；功率控制子模塊，用于控制接收到的所述衰減后的測(cè)試信號(hào)的功率值大于所述信號(hào)生成模塊反向散射的測(cè)試信號(hào)的功率值。
11.如權(quán)利要求10所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述功率控制子模塊包括至少一個(gè)數(shù)控衰減器，具體的:所述至少一個(gè)數(shù)控衰 減 器 將所述功率控制子模塊接收的測(cè)試信號(hào)功率值控制在滿足信號(hào)接收功率的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)。
【文檔編號(hào)】H04B17/00GK103516444SQ201210207837
【公開日】2014年1月15日 申請(qǐng)日期:2012年6月21日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月21日
【發(fā)明者】趙波, 曹誠, 陳艷超 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司