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      以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法

      文檔序號(hào):7856295閱讀:351來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種損傷實(shí)現(xiàn)方法,特別是涉及一種以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法。
      背景技術(shù)
      當(dāng)前以太網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用開發(fā)之初僅針對(duì)理想網(wǎng)絡(luò)環(huán)境,未考慮實(shí)際網(wǎng)絡(luò)帶寬、時(shí)延、抖動(dòng)、丟包等種種因網(wǎng)絡(luò)資源有限而帶來(lái)的各種問題。舉例來(lái)說,在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境或者說一般局域網(wǎng)內(nèi),帶寬可以比較容易地跑到10MB,而在實(shí) 際網(wǎng)絡(luò)中,用戶帶寬可能只有100KB或者200KB。一個(gè)在實(shí)驗(yàn)室成功運(yùn)行的應(yīng)用,未必可以在實(shí)際網(wǎng)絡(luò)中獲得成功。以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀長(zhǎng)度不定,最小數(shù)據(jù)巾貞為64字節(jié)。當(dāng)數(shù)據(jù)巾貞經(jīng)過FPGA(Field-Programmable Gate Array,現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列)存儲(chǔ)器設(shè)備(比如DDR、FIFO、BRAM)進(jìn)行存儲(chǔ)時(shí),不利于數(shù)據(jù)幀幀頭、幀尾的存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)和判斷。另外,現(xiàn)在也不存在以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法,以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)讀取存在問題。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法,其方便讀取以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)。本發(fā)明是通過下述技術(shù)方案來(lái)解決上述技術(shù)問題的一種以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于,所述以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法采用第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路、第一緩存電路、同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器、時(shí)延損傷控制器、控制器、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列電路、內(nèi)存條、第二數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路、第二緩存電路,所述以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法包括以下步驟SI :第一被測(cè)設(shè)備發(fā)送用戶的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀至第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路和第一緩存電路;S2 :第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路完成以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀位寬到內(nèi)存條數(shù)據(jù)處理位寬的轉(zhuǎn)換;S3 :第一緩存電路實(shí)現(xiàn)用戶處理電路與內(nèi)存條的異步時(shí)鐘處理,因?yàn)橛脩籼幚黼娐放c內(nèi)存條的時(shí)鐘很可能不同;S4:基于同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器存儲(chǔ)分布式時(shí)延參數(shù)數(shù)據(jù),參數(shù)可滿足高斯分布、泊松分布、均勻分布等等,或者手動(dòng)設(shè)定分布時(shí)延參數(shù);S5 :以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀與同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器進(jìn)行交互,獲得分布式時(shí)延損傷參數(shù);S6:將分布式時(shí)延損傷參數(shù)的數(shù)值與以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀進(jìn)入時(shí)延損傷控制器的時(shí)標(biāo)相加得到數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo);S7:以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀通過時(shí)延損傷控制器和控制器后,現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列電路將第一被測(cè)設(shè)備發(fā)送的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)寫入內(nèi)存條進(jìn)行存儲(chǔ);S8:當(dāng)從內(nèi)存條讀出以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)時(shí),首先進(jìn)行時(shí)標(biāo)比較,如果數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)小于或者等于當(dāng)前時(shí)標(biāo),說明已經(jīng)滿足數(shù)據(jù)幀時(shí)延要求,將以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)讀出,如果數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)大于當(dāng)前時(shí)標(biāo),說明尚未滿足數(shù)據(jù)幀時(shí)延要求,繼續(xù)等待,然后進(jìn)行下一輪判斷,直到數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)小于或者等于當(dāng)前時(shí)標(biāo)時(shí),將以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)讀出;S9:從內(nèi)存條讀出的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù),經(jīng)過第二緩存電路和第二數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路,最后發(fā)送至第二被測(cè)設(shè)備,這樣方便讀取以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)。優(yōu)選地,所述步驟S7還可以包括以下步驟S71 :每個(gè)以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀被分割成n個(gè)數(shù)據(jù)塊,每一個(gè)數(shù)據(jù)塊的大小為256位,n >2 ;
      S72 :每個(gè)數(shù)據(jù)塊是由8個(gè)32位組成,從上到下為31到0,從左到右為I到0 ;數(shù)據(jù)塊分為兩種類型幀首數(shù)據(jù)塊和普通數(shù)據(jù)塊;幀首數(shù)據(jù)塊第一個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31-24位為保留位,23-0位為時(shí)標(biāo)低24位;巾貞首數(shù)據(jù)塊第二個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31-0位為時(shí)標(biāo)高32位;幀首數(shù)據(jù)塊第三到第七個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為以太網(wǎng)數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)凈荷;幀首數(shù)據(jù)塊第八個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31位為數(shù)據(jù)幀結(jié)束符,30-29位為預(yù)留位,28-24位為塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)值,23-0位為數(shù)據(jù)幀計(jì)數(shù)值;普通數(shù)據(jù)塊第一到第七個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為以太網(wǎng)數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)凈荷;普通數(shù)據(jù)塊第八個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31位為數(shù)據(jù)幀結(jié)束符,30-29位為預(yù)留位,28-24位為塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)值,23-0位為數(shù)據(jù)幀計(jì)數(shù)值;S73:—個(gè)時(shí)標(biāo)位用于數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)與當(dāng)前時(shí)標(biāo)比較,用于完成以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷;S74 :一個(gè)數(shù)據(jù)幀結(jié)束符用于表示此數(shù)據(jù)幀是否結(jié)束,如果幀結(jié)束符為‘0’表示數(shù)據(jù)幀尚未結(jié)束,下一個(gè)數(shù)據(jù)塊是當(dāng)前數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)內(nèi)容,如果幀結(jié)束符為‘I’表示當(dāng)前數(shù)據(jù)幀結(jié)束,下一個(gè)數(shù)據(jù)塊為下一個(gè)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)內(nèi)容;S75 :一個(gè)塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)位表示當(dāng)前數(shù)據(jù)塊的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)載荷字節(jié)數(shù);S76 :一個(gè)幀計(jì)數(shù)位表示當(dāng)前數(shù)據(jù)幀的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)載荷字節(jié)數(shù);S77 :如果數(shù)據(jù)幀數(shù)據(jù)凈荷不能填充滿最后一個(gè)數(shù)據(jù)塊,則通過全0或者全I(xiàn)填充數(shù)據(jù)塊,保證每一個(gè)數(shù)據(jù)塊的大小為256位,并且通過塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)位標(biāo)識(shí)本數(shù)據(jù)塊的有效數(shù)據(jù)凈荷數(shù)目。本發(fā)明的積極進(jìn)步效果在于本發(fā)明方便讀取以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù),另外有利于數(shù)據(jù)幀幀頭的定位,便于實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)幀的存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)。


      圖I為本發(fā)明以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法的原理框圖。
      具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖給出本發(fā)明較佳實(shí)施例,以詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)方案。如圖I所示,本發(fā)明以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法采用第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路、第一緩存電路、同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器、時(shí)延損傷控制器、控制器、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)電路、內(nèi)存條、第二數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路、第二緩存電路,本發(fā)明以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法包括以下步驟SI :第一被測(cè)設(shè)備(Device Under Test)發(fā)送用戶的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)巾貞至第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路和第一緩存電路;S2 :第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路完成以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀位寬到內(nèi)存條(比如DDR3型內(nèi)存條)數(shù)據(jù)處理位寬的轉(zhuǎn)換;S3 :第一緩存電路實(shí)現(xiàn)用戶處理電路與內(nèi)存條的異步時(shí)鐘處理,因?yàn)橛脩籼幚黼娐放c內(nèi)存條的時(shí)鐘很可能不同;S4:基于同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器存儲(chǔ)分布式時(shí)延參數(shù)數(shù)據(jù),參數(shù)可滿足高斯分布、泊松分布、均勻分布等等,或者手動(dòng)設(shè)定分布時(shí)延參數(shù);S5 :以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀與同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ) 器進(jìn)行交互,獲得分布式時(shí)延損傷參數(shù);S6:將分布式時(shí)延損傷參數(shù)的數(shù)值與以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀進(jìn)入時(shí)延損傷控制器的時(shí)標(biāo)相加得到數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo);S7 :以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀通過時(shí)延損傷控制器和控制器后,現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)電路將第一被測(cè)設(shè)備發(fā)送的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)寫入內(nèi)存條進(jìn)行存儲(chǔ),其中控制器可以通過Xilinx ISE( 一種硬件設(shè)計(jì)工具)的 MIG(Memorylnterface Generation,內(nèi)存接口生成)形成和控制;S8:當(dāng)從內(nèi)存條讀出以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)時(shí),首先進(jìn)行時(shí)標(biāo)比較,如果數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)小于或者等于當(dāng)前時(shí)標(biāo),說明已經(jīng)滿足數(shù)據(jù)幀時(shí)延要求,將以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)讀出,如果數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)大于當(dāng)前時(shí)標(biāo),說明尚未滿足數(shù)據(jù)幀時(shí)延要求,繼續(xù)等待,然后進(jìn)行下一輪判斷,直到數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)小于或者等于當(dāng)前時(shí)標(biāo)時(shí),將以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)讀出;S9:從內(nèi)存條讀出的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù),經(jīng)過第二緩存電路和第二數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路,最后發(fā)送至第二被測(cè)設(shè)備,這樣方便讀取以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)。在以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)寫入內(nèi)存條進(jìn)行存儲(chǔ)時(shí),為了便于定位數(shù)據(jù)幀的幀頭以及便于實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)幀的存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā),步驟S7還可以包括以下步驟S71 :每個(gè)以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀被分割成n個(gè)數(shù)據(jù)塊,每一個(gè)數(shù)據(jù)塊的大小為256位(32字節(jié)),n > 2 (因?yàn)樽钚?shù)據(jù)幀為64字節(jié));S72 :每個(gè)數(shù)據(jù)塊是由8個(gè)32位組成,從上到下為31到0,從左到右為7到0 ;數(shù)據(jù)塊分為兩種類型幀首數(shù)據(jù)塊和普通數(shù)據(jù)塊;幀首數(shù)據(jù)塊第一個(gè)32位(從左邊算起)的數(shù)據(jù)組成為31-24位為保留位,23-0位為時(shí)標(biāo)低24位;幀首數(shù)據(jù)塊第二個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31-0位為時(shí)標(biāo)高32位;幀首數(shù)據(jù)塊第三到第七個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為以太網(wǎng)數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)凈荷;幀首數(shù)據(jù)塊第八個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31位為數(shù)據(jù)幀結(jié)束符,30-29位為預(yù)留位,28-24位為塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)值,23-0位為數(shù)據(jù)幀計(jì)數(shù)值;普通數(shù)據(jù)塊第一到第七個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為以太網(wǎng)數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)凈荷;普通數(shù)據(jù)塊第八個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31位為數(shù)據(jù)幀結(jié)束符,30-29位為預(yù)留位,28-24位為塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)值,23-0位為數(shù)據(jù)幀計(jì)數(shù)值(與幀首數(shù)據(jù)塊第八個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成相同);S73 :一個(gè)時(shí)標(biāo)位(共56位)用于數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)與當(dāng)前時(shí)標(biāo)比較,用于完成以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷;S74 :一個(gè)數(shù)據(jù)幀結(jié)束符用于表示此數(shù)據(jù)幀是否結(jié)束,如果幀結(jié)束符為‘0’表示數(shù)據(jù)幀尚未結(jié)束,下一個(gè)數(shù)據(jù)塊是當(dāng)前數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)內(nèi)容,如果幀結(jié)束符為‘I’表示當(dāng)前數(shù)據(jù)幀結(jié)束,下一個(gè)數(shù)據(jù)塊為下一個(gè)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)內(nèi)容;S75 :一個(gè)塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)位表示當(dāng)前數(shù)據(jù)塊的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)載荷(Payload)字節(jié)數(shù);
      S76 :一個(gè)幀計(jì)數(shù)位表示當(dāng)前數(shù)據(jù)幀的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)載荷字節(jié)數(shù);S77 :如果數(shù)據(jù)幀數(shù)據(jù)凈荷不能填充滿最后一個(gè)數(shù)據(jù)塊,則通過全0或者全I(xiàn)填充數(shù)據(jù)塊,保證每一個(gè)數(shù)據(jù)塊的大小為256位,并且通過塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)位標(biāo)識(shí)本數(shù)據(jù)塊的有效數(shù)據(jù)凈荷數(shù)目。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改型和改變。因此,本發(fā)明覆蓋了落入所附的權(quán)利要求書及其等同物的范圍內(nèi)的各種改 型和改變。
      權(quán)利要求
      1.ー種以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于,所述以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法采用第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路、第一緩存電路、同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器、時(shí)延損傷控制器、控制器、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列電路、內(nèi)存條、第二數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路、第二緩存電路,所述以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法包括以下步驟 Si:第一被測(cè)設(shè)備發(fā)送用戶的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀至第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路和第一緩存電路; 52:第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路完成以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀位寬到內(nèi)存條數(shù)據(jù)處理位寬的轉(zhuǎn)換; 53:第一緩存電路實(shí)現(xiàn)用戶處理電路與內(nèi)存條的異步時(shí)鐘處理,因?yàn)橛脩籼幚黼娐放c內(nèi)存條的時(shí)鐘很可能不同; 54:基于同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器存儲(chǔ)分布式時(shí)延參數(shù)數(shù)據(jù),參數(shù)可滿足高斯分布、泊松分布、均勻分布等等,或者手動(dòng)設(shè)定分布時(shí)延參數(shù); 55:以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀與同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器進(jìn)行交互,獲得分布式時(shí)延損傷參數(shù); S6:將分布式時(shí)延損傷參數(shù)的數(shù)值與以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀進(jìn)入時(shí)延損傷控制器的時(shí)標(biāo)相加得到數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo); 57:以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀通過時(shí)延損傷控制器和控制器后,現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列電路將第一被測(cè)設(shè)備發(fā)送的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)寫入內(nèi)存條進(jìn)行存儲(chǔ); 58:當(dāng)從內(nèi)存條讀出以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)時(shí),首先進(jìn)行時(shí)標(biāo)比較,如果數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)小于或者等于當(dāng)前時(shí)標(biāo),說明已經(jīng)滿足數(shù)據(jù)幀時(shí)延要求,將以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)讀出,如果數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)大于當(dāng)前時(shí)標(biāo),說明尚未滿足數(shù)據(jù)幀時(shí)延要求,繼續(xù)等待,然后進(jìn)行下ー輪判斷,直到數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)小于或者等于當(dāng)前時(shí)標(biāo)時(shí),將以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)讀出; 59:從內(nèi)存條讀出的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù),經(jīng)過第二緩存電路和第二數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路,最后發(fā)送至第二被測(cè)設(shè)備,這樣方便讀取以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)。
      2.如權(quán)利要求I所述的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于,所述步驟S7還可以包括以下步驟 571:每個(gè)以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀被分割成n個(gè)數(shù)據(jù)塊,每ー個(gè)數(shù)據(jù)塊的大小為256位,n > 2 ; 572:每個(gè)數(shù)據(jù)塊是由8個(gè)32位組成,從上到下為31到O,從左到右為7到O ;數(shù)據(jù)塊分為兩種類型幀首數(shù)據(jù)塊和普通數(shù)據(jù)塊;幀首數(shù)據(jù)塊第一個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31-24位為保留位,23-0位為時(shí)標(biāo)低24位;巾貞首數(shù)據(jù)塊第二個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31-0位為時(shí)標(biāo)高32位;幀首數(shù)據(jù)塊第三到第七個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為以太網(wǎng)數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)凈荷;幀首數(shù)據(jù)塊第八個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31位為數(shù)據(jù)幀結(jié)束符,30-29位為預(yù)留位,28-24位為塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)值,23-0位為數(shù)據(jù)幀計(jì)數(shù)值;普通數(shù)據(jù)塊第一到第七個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為以太網(wǎng)數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)凈荷;普通數(shù)據(jù)塊第八個(gè)32位的數(shù)據(jù)組成為31位為數(shù)據(jù)幀結(jié)束符,30-29位為預(yù)留位,28-24位為塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)值,23-0位為數(shù)據(jù)幀計(jì)數(shù)值; 573:一個(gè)時(shí)標(biāo)位用于數(shù)據(jù)包損傷時(shí)標(biāo)與當(dāng)前時(shí)標(biāo)比較,用于完成以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷; S74:—個(gè)數(shù)據(jù)幀結(jié)束符用于表示此數(shù)據(jù)幀是否結(jié)束,如果幀結(jié)束符為‘0’表示數(shù)據(jù)幀尚未結(jié)束,下一個(gè)數(shù)據(jù)塊是當(dāng)前數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)內(nèi)容,如果幀結(jié)束符為‘ I’表示當(dāng)前數(shù)據(jù)幀結(jié)束,下ー個(gè)數(shù)據(jù)塊為下ー個(gè)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)內(nèi)容; S75 :一個(gè)塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)位表示當(dāng)前數(shù)據(jù)塊的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)載荷字節(jié)數(shù);. 576:一個(gè)幀計(jì)數(shù)位表示當(dāng)前數(shù)據(jù)幀的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)載荷字節(jié)數(shù); .577:如果數(shù)據(jù)幀數(shù)據(jù)凈荷不能填充滿最后一個(gè)數(shù)據(jù)塊,則通過全O或者全I(xiàn)填充數(shù)據(jù)塊,保證每一個(gè)數(shù)據(jù)塊的大小為256位,并且通過塊數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)位標(biāo)識(shí)本數(shù)據(jù)塊的有效數(shù)據(jù)凈荷數(shù)目。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀時(shí)延損傷實(shí)現(xiàn)方法,其采用第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路等且包括以下步驟第一被測(cè)設(shè)備發(fā)送用戶的以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀至第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路和第一緩存電路;第一數(shù)據(jù)位寬轉(zhuǎn)換電路完成以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀位寬到內(nèi)存條數(shù)據(jù)處理位寬的轉(zhuǎn)換;第一緩存電路實(shí)現(xiàn)用戶處理電路與內(nèi)存條的異步時(shí)鐘處理,因?yàn)橛脩籼幚黼娐放c內(nèi)存條的時(shí)鐘很可能不同;基于同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器存儲(chǔ)分布式時(shí)延參數(shù)數(shù)據(jù),參數(shù)可滿足高斯分布、泊松分布、均勻分布等等,或者手動(dòng)設(shè)定分布時(shí)延參數(shù);以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀與同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器進(jìn)行交互,獲得分布式時(shí)延損傷參數(shù)等。本發(fā)明方便讀取以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀的數(shù)據(jù)。
      文檔編號(hào)H04L1/00GK102769513SQ20121025200
      公開日2012年11月7日 申請(qǐng)日期2012年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月20日
      發(fā)明者劉宇, 包思云, 吳恒奎, 張子光, 胡亞平, 黃文南 申請(qǐng)人:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所
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