專利名稱：光器件的故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光學(xué)通信領(lǐng)域，尤其涉及一種光器件的故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
光器件主要用來對(duì)光電信號(hào)進(jìn)行相應(yīng)的轉(zhuǎn)換，并對(duì)轉(zhuǎn)換后的光信號(hào)的傳輸進(jìn)行調(diào)節(jié)改變，從而使光信號(hào)的傳輸按事先設(shè)定要求進(jìn)行以期達(dá)到預(yù)期目的。參考圖1，現(xiàn)有技術(shù)的光器件包括具有發(fā)光源102的殼體100，在殼體100內(nèi)封裝有透鏡103、陶瓷插芯104 ;殼體100與外部電源電連接，殼體100主要是對(duì)光或電信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換與收發(fā)，即，接通電源后，使發(fā)光源102發(fā)光；透鏡103的主要作用是將發(fā)光源102發(fā)出的光進(jìn)行匯聚，以便于對(duì)光信 號(hào)的傳輸進(jìn)行調(diào)節(jié)改變；陶瓷插芯104主要作用是將穿過光器件的光信號(hào)耦合到與光器件連接的光纖內(nèi)部，從而使光信號(hào)與外界進(jìn)行低損耗傳接，或者將外部的光與光接收端的光電二極管之間進(jìn)行低損耗傳輸。眾所周知地，光器件投入使用之前，需對(duì)所述光器件進(jìn)行檢測(cè)確定其是否合格，從而使投入市場(chǎng)的各光器件均可正常使用，而當(dāng)有部分光器件在檢測(cè)過程中發(fā)現(xiàn)不合格不能正常使用時(shí)，生產(chǎn)廠商需對(duì)該不合格光器件進(jìn)行檢測(cè)以確定不合格光器件的故障原因所在。在現(xiàn)有技術(shù)中，并沒有專門針對(duì)該不合格光器件故障檢測(cè)的系統(tǒng)，在對(duì)不合格光器件的檢測(cè)時(shí)，工作人員一般是直接將其殼體100掰開或拆開，以檢測(cè)不合格光器件存在的故障原因。但是這種檢測(cè)方法不僅在掰開或拆開過程中容易損壞殼體100內(nèi)的其它器件，而且對(duì)不合格光器件故障的檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性將受工作人員的工作熟練程度及認(rèn)知能力等主觀因素的影響而難以確保。因此有必要提供一種改進(jìn)的光器件的故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)，以克服上述缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種光器件的故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)，該檢測(cè)方法及系統(tǒng)可對(duì)不合格的光器件的故障進(jìn)行精確檢測(cè)，而且在檢測(cè)過程中不會(huì)損壞所述光器件，延長(zhǎng)了光器件的使用壽命。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種光器件的故障檢測(cè)方法，所述光器件包括具有發(fā)光源的殼體，在殼體內(nèi)封裝有透鏡、陶瓷插芯，其中，所述檢測(cè)方法包括如下步驟(I)在光器件和光功率器之間連接單模光纖，接通電源，測(cè)試所述光器件發(fā)光通過單模光纖后的光功率值，并記錄為第一光功率值；(2)在光器件和光功率器之間連接多模光纖，接通電源，測(cè)試所述光器件發(fā)光通過多模光纖后的光功率值，并記錄為第二光功率值；(3)通過對(duì)比第一光功率值與所述第二光功率值的大小關(guān)系，判定所述光器件的故障原因。較佳地，當(dāng)所述第二光功率值與第一功率值的比值大于或等于120%時(shí)，則判定所述光器件的故障原因?yàn)楣鈱W(xué)對(duì)準(zhǔn)的改變；當(dāng)所述第二光功率值與第一功率值的比值為100%-120%時(shí)，則判定所述光器件的故障原因?yàn)楣馄骷?nèi)部存在有遮擋雜物。較佳地，所述步驟(I)具體包括將單模光纖一端連接于所述光器件安裝有陶瓷插芯的一端，將所述單模光纖另一端連接于光功率器，接通發(fā)光源，所述光功率器測(cè)試光通過單模光纖后的光功率值，并將通過所述單模光纖的光功率值記錄為第一光功率值。較佳地，所述步驟(I)具體為所述光功率器多次測(cè)試通過所述單模光纖后的光功率值，將通過所述單模光纖的多個(gè)光功率值取平均值，并將所述平均值記錄為第一光功率值。較佳地，所述步驟(2)具體包括將多模光纖一端連接于所述光器件安裝有陶瓷插芯的一端，將所述多模光纖另一端連接于光功率器，所述光功率器測(cè)試光通過多模光纖后的光功率值，并將通過所述多模光纖的光功率值記錄為第二光功率值。較佳地，所述步驟(2)具體為所述光功率器多次測(cè)試通過所述多模光纖后的光功率值，將通過所述多模光纖的多個(gè)光功率值取平均值，并將所述平均值記錄為第二光功率值。 較佳地，在所述步驟(I)之前還包括步驟根據(jù)所述光器件的特性設(shè)置所述光功率器的測(cè)試光波長(zhǎng)。相應(yīng)地，本發(fā)明還提供了一種光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)，所述光器件包括具有發(fā)光源的殼體，在殼體內(nèi)封裝有透鏡、陶瓷插芯，其中，所述檢測(cè)系統(tǒng)包括電源、光功率器、單模光纖、多模光纖及評(píng)估板，所述電源分別與所述評(píng)估板及光功率器電連接，所述光器件安裝于所述評(píng)估板上，且所述評(píng)估板與所述光器件的發(fā)光源電連接，以使所述發(fā)光源通電發(fā)光，所述光器件具有陶瓷插芯的一端通過單模光纖或多模光纖與所述光功率器連接。較佳地，所述光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)還包括分析設(shè)備，所述分析設(shè)備與所述光功率器電連接，所述光功率器將測(cè)試獲得的所述第二光功率值與所述第一光功率值輸入所述分析設(shè)備，且所述分析設(shè)備將所述第二光功率值與所述第一光功率值對(duì)比，并根據(jù)所述對(duì)比結(jié)果判定所述光器件的故障原因。本發(fā)明的有益效果本發(fā)明的光器件的故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)，通過所述光功率器分別測(cè)試光器件連接在單模光纖及多模光纖后的光功率值，并分別記錄為第一光功率值與第二光功率值，再對(duì)比第二光功率值與第一光功率值的大小關(guān)系，根據(jù)對(duì)比結(jié)果即可檢測(cè)判定所述光器件的故障原因；從而，在所述光器件的故障檢測(cè)過程中，不需要將所述光器件的殼體掰開或拆開，避免了損壞所述光器件的內(nèi)部器件，延長(zhǎng)了光器件的使用壽命；在本發(fā)明的故障檢測(cè)方法中，是通過對(duì)比第二光功率值與第一光功率值的大小關(guān)系而確定所述光功率器的故障原因，避免了人為主觀因素對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響，提高了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確率。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖
圖I為現(xiàn)有技術(shù)的光器件的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明光器件故障的檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。圖3為本發(fā)明光器件故障的檢測(cè)系統(tǒng)連接有分析設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖。圖4為本發(fā)明光器件故障的檢測(cè)方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。本發(fā)明光器件包括具有發(fā)光源的殼體，在殼體內(nèi)封裝有透鏡、陶瓷插芯；其中，所述光器件具體的結(jié)構(gòu)組成及工作原理，均為本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知，在此不再詳細(xì)描述。請(qǐng)參考圖2，本發(fā)明的光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)包括電源110、光功率器120、評(píng)估板130、單模光纖140及多模光纖150 ;所述電源110分別與所述光功率器120及評(píng)估板130電連接，為所述光功率器120及評(píng)估板130供電，以使所述光功率器120及評(píng)估板130可正常工作；所述光器件100安裝于所述評(píng)估板130上，且與所述評(píng)估板130電連接，從而所述評(píng)估板130用以固定所述光器件100，且為所述光器件100供電；在本發(fā)明的實(shí)施例中，所述評(píng)估板130與所述光器件100的發(fā)光源電連接，為所述發(fā)光源供電，使所述發(fā)光源通電發(fā) 光；所述單模光纖140與多模光纖150均與所述光器件100具有陶瓷插芯的一端及光功率器120連接，從而所述光功率器120測(cè)試光通過所述光器件100與單模光纖140或多模光纖150后的光功率值。在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式中，所述單模光纖140和多模光纖150是以擇一的方式連接于所述光功率器120與評(píng)估板130的；即，當(dāng)需要測(cè)試光通過單模光纖的光功率值時(shí)，就連接所述單模光纖140，當(dāng)需要測(cè)試光通過多模光纖的光功率時(shí)，就連接所述多模光纖150 ;另外，在本發(fā)明光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)際應(yīng)用中，為了測(cè)試方便，可以通過另外的器件與本發(fā)明的光器件連接，該器件同時(shí)連接所述單模光纖140與多模光纖150,且所述單模光纖140與多模光纖150分別連接一個(gè)所述光功率器120,使發(fā)光源發(fā)出的光同時(shí)等同地通過所述單模光纖140與多模光纖150，這樣就可以同時(shí)測(cè)試光通過兩路光纖后的光功率，提高測(cè)試效率。請(qǐng)?jiān)俳Y(jié)合參考圖3，作為本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施方式，所述光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)還包括分析設(shè)備160，所述分析設(shè)備160與所述光功率器120及電源110電連接，所述光功率器120將其測(cè)試獲得的光功率數(shù)值輸入給所述分析設(shè)備160，從而所述分析設(shè)備160對(duì)所獲得的光功率數(shù)值進(jìn)行具體分析處理，從而通過對(duì)光功率數(shù)值的分析處理得出所述光器件100的故障原因。另外，為配合所述分析設(shè)備160，還可使其與一顯示器(圖未示)連接，從而所述顯示器可將所述分析設(shè)備160分析處理后獲得的結(jié)果直接顯示出來，以使測(cè)試工作者可直接獲得光器件100的故障原因。本發(fā)明的光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)具體的檢測(cè)過程為根據(jù)所述光器件100的傳播特性，設(shè)置所述光功率器120的測(cè)試光波長(zhǎng)，以使所述光功率器120可準(zhǔn)確地測(cè)試到光功率；然后，將所述單模光纖140連接于光器件100與光功率器120之間，接通所述電源110，所述光功率器120測(cè)試所述光器件100連接單模光纖140后的光功率，并記錄為第一光功率值，同時(shí)所述光功率器120將所述第一光功率值輸入所述分析設(shè)備160 ;爾后，拆卸所述單模光纖140，將所述多模光纖150連接于光器件100與光功率器120之間，接通所述電源110，所述光功率器120測(cè)試所述光器件100連接多模光纖150后的光功率，并記錄為第二光功率值，同時(shí)所述光功率器120將所述第二光功率值輸入所述分析設(shè)備160 ;最后通過所述分析設(shè)備160分析處理所述第二光功率值與第二光功率值即可判定所述光器件100的具體故障原因，且通過所述顯示器將獲得的故障原因顯示出來。從而，利用本發(fā)明的光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)所述光器件100進(jìn)行故障檢測(cè)時(shí)，不需要將所述光器件100掰開或拆開，避免了損壞所述光器件100，延長(zhǎng)了光器件100的使用壽命，而通過對(duì)比第二光功率值與第一光功率值的比值確定所述光功率器100的故障原因，避免了人為主觀因素對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響，提高了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確率。在本發(fā)明光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)的優(yōu)選實(shí)施例中，所述單模光纖140與多模光纖150具有相同的長(zhǎng)度，從而保證光通過所述單模光纖140與多模光纖150后的光功率值，除了受單模光纖與多模光纖本身特性的影響外，不會(huì)再受其它外部因素影響，保證了通過對(duì)比第二功率值與第一功率值的結(jié)果確定所述光器件100故障原因的準(zhǔn)確性。請(qǐng)?jiān)賲⒖紙D4，描述本發(fā)明光器件的故障檢測(cè)方法的具體過程，本發(fā)明光器件故障的檢測(cè)方法包括如下步驟
步驟S101，根據(jù)所述光器件的特性設(shè)置所述光功率器的測(cè)試光波長(zhǎng)；在本步驟中，設(shè)置所述光功率器的測(cè)試光波長(zhǎng)與所述光器件的特性對(duì)應(yīng)，以使所述光功率器在后續(xù)步驟的測(cè)試中，可準(zhǔn)確地測(cè)試通過所述光器件后的光功率值，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。步驟S102，在光器件和光功率器之間連接單模光纖，接通電源，測(cè)試所述光器件發(fā)光通過單模光纖后的光功率值，并記錄為第一光功率值。在本步驟中，通過外接光功率器測(cè)試所述光器件連接單模光纖后的光功率；具體地，將單模光纖一端連接于所述光器件安裝有陶瓷插芯的一端，將所述單模光纖另一端連接于光功率器，接通電源，當(dāng)發(fā)光源發(fā)出的光穿過所述光器件與單模光纖后，利用所述光功率器多次測(cè)試光通過單模光纖后的光功率，且將所獲得的多個(gè)光功率值相加后取平均值，并將該平均值記錄為第一光功率值；如此多次測(cè)試后取平均值，可確保所獲得的第一光功率值為光通過光器件與單模光纖后的比較精確的功率值，減小了外界因素對(duì)光功率器測(cè)試光功率的影響，減小了誤差的發(fā)生，提高了測(cè)試的精度。步驟S103，在光器件和光功率器之間連接多模光纖，接通電源，測(cè)試所述光器件發(fā)光通過多模光纖后的光功率值，并記錄為第二光功率值。在本步驟中，通過外接光功率器測(cè)試所述光器件連接多模光纖后的光功率；具體地，將已測(cè)試完成后的單模光纖從所述光器件上拆卸下來，將多模光纖一端連接于所述光器件安裝有陶瓷插芯的一端，將所述多模光纖另一端連接于光功率器，接通電源；當(dāng)發(fā)光源發(fā)出的光穿過所述光器件與多模光纖后，利用所述光功率器多次測(cè)試光通過多模光纖后的光功率值，且將所獲得的多個(gè)光功率值相加后取平均值，并將該平均值記錄為第二光功率值；如此多次測(cè)試，與測(cè)試通過單模光纖的光功率相同，可提高測(cè)試的精度，保證第二光功率值的準(zhǔn)確率。步驟S104，通過對(duì)比第一光功率值與所述第二光功率值的大小關(guān)系，判定所述光器件的故障原因。在本步驟中，在對(duì)比所述第二光功率值與第一光功率值時(shí)，當(dāng)所述第二光功率值與第一功率值的比值大于或等于120%時(shí)，則所述光器件的故障原因?yàn)楣鈱W(xué)對(duì)準(zhǔn)的改變(比如透鏡的移動(dòng)，陶瓷插芯的移動(dòng)，激光器的位移)；當(dāng)?shù)诙夤β手蹬c第一功率值的比值為100%-120%時(shí)，則所述光器件的故障原因?yàn)楣馄骷?nèi)部存在有遮擋雜物，從而通過本發(fā)明的故障檢測(cè)方法確定了該光器件的故障原因，使得在后續(xù)修理過程中可對(duì)所述光器件有針對(duì)性地進(jìn)行到修理操作，加快了修理操作的進(jìn)程。另外，在本步驟中，所述光功率器還可與分析設(shè)備連接，所述光功率器將測(cè)試所獲得的光功率值傳送給分析設(shè)備，從而可通過該分析設(shè)備直接分析對(duì)比所述第二功率值與第一功率值之間的比值關(guān)系而判定所述光器件的故障原因，可進(jìn)一步加快對(duì)光器件故障的檢測(cè)進(jìn)程。在本發(fā)明的實(shí)施例中，發(fā)光源發(fā)出的光通過單模光纖與多模光纖后將產(chǎn)生不同的光功率，將兩種不同的光功率值進(jìn)行對(duì)比而得出所述光器件的故障原因，利用了單模光纖與多模光纖對(duì)光不同的傳導(dǎo)特性，其中，所述單模光纖與多模光纖的具體結(jié)構(gòu)原理及對(duì)光的傳導(dǎo)特性均為本領(lǐng)域技術(shù)人員所熟知，在此不再詳細(xì)描述。另外，本發(fā)明的光器件的故障檢測(cè)方法，也可用來檢測(cè)光器件是否合格，不過，在檢測(cè)前需要對(duì)已知的良好光器件進(jìn)行測(cè)試，從而通過測(cè)試良好光器件的參數(shù)，確定單模光纖與多模光纖的預(yù)期的標(biāo)準(zhǔn)光功率值，在具體測(cè)試過程中通過對(duì)比測(cè)試獲得的光功率值與 標(biāo)準(zhǔn)光功率值而確定光器件是否合格。在每一批次的測(cè)試中，都應(yīng)重新測(cè)量單模光纖與多模光纖預(yù)期的標(biāo)準(zhǔn)光功率。綜上所述，利用本發(fā)明的光器件故障的檢測(cè)方法及系統(tǒng)，在所述光器件故障的檢測(cè)過程中，不需要將所述光器件掰開或拆開，從而避免了損壞所述光器件，延長(zhǎng)了光器件的使用壽命；而且是通過對(duì)比第二光功率值與第一光功率值的比值確定所述光功率器的故障原因，避免了人為主觀因素對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響，提高了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確率。本說明書(包括任何附加權(quán)利要求、摘要和附圖)中公開的任一特征，除非特別敘述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特征加以替換。即，除非特別敘述，每個(gè)特征只是一系列等效或類似特征中的一個(gè)例子而已。
權(quán)利要求
1.一種光器件的故障檢測(cè)方法，所述光器件包括具有發(fā)光源的殼體，在殼體內(nèi)封裝有透鏡、陶瓷插芯，其特征在于，所述檢測(cè)方法包括如下步驟 在光器件和光功率器之間連接單模光纖，接通電源，測(cè)試所述光器件發(fā)光通過單模光纖后的光功率值，并記錄為第一光功率值； 在光器件和光功率器之間連接多模光纖，接通電源，測(cè)試所述光器件發(fā)光通過多模光纖后的光功率值，并記錄為第二光功率值； 通過對(duì)比第一光功率值與所述第二光功率值的大小關(guān)系，判定所述光器件的故障原因。
2.如權(quán)利要求I所述的光器件的故障檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)所述第二光功率值與第一功率值的比值大于或等于120%時(shí)，則判定所述光器件的故障原因?yàn)楣鈱W(xué)對(duì)準(zhǔn)的改變；當(dāng)所述第二光功率值與第一功率值的比值為100%-120%時(shí)，則判定所述光器件的故障原因?yàn)楣馄骷?nèi)部存在有遮擋雜物。
3.如權(quán)利要求I所述的光器件的故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟(I)具體包括將單模光纖一端連接于所述光器件安裝有陶瓷插芯的一端，將所述單模光纖另一端連接于光功率器，接通電源，所述光功率器測(cè)試光通過單模光纖后的光功率值，并將通過所述單模光纖的光功率值記錄為第一光功率值。
4.如權(quán)利要求3所述的光器件的故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟(I)具體為所述光功率器多次測(cè)試通過所述單模光纖后的光功率值，將通過所述單模光纖的多個(gè)光功率值取平均值，并將所述平均值記錄為第一光功率值。
5.如權(quán)利要求I所述的光器件的故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟(2)具體包括將多模光纖一端連接于所述光器件安裝有陶瓷插芯的一端，將所述多模光纖另一端連接于光功率器，所述光功率器測(cè)試光通過多模光纖后的光功率值，并將通過所述多模光纖的光功率值記錄為第二光功率值。
6.如權(quán)利要求5所述的光器件的故障檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟(2)具體為所述光功率器多次測(cè)試通過所述多模光纖后的光功率值，將通過所述多模光纖的多個(gè)光功率值取平均值，并將所述平均值記錄為第二光功率值。
7.如權(quán)利要求3或5所述的光器件的故障檢測(cè)方法，其特征在于，在所述步驟(I)之前還包括步驟 根據(jù)所述光器件的特性設(shè)置所述光功率器的測(cè)試光波長(zhǎng)。
8.一種光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)，所述光器件包括具有發(fā)光源的殼體，在殼體內(nèi)封裝有透鏡、陶瓷插芯，其特征在于，所述檢測(cè)系統(tǒng)包括電源、光功率器、單模光纖、多模光纖及評(píng)估板，所述電源分別與所述評(píng)估板及光功率器電連接，所述光器件安裝于所述評(píng)估板上，且所述評(píng)估板與所述光器件的發(fā)光源電連接，以使所述發(fā)光源通電發(fā)光，所述光器件具有陶瓷插芯的一端通過單模光纖或多模光纖與所述光功率器連接。
9.如權(quán)利要求8所述的光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述光功率器測(cè)試光通過光器件與單模光纖后的光功率值并記錄為第一光功率值；所述光功率器測(cè)試光通過光器件與多模光纖后的光功率值并記錄為第二光功率值。
10.如權(quán)利要求9所述的光器件的故障檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包括分析設(shè)備，所述分析設(shè)備與所述光功率器電連接，所述光功率器將測(cè)試獲得的所述第二光功率值與所述第一光功率值輸入所 述分析設(shè)備，且所述分析設(shè)備將所述第二光功率值與所述第一光功率值對(duì)比，并根據(jù)所述對(duì)比結(jié)果判定所述光器件的故障原因。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光器件的故障檢測(cè)方法及系統(tǒng)，所述光器件包括具有光收/發(fā)接頭的殼體，在殼體內(nèi)封裝有透鏡、陶瓷插芯，其中，所述檢測(cè)方法包括如下步驟(1)在光器件和光功率器之間連接單模光纖，接通電源，測(cè)試所述光器件發(fā)光通過單模光纖后的光功率值，并記錄為第一光功率值；(2)在光器件和光功率器之間連接多模光纖，接通電源，測(cè)試所述光器件發(fā)光通過多模光纖后的光功率值，并記錄為第二光功率值；(3)通過對(duì)比第一光功率值與所述第二光功率值的大小關(guān)系，判定所述光器件的故障原因。本發(fā)明的光器件的故障檢測(cè)方法可對(duì)不合格的光器件的故障進(jìn)行精確且快速的檢測(cè)，而且在檢測(cè)過程中不會(huì)損壞所述光器件，保持光器件的狀態(tài)以便做進(jìn)一步的分析并延長(zhǎng)了光器件的使用壽命。
文檔編號(hào)H04B10/08GK102752047SQ20121026180
公開日2012年10月24日 申請(qǐng)日期2012年7月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月27日
發(fā)明者克瑞斯·勞鮑特 申請(qǐng)人:索爾思光電(成都)有限公司