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      一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置的制作方法

      文檔序號:7867994閱讀:163來源:國知局
      專利名稱:一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明為一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置并已應(yīng)用在發(fā)展成熟的都會型網(wǎng)絡(luò)中,目的將擴充到下一代的局域網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)(Next-generation access network, NGN)中;分波多任務(wù)式被動光網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)裝置具有高帶寬、保密性優(yōu)等優(yōu)勢。本發(fā)明適用于光電產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域中,區(qū)域光網(wǎng)絡(luò)的交換器、路由器與訊源轉(zhuǎn)換器等產(chǎn)品中關(guān)鍵組件的光電組件模塊的設(shè)計。
      背景技術(shù)
      1.啁啾管理雷射(Chirp management laser ;CML)為利用一光頻譜整形器(optical spectral reshaper;0SR)和雷射操作在特定的啁啾條件,CML的絕熱啁啾值必須設(shè)定為比特率的一半,如此在每個“O”位會產(chǎn)生相位偏移量為π。OSR的用途如同一個非 常窄的光濾波器,能夠增加明滅比,改變啁啾的特性。缺點是需要特殊的光接收機電路或是精確的電路控制操作等條件。2.被動雙折射光纖環(huán)路,此技術(shù)為加入雷射輸出端加入一具雙折射光纖環(huán)路(Birefringent fiber loop;BFL),提升直調(diào)雷射的信號質(zhì)量,其優(yōu)點是簡單且被動性的光纖裝置,BFL可降低信號振幅上的瞬時響應(yīng)、頻率啁啾效應(yīng),同時提升雷射輸出的明滅比,此BFL在1550nm波段10Gb/s速率下,可以有效地增長傳輸25公里的標準光纖距離;KBFL包括一個3dB稱合器,極化控制器和13. 75m的雙折射光纖,光信號經(jīng)過稱合器后,分成兩個方向行進,不同極化光分別進入不同的雙折射光纖軸向而傳播,再經(jīng)過雙折射光纖后再次復(fù)合進行干涉作用,當(dāng)雙折射光纖的長度已經(jīng)固定,光信號在兩個路徑之間的相位差可以通過微調(diào)雷射輸出波長,最小延遲的時間必須超過overshoot發(fā)生的期間。缺點是體積大,增加額外的光損耗,增加傳輸?shù)木嚯x大約只有2倍。3.光延遲干涉法,此技術(shù)為雷射輸出端加入一光延遲干涉(Optical DelayInterferometer;0DI)裝置,相較于光譜濾波器,有較低的光損失,利用光延遲干涉方法,可以抑制光信號的瞬時突波(overshoot),改善脈波形狀,光功率償付值可以降低ldB,其優(yōu)點與傳輸數(shù)據(jù)速率無關(guān),可以容易制造提供實際系統(tǒng)中使用。ODI裝置包括了光纖和50:50光耦合器,缺點在于ODI裝置為被動式光學(xué)組件,其中的一個光路有一固定的延遲時間,需使用一個TEC溫度控制器控制ODI裝置保持在室溫下工作,而此延遲的光信號將會與另一路徑光信號互相干涉,總相位變化量來自兩個路徑的時間差與經(jīng)過ODI裝置后光信號波長的變動量。然而,實現(xiàn)的問題,ODI裝置使用非對稱式馬赫任德架構(gòu),因此需要精確的溫度控制改變經(jīng)ODI的波長變動量,以維持干涉器中需要的相位變動量,才能使信號改善。以上三種方法皆為在發(fā)射端做處理,會增加光發(fā)射機的體積,增加制造成本,并且難以控制
      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明目的為提供一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,當(dāng)雷射直接傳送高速(>10Gb/s)數(shù)據(jù)信號時,使用本發(fā)明的組件達到降低雷射的瞬時啁啾值,提升光信號的光明滅比值以及延伸傳輸距離。本發(fā)明另一目的為提供一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,利用下行光再調(diào)變反饋式傳輸(Re-modulation loopback)的技術(shù)被提出來使用在分波多任務(wù)被動光網(wǎng)絡(luò)中,達到客戶端對波長無選擇性,在頭端機房(OLT)必須額外使用一個陣列的連續(xù)波形式的WDM光源,作為ONU再調(diào)變技術(shù)的額外注入(seed or probe)光源,除了必須付出成本與系統(tǒng)復(fù)雜度增加的代價,另外還需要考慮雷利散射造成的噪聲影響,所以可使用傳送下行信號的光源,同時用來傳送上行信號用,因此下行光信號的光明滅比也不能太大,避免對上行信號形成干擾,但要補償下行光信號由于降低了光明滅比而形成的功率代價(Powerpenalty),所以通過本發(fā)明的組件可以做光信號質(zhì) 量復(fù)原的動作。本發(fā)明另一目的為提供一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,直接將傳輸?shù)碾娦盘栕⑷肜咨溥M行調(diào)變,作為中央機房的光發(fā)射機,具有簡單、體積小及價格便宜等優(yōu)點,但是隨著傳輸速度愈高時,光明滅比也愈小,傳輸距離也縮短。在每一個客戶端接收下行光信號的檢光二極管前加入法布里-比洛析光器組件,增強信號質(zhì)量,析光器的功能為對下行光信號的頻譜與光脈波波形作整形,此方法允許下行信號有低明滅比并同時降低雷射的瞬時啁啾值,因此也可以延伸傳輸距離,可應(yīng)用于分波多任務(wù)被動光網(wǎng)絡(luò)的系統(tǒng)中,并且仍然可以保持無色光源的操作。本發(fā)明中僅采用一種規(guī)格的法布里-比洛析光器與檢光二極管的結(jié)合,即可以用來補償不同ITU波長的雷射通道。本發(fā)明目的更為提供一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其設(shè)計包括數(shù)種裝置模式,其一固定光纖金屬基座,該固定光纖金屬基座具左窗口與右窗口 ;其中,該左窗口與該右窗口內(nèi)各有準直鏡面;析光器基座,該析光器基座系由下往上套入該固定光纖金屬基座,并有圓孔設(shè)計;法布里-比洛析光器,該法布里-比洛析光器連接在該圓孔設(shè)計上。其二,Το-can檢光組件(Transistor Outline Can,晶體管外形附金屬蓋封裝),該To-can檢光組件底部有三支接腳,頂部通過中空座體與析光載具底部連接,形成中空容置室;析光載具,該析光載具頂部連接中空通道;該中空通道另一端連接光纖蕊心開口,且該中空通道內(nèi)部為一陶瓷套筒;法布里-比洛析光器,該法布里-比洛析光器連接該析光載具底部,在該中空容置室和該中空通道的間。其三,檢光元芯片,該檢光元芯片焊接在金屬基座上;該金屬基座具四邊支架,并連接析光器置具;該析光器置具,該析光器置具連接加熱器;法布里-比洛析光器,該法布里-比洛析光器固定在該析光器置具。其四,檢光元芯片,該檢光元芯片焊接在金屬基座上;該金屬基座具四邊支架,并連接雙層析光器置具;該雙層析光器置具層間以數(shù)個支柱連接;兩個法布里-比洛析光器,該兩個法布里-比洛析光器以該雙層析光器置具的支柱相間隔,形成共振空間。本發(fā)明的一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置的優(yōu)點如下1.法布里-比洛析光器體積小、容易大量地制作,并且可以與檢光器進行積體化制作,視需要可以加入溫度控制的設(shè)計。2.法布里-比洛析光具有周期性的頻譜特性,參見圖1所示,為法布里-比洛析光周期性頻譜特性示意圖,將其對應(yīng)ITU標準雷射通道,所以同一規(guī)格的析光器與檢光二極管結(jié)合,可以適用任何一個客戶端,降低制造成本。3.參見圖2所示,為絕熱啁啾效應(yīng)示意圖,如圖所示在10Gb/s速率的下行傳輸信號是使用直接調(diào)變雷射光源來做傳送,直調(diào)雷射的輸出光信號串行帶有一絕熱啁啾值,可以分解為兩個帶有無窮大明滅比的位串行的組合;參見圖3所示,為未經(jīng)過與經(jīng)過法布里-比洛析光器的光譜分布的差異關(guān)系圖,比較未經(jīng)過與經(jīng)過法布里-比洛析光器,進入光接收機的光譜分布的差異,經(jīng)過法布里-比洛析光器后,有頻譜削減的功用,進而抑制信號”0”準位,提升光明滅比。4.參見圖4及圖5,分別為法布里-比洛析光器對頻率啁啾抑制關(guān)系圖和法布里-比洛析光器對頻率啁啾抑制關(guān)系圖,如圖所示設(shè)定不同準位的光明滅比(ER),觀察法布里-比洛析光器對頻率啁啾抑制的效果,與增強光明滅比的結(jié)果。


      圖1為法布里-比洛析光周期性頻譜特性示意圖;
      圖2為絕熱嗎嗽效應(yīng)不意圖;圖3為未經(jīng)過與經(jīng)過法布里-比洛析光器的光譜分布的差異關(guān)系圖;圖4為法布里-比洛析光器對頻率啁啾抑制關(guān)系圖;圖5為法布里-比洛析光器對頻率啁啾抑制關(guān)系圖;圖6為一般檢光二極管的標準封裝形式的結(jié)構(gòu)圖;圖7為法布里-比洛析光器的結(jié)構(gòu)圖;圖8為法布里-比洛析光器的結(jié)構(gòu)圖;圖9為法布里-比洛析光器的結(jié)構(gòu)圖;圖10為法布里-比洛析光器的結(jié)構(gòu)圖;主要附圖標記11檢光組件的ROSA封裝;12三支接腳;13中空座體;14中空通道的對接端;15陶瓷套筒;16光纖端子;17光纖尾巴;21固定光纖金屬基座;22準直鏡面;23直向可旋轉(zhuǎn)的析光器基座;24法布里-比洛析光器;31檢光組件的TO-can封裝;32內(nèi)嵌法布里-比洛析光器;33析光載具的底部;41檢光組件芯片;42金屬基座;43 支架;
      44法布里-比洛析光器置具;45加熱器;51共振腔體;52雙層置具;53中間支柱。
      具體實施方式

      為能更進一步了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容,以一較佳具體實施例配合說明如下。1.光纖式連接請參閱圖5,如圖所示系為一般檢光二極管的標準封裝形式的結(jié)構(gòu)圖,包括檢光組件先封裝成ROSA樣式11,有三支接腳12得以連接檢光組件輸出信號到電路板上,套上一個中空座體13,再加上一個中空通道的對接端14,內(nèi)圈含有一個陶瓷套筒15,用來固定住光纖端子16,上膠后固定后呈現(xiàn)光纖尾巴17 (Pigtail)的光輸入端。請參圖7,如圖所示為將光信號整形后連接到檢光二極管的法布里-比洛析光器的結(jié)構(gòu)圖,其中也必須包裝成輸入輸出端口都是光纖尾巴17形式包括固定光纖金屬基座21,左右窗口提供光纖直接插入對準,光纖端子16表面必須有準直鏡面22,另一個直向可旋轉(zhuǎn)的析光器基座23,由下往上套入此光纖基座,中央有一圓孔設(shè)計使光穿透,法布里-比洛析光器24可以黏住在圓孔上,基座下方是一個螺紋的設(shè)計,可以通過一個螺絲轉(zhuǎn)軸稍微控制左右入射光角度,可以提供作中心波長的微調(diào)動作,也可以稍微改變析光器的帶寬與中心波長位置等功能。2.固定積體化封裝形式請參閱圖8,如圖所示系為固定積體化封裝形式的法布里-比洛析光器的側(cè)視剖面分解結(jié)構(gòu)圖。其中包括一個先封裝成TO-can的檢光組件31、內(nèi)嵌法布里-比洛析光器32的析光載具的底部33與具有中空通道的對接端。本發(fā)明其主要目的系通過一個中空座體13多加析光器載具33,此基部內(nèi)為形成有一中空容置室,在容置室與通道的間的基部加入法布里-比洛析光器32,而座體上方則為一具中空通道的對接端14,并在通道頂端形成有一供光纖蕊心推入的開口結(jié)構(gòu)。同時法布里-比洛析光器32為選擇與光纖蕊的折射率極為接近的材質(zhì)所制成,如此,即可使光纖蕊射出的光信號,完全進入收容在座體下方TO-canl內(nèi)檢光組件被接受到,有效消除反射光噪聲,由在法布里-比洛析光器32兩面均為平行面,沒有八度角的斜面,所以光耦合的損耗也因而減少,此外,法布里-比洛析光器32的厚度一般為O. Γ0. 3mm,所以不會增加光接收模塊的體積。3.熱電與壓電控制式積體化設(shè)計請參閱圖9,如圖所示為熱電與壓電控制式積體化的法布里-比洛析光器結(jié)構(gòu)圖,其中包括檢光組件芯片41,焊在金屬基座42上,并且有四邊的支架43,用來連接法布里-比洛析光器置具44,該法布里-比洛析光器置具44為一具導(dǎo)熱性佳的置具,可以固定法布里-比洛析光器24,通過加熱器45將電流的注入,改變置具溫度進而變化析光器的操作溫度。請參閱圖10,如圖所示為第二種電與壓電控制式積體化的法布里-比洛析光器結(jié)構(gòu)圖,此控制必須使用空氣作為共振腔體51,而不是利用析光器兩面的鍍膜反射率的設(shè)計,形成頻譜周期性的特性,所以必須采用兩個法布里-比洛析光器24,其雙層置具52中間支柱53系使用壓電材料制成,所以兩個法布里-比洛析光器的間的距離可以通過電壓稍作調(diào)節(jié)其長度,進而微調(diào)其波長位置。此兩種設(shè)計系針對接收的光信號想作波長微調(diào)的功能,所以選擇折射率接近光纖蕊的法布里-比洛析光器,可以利用溫度控制稍微改變折射率,變化少量的波長位移,達到最佳的信號質(zhì)量。一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,包括固定光纖金屬基座21,該固定光纖金屬基座21具左窗口與右窗口 ;其中,該左窗口與該右窗口內(nèi)各有一準直鏡面22,該左窗口與右窗口系提供光纖直接插入對準。析光器基座,該析光器基座系由下往上套入該固定光纖金屬基座21,并有圓孔設(shè)計,此底座具有螺紋設(shè)計并以螺絲轉(zhuǎn)軸控制螺絲轉(zhuǎn)軸,系通過選轉(zhuǎn)控制左右入射光角度、中心波長位置、析光器帶寬。法布里-比洛析光器連接在該圓孔設(shè)計上。一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,包括TO-can檢光組件,該To-can檢光組件底部有三支接腳12,頂部通過中空座體13與析光載具底部連接,形成中空容置室;該中 空通道另一端連接光纖蕊心開口,且該中空通道內(nèi)部為陶瓷套筒15 ;該法布里-比洛析光器連接該析光載具底部,在在該中空容置室和該中空通道的間。其中該法布里-比洛析光器的材質(zhì),為包括二氧化硅的材質(zhì),厚度為O. Γ0. 3_。一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,包括一檢光組件芯片41,該檢光元芯片焊接在金屬基座上;該金屬基座具有四邊支架43,并連接析光器置具;該析光器置具連接加熱器42 ;及法布里-比洛析光器,該法布里-比洛析光器固定在該析光器置具。其中該加熱器45通過電流注入,控制析光器的操作溫度。一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,包括一檢光組件芯片41,該檢光元芯片焊接在金屬基座上;該金屬基座具四邊支架43,連接一雙層析光器置具;此雙層析光器置具,該雙層析光器置具層間以數(shù)個壓電材料的支柱連接。兩個法布里-比洛析光器,該兩個法布里-比洛析光器以該雙層析光器置具的支柱相間隔,行成一共振空間,此法布里-比洛析光器通過電壓控制距離、波長,且其基板系使用二氧化硅材料經(jīng)光學(xué)薄膜鍍膜制成的光纖光柵、薄膜濾波片,帶寬系為3dB帶寬范圍在12G 20GHz間較佳。以上所述實施例僅表達了本發(fā)明的幾種實施方式,其描述較為具體和詳細,但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對在本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進,這些都屬在本發(fā)明的保護范圍。因此,本發(fā)明專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準。
      權(quán)利要求
      1.一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,包括固定光纖金屬基座,所述固定光纖金屬基座包括左窗口與右窗口;其中,所述左窗口與所述右窗口內(nèi)各有準直鏡面;析光器基座,所述析光器基座由下往上套入所述固定光纖金屬基座,并有一圓孔;及法布里-比洛析光器,所述法布里-比洛析光器連接在所述圓孔上。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,其中所述左窗口與所述右窗口提供光纖直接插入對準。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,其中所述析光器基座底座具有螺紋并以螺絲轉(zhuǎn)軸控制。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,其中所述螺絲轉(zhuǎn)軸通過旋轉(zhuǎn)控制左右入射光角度、中心波長位置、析光器帶寬。
      5.一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,包括TO-can檢光組件,所述To-can檢光組件底部有三支接腳,頂部通過中空座體與析光載具底部連接,形成中空容置室;所述析光載具頂部連接中空通道,所述中空通道另一端連接光纖蕊心開口,且所述中空通道內(nèi)部為陶瓷套筒 '及法布里-比洛析光器,所述法布里-比洛析光器連接所述析光載具底部,在所述中空容置室和所述中空通道之間。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,其中所述法布里-比洛析光器的材質(zhì),為包括二氧化硅的材質(zhì)。
      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,所述法布里-比洛析光器的厚度為O. Γ0. 3mm。
      8.一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,包括檢光組件芯片,所述檢光元芯片焊接在金屬基座上;所述金屬基座具有四邊支架,并連接析光器置具;所述析光器置具連接加熱器;及法布里-比洛析光器,所述法布里-比洛析光器固定在所述析光器置具。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,所述加熱器通過電流注入,控制析光器的操作溫度。
      10.一種具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,包括檢光組件芯片,所述檢光元芯片焊接在金屬基座上;所述金屬基座具四邊支架,連接雙層析光器置具;雙層析光器置具,所述雙層析光器置具層間以數(shù)個支柱連接;及兩個法布里-比洛析光器,所述兩個法布里-比洛析光器以所述雙層析光器置具的支柱相間隔,行成一共振空間。
      11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,所述支柱為壓電材料支柱。
      12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,其中所述兩個法布里-比洛析光器通過電壓控制距離、波長。
      13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,其中所述法布里-比洛析光器的基板為使用二氧化硅材料經(jīng)光學(xué)薄膜鍍膜制成的基板。
      14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,其中所述法布里-比洛析光器為光纖光柵、薄膜濾波片。
      15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的具提升光明滅比的整合式檢光裝置,其特征在于,其中所述法布里-比洛析光器的帶寬為3dB帶寬,范圍在12G 20GHz之間。
      全文摘要
      本發(fā)明為一種具光明滅比提升的檢光器裝置,結(jié)合檢光二極管與具周期性頻譜特性的被動光學(xué)組件,設(shè)計數(shù)款積體化檢光器的組合方式。本發(fā)明目的為對入射光信號的光明滅比做提升、光信號頻譜的整形以及增強信號質(zhì)量等功用,另外可針對點對點直接調(diào)變傳輸系統(tǒng)對信號的質(zhì)量做提升。本發(fā)明的光學(xué)組件具有體積小,價格低廉,可大量地制作,并易在與檢光二極管積體化等優(yōu)點。
      文檔編號H04B10/67GK103023576SQ20121052478
      公開日2013年4月3日 申請日期2012年12月7日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月1日
      發(fā)明者林淑娟, 李三良, 柯孫堅, 黃英勛, 林恭政 申請人:中華電信股份有限公司
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