專利名稱：一種窄帶isdn芯片測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種芯片測試裝置，尤其涉及一種用于窄帶ISDN芯片的測試裝置，屬于數(shù)字通信技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
窄帶ISDN (綜合業(yè)務數(shù)字網(wǎng))，俗稱“一線通”。它除了可以用來打電話之外，還可以為用戶提供諸如可視電話、數(shù)據(jù)通信、會議電視等多種業(yè)務，從而將電話、傳真、數(shù)據(jù)、圖像等多種業(yè)務綜合在一個統(tǒng)一的數(shù)字網(wǎng)絡(luò)中進行傳輸和處理。入網(wǎng)用戶可通過一對電話線連接不同的終端，進行不同類型的業(yè)務通信。窄帶ISDN為用戶提供的是基本速率(2B+D，144kbps)，相應的基本速率接口包括兩個能獨立工作的B信道(64kbps)和一個D信道(16kbps)，其中B信道一般用來傳輸話音、數(shù)據(jù)和圖像，D信道用來傳輸信令等信息。圖1顯示了窄帶ISDN的傳輸信號碼型。由于窄帶ISDN線路屬于數(shù)字線路，所以用它打電話(包括網(wǎng)絡(luò)電話)的效果比模擬電話更清晰、可靠。隨著寬帶通信和光纖通信技術(shù)的迅猛發(fā)展，窄帶ISDN已經(jīng)逐漸淡出了人們的視野。但是在一些專用通信設(shè)備領(lǐng)域，窄帶ISDN以其單對雙絞線傳輸5公里的性能，依然有一席用武之地。例如鐵路、軍隊等調(diào)度通信系統(tǒng)中仍然使用2B+D模式傳輸調(diào)度通信信息。目前，傳輸2B+D信號的集成電路芯片大部分為TP3410、MC145572，而這兩種芯片均已停產(chǎn)多年。因此市場流通的這兩種芯片的質(zhì)量均良莠不齊，其工作性能無法得到保證。為了方便快捷地檢測這兩種芯片，保證產(chǎn)品質(zhì)量及可靠性，開發(fā)一種測試這兩種芯片的裝置是很有必要的。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型所解決的問題在于提供一種窄帶ISDN芯片測試裝置(簡稱測試裝置)。應用該測試裝置，可以快速測試窄帶ISDN芯片的工作性能。為實現(xiàn)上述的目的，本實用新型所采取的技術(shù)方案如下:一種窄帶ISDN芯片測試裝置，其特征在于:所述窄帶ISDN芯片測試裝置包括中央處理單元、邏輯控制單元、自測單元、待測單元以及反饋單元；其中，所述邏輯控制單元分別與所述中央處理單元、所述自測單元、所述待測單元相連接;所述反饋單元分別與所述中央處理單元、所述邏輯控制單元、所述自測單元、所述待測單元連接；所述自測單元與所述中央處理單元連接；所述中央處理單元控制所述自測單元和所述待測單元向所述邏輯控制單元傳輸測試信號，所述邏輯控制單元接收所述測試信號并進行比較，將比較結(jié)果反饋至所述反饋單元。[0013]其中較優(yōu)地，所述自測單元包括TP3410芯片和MC145572芯片；所述TP3410芯片分別與所述中央處理單元、所述邏輯控制單元連接；所述MC145572芯片分別與所述邏輯控制單元、所述反饋單元連接。其中較優(yōu)地，所述反饋單元是LED顯示裝置。其中較優(yōu)地，所述窄帶ISDN芯片測試裝置還包括重啟單元，用于實現(xiàn)卡死狀態(tài)下的系統(tǒng)重啟。其中較優(yōu)地，所述窄帶ISDN芯片測試裝置還包括繼電器組合，所述繼電器組合分別與所述自測單元及所述待測單元相連接，用于自測芯片和待測芯片的開關(guān)控制。本實用新型適用于窄帶ISDN芯片的入庫檢測、篩選及故障檢測等，具有以下技術(shù)特點:1.既可以測試TP3410芯片，也可以測試MC145572芯片，測試時芯片不用焊接，不損傷芯片引腳；2.測試方便、快捷；3.測試結(jié)果通過LED直觀顯示，一目了然；4.通過CPU、邏輯控制單元，可以靈活控制繼電器組合實現(xiàn)自測、待測單元的性能測試。

圖1為窄帶ISDN中，2B+D傳輸信號的碼型示意圖；圖2為本實用新型所提供的窄帶ISDN芯片測試裝置的原理圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和具體實施方式
對本實用新型做進一步的詳細說明。圖2為本實用新型所提供的窄帶ISDN芯片測試裝置的原理圖。該測試裝置包括中央處理單元、邏輯控制單元、自測單元、待測單元以及反饋單元。其中，邏輯控制單元分別與中央處理單元、自測單元、待測單元連接；反饋單元與中央處理單元、邏輯控制單元、自測單元、待測單元通過CPU總線連接；自測單元與中央處理單元連接。中央處理單元控制自測單元和待測單元向邏輯控制單元傳輸測試信號，邏輯控制單元接收自測單元和待測單元傳輸?shù)臏y試信號并進行比較，將比較結(jié)果反饋至反饋單元。在圖2中，邏輯控制單元通過信號線2、3、4、5分別與自測單元和待測單元相連接。其中，信號線2、3、4、5不僅用于傳輸控制總線的控制信號、PCM總線的PCM信號，還用于傳輸時鐘信號。重啟單元(RESET)分別控制邏輯控制單元、中央處理單元，用于實現(xiàn)本測試裝置卡死狀態(tài)下的系統(tǒng)重啟。另外，該測試裝置還包括繼電器組合。繼電器組合與自測單元和待測單元直接相連，中央處理單元和邏輯控制單元可以靈活設(shè)定繼電器組合的狀態(tài)，從而實現(xiàn)對自測芯片和待測芯片的開關(guān)控制。中央處理單元(即CPU)用于控制邏輯控制單元、自測單元、待測單元、反饋單元之間的消息傳送，負責完成本測試裝置所有單元之間的協(xié)同以及管理工作，實現(xiàn)芯片測試功能。邏輯控制單元是由FPGA實現(xiàn)的，該單元通過CPU的控制信號，完成與自測單元的兩個芯片以及待測單元的兩個芯片之間PCM信號的處理及檢測，實現(xiàn)本測試裝置的邏輯功能。自測單元包括TP3410芯片和MC145572芯片；其中TP3410芯片分別與中央處理單元、邏輯控制單元連接，MC145572芯片分別與邏輯控制單元、反饋單元連接，該單元可以實現(xiàn)自帶芯片的功能及性能測試。待測單元由兩個待測芯片的接口組成，用于放置待測芯片并對待測芯片進行功能及性能測試。其中，待測芯片可以是兩個TP3410芯片，也可以是兩個MC145572芯片(圖2所示)，或是一個TP3410芯片、一個MC145572芯片。反饋單元為LED顯示裝置，用于顯示窄帶ISDN芯片的測試狀態(tài)、測試結(jié)果等信息。在進行芯片功能及性能測試時，本測試裝置自帶的TP3410芯片及MC145572芯片組成一對，任意一種芯片都可以設(shè)置成LT (線路終端)或NT (網(wǎng)絡(luò)終端)模式。通常情況下，其中一個芯片配置為LT模式，另一個芯片配置為NT模式。兩種窄帶ISDN芯片都有模擬接口、PCM接口和控制接口。在本實用新型的一個實施例中，各個接口的連接方式如下:每對芯片的模擬接口通過雙絞線互聯(lián)，PCM接口連接到邏輯控制單元，控制接口分別連接到邏輯控制單元和中央處理單元。一對分別設(shè)置為LT、NT模式的窄帶ISDN芯片握手成功后，任意一側(cè)的PCM信號轉(zhuǎn)換為模擬信號，經(jīng)雙絞線傳輸?shù)綄Χ说哪M接口，通過窄帶ISDN芯片將模擬信號轉(zhuǎn)換為PCM信號，完成語音或數(shù)據(jù)、信令的傳輸。通過信號傳輸結(jié)果，可以判斷某個窄帶ISDN芯片的好壞。上面對本實用新型所提供的窄帶ISDN芯片測試裝置進行了詳細的說明。對本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員而言，在不背離本實用新型實質(zhì)精神的前提下對它所做的任何顯而易見的改動，都將構(gòu)成對本實用新型專利權(quán)的侵犯，將承擔相應的法律責任。
權(quán)利要求1.一種窄帶ISDN芯片測試裝置，其特征在于: 所述窄帶ISDN芯片測試裝置包括中央處理單元、邏輯控制單元、自測單元、待測單元以及反饋單元；其中， 所述邏輯控制單元分別與所述中央處理單元、所述自測單元、所述待測單元相連接；所述反饋單元分別與所述中央處理單元、所述邏輯控制單元、所述自測單元、所述待測單元連接； 所述自測單元與所述中央處理單元連接； 所述中央處理單元控制所述自測單元和所述待測單元向所述邏輯控制單元傳輸測試信號，所述邏輯控制單元接收所述測試信號并進行比較，將比較結(jié)果反饋至所述反饋單元。
2.如權(quán)利要求1所述的窄帶ISDN芯片測試裝置，其特征在于: 所述自測單元包括TP3410芯片和MC145572芯片； 所述TP3410芯片分別與所述中央處理單元、所述邏輯控制單元連接； 所述MC145572芯片分別與所述邏輯控制單元、所述反饋單元連接。
3.如權(quán)利要求1所述的窄帶ISDN芯片測試裝置，其特征在于: 所述反饋單元是LED顯示裝置。
4.如權(quán)利要求1所述的窄帶ISDN芯片測試裝置，其特征在于: 所述窄帶ISDN芯片測試裝置還包括重啟單元，用于實現(xiàn)卡死狀態(tài)下的系統(tǒng)重啟。
5.如權(quán)利要求1所述的窄帶ISDN芯片測試裝置，其特征在于: 所述窄帶ISDN芯片測試裝置還包括繼電器組合，所述繼電器組合分別與所述自測單元及所述待測單元相連接，用于自測芯片和待測芯片的開關(guān)控制。
專利摘要本實用新型公開了一種窄帶ISDN芯片測試裝置。該測試裝置中，邏輯控制單元分別與中央處理單元、自測單元、待測單元相連接；反饋單元分別與中央處理單元、邏輯控制單元、自測單元、待測單元連接；自測單元與中央處理單元連接；中央處理單元控制自測單元和待測單元向邏輯控制單元傳輸測試信號，邏輯控制單元接收測試信號并進行比較，將比較結(jié)果反饋至反饋單元。本測試裝置適用于窄帶ISDN芯片的入庫檢測、篩選及故障檢測等，使用方式便捷、檢測方式靈活，可靠性高。
文檔編號H04L12/26GK203057283SQ20122073678
公開日2013年7月10日 申請日期2012年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月27日
發(fā)明者劉文紅 申請人:北京佳訊飛鴻電氣股份有限公司