聯(lián)合通道校正方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種聯(lián)合通道校正方法及裝置，通過將校正全帶測試序列進行第一階段的M次插值，分別得到M次插值后的校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點上的序列值，將M次插值后分別得到的校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點上的序列值進行合并，得到M次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列；根據(jù)M次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列，確定M次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果，若M次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果大于等于預設的全帶信道響應門限值，則根據(jù)M次插值后的全帶信道響應測試結果計算每一個待校正發(fā)送通道的補償系數(shù)，提高了聯(lián)合通道校正的準確性。
【專利說明】聯(lián)合通道校正方法及裝置

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明實施例涉及通信【技術領域】，尤其涉及一種聯(lián)合通道校正方法及裝置。

【背景技術】
[0002] 為了改善小區(qū)邊緣覆蓋、提高吞吐量，可以采用聯(lián)合傳輸（Joint Transmission, JT)技術，對多個小區(qū)的天線進行聯(lián)合波束賦形，因此，需要對多個小區(qū)進行聯(lián)合通道校正。
[0003] 目前，聯(lián)合通道校正分為接收通道校正和發(fā)送通道校正兩部分，其中，發(fā)送通道校 正具體包括：位于基站側的基帶單元（BaseBand Unit,BBU)產生一個校正全帶測試序列，按 待校正的發(fā)送通道數(shù)目N，通過插值的方式，均分成N個非全帶的測試序列，將N個非全帶的 測試序列通過多個遠程射頻單元（Remote Radio Unit, RRU)發(fā)送到天線稱合盤，并通過天 線耦合盤合成后返回給BBU，以使BBU根據(jù)耦合后的校正全帶測試序列，得到所有待校正的 發(fā)送通道的信道響應測試結果，根據(jù)所有待校正的發(fā)送通道的信道響應測試結果，計算所 有待校正的發(fā)送通道的補償系數(shù)，從而完成對所有待校正的發(fā)射通道的校正過程。
[0004] 上述在聯(lián)合通道校正過程中，需要根據(jù)待校正的發(fā)送通道數(shù)目N，通過插值的方 式，均分成N個非全帶的測試序列，使得校正全帶測試序列在頻域上的值點變的稀疏，增加 了插值區(qū)間和插值誤差，進而增加了天線耦合盤耦合后的校正全帶測試序列的誤差，使得 后續(xù)BBU計算的所有待校正的發(fā)送通道的補償系數(shù)不正確，導致聯(lián)合通道校正不準確。


【發(fā)明內容】

[0005] 本發(fā)明提供一種聯(lián)合通道校正方法及裝置，用以解決現(xiàn)有技術中存在聯(lián)合通道校 正不準確的問題。
[0006] 第一方面，提供一種聯(lián)合通道校正方法，包括：
[0007] 將校正全帶測試序列進行第一階段的Μ次插值，分別得到Μ次插值后的所述校正 全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點上的序列值，1彡M〈log 2N+l，Ν為待校 正發(fā)送通道的個數(shù)；
[0008] 將Μ次插值后分別得到的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個 插值點上的序列值進行合并，得到Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列；
[0009] 根據(jù)所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列，確定Μ次插值后所有 待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果；
[0010] 若所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果大于等于預設 的所述全帶信道響應門限值，則根據(jù)所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應 測試結果計算每一個待校正發(fā)送通道的補償系數(shù)。
[0011] 基于第一方面，在第一種可能的實現(xiàn)方式中，將校正全帶測試序列進行第一階段 的第Μ次插值，分別得到Μ次插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的 J個插值點上的序列值，包括：
[0012] 根據(jù)插值計算公式

【權利要求】
1. 一種聯(lián)合通道校正方法，其特征在于，包括： 將校正全帶測試序列進行第一階段的Μ次插值，分別得到Μ次插值后的所述校正全帶 測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點上的序列值，1彡M〈log2N+l，N為待校正發(fā) 送通道的個數(shù)； 將Μ次插值后分別得到的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值 點上的序列值進行合并，得到Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列； 根據(jù)所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列，確定Μ次插值后所有待校 正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果； 若所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果大于等于預設的所 述全帶信道響應門限值，則根據(jù)所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試 結果計算每一個待校正發(fā)送通道的補償系數(shù)。
2. 根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，將校正全帶測試序列進行第一階段的第Μ 次插值，分別得到Μ次插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插 值點上的序列值，包括： 根據(jù)插值計算公式
得到第Μ次插值后的所述校正全帶測試序 列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的插值序列值；當k尹Lj，表示在第i個待校 正發(fā)送通道的第k個子載波上無插值點，則Si (k)為0 ;當k=Lj，表示在第i個待校正發(fā)送通 道的第k個子載波上有插值點，則Sjk)為S(Lj); 其中，k=l, 2....., Len,表不子載波的編號； Lj=NJ+ji，表示第i個待校正發(fā)送通道上第j個插值點對應的子載波編號； N表示所述待校正發(fā)送通道的個數(shù)； i=l,2......，N，表示所述待校正發(fā)送通道的編號； J=l, 2....., (Len/N),表示每一個待校正發(fā)送通道的插值點的個數(shù)，j < J ; (N^+i+i),......(1+i), (2+i)···· (N/f-i+i-i)，表示偏移 值； M表示第一階段的插值次數(shù)，1彡M〈log2N+l ; 所述第Μ次插值后的所述校正全帶測試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波 上的插值序列值包括所述校正全帶測試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的 插值點的序列值或無插值點的零值。
3. 根據(jù)權利要求1或2所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述Μ次插值后所有待校正發(fā) 送通道的部分測試序列，確定Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果之 后，還包括： 若所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果小于預設的所述全 帶信道響應門限值，則將所述校正全帶測試序列進行第二階段的Μ'次插值，分別得到Μ' 次插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點上的序列值， N ^ M+W ^ log2N+l, W ^ 1 ； 將所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列中對應的待校正發(fā)送通道上 無插值點的序列值替換為所述Μ'次插值后的所述校正全帶測試序列中對應的待校正發(fā)送 通道上插值點的序列值，得到Μ+Μ'次插值后所有待校正發(fā)送通道的校正全帶測試序列； 根據(jù)所述Μ+Μ'次插值后所有待校正發(fā)送通道的校正全帶測試序列，確定Μ+Μ'次插 值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果，若所述Μ+Μ'次插值后所有待校正發(fā) 送通道的全帶信道響應測試結果大于等于預設的所述全帶信道響應門限值，則根據(jù)所述 Μ+Μ'次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果計算每一個待校正發(fā)送通道 的補償系數(shù)。
4. 根據(jù)權利要求3所述的方法，其特征在于，將所述校正全帶測試序列進行第二階段 的Μ'次插值，分別得到Μ'次插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道 的J個插值點上的序列值，包括： 根據(jù)插值計算公式
得到第Μ+Μ'次插值后的所述校正全帶測 試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的序列值； 其中，k=l, 2....., Len,表不子載波的編號； Lj=NJ+ji，表示第i個待校正發(fā)送通道上第j個插值點對應的子載波編號； N表示所述待校正發(fā)送通道的個數(shù)； i=l,2......，N，表示所述待校正發(fā)送通道的編號； J=l, 2....., (Len/N),表示每一個待校正發(fā)送通道的插值點的個數(shù)，j < J。 ji=(M+M/ -1+i), (M+M/ +i),......(N+i), i, (1+i)，（2+i) · · · · (M+M，_2+i)，表示偏 移量； M'表示第二階段的插值次數(shù)，N彡M+M'彡log2N+l。
5. -種聯(lián)合通道校正裝置，其特征在于，包括： 第一插值模塊，用于將校正全帶測試序列進行第一階段的Μ次插值，分別得到Μ次 插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點上的序列值， 1彡M〈log2N+l，Ν為待校正發(fā)送通道的個數(shù)； 合并模塊，用于將所述第一插值模塊Μ次插值后分別得到的所述校正全帶測試序列在 每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點上的序列值進行合并，得到Μ次插值后所有待校正發(fā) 送通道的部分測試序列； 第一確定模塊，用于根據(jù)所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列，確定Μ 次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果； 第二確定模塊，用于根據(jù)所述第一確定模塊確定的Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的 全帶信道響應測試結果，若所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果 大于等于預設的所述全帶信道響應門限值，則根據(jù)所述Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的 全帶信道響應測試結果計算每一個待校正發(fā)送通道的補償系數(shù)。
6. 根據(jù)權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述第一插值模塊具體用于： 根據(jù)插值計算公式
，得到第Μ次插值后的所述校正全帶測試序 列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的插值序列值；當k尹Lj，表示在第i個待校 正發(fā)送通道的第k個子載波上無插值點，則Si (k)為Ο ;當k=Lj，表示在第i個待校正發(fā)送通 道的第k個子載波上有插值點，則Sjk)為S(Lj); 其中，k=l, 2....., Len,表不子載波的編號； Lj=NJ+ji，表示第i個待校正發(fā)送通道上第j個插值點對應的子載波編號； N表示所述待校正發(fā)送通道的個數(shù)； i=l,2......，N，表示所述待校正發(fā)送通道的編號； J=l, 2....., (Len/N),表示每一個待校正發(fā)送通道的插值點的個數(shù)，j < J ; (N^+i+i),......(1+i), (2+i)···· (N/f-i+i-i)，表示偏移 值； M表示第一階段的插值次數(shù)，1彡M〈log2N+l ; 所述第Μ次插值后的所述校正全帶測試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波 上的插值序列值包括所述校正全帶測試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的 插值點的序列值或無插值點的零值。
7. 根據(jù)權利要求5或6所述的裝置，其特征在于，若所述第一確定模塊確定的Μ次插值 后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果小于預設的所述全帶信道響應門限值；則 所述裝置還包括： 第二插值模塊，用于將所述校正全帶測試序列進行第二階段的Μ'次插值，分別得到 Μ'次插值后的所述校正全帶測試序列在每一個待校正發(fā)送通道的J個插值點上的序列 值，Ν 彡 Μ+ΙΤ 彡 彡 1; 補償模塊，用于將所述第一插值模塊Μ次插值后所有待校正發(fā)送通道的部分測試序列 中對應的待校正發(fā)送通道上無插值點的序列值替換為所述第二插值模塊，次插值后的所 述校正全帶測試序列中對應的待校正發(fā)送通道上插值點的序列值，得到Μ+Μ'次插值后所 有待校正發(fā)送通道的校正全帶測試序列； 第三確定模塊，用于根據(jù)所述補償模塊得到的Μ+Μ'次插值后所有待校正發(fā)送通道的 校正全帶測試序列，確定Μ+Μ'次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果，若 所述Μ+Μ'次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試結果大于等于預設的所述全 帶信道響應門限值，則根據(jù)所述Μ+Μ'次插值后所有待校正發(fā)送通道的全帶信道響應測試 結果計算每一個待校正發(fā)送通道的補償系數(shù)。
8. 根據(jù)權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述第二插值模塊具體用于： 根據(jù)插值計算公式
，得到第Μ+Μ'次插值后的所述校正全帶測 試序列在第i個待校正發(fā)送通道的第k個子載波上的序列值； 其中，k=l, 2....., Len,表不子載波的編號； Lj=NJ+ji，表示第i個待校正發(fā)送通道上第j個插值點對應的子載波編號； N表示所述待校正發(fā)送通道的個數(shù)； i=l,2......，N，表示所述待校正發(fā)送通道的編號； J=l, 2....., (Len/N),表示每一個待校正發(fā)送通道的插值點的個數(shù)，j < J。 ji=(M+M/ -1+i), (M+M/ +i),......(N+i), i, (1+i)，（2+i) · · · · (M+M，_2+i)，表示偏 移量； 表示第二階段的插值次數(shù)，N彡M+iT彡log2N+l。
【文檔編號】H04B7/08GK104218983SQ201310213446
【公開日】2014年12月17日 申請日期:2013年5月31日 優(yōu)先權日:2013年5月31日
【發(fā)明者】胡召宇 申請人:華為技術有限公司