全自動光插回?fù)p測試儀及測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種全自動光插回?fù)p測試儀及測試方法。它包括中央處理器，中央處理器分別通過一個1310nm光發(fā)射模塊和一個1550nm光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器；波分復(fù)用器信號的輸出端連接光分路器，光分路器的輸出端連接到被測跳線的前端面上，光分路器的回?fù)p信號端連接回?fù)p測試模塊；回?fù)p測試模塊與中央處理器之間進行信息傳輸，還包括一個能夠提供時間基準(zhǔn)的鐘芯片，鐘芯片分別與回?fù)p測試模塊和中央處理器連接為它們提供基準(zhǔn)時間。采用上述的結(jié)構(gòu)及方法后，實現(xiàn)了同時測試光纖跳線在1310nm和1550nm兩個波長的光學(xué)性能；可以將不同端面的反射值區(qū)分開，就達到了免于光纖纏繞的目的，其測試方便可靠，即避免了光纖在測試時受傷，又極大地提升產(chǎn)品測試效率。
【專利說明】全自動光插回?fù)p測試儀及測試方法
[0001]
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002]本發(fā)明涉及一種用于光纖連接器測試的設(shè)備，具體地說是一種全自動光插回?fù)p測試儀及測試方法，屬于光纖通信【技術(shù)領(lǐng)域】。
【背景技術(shù)】
[0003]光纖通信具有信號穩(wěn)定、損耗小、傳輸距離長、容量高等多方面優(yōu)點，已在各國現(xiàn)代通信網(wǎng)絡(luò)建設(shè)中廣泛采用備。當(dāng)前，我國的光纖通信網(wǎng)絡(luò)建設(shè)迅猛，三大運營商及廣電系統(tǒng)都確定了“加快光進銅退、推進接入網(wǎng)戰(zhàn)略轉(zhuǎn)型”的思路。光纖活動連接器和光纖一樣，屬于光纖通信網(wǎng)絡(luò)中最基本的組成部分，在光纖通信網(wǎng)絡(luò)中具有巨大的需求量。國家的相關(guān)主管部門針對光纖活動連接器也制定了多項行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，對其性能指標(biāo)作出了具體的規(guī)定。行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，光纖活動連接器出廠前的光學(xué)性能檢驗項目為插入損耗和回波損耗。
[0004]光纖連接器生產(chǎn)廠家出廠檢驗主要是利用插損回?fù)p測試儀來檢測光纖連接器的性能指標(biāo)。目前市場上的插損回?fù)p測試儀在測試光纖連接器回?fù)p的時候，需要對光纖進行纏繞，以消除光纖連接器后端端面的光反射影響，由此測試過程中容易對光纖造成損傷，而且測試時每次只能測試一個波長的數(shù)據(jù)，測試效率也比較低下。

【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種既能避免對光纖造成損傷又能實現(xiàn)兩個工作波長的同時測試的全自動光插回?fù)p測試儀及測試方法。
[0006]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的全自動光插回?fù)p測試儀，包括中央處理器，中央處理器分別通過一個1310nm光發(fā)射模塊和一個1550nm光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器；波分復(fù)用器信號的輸出端連接光分路器，光分路器的輸出端連接到被測跳線的前端面上，光分路器的回?fù)p信號端連接回?fù)p測試模塊；回?fù)p測試模塊與中央處理器之間進行信息傳輸，還包括一個能夠提供時間基準(zhǔn)的鐘芯片，鐘芯片分別與回?fù)p測試模塊和中央處理器連接為它們提供基準(zhǔn)時間。
[0007]所述被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接； 所述光分路器通過接頭和測試線連接被測跳線的前端面。
[0008]一種上述全自動光插回?fù)p測試儀的測試方法，包括以下步驟:
A、中央處理器控制1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊輪流發(fā)射脈沖信號，同時時鐘芯片記錄時間進行同步；
B、回?fù)p測試模塊與1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊波長聯(lián)動，記錄返回的菲涅爾反射；
C、回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，將不同端面的反射值區(qū)分開。
[0009]一種上述全自動光插回?fù)p測試儀的測試方法，包括以下步驟: A、中央處理器控制1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊輪流發(fā)射脈沖信號，同時時鐘芯片記錄時間進行同步；
B、回?fù)p測試模塊、插損測試模塊與1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊波長聯(lián)動，記錄返回的菲涅爾反射；
C、回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，將不同端面的反射值區(qū)分開。
[0010]米用上述的結(jié)構(gòu)及方法后，1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊的發(fā)射信號能夠通過波分復(fù)用器傳輸?shù)焦夥致菲?，?jīng)過接頭和測試線到被測跳線的前端面，CPU連接回?fù)p測試模塊，回?fù)p測試模塊還經(jīng)過時鐘芯片到CPU，一方面，可通過與CPU聯(lián)動的方式，輪流發(fā)射1310nm、1550nm脈沖信號，同時進行1310nm和1550nm波長的測試,實現(xiàn)了同時測試光纖跳線在1310nm和1550nm兩個波長的光學(xué)性能；另外一方面，可以通過時鐘芯片提供時間基準(zhǔn)，回?fù)p測試模塊記錄返回的菲涅爾反射，回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，可以將不同端面的反射值區(qū)分開，就達到了免于光纖纏繞的目的，其測試方便可靠，即避免了光纖在測試時受傷，又極大地提升產(chǎn)品測試效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1為本發(fā)明全自動光插回?fù)p測試儀的原理框圖。
【具體實施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】，對本發(fā)明的全自動光插回?fù)p測試儀及測試方法作進一步詳細說明。
[0013]如圖所示，本發(fā)明的全自動光插回?fù)p測試儀，包括中央處理器(CPU)，中央處理器分別通過一個1310nm光發(fā)射模塊和一個1550nm光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器(WDM);波分復(fù)用器信號的輸出端連接分路器(高回?fù)p光分路器)，高回?fù)p光分路器的輸出端通過FC/APC接頭和測試線連接到被測跳線的前端面上，高回?fù)p光分路器的回?fù)p信號端連接回?fù)p測試模塊；回?fù)p測試模塊與中央處理器之間進行信息傳輸，還包括一個能夠提供時間基準(zhǔn)的鐘芯片，鐘芯片分別與回?fù)p測試模塊和中央處理器連接為它們提供基準(zhǔn)時間。
[0014]進一步的還可以在被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接。
[0015]一種上述全自動光插回?fù)p測試儀的測試方法，包括以下步驟:
A、中央處理器控制1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊(兩個波長激光器)輪流發(fā)射脈沖信號，同時時鐘芯片記錄時間進行同步；
B、回?fù)p測試模塊、插損測試模塊與1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊波長聯(lián)動，記錄返回的菲涅爾反射；
C、回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，將不同端面的反射值區(qū)分開。
[0016]通過上述工作過程可以看出，
由于被測光鏈路上不同端面的反射光反射回來存在時間差，回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，可以將不同端面的反射值區(qū)分開，就達到了免于光纖纏繞的目的，再由于光發(fā)射模塊與插損測試模塊、回?fù)p測試模塊實行的波長聯(lián)動，可以實現(xiàn)兩個工作波長的同時測試；與現(xiàn)有的測試方法相比，本發(fā)明采用光時域反射原理，直接測量光纖連接器端面的菲涅爾反射，可以將不同光纖連接器端面的菲涅爾反射區(qū)分開，避免了將光纖進行纏繞，另外采用了光發(fā)射模塊、光接收模塊與CPU進行波長聯(lián)動的方式，一次性可將連接器在兩個工作波長處的插損回?fù)p同時測試，實現(xiàn)了同時測試光纖跳線兩個工作波長處的插損和回?fù)p值，免于光纖纏繞，以避免光纖在測試時受傷，還可以極大地提升產(chǎn)品測試效率，真正實現(xiàn)了光纖連接器的全自動測試。
【權(quán)利要求】
1.一種全自動光插回?fù)p測試儀，其特征在于:包括中央處理器，中央處理器分別通過一個1310nm光發(fā)射模塊和一個1550nm光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器；所述波分復(fù)用器信號的輸出端連接光分路器，光分路器的輸出端連接到被測跳線的前端面上，所述光分路器的回?fù)p信號端連接回?fù)p測試模塊；回?fù)p測試模塊與中央處理器之間進行信息傳輸，還包括一個能夠提供時間基準(zhǔn)的鐘芯片，鐘芯片分別與回?fù)p測試模塊和中央處理器連接為它們提供基準(zhǔn)時間。
2.按照權(quán)利要求1所述的全自動光插回?fù)p測試儀，其特征在于:所述被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接。
3.按照權(quán)利要求1所述的全自動光插回?fù)p測試儀，其特征在于:所述光分路器通過接頭和測試線連接被測跳線的前端面。
4.一種如權(quán)利要求1所述全自動光插回?fù)p測試儀的測試方法，其特征在于，包括以下步驟: A、中央處理器控制1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊輪流發(fā)射脈沖信號，同時時鐘芯片記錄時間進行同步； B、回?fù)p測試模塊與1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊波長聯(lián)動，記錄返回的菲涅爾反射； C、回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，將不同端面的反射值區(qū)分開。
5.一種如權(quán)利要求2所述全自動光插回?fù)p測試儀的測試方法，其特征在于，包括以下步驟: A、中央處理器控制1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊輪流發(fā)射脈沖信號，同時時鐘芯片記錄時間進行同步； B、回?fù)p測試模塊、插損測試模塊與1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊波長聯(lián)動，記錄返回的菲涅爾反射； C、回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，將不同端面的反射值區(qū)分開。
【文檔編號】H04B10/071GK103916180SQ201410132955
【公開日】2014年7月9日 申請日期:2014年4月3日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月3日
【發(fā)明者】周永軍 申請人:鎮(zhèn)江奧菲特光電科技有限公司