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      一種機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法

      文檔序號(hào):7821838閱讀:584來源:國知局
      一種機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法
      【專利摘要】本發(fā)明屬于機(jī)載通信網(wǎng)絡(luò)【技術(shù)領(lǐng)域】,針對機(jī)載網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)數(shù)據(jù)幀傳輸?shù)拇涡蛲暾孕枨?,公開了一種機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法,分別測試被測設(shè)備接收SN號(hào)正確的幀序列、接收一個(gè)SN號(hào)缺失的幀序列和檢測出幀序列中有兩個(gè)SN號(hào)丟失三種不同場景,此外還需要測試并驗(yàn)證被測設(shè)備在完整性檢查使能和非使能不同條件下是否能夠正確處理接收到的數(shù)據(jù)幀,若按照本發(fā)明的方法,能夠正確處理接收到的數(shù)據(jù)幀,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格。本發(fā)明降低了網(wǎng)絡(luò)傳輸中由于丟幀、錯(cuò)幀及交換機(jī)阻塞對系統(tǒng)造成的影響,從而增強(qiáng)了機(jī)載網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃浴?br> 【專利說明】-種機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明屬于機(jī)載通信網(wǎng)絡(luò)【技術(shù)領(lǐng)域】,設(shè)及機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法。

      【背景技術(shù)】
      [0002] 當(dāng)前航空電子系統(tǒng)逐漸從傳統(tǒng)的分立式、聯(lián)合式向綜合化、分布式綜合模塊化演 進(jìn),分布式綜合模塊化航空電子值IMAiDishibuted Integrated Modular Avionics)系統(tǒng) 當(dāng)前綜合了燃油系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)、環(huán)控系統(tǒng)、飛控系統(tǒng)、防冰系統(tǒng)、防火系統(tǒng)、起落 架系統(tǒng)、艙口系統(tǒng)等非傳統(tǒng)航電系統(tǒng)的處理和控制功能。網(wǎng)絡(luò)化已是機(jī)載航電系統(tǒng)發(fā)展的 必然趨勢。
      [0003] 機(jī)載網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)帖之間通常會(huì)存在一定的關(guān)聯(lián),尤其是將飛控、機(jī)電系統(tǒng)等 設(shè)及安全的關(guān)鍵業(yè)務(wù)引入傳統(tǒng)的機(jī)載航電網(wǎng)絡(luò)后,同一傳輸通道內(nèi)的數(shù)據(jù)帖有序傳輸就必 須得到保障。在網(wǎng)絡(luò)交換節(jié)點(diǎn)可能發(fā)生的丟帖、錯(cuò)帖及阻塞等不應(yīng)該致使接收端出現(xiàn)數(shù)據(jù) 帖亂序情況,如果接收端收到某一傳輸通路中數(shù)據(jù)帖的先后次序與發(fā)送端發(fā)出的次序不一 致,接收端必須能夠檢測并做相應(yīng)的過濾操作。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004] 為降低網(wǎng)絡(luò)傳輸中由于丟帖、錯(cuò)帖及交換機(jī)阻塞對系統(tǒng)造成的影響,增強(qiáng)機(jī)載網(wǎng) 絡(luò)系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃?,本發(fā)明提出一種機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法。
      [0005] 本發(fā)明的目的:使用該測試方法構(gòu)建測試場景、定義測試激勵(lì)數(shù)據(jù)流并最終給出 被測設(shè)備接收數(shù)據(jù)帖時(shí)的次序完整性檢查功能是否滿足要求,從而提高機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)傳輸 的安全性和可靠性指標(biāo)。
      [0006] 本發(fā)明給出W下技術(shù)方案:
      [0007] 一種機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法,其特殊之處在于;測試步驟如下:
      [0008] 1)測試設(shè)備構(gòu)造序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖;
      [0009] 2)測試設(shè)備通過邏輯通路向被測設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)帖;
      [0010] 當(dāng)測試設(shè)備將構(gòu)造的序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖發(fā)送至被測設(shè)備,被測設(shè)備的次序 完整性檢測使能或非使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖,則被測設(shè)備的 次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失敗;
      [0011] 當(dāng)在測試設(shè)備構(gòu)造的N個(gè)數(shù)據(jù)帖中任意剔除一個(gè)序號(hào)為M的數(shù)據(jù)帖后,得到序列 號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)帖,在被測設(shè)備的次序完整性檢測使能或非使能時(shí),測試設(shè)備將序列 號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)帖發(fā)送至被測設(shè)備,若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù) 帖,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失??;
      [001引當(dāng)在測試設(shè)備構(gòu)造的N個(gè)數(shù)據(jù)帖中任意剔除序列號(hào)為M和M+1的兩個(gè)相鄰數(shù)據(jù)帖 后,得到序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖,在序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖剔除序號(hào)為M+2的 數(shù)據(jù)帖后,得到序列號(hào)為SN3的N-3個(gè)數(shù)據(jù)帖,測試設(shè)備將序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖發(fā) 送至被測設(shè)備,
      [0013] 在被測設(shè)備的次序完整性檢測使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN3的N-3個(gè) 數(shù)據(jù)帖,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失?。?br> [0014] 或者在被測設(shè)備的次序完整性檢測非使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN2的 N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失敗。
      [0015] 上述步驟2)中,所述邏輯通路有多條,測試設(shè)備分別將序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù) 帖、序列號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)帖和序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖分別通過每條邏輯通路發(fā) 送至被測設(shè)備;對于同一條邏輯通路,測試設(shè)備將序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖、序列號(hào)為SN1 的N-1個(gè)數(shù)據(jù)帖和序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖逐一發(fā)送至被測設(shè)備。
      [0016] 上述序列號(hào)SN的序號(hào)連續(xù),序列號(hào)SN從0開始,序列號(hào)SN的最大值為255,所述 N不小于256個(gè)。
      [0017] 本發(fā)明具有W下技術(shù)效果:
      [0018] 本發(fā)明提出的機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性測試方法,降低網(wǎng)絡(luò)通信中由于交換機(jī)阻 塞、丟帖、錯(cuò)帖對系統(tǒng)造成影響,即單個(gè)帖的丟失不會(huì)影響后續(xù)到達(dá)帖的接收,提高了完整 性檢查功能的魯椿性,從而增強(qiáng)機(jī)載網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃浴?br> [0019] 保證了機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)帖傳輸次序完整性要求,提高了機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)傳輸?shù)陌踩?和可靠性指標(biāo)。
      [0020] 本發(fā)明主要針對機(jī)載網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)帖的次序完整性需求在接收端對到達(dá)的數(shù) 據(jù)帖次序完整性檢查功能進(jìn)行測試,構(gòu)建符合數(shù)據(jù)帖次序完整性要求的測試項(xiàng),并給出正 常和異常的情況的測試激勵(lì)數(shù)據(jù)帖序列,從而能夠開展對被測設(shè)備次序完整性檢查功能進(jìn) 行測試和驗(yàn)證。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0021] 圖1是測試場景及硬件連接示意圖。
      [0022] 圖2是次序完整性校驗(yàn)?zāi)K示意圖。
      [0023] 圖3是完整性檢查流程圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0024] 本發(fā)明提供了一種機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法,測試步驟如下:
      [0025] 1)測試設(shè)備構(gòu)造序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖;
      [0026] 2)測試設(shè)備通過邏輯通路向被測設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)帖;
      [0027] 當(dāng)測試設(shè)備將構(gòu)造的序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖發(fā)送至被測設(shè)備,被測設(shè)備的次序 完整性檢測使能或非使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖,則被測設(shè)備的 次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失?。?br> [002引當(dāng)在測試設(shè)備構(gòu)造的N個(gè)數(shù)據(jù)帖中任意剔除一個(gè)序號(hào)為M的數(shù)據(jù)帖后,得到序列 號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)帖,在被測設(shè)備的次序完整性檢測使能或非使能時(shí),測試設(shè)備將序列 號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)帖發(fā)送至被測設(shè)備,若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù) 帖,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失?。?br> [0029] 當(dāng)在測試設(shè)備構(gòu)造的N個(gè)數(shù)據(jù)帖中任意剔除序列號(hào)為M和M+1的兩個(gè)相鄰數(shù)據(jù)帖 后,得到序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖,在序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖剔除序號(hào)為M+2的 數(shù)據(jù)帖后,得到序列號(hào)為SN3的N-3個(gè)數(shù)據(jù)帖,測試設(shè)備將序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖發(fā) 送至被測設(shè)備,
      [0030] 在被測設(shè)備的次序完整性檢測使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN3的N-3個(gè) 數(shù)據(jù)帖,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失?。?br> [0031] 或者在被測設(shè)備的次序完整性檢測非使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN2的 N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失敗。
      [0032] 步驟2)中,邏輯通路有多條,測試設(shè)備分別將序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖、序列號(hào) 為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)帖和序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖分別通過每條邏輯通路發(fā)送至被測 設(shè)備;對于同一條邏輯通路,測試設(shè)備將序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)帖、序列號(hào)為SN1的N-1個(gè) 數(shù)據(jù)帖和序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)帖逐一發(fā)送至被測設(shè)備。
      [0033] 序列號(hào)SN的序號(hào)連續(xù),序列號(hào)SN從0開始,序列號(hào)SN占用IByte,最大值為255, 當(dāng)前述N大于255時(shí)自動(dòng)回繞為1。本發(fā)明在占用數(shù)據(jù)帖最小開銷一字節(jié)情況下,保證了數(shù) 據(jù)帖在測試設(shè)備和被測設(shè)備間的網(wǎng)絡(luò)傳輸時(shí)編號(hào)不重復(fù)、不遺漏,如當(dāng)前編號(hào)為N到達(dá)接 收端時(shí),上一輪編號(hào)為N的數(shù)據(jù)已經(jīng)被接收并處理。
      [0034] 結(jié)合圖1對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行說明,構(gòu)建如圖1所示的測試場景,分別測試被 測設(shè)備接收SN號(hào)正確的帖序列、接收一個(gè)SN號(hào)缺失的帖序列和接收有兩個(gè)SN號(hào)丟失的S 種不同場景,此外還需要測試并驗(yàn)證被測設(shè)備在次序完整性檢測使能和非使能不同條件下 是否能夠正確處理接收到的數(shù)據(jù)帖,測試場景如下:
      [0035] 1、被測設(shè)備在次序完整性檢測使能時(shí),被測設(shè)備在數(shù)據(jù)帖到達(dá)序列連續(xù)情況下的 處理
      [0036] 測試設(shè)備發(fā)送序列號(hào)連續(xù)的N個(gè)數(shù)據(jù)帖,帖序號(hào)從0開始,連續(xù)發(fā)送的數(shù)據(jù)帖不少 與256個(gè),即SN號(hào)必須回繞后方能結(jié)束該項(xiàng)測試。被測設(shè)備如能正確接收所有的N個(gè)數(shù)據(jù), 則被測設(shè)備的次序完整性測試通過。
      [0037] 2、被測設(shè)備在次序完整性檢測使能時(shí),被測設(shè)備在丟失一個(gè)數(shù)據(jù)帖情況下的處理 [003引測試設(shè)備構(gòu)造出序列號(hào)連續(xù)的N個(gè)數(shù)據(jù)帖,帖序號(hào)從0開始且不少與256個(gè),即構(gòu) 造出的數(shù)據(jù)帖序列必須回繞。從待發(fā)送的數(shù)據(jù)帖序列中任意剔除一個(gè)序號(hào)為M的帖后,測 試設(shè)備完成所有數(shù)據(jù)帖的發(fā)送。被測設(shè)備如能正確接收N-1個(gè)數(shù)據(jù)帖,且接收的帖中不包 含序號(hào)為M的數(shù)據(jù)帖,則被測設(shè)備的次序完整性測試通過。
      [0039] 3、被測設(shè)備在次序完整性檢測使能時(shí),被測設(shè)備在丟失連續(xù)兩個(gè)數(shù)據(jù)帖情況下的 處理
      [0040] 測試設(shè)備構(gòu)造出序列號(hào)連續(xù)的N個(gè)數(shù)據(jù)帖,帖序號(hào)從0開始且不少與256個(gè),即構(gòu) 造出的數(shù)據(jù)帖序列必須回繞。從待發(fā)送的數(shù)據(jù)帖序列中剔除序列號(hào)為M和M+1的兩個(gè)相鄰 數(shù)據(jù)帖后,測試設(shè)備完成所有數(shù)據(jù)帖的發(fā)送。被測設(shè)備如能正確接收N-3個(gè)數(shù)據(jù)帖,且接收 的帖中不包含序號(hào)為M、M+1和M+2的數(shù)據(jù)帖,則被測設(shè)備的次序完整性測試通過。
      [0041] 4、被測設(shè)備在次序完整性檢測非使能情況下的處理
      [0042] 測試設(shè)備構(gòu)造出序列號(hào)連續(xù)的N個(gè)數(shù)據(jù)帖,帖序號(hào)從0開始且不少與256個(gè),即構(gòu) 造出的數(shù)據(jù)帖序列必須回繞。重復(fù)進(jìn)行錢數(shù)的1、2、3項(xiàng)測試,如果接收端收到的數(shù)據(jù)帖個(gè) 數(shù)分別為N、N-1 (缺少編號(hào)為M的數(shù)據(jù)帖)、和N-2 (缺少編號(hào)為M和M+1的數(shù)據(jù)帖),則被 測設(shè)備的次序完整性測試通過。
      [0043] 本發(fā)明的測試環(huán)境
      [0044] 本發(fā)明定義的測試環(huán)境如圖1所示,其中測試設(shè)備由工控機(jī)和通過PCI插槽與其 相連的測試板卡構(gòu)成;被測試設(shè)備是通信模塊和CPU模塊共同構(gòu)成的目標(biāo)機(jī)。測試設(shè)備和 被測試設(shè)備通過通信鏈路連接,單個(gè)通信鏈路可W承載多條邏輯傳輸通路,次序完整性檢 查是基于每條邏輯通路進(jìn)行的。測試設(shè)備通過發(fā)送命令給被測設(shè)備,控制其進(jìn)行配置加載、 數(shù)據(jù)收發(fā)等操作從而完成單個(gè)測試項(xiàng)的驗(yàn)證。
      [0045] 本發(fā)明的測試內(nèi)容和原理
      [0046] 針對次序完整性檢查功能的測試內(nèi)容和方法歸納為W下四點(diǎn):
      [0047] (1)接收SN號(hào)正確的帖序列(包括SN回繞);
      [0048] (2)接收一個(gè)SN號(hào)缺失的帖序列(包括SN回繞);
      [0049] (3)檢測出帖序列中兩個(gè)SN號(hào)丟失;
      [0化0] (4)次序完整性檢查的可配置性測試。
      [0化1] 次序完整性檢查方法可W歸納如下:
      [005引? RSN = PS化 1 ;
      [0053] ? RSN = PS化2 ;
      [0化4] ? RSN = 0或目的端系統(tǒng)復(fù)位后各虛鏈路上接收到的第一個(gè)帖。
      [0055] 其中RSN(Received SN)指當(dāng)前接收帖的SN ;PSN(Previous SN)指同一虛鏈路上 前一個(gè)接收帖的SN ;操作符"是指在SN的取值范圍內(nèi)進(jìn)行循環(huán)加計(jì)算,SN的取值范圍 為1到255 (SN字段占用IByte,最大值為255),當(dāng)SN超過最大值時(shí),返回到循環(huán)的起始位 置(回繞),即當(dāng)PSN = 255時(shí),RSN = PS化1 = 1。如果接收帖的SN遵循W上規(guī)則,則被 視為有效帖,被提交到接收控制單元;否則被視為無效帖并丟棄。
      [0056] 機(jī)載網(wǎng)絡(luò)中傳輸?shù)臄?shù)據(jù)帖可能歸屬于不同的傳輸通道,可根據(jù)虛鏈路上承載應(yīng)用 數(shù)據(jù)的屬性進(jìn)行次序完整性檢查的使能和非使能配置。如使用該虛鏈路的應(yīng)用數(shù)據(jù)帖內(nèi)容 之間不存在前后順序的要求時(shí),可將該虛鏈路的完整性檢查配置為非使能;反之,則應(yīng)將該 虛鏈路配置為完整性檢查使能。最后,針對虛鏈路完整性檢查的使能或非使能配置,測試并 驗(yàn)證被測設(shè)備的完整性檢查功能。
      [0化7] 具體實(shí)施例
      [005引 (1)測試設(shè)備向被測設(shè)備發(fā)送設(shè)備初始化指令,緊接著發(fā)送創(chuàng)建5條邏輯通路的 指令,邏輯通道號(hào)分別為X、X+1、X+2、X+3、X+4。之后為每個(gè)邏輯通道配置接收端口和緩沖 區(qū)。最后將上述指令中包含的配置信息加載到被測設(shè)備上。
      [0化9] (2)測試設(shè)備在每個(gè)邏輯通道構(gòu)建一個(gè)激勵(lì)數(shù)據(jù)帖列表
      [0060] 表U則試設(shè)備發(fā)送的數(shù)據(jù)帖序列
      [0061]

      【權(quán)利要求】
      1. 一種機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法,其特征在于:測試步驟如下: 1) 測試設(shè)備構(gòu)造序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)幀; 2) 測試設(shè)備通過邏輯通路向被測設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)幀; 當(dāng)測試設(shè)備將構(gòu)造的序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)幀發(fā)送至被測設(shè)備,被測設(shè)備的次序完整 性檢測使能或非使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)幀,則被測設(shè)備的次序 完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失敗; 當(dāng)在測試設(shè)備構(gòu)造的N個(gè)數(shù)據(jù)幀中任意剔除一個(gè)序號(hào)為M的數(shù)據(jù)幀后,得到序列號(hào)為 SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)幀,在被測設(shè)備的次序完整性檢測使能或非使能時(shí),測試設(shè)備將序列號(hào)為 SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)幀發(fā)送至被測設(shè)備,若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)幀,則 被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失敗; 當(dāng)在測試設(shè)備構(gòu)造的N個(gè)數(shù)據(jù)幀中任意剔除序列號(hào)為M和M+1的兩個(gè)相鄰數(shù)據(jù)幀后, 得到序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)幀,在序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)幀剔除序號(hào)為M+2的數(shù) 據(jù)幀后,得到序列號(hào)為SN3的N-3個(gè)數(shù)據(jù)幀,測試設(shè)備將序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)幀發(fā)送 至被測設(shè)備, 在被測設(shè)備的次序完整性檢測使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN3的N-3個(gè)數(shù)據(jù) 幀,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失??; 或者在被測設(shè)備的次序完整性檢測非使能時(shí),若被測設(shè)備接收到序列號(hào)為SN2的N-2 個(gè)數(shù)據(jù)幀,則被測設(shè)備的次序完整性測試合格,否則被測設(shè)備的次序完整性測試失敗。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法,其特征在于:所述步 驟2)中,所述邏輯通路有多條,測試設(shè)備將序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)幀、序列號(hào)為SN1的N-1 個(gè)數(shù)據(jù)幀和序列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)幀分別通過每條邏輯通路發(fā)送至被測設(shè)備;對于同 一條邏輯通路,測試設(shè)備將序列號(hào)為SN的N個(gè)數(shù)據(jù)幀、序列號(hào)為SN1的N-1個(gè)數(shù)據(jù)幀和序 列號(hào)為SN2的N-2個(gè)數(shù)據(jù)幀逐一發(fā)送至被測設(shè)備。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的機(jī)載網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)次序完整性的測試方法,其特征在于:所 述序列號(hào)SN的序號(hào)連續(xù),序列號(hào)SN從0開始,序列號(hào)SN的最大值為255,所述N不小于256 個(gè)。
      【文檔編號(hào)】H04L12/26GK104486145SQ201410727713
      【公開日】2015年4月1日 申請日期:2014年12月3日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月3日
      【發(fā)明者】余亞剛, 于峰, 王紅春, 王世奎, 史巖, 李雯 申請人:中國航空工業(yè)集團(tuán)公司第六三一研究所
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