一種基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試方法及裝置制造方法
【專利摘要】一種基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試方法，包括：檢測測試治具的槽位中放置的多片測試待測分離器板，向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得該網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試，待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向所述網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對多片待測分離器板進行測試。此外，本發(fā)明還提供一種基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試裝置。上述方法及裝置可提高測試效率以及網(wǎng)絡分析儀的利用率。
【專利說明】一種基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試方法及裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及通信【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試方法及裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]網(wǎng)絡分析儀可完成電纜測試、網(wǎng)絡流量測試、網(wǎng)絡設備搜尋的功能。同時它還具有協(xié)議分析儀的功能，可以對信息包進行捕捉、信號質(zhì)量、解碼以及濾波等功能，可以用于在網(wǎng)設備的分析定位，用于測試產(chǎn)品的各個性能，提高產(chǎn)品的使用壽命。網(wǎng)絡分析儀標準的配置點到點測試模型，對設備的利用非常低，行業(yè)內(nèi)的測試規(guī)范基本上是沿用此測試模式。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，網(wǎng)絡分析儀通過通用接口總線(GPIB, General-Purpose InterfaceBus)卡連接，手動控制切換到遠程控制，將測試觸點引入到測試治具，測試架軟件檢查測試架壓合狀態(tài)啟動測試。按照預先設定好的頻點每臺設備進行測試，逐臺進行測試，每臺測試時間很短，需要人為干預的次數(shù)增多，有效的解決人工手動測試，觸點接觸的問題，提高了測試效率，避免手動測試的誤差，提升分離器品質(zhì)。
[0004]但在上述現(xiàn)有技術(shù)中，網(wǎng)絡分析儀進行單點測試，測試效率低，儀器的利用率不高，自動化程度不足。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于此，本發(fā)明提供一種基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試方法及裝置，用以提高測試分離器的效率以及增加網(wǎng)絡分析儀利用率，并提高自動化測試程度，減少人為及環(huán)境因素對測試的影響。
[0006]本發(fā)明實施例提供的基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試方法，包括:
[0007]檢測測試治具的槽位中放置的多片測試待測分離器板；向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得所述網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對所述多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試；讀取當前測試的測試值；待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向所述網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對所述多片待測分離器板進行測試。
[0008]本發(fā)明實施例提供的基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試裝置，包括:
[0009]檢測單元，用于檢測測試治具的槽位中放置的多片待測分離器板；控制單元，用于向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得所述網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對所述多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試；讀取單元，用于讀取當前測試的測試值；所述控制單元，還用于待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向所述網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對所述多片待測分離器板進行測試。
[0010]本發(fā)明實施例提供的基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試方法及裝置，網(wǎng)絡分析儀可在多個測試通道中的相同測試頻點上，同時對多片待測分離器板進行測試，提高測試效率以及提高網(wǎng)絡分析儀的利用率，且切換測試通道的指令由測試裝置的邏輯開關(guān)控制，不需手動切換，實現(xiàn)高度自動化，進一步提高測試效率。
[0011]為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合所附圖式，作詳細說明如下。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1為本發(fā)明實施例中基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試方法的運行環(huán)境示意圖。
[0013]圖2為本發(fā)明第一實施例中基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試方法的流程示意圖。
[0014]圖3為本發(fā)明第二實施例中基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試方法的流程示意圖。
[0015]圖4為本發(fā)明第三實施例中基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試裝置的示意圖。
[0016]圖5為本發(fā)明第四實施例中基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試裝置的示意圖。

【具體實施方式】
[0017]為更進一步闡述本發(fā)明為實現(xiàn)預定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明的【具體實施方式】、結(jié)構(gòu)、特征及其功效，詳細說明如后。
[0018]本發(fā)明實施例以網(wǎng)絡分析儀進行測試為例，還適用于同類網(wǎng)絡測試設備同時對多個待測試設備的多點并行測試。
[0019]請參閱圖1，圖1為本發(fā)明實施例中基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試方法的運行環(huán)境示意圖。
[0020]基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試裝置(以下簡稱測試裝置)10連接網(wǎng)絡分析儀20，可以通過GPIB卡相連接。測試裝置10為包含具備數(shù)據(jù)處理能力的計算機的設備，可控制網(wǎng)絡分析儀20對待測分離器板40的性能進行測試。測試裝置10可以外設測試治具30，也可以連接獨立的測試治具30，測試治具30具有多個槽位可以分別放置多個待測分離器板40。為便于清晰地體現(xiàn)本技術(shù)方案，圖1示出了測試治具30獨立于測試裝置10的情形，即，測試治具30相對于測試裝置10可拆卸，可以理解地，測試治具30包括在測試裝置10之內(nèi)且不可拆卸。
[0021]首先啟動測試系統(tǒng)，測試裝置10將測試系統(tǒng)軟件從硬盤加載到內(nèi)存進行啟動，通過GPIB卡連接網(wǎng)絡分析儀20，并檢查GPIB卡與網(wǎng)絡分析儀20連通性，以確保測試裝置10與網(wǎng)絡分析儀20之間連通性符合要求，使得后續(xù)測試過程可以實現(xiàn)。
[0022]進一步地，初始化配置測試待測分離器板40的測試頻點以及測試通道。具體地，該測試頻點的數(shù)量為多個，測試通道的數(shù)量也為多個，其中多個測試頻點可對應一個測試通道，即，一個測試通道可以測試多個測試頻點，待一個測試通道中的所有測試頻點測試完畢后，可切換下一個測試通道以繼續(xù)進行測試。每個該測試頻點可以具有一個唯一的編號，而每個該測試通道也有其唯一的標識，將測試的各該測試頻點的編號以及各測試通道的標識導入測試系統(tǒng)，以此來完成對該測試頻點以及該測試通道配置的初始化。
[0023]進一步地，測試裝置10檢查測試治具30與其自身的連通性，當連通性符合測試要求時，檢測測試治具30的槽位，為檢測到的槽位配置待測分離器板40。為待測試分離器板40配置測試頻點以及對應的測試通道。一次性將多片待測分離器板40放入測試治具30的多個槽位中，測試裝置10檢測測試治具30與待測分離器板40的壓合狀態(tài)，當測試治具30分別與多個待測分離器板40壓合狀態(tài)符合標準時，多個待測分離器40板在測試治具30上的在位狀態(tài)符合測試要求，則啟動該測試系統(tǒng)開始對多個待測分離器板40進行測試。
[0024]具體地，測試裝置10向網(wǎng)絡分析儀20發(fā)送測試指令，網(wǎng)絡分析儀20按照預先配置的測試頻點以及測試通道選擇當前測試頻點進行測試，具體可通過測試治具30串行總線連接譯碼器選擇當前測試通道以及當前測試頻點，選擇完畢則進行測試。在一個測試通道的一個相同測試頻點上，同時對多片待測分離器板40進行測試。即，在當前測試通道的當前測試頻點上同時對多片待測分離器板40進行測試，各待測分離器板40的當前測試頻點為相同的測試頻點。
[0025]對當前測試通道的當前測試頻點測試完畢，讀取當前測試的測試值。判斷當前測試的測試值是否符合預置標準，具體可以是通過GPIB接口讀取網(wǎng)絡分析儀20當前測試的測試值，并判斷該測試值是否符合該預置標準，若是，則向網(wǎng)絡分析儀20發(fā)送切換當前測試通道的下一個測試頻點的指令，在當前測試通道中進行下一個測試頻點的測試，待當前測試通道中完成所有測試頻點的測試后，則向網(wǎng)絡分析儀20發(fā)送切換測試通道以進行后續(xù)測試的指令。切換測試通道的指令由測試裝置10的邏輯開關(guān)控制，不需手動切換，按照預先設定好的測試頻點對多片待測分離器板40進行測試。并對多片待測分離器板40繼續(xù)進行測試，即在切換后的測試通道中的相同的測試頻點同時測試多片待測分離器板40。
[0026]另一方面，若當前測試的測試值不符合該預置標準，則標記當前測試的待測分離器板40的當前測試通道中的該測試頻點無效。即，將無效的測試通道以及當前測試頻點的信息記錄在系統(tǒng)中。
[0027]—個實例中，測試治具的槽位數(shù)量可以同時供50片待測試分離器板同時測試。測試通道標識為I?10，各測試通道中分別有5個測試頻點，該5個測試頻點的編號分別為A、B、C、D、E，各測試通道中的測試頻點若編號相同則測試頻點相同。首先，在標識為I的測試通道中編號為A的測試頻點，同時對50片待測試分離器板進行測試，待測試完成后，讀取當前的測試值，若當前的測試值符合預置標準，則切換到編號為B的測試頻點，同時對50片待測試分離器板進行測試，以此類推，測試完標識為I的測試通道中所有測試頻點后，向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換標識為2的測試通道進行測試，首先測試編號為A的測試頻點的測試，以此類推，完成所有測試通道中的所有測試頻點的測試。
[0028]本實施例中，網(wǎng)絡分析儀可在多個測試通道中的相同測試頻點上，同時對多片待測分離器板進行測試，提高測試效率以及提高網(wǎng)絡分析儀的利用率，且切換測試通道的指令由測試裝置的邏輯開關(guān)控制，不需手動切換，實現(xiàn)高度自動化，進一步提高測試效率。
[0029]請參閱圖2，本發(fā)明第一實施例提供了一種基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試方法，該方法包括:
[0030]201、檢測測試治具的槽位中放置的多片測試待測分離器板；
[0031]測試裝置10從硬盤加載測試系統(tǒng)軟件到內(nèi)存進行啟動，通過GPIB卡連接網(wǎng)絡分析儀20，并檢查GPIB卡與網(wǎng)絡分析儀20連通性。將測試的各該測試頻點的唯一編號以及各測試通道的唯一標識導入測試系統(tǒng)，以此來完成對該測試頻點以及該測試通道配置的初始化。
[0032]進一步地，測試裝置10檢查測試治具30與其自身的連通性，并檢測測試治具30的槽位數(shù)，根據(jù)檢測到的槽位數(shù)配置待測分離器板40，并配置測試頻點以及測試通道。該測試頻點的數(shù)量為多個，測試通道的數(shù)量也為多個，其中多個測試頻點可對應一個測試通道。
[0033]一次性將多片待測分離器板40放入測試治具30的多個槽位中，當檢測測試治具30分別與多個待測分離器板40壓合狀態(tài)符合標準時，啟動該測試系統(tǒng)開始對多個待測分離器板40進行測試。
[0034]202、向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得該網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對該多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試；
[0035]測試裝置10向網(wǎng)絡分析儀20發(fā)送測試指令，網(wǎng)絡分析儀20按照配置的測試頻點以及測試通道，同時對多片待測分離器板40在一個測試通道中的一個測試頻點上進行測試。即，在當前測試通道的當前測試頻點上同時對多片待測分離器板進行測試，各待測分離器板的當前測試頻點為相同的測試頻點。
[0036]203、讀取當前測試的測試值；
[0037]讀取當前測試的當前測試通道的當前頻點下的測試值。
[0038]204、待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向該網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對該多片待測分離器板進行測試。
[0039]待當前測試通道中完成所有測試頻點的測試后，進行下一次測試，即向該網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換下一個測試通道的指令，對該多片待測分離器板同時進行下一個測試通道中相同測試頻點的測試。
[0040]采用上述多點測試可提高測試效率，有效提高儀器測試的自動化水平，可針對低頻、高頻分離器各頻點進行快速、準確地測試。
[0041]本實施例中，網(wǎng)絡分析儀可在多個測試通道中的相同測試頻點上，同時對多片待測分離器板進行測試，提高測試效率以及提高網(wǎng)絡分析儀的利用率，且切換測試通道的指令由測試裝置的邏輯開關(guān)控制，不需手動切換，實現(xiàn)高度自動化，進一步提高測試效率。
[0042]請參閱圖3，本發(fā)明第二實施例提供了一種基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試方法，該方法包括:
[0043]301、檢測測試治具的槽位中放置的多片測試待測分離器板；
[0044]測試裝置10從硬盤加載測試系統(tǒng)軟件到內(nèi)存進行啟動，通過GPIB卡連接網(wǎng)絡分析儀20，并檢查GPIB卡與網(wǎng)絡分析儀20連通性。將測試的各該測試頻點的唯一編號以及各測試通道的唯一標識導入測試系統(tǒng)，以此來完成對該測試頻點以及該測試通道配置的初始化。
[0045]進一步地，測試裝置10檢查測試治具30與其自身的連通性，并檢測測試治具30的槽位數(shù)，根據(jù)槽位數(shù)放置待測分離器板40，并配置測試頻點以及測試通道。該測試頻點的數(shù)量為多個，測試通道的數(shù)量也為多個，其中多個測試頻點可對應一個測試通道，即，一個測試通道可以測試多個測試頻點，待一個測試通道中的所有測試頻點測試完畢后，可切換下一個測試通道以繼續(xù)進行測試。
[0046]—次性將多片待測分離器板40放入測試治具30的多個槽位中，當檢測測試治具30分別與多個待測分離器板40壓合狀態(tài)符合標準時，啟動該測試系統(tǒng)開始對多個待測分離器板40進行測試。
[0047]302、通過該測試治具串行總線連接譯碼器選擇測試通道以及測試頻點；
[0048]網(wǎng)絡分析儀20按照預先配置的測試頻點以及測試通道，選擇當前測試通道以及測試頻點進行測試，具體是通過測試治具30串行總線連接譯碼器選擇當前測試通道以及當前測試頻點，選擇完畢則進行測試。
[0049]303、向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得該網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對該多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試；
[0050]測試裝置10向網(wǎng)絡分析儀20發(fā)送測試指令，網(wǎng)絡分析儀20按照配置的測試頻點以及測試通道，同時對多片待測分離器板40在一個測試通道中的一個測試頻點上進行測試。即，在當前測試通道的當前測試頻點上同時對多片待測分離器板進行測試，各待測分離器板的當前測試頻點為相同的測試頻點。
[0051]304、讀取當前測試的測試值，并判斷當前測試的測試值是否符合預置標準；
[0052]具體可以是通過GPIB接口讀取網(wǎng)絡分析儀20當前測試的測試值，并判斷該測試值是否符合預置標準。
[0053]若是，則執(zhí)行步驟305 ;若否，則執(zhí)行步驟307。
[0054]305、向該網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試頻點的指令，在該當前測試的測試通道中進行下一個相同測試頻點的測試；
[0055]若當前測試的測試值符合該預置標準，則向該網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試頻點的指令，在該當前測試的測試通道中進行下一個相同測試頻點的測試。以此類推完成當前測試通道中的所有測試頻點的測試。
[0056]306、待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向該網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對多片待測分離器板進行測試;
[0057]待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向網(wǎng)絡分析儀20發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對多片待測分離器板進行測試。切換下一個測試通道的指令由測試裝置10的邏輯開關(guān)控制，不需手動切換，按照預先設定好的測試頻點對多片待測分離器板40進行測試。
[0058]307、標記當前測試通道中的當前測試頻點無效。
[0059]若當前測試的測試值不符合該預置標準，具體可以是通過GPIB接口讀取網(wǎng)絡分析儀20當前測試的測試值不符合該預置標準，則標記當前測試通道中的當前測試頻點無效，即，將無效的測試頻點的編號以及對應的測試通道的唯一標識記錄在系統(tǒng)中。
[0060]本發(fā)明實施例中，網(wǎng)絡分析儀可在多個測試通道中的相同測試頻點上，同時對多片待測分離器板進行測試，提高測試效率以及提高網(wǎng)絡分析儀的利用率，且切換測試通道的指令由測試裝置的邏輯開關(guān)控制，不需手動切換，實現(xiàn)高度自動化，進一步提高測試效率。
[0061]請參閱圖4，本發(fā)明第三實施例提供一種基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試裝置，該裝置包括:
[0062]檢測單元401，用于檢測測試治具的槽位中放置的多片待測分離器板；
[0063]控制單元402，用于向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得該網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對該多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試；
[0064]讀取單元403，用于讀取當前測試的測試值；
[0065]控制單元402，還用于待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向該網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對該多片待測分離器板進行測試。
[0066]本發(fā)明實施例中的基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試裝置的各單元執(zhí)行各自功能的過程，參見上述圖1至圖3中各實施例的描述，此處不再贅述。
[0067]本發(fā)明實施例中，網(wǎng)絡分析儀可在多個測試通道中的相同測試頻點上，同時對多片待測分離器板進行測試，提高測試效率以及提高網(wǎng)絡分析儀的利用率，且切換測試通道的指令由測試裝置的邏輯開關(guān)控制，不需手動切換，實現(xiàn)高度自動化，進一步提高測試效率。
[0068]請參閱圖5，本發(fā)明第四實施例提供一種基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試裝置，該裝置包括:
[0069]檢測單元501，用于檢測測試治具的槽位中放置的多片待測分離器板；
[0070]控制單元502，用于向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得該網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對該多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試；
[0071]讀取單元503，用于讀取當前測試的測試值；
[0072]控制單元502，還用于待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向該網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對該多片待測分離器板進行測試。
[0073]進一步地,該裝置還包括:
[0074]選擇單元504，用于通過該測試治具串行總線連接譯碼器選擇測試通道以及測試頻點。
[0075]判斷單元505，用于判斷該當前測試的測試值是否符合預置標準。
[0076]標記單元506，用于若當前測試的測試值不符合該預置標準，則標記當前測試通道中的當前測試頻點無效。
[0077]進一步地，控制單元502，還用于若該當前測試的測試值符合該預置標準，則向該網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試頻點的指令，在該當前測試的測試通道中進行下一個相同測試頻點的測試。
[0078]進一步地，讀取單元503，還用于通過GPIB接口讀取該網(wǎng)絡分析儀的該測試值。
[0079]本發(fā)明實施例中的基于網(wǎng)絡分析儀的并行分離器測試裝置的各單元執(zhí)行各自功能的過程，參見上述圖1至圖4中各實施例的描述，此處不再贅述。
[0080]本發(fā)明實施例中，網(wǎng)絡分析儀可在多個測試通道中的相同測試頻點上，同時對多片待測分離器板進行測試，提高測試效率以及提高網(wǎng)絡分析儀的利用率，且切換測試通道的指令由測試裝置的邏輯開關(guān)控制，不需手動切換，實現(xiàn)高度自動化，進一步提高測試效率。
[0081]需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者裝置不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者裝置所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者裝置中還存在另外的相同要素。
[0082]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述實施例的全部或部分步驟可以通過硬件來完成，也可以通過程序來指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲于一種計算機可讀存儲介質(zhì)中，上述提到的存儲介質(zhì)可以是只讀存儲器，磁盤或光盤等。
[0083]以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容做出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試方法，其特征在于，包括: 檢測測試治具的槽位中放置的多片測試待測分離器板； 向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得所述網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對所述多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試； 讀取當前測試的測試值； 待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向所述網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對所述多片待測分離器板進行測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令之前還包括: 通過所述測試治具串行總線連接譯碼器選擇測試通道以及測試頻點。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述讀取當前測試的測試值之后還包括: 判斷所述當前測試的測試值是否符合預置標準，若是，則向所述網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試頻點的指令，在所述當前測試的測試通道中進行下一個相同測試頻點的測試。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括: 若所述當前測試的測試值不符合所述預置標準，則標記當前測試通道中的當前測試頻點無效。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法還包括: 通過GPIB接口讀取所述網(wǎng)絡分析儀的所述測試值，并判斷所述當前測試的測試值是否符合所述預置標準。
6.一種基于網(wǎng)絡分析儀的分離器并行測試裝置，其特征在于，包括: 檢測單元，用于檢測測試治具的槽位中放置的多片待測分離器板； 控制單元，用于向網(wǎng)絡分析儀發(fā)送測試指令，使得所述網(wǎng)絡分析儀按照預先配置的測試通道以及測試頻點，同時對所述多片待測分離器板在相同測試頻點進行測試； 讀取單元，用于讀取當前測試的測試值； 所述控制單元，還用于待當前測試的測試通道中所有測試頻點測試完畢，向所述網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試通道的指令，并在切換后的測試通道中的相同測試頻點同時對所述多片待測分離器板進行測試。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 選擇單元，用于通過所述測試治具串行總線連接譯碼器選擇測試通道以及測試頻點。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 判斷單元，用于判斷所述當前測試的測試值是否符合預置標準； 所述控制單元，還用于若所述當前測試的測試值符合所述預置標準，則向所述網(wǎng)絡分析儀發(fā)送切換測試頻點的指令，在所述當前測試的測試通道中進行下一個相同測試頻點的測試。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括: 標記單元，用于若所述當前測試的測試值不符合所述預置標準，則標記當前測試通道中的當前測試頻點無效。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述讀取單元，還用于通過GPIB接口讀取所述網(wǎng)絡分析儀的所述測試值。
【文檔編號】H04L12/26GK104394040SQ201410759131
【公開日】2015年3月4日 申請日期:2014年12月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月11日
【發(fā)明者】曾曉勇, 沈賢明 申請人:深圳市彩煌通信技術(shù)有限公司