全自動光插回?fù)p測試儀的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種全自動光插回?fù)p測試儀。它包括中央處理器，中央處理器分別通過一個1310nm光發(fā)射模塊和一個1550nm光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器；波分復(fù)用器信號的輸出端連接光分路器，光分路器的輸出端連接到被測跳線的前端面上，光分路器的回?fù)p信號端連接回?fù)p測試模塊；回?fù)p測試模塊與中央處理器之間進(jìn)行信息傳輸，還包括一個能夠提供時間基準(zhǔn)的鐘芯片，鐘芯片分別與回?fù)p測試模塊和中央處理器連接為它們提供基準(zhǔn)時間。采用上述的結(jié)構(gòu)后，一方面，實現(xiàn)了同時測試光纖跳線在1310nm和1550nm兩個波長的光學(xué)性能；另外一方面，可以將不同端面的反射值區(qū)分開，就達(dá)到了免于光纖纏繞的目的，其測試方便可靠，即避免了光纖在測試時受傷，又極大地提升產(chǎn)品測試效率。
【專利說明】全自動光插回?fù)p測試儀

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實用新型涉及一種用于光纖連接器測試的設(shè)備，具體地說是一種全自動光插回 損測試儀，屬于光纖通信【技術(shù)領(lǐng)域】。

【背景技術(shù)】
[0002] 光纖通信具有信號穩(wěn)定、損耗小、傳輸距離長、容量高等多方面優(yōu)點，已在各國現(xiàn) 代通信網(wǎng)絡(luò)建設(shè)中廣泛采用備。當(dāng)前，我國的光纖通信網(wǎng)絡(luò)建設(shè)迅猛，三大運營商及廣電系 統(tǒng)都確定了"加快光進(jìn)銅退、推進(jìn)接入網(wǎng)戰(zhàn)略轉(zhuǎn)型"的思路。光纖活動連接器和光纖一樣，屬 于光纖通信網(wǎng)絡(luò)中最基本的組成部分，在光纖通信網(wǎng)絡(luò)中具有巨大的需求量。國家的相關(guān) 主管部門針對光纖活動連接器也制定了多項行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，對其性能指標(biāo)作出了具體的規(guī)定。 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，光纖活動連接器出廠前的光學(xué)性能檢驗項目為插入損耗和回波損耗。
[0003] 光纖連接器生產(chǎn)廠家出廠檢驗主要是利用插損回?fù)p測試儀來檢測光纖連接器的 性能指標(biāo)。目前市場上的插損回?fù)p測試儀在測試光纖連接器回?fù)p的時候，需要對光纖進(jìn)行 纏繞，以消除光纖連接器后端端面的光反射影響，由此測試過程中容易對光纖造成損傷，而 且測試時每次只能測試一個波長的數(shù)據(jù)，測試效率也比較低下。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種既能避免對光纖造成損傷又能實現(xiàn)兩 個工作波長的同時測試的全自動光插回?fù)p測試儀。
[0005] 為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型的全自動光插回?fù)p測試儀，包括中央處理器， 中央處理器分別通過一個1310nm光發(fā)射模塊和一個1550nm光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器； 波分復(fù)用器信號的輸出端連接光分路器，光分路器的輸出端連接到被測跳線的前端面上， 光分路器的回?fù)p信號端連接回?fù)p測試模塊；回?fù)p測試模塊與中央處理器之間進(jìn)行信息傳 輸，還包括一個能夠提供時間基準(zhǔn)的鐘芯片，鐘芯片分別與回?fù)p測試模塊和中央處理器連 接為它們提供基準(zhǔn)時間。
[0006] 所述被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接；
[0007] 所述光分路器通過接頭和測試線連接被測跳線的前端面。
[0008] -種上述全自動光插回?fù)p測試儀的測試方法，包括以下步驟：
[0009] A、中央處理器控制1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊輪流發(fā)射脈沖信號， 同時時鐘芯片記錄時間進(jìn)行同步；
[0010] B、回?fù)p測試模塊與1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊波長聯(lián)動，記錄返回 的菲涅爾反射；
[0011] C、回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，將不同端面的反射值區(qū)分開。
[0012] 一種上述全自動光插回?fù)p測試儀的測試方法，包括以下步驟：
[0013] A、中央處理器控制1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊輪流發(fā)射脈沖信號， 同時時鐘芯片記錄時間進(jìn)行同步；
[0014] B、回?fù)p測試模塊、插損測試模塊與1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊波長 聯(lián)動，記錄返回的菲涅爾反射；
[0015] C、回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，將不同端面的反射值區(qū)分開。
[0016] 采用上述的結(jié)構(gòu)后，1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊的發(fā)射信號能夠通 過波分復(fù)用器傳輸?shù)焦夥致菲?，?jīng)過接頭和測試線到被測跳線的前端面，CPU連接回?fù)p測 試模塊，回?fù)p測試模塊還經(jīng)過時鐘芯片到CPU，一方面，可通過與CPU聯(lián)動的方式，輪流發(fā)射 1310nm、1550nm脈沖信號，同時進(jìn)行1310nm和1550nm波長的測試，實現(xiàn)了同時測試光纖跳 線在1310nm和1550nm兩個波長的光學(xué)性能；另外一方面，可以通過時鐘芯片提供時間基 準(zhǔn)，回?fù)p測試模塊記錄返回的菲涅爾反射，回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，可以將不 同端面的反射值區(qū)分開，就達(dá)到了免于光纖纏繞的目的，其測試方便可靠，即避免了光纖在 測試時受傷，又極大地提升產(chǎn)品測試效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017] 圖1為本實用新型全自動光插回?fù)p測試儀的原理框圖。

【具體實施方式】
[0018] 下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】，對本實用新型的全自動光插回?fù)p測試儀作進(jìn)一步 詳細(xì)說明。
[0019] 如圖所示，本實用新型的全自動光插回?fù)p測試儀，包括中央處理器（CPU)，中央處 理器分別通過一個1310nm光發(fā)射模塊和一個1550nm光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器(WDM);波 分復(fù)用器信號的輸出端連接分路器(高回?fù)p光分路器)，高回?fù)p光分路器的輸出端通過FC/ APC接頭和測試線連接到被測跳線的前端面上，高回?fù)p光分路器的回?fù)p信號端連接回?fù)p測 試模塊；回?fù)p測試模塊與中央處理器之間進(jìn)行信息傳輸，還包括一個能夠提供時間基準(zhǔn)的 鐘芯片，鐘芯片分別與回?fù)p測試模塊和中央處理器連接為它們提供基準(zhǔn)時間。
[0020] 進(jìn)一步的還可以在被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處 理器連接。
[0021] 上述全自動光插回?fù)p測試儀的測試方法，包括以下步驟：
[0022] A、中央處理器控制1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊(兩個波長激光器)輪 流發(fā)射脈沖信號，同時時鐘芯片記錄時間進(jìn)行同步；
[0023] B、回?fù)p測試模塊、插損測試模塊與1310nm光發(fā)射模塊和1550nm光發(fā)射模塊波長 聯(lián)動，記錄返回的菲涅爾反射；
[0024] C、回?fù)p測試模塊通過與時鐘芯片的同步，將不同端面的反射值區(qū)分開。
[0025] 通過上述工作過程可以看出，
[0026] 由于被測光鏈路上不同端面的反射光反射回來存在時間差，回?fù)p測試模塊通過與 時鐘芯片的同步，可以將不同端面的反射值區(qū)分開，就達(dá)到了免于光纖纏繞的目的，再由于 光發(fā)射模塊與插損測試模塊、回?fù)p測試模塊實行的波長聯(lián)動，可以實現(xiàn)兩個工作波長的同 時測試；與現(xiàn)有的測試方法相比，本實用新型采用光時域反射原理，直接測量光纖連接器端 面的菲涅爾反射，可以將不同光纖連接器端面的菲涅爾反射區(qū)分開，避免了將光纖進(jìn)行纏 繞，另外采用了光發(fā)射模塊、光接收模塊與CPU進(jìn)行波長聯(lián)動的方式，一次性可將連接器在 兩個工作波長處的插損回?fù)p同時測試，實現(xiàn)了同時測試光纖跳線兩個工作波長處的插損和 回?fù)p值，免于光纖纏繞，以避免光纖在測試時受傷，還可以極大地提升產(chǎn)品測試效率，真正 實現(xiàn)了光纖連接器的全自動測試。
【權(quán)利要求】
1. 一種全自動光插回?fù)p測試儀，其特征在于：包括中央處理器，中央處理器分別通過 一個1310nm光發(fā)射模塊和一個1550nm光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器；所述波分復(fù)用器信號 的輸出端連接光分路器，光分路器的輸出端連接到被測跳線的前端面上，所述光分路器的 回?fù)p信號端連接回?fù)p測試模塊；回?fù)p測試模塊與中央處理器之間進(jìn)行信息傳輸，還包括一 個能夠提供時間基準(zhǔn)的鐘芯片，鐘芯片分別與回?fù)p測試模塊和中央處理器連接為它們提供 基準(zhǔn)時間。
2. 按照權(quán)利要求1所述的全自動光插回?fù)p測試儀，其特征在于：所述被測跳線的后端 面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接。
3. 按照權(quán)利要求1所述的全自動光插回?fù)p測試儀，其特征在于：所述光分路器通過接 頭和測試線連接被測跳線的前端面。
【文檔編號】H04B10/071GK203883836SQ201420158918
【公開日】2014年10月15日 申請日期:2014年4月3日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月3日
【發(fā)明者】周永軍 申請人:鎮(zhèn)江奧菲特光電科技有限公司