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      CMOS圖像傳感器的模擬裝置的制作方法

      文檔序號(hào):11518087閱讀:406來源:國(guó)知局
      CMOS圖像傳感器的模擬裝置的制造方法

      本發(fā)明涉及一種cmos圖像傳感器的模擬裝置,具體涉及一種針對(duì)航天應(yīng)用的高速串行圖像數(shù)據(jù)輸出的cmos圖像傳感器的模擬裝置。



      背景技術(shù):

      與ccd圖像傳感器相比,cmos圖像傳感器不需要復(fù)雜的驅(qū)動(dòng)電路,體積小,功耗低,且能在更高的頻率下工作;隨著其技術(shù)的進(jìn)步,其性能穩(wěn)步提升,已經(jīng)開始在航天領(lǐng)域應(yīng)用。

      cmos圖像傳感器可通過多通道輸出和提高轉(zhuǎn)移時(shí)鐘實(shí)現(xiàn)高速攝像,但通常的工作方式是輸入頻率較低的時(shí)鐘,在芯片內(nèi)部采用鎖相環(huán)倍頻獲得的高頻時(shí)鐘作為內(nèi)部的工作時(shí)鐘,同時(shí)將高頻時(shí)鐘二分頻后作為輸出圖像數(shù)據(jù)的ddr伴隨時(shí)鐘。由于各通道的輸出的圖像數(shù)據(jù)間存在延時(shí),且輸出圖像數(shù)據(jù)和伴隨時(shí)鐘在每次上電的相位不一致,相對(duì)相位還隨工作電壓和溫度的變化而變化,為采集到穩(wěn)定可靠的圖像,需要進(jìn)行位校驗(yàn)和字校驗(yàn)。對(duì)于低端的fpga器件,內(nèi)部未集成iodelay和bitslip模塊,需要利用如dcm等資源來實(shí)現(xiàn)相對(duì)相位的調(diào)整。在調(diào)試過程中出現(xiàn)某數(shù)據(jù)通道的圖像異常時(shí),難進(jìn)行硬件和軟件問題的剝離,問題定位困難。另外,當(dāng)cmos圖像傳感器的工作電壓超過額定值或者上電時(shí)序異常,都存在燒毀的風(fēng)險(xiǎn);cmos圖像傳感器管腳數(shù)多,直插封裝的器件拆卸困難,拆卸燒毀的cmos圖像傳感器還會(huì)影響線路板航天應(yīng)用的可靠性。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明為解決現(xiàn)有cmos圖像傳感器航天應(yīng)用中調(diào)試及排查問題困難的問題,提供一種cmos圖像傳感器的模擬裝置。

      cmos圖像傳感器的模擬裝置,包括fpga、溫度傳感器、光電二極管、多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器、負(fù)載模擬電路、接口電路和電源系統(tǒng);

      所述接口電路作為模擬裝置與cmos成像電路板的接口,在所述接口電路上焊接與cmos圖像傳感器相同管腳數(shù)的測(cè)試探針,通過測(cè)試探針實(shí)現(xiàn)模擬裝置與cmos成像電路板的連接;

      所述光電二極管接收外部輸入的光能,并將外部光能轉(zhuǎn)換為模擬電壓信號(hào)傳送于多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器;所述多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器將模擬電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)后傳送到fpga,所述fpga通過接口電路將數(shù)字信號(hào)傳送至外部;

      所述多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器接收接口電路傳送的送入的供電電壓和驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào),并對(duì)供電電壓和cmos驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào)的上電順序進(jìn)行檢測(cè);

      所述負(fù)載模擬電路針對(duì)cmos圖像傳感器的供電電源,采用電阻和電容及mosfet進(jìn)行cmos圖像傳感器供電狀態(tài)的模擬,檢驗(yàn)cmos成像電路板的供電性能;

      所述溫度傳感器采集的溫度信息送入fpga,fpga根據(jù)當(dāng)前的溫度模擬cmos圖像傳感器的數(shù)據(jù)偏移,根據(jù)溫度的變化值修改伴隨時(shí)鐘和數(shù)據(jù)的相對(duì)相位;

      所述電源系統(tǒng)為fpga、溫度傳感器、光電二極管、多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器、負(fù)載模擬電路和接口電路供電。

      本發(fā)明的有益效果:

      一、本發(fā)明所述的cmos圖像傳感器的模擬裝置可完全替代cmos圖像傳感器進(jìn)行工作。模擬裝置內(nèi)部模塊檢測(cè)到外部輸入的工作電壓和工作時(shí)序正常后,輸出模擬的cmos圖像信號(hào);在train階段輸出校驗(yàn)數(shù)據(jù);在排查問題過程中,可把輸出數(shù)據(jù)的伴隨時(shí)鐘從ddr方式切換為sdr方式,且保證輸出圖像數(shù)據(jù)和伴隨時(shí)鐘的相位固定以方便調(diào)試,進(jìn)行異常圖像的快速定位,剝離硬件和軟件的問題。

      二、本發(fā)明所述的多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器同時(shí)接收接口電路送入的供電電源和驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào),對(duì)供電電源的供電電壓及供電電源和cmos驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào)的上電順序進(jìn)行檢測(cè),提前發(fā)現(xiàn)上電時(shí)序錯(cuò)誤,避免燒毀cmos圖像傳感器。

      三、本發(fā)明所述的模擬裝置有利于在實(shí)驗(yàn)過程中進(jìn)行軟件和硬件問題的剝離,快速進(jìn)行線路板的檢測(cè),加快問題排查速度;

      四、在探測(cè)器焊接前可進(jìn)行線路板的相關(guān)篩選實(shí)驗(yàn);提高成功率;降低了線路板上拆卸插座的風(fēng)險(xiǎn),提高航天應(yīng)用的可靠性;

      五、在無cmos圖像傳感器的情況下可進(jìn)行相關(guān)的調(diào)試及實(shí)驗(yàn),加快工程進(jìn)度。

      附圖說明

      圖1為本發(fā)明所述的cmos圖像傳感器的模擬裝置的原理框圖;

      圖2為本發(fā)明所述的cmos圖像傳感器的模擬裝置的供電及上電順序檢測(cè)流程圖;

      圖3為本發(fā)明所述的cmos圖像傳感器供電狀態(tài)模擬的結(jié)構(gòu)圖。

      具體實(shí)施方式

      具體實(shí)施方式一、結(jié)合圖1和圖3說明本實(shí)施方式,cmos圖像傳感器的模擬裝置,包括fpga、溫度傳感器、光電二極管、多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器、負(fù)載模擬電路、接口電路和電源系統(tǒng);

      所述接口電路作為模擬裝置與cmos成像電路板的接口,在所述接口電路上焊接與cmos圖像傳感器相同管腳數(shù)的測(cè)試探針,通過測(cè)試探針實(shí)現(xiàn)模擬裝置與cmos成像電路板的連接;

      所述光電二極管接收外部輸入的光能,并將外部光能轉(zhuǎn)換為模擬電壓信號(hào)傳送于多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器;所述多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器將模擬電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)后傳送到fpga,所述fpga通過接口電路將數(shù)字信號(hào)傳送至cmos圖像傳感器;

      所述多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器接收接口電路傳送的送入的供電電壓和驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào),并對(duì)供電電壓和cmos驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào)的上電順序進(jìn)行檢測(cè);

      所述負(fù)載模擬電路針對(duì)cmos圖像傳感器的供電電源,采用電阻和電容及mosfet進(jìn)行cmos圖像傳感器供電狀態(tài)的模擬,檢驗(yàn)cmos成像電路板的供電性能;

      所述溫度傳感器采集的溫度信息送入fpga,fpga根據(jù)當(dāng)前的溫度模擬cmos圖像傳感器的數(shù)據(jù)偏移,根據(jù)溫度的變化值修改伴隨時(shí)鐘和數(shù)據(jù)的相對(duì)相位;

      所述電源系統(tǒng)為fpga、溫度傳感器、光電二極管、多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器、負(fù)載模擬電路和接口電路供電。

      本實(shí)施方式中,多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器同時(shí)接收接口電路送入的供電電壓和驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào),對(duì)供電電源的供電電壓及供電電源和cmos驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào)的上電順序進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)供電電源電壓的偏差值不超過5%,且各供電電源的上電順序不滯后驅(qū)動(dòng)時(shí)序信號(hào),認(rèn)為供電與上電順序正常,否則給出錯(cuò)誤狀態(tài)指示信號(hào),不進(jìn)行模擬圖像數(shù)據(jù)輸出的等相關(guān)操作。

      本實(shí)施方式所述的模擬裝置通過spi通信,可在三種工作模式下工作:

      (1)train模式,輸出固定的圖像灰度值;

      (2)自校模式,輸出灰度漸變的自校圖像,滿足遞增或遞減等規(guī)律;

      (3)正常成像模式,輸出隨外部光照線性變化的圖像,并可通過spi通信修改輸出圖像的偏置和增益值。

      輸出圖像的灰度值=偏置+增益×外部光照對(duì)應(yīng)灰度值。外部光照對(duì)應(yīng)灰度值通過光電二極管輸出的模擬值經(jīng)多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行轉(zhuǎn)換后獲得。

      本實(shí)施方式所述的接口電路焊接上與cmos圖像傳感器相同管腳數(shù)的測(cè)試探針,通過按壓測(cè)試探針實(shí)現(xiàn)模擬裝置與cmos成像電路板的連接,方便拆卸,且不影響后續(xù)圖像傳感器在cmos成像電路板的焊接。

      本實(shí)施方式所述的負(fù)載模擬電路針對(duì)cmos圖像傳感器的供電電源,采用電阻和電容及mosfet進(jìn)行cmos圖像傳感器供電狀態(tài)的模擬,

      電阻值r2=供電電壓÷靜態(tài)的電流;

      電阻值r1=(供電電壓÷穩(wěn)態(tài)的工作電流)-r2;電容值c1為cmos圖像傳感器的電源管腳的等效電容值;mosfet的開通周期及開通時(shí)間與cmos圖像傳感器的工作狀態(tài)相同。所述的靜態(tài)的電流為在cmos圖像傳感器剛加電未進(jìn)行spi配置的工作電流;穩(wěn)態(tài)的工作電流為在cmos圖像傳感器加電進(jìn)行spi配置后,開始進(jìn)行攝像工作的平均電流。

      本實(shí)施方式所述的模擬裝置輸出的圖像數(shù)據(jù)可與cmos圖像傳感器相同的格式,伴隨時(shí)鐘為ddr方式;也可為排查硬件問題,將伴隨時(shí)鐘修改為sdr方式;還可輸出伴隨時(shí)鐘和輸出數(shù)據(jù)的相位固定數(shù)據(jù)格式。

      本實(shí)施方式通過溫度傳感器對(duì)工作溫度的采集和通過接口電路對(duì)工作電壓的采集,按照溫度升高或工作電壓降低都會(huì)導(dǎo)致延遲增大,溫度降低或工作電壓提高都會(huì)導(dǎo)致延遲減小模擬cmos圖像傳感器的數(shù)據(jù)偏移,按照溫度和電壓的變化值修改伴隨時(shí)鐘和數(shù)據(jù)的相對(duì)相位。

      相對(duì)相位的改變量=k×溫度改變值+p×電壓改變值,k為溫度影響系數(shù),p為電壓影響系數(shù)。

      結(jié)合圖3說明本實(shí)施方式,負(fù)載模擬電路中,當(dāng)控制信號(hào)control使mosfetq1處于關(guān)斷時(shí),則僅有電阻r2接入供電電源vcc,形成靜態(tài)工作電流;當(dāng)控制信號(hào)control使mosfetq1處于導(dǎo)通時(shí),則電阻r1和r2及電容c1同時(shí)接入供電電源vcc,形成動(dòng)態(tài)工作電流。

      本實(shí)施方式所述的fpga采用xilinx公司的器件xc6vlx240t-2ffg1156c;模擬的cmos圖像傳感器為長(zhǎng)光辰芯公司的多譜段cmos圖像傳感器gl1216;所述電源系統(tǒng)采用ldo電源芯片;所述負(fù)載模擬電路采用線繞電阻、瓷片電容和mosfet,所述的多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器采用ad7718;所述的光電二極管采用市場(chǎng)上普通的光電二極管;所述的溫度傳感器采用ds18b20。

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