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      兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法、裝置以及電子設(shè)備與流程

      文檔序號(hào):40282830發(fā)布日期:2024-12-11 13:24閱讀:16來(lái)源:國(guó)知局
      兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法、裝置以及電子設(shè)備與流程

      本申請(qǐng)涉及互聯(lián)網(wǎng)與通信領(lǐng)域,尤其涉及一種兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法、裝置以及電子設(shè)備。


      背景技術(shù):

      1、現(xiàn)有技術(shù)的檢測(cè)裝置通常只能夠?qū)崿F(xiàn)單一平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè),檢查能力十分有限。對(duì)于多平面系統(tǒng),每個(gè)平面都負(fù)責(zé)不同的部分,但它們需要協(xié)調(diào)工作,平面和平面之間的狀態(tài)信息需要保持一致,包括時(shí)鐘同步,那么,現(xiàn)有技術(shù)中的檢測(cè)裝置就無(wú)法對(duì)多個(gè)平面同時(shí)進(jìn)行步長(zhǎng)精度的檢測(cè)。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法、裝置以及電子設(shè)備,以解決只能對(duì)單一平面的固定步長(zhǎng)精度進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)問(wèn)題。

      2、第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法,包括:獲取本測(cè)試平面的計(jì)數(shù)寄存器的第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值、另一測(cè)試平面的計(jì)數(shù)寄存器的第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值、預(yù)設(shè)步長(zhǎng)值以及當(dāng)前時(shí)間值;根據(jù)上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值和上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的同步狀態(tài);在確定上述同步狀態(tài)為同步的情況下,對(duì)上述當(dāng)前時(shí)間值與上述預(yù)設(shè)步長(zhǎng)值進(jìn)行除運(yùn)算,得到預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值;根據(jù)上述預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值、上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值以及上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,計(jì)算得到上述本測(cè)試平面的第一步長(zhǎng)精度和上述另一測(cè)試平面的第二步長(zhǎng)精度;在上述第一步長(zhǎng)精度和上述第二步長(zhǎng)精度分別小于目標(biāo)精度閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面不存在偏差。

      3、第二方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)裝置,包括:獲取模塊,用于獲取本測(cè)試平面的計(jì)數(shù)寄存器的第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值、另一測(cè)試平面的計(jì)數(shù)寄存器的第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值、預(yù)設(shè)步長(zhǎng)值以及當(dāng)前時(shí)間值;第一確定模塊,用于根據(jù)上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值和上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的同步狀態(tài);第一計(jì)算模塊,用于在確定上述同步狀態(tài)為同步的情況下,對(duì)上述當(dāng)前時(shí)間值與上述預(yù)設(shè)步長(zhǎng)值進(jìn)行除運(yùn)算,得到預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值;第二計(jì)算模塊,用于根據(jù)上述預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值、上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值以及上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,計(jì)算得到上述本測(cè)試平面的第一步長(zhǎng)精度和上述另一測(cè)試平面的第二步長(zhǎng)精度;第二確定模塊,用于在上述第一步長(zhǎng)精度和上述第二步長(zhǎng)精度小于目標(biāo)精度閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面不存在偏差。

      4、作為一種可選的示例,上述第一確定模塊包括:第一計(jì)算單元,用于對(duì)上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值與上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值進(jìn)行差運(yùn)算,得到上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的偏差計(jì)數(shù)值;第一確地單元,用于在上述偏差計(jì)數(shù)值小于上述目標(biāo)精度閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的同步狀態(tài)為同步;第二確地單元,用于在上述偏差計(jì)數(shù)值大于或等于上述目標(biāo)精度閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的同步狀態(tài)為未同步。

      5、作為一種可選的示例,上述第二計(jì)算模塊包括:第二計(jì)算單元,用于對(duì)上述預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值與上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值進(jìn)行差運(yùn)算,得到上述第一步長(zhǎng)精度;第三計(jì)算單元,用于對(duì)上述預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值與上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值進(jìn)行差運(yùn)算,得到上述第二步長(zhǎng)精度。

      6、作為一種可選的示例,上述裝置還包括:第三確定模塊,用于在根據(jù)上述預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值、上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值以及上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,計(jì)算得到上述本測(cè)試平面的第一步長(zhǎng)精度和上述另一測(cè)試平面的第二步長(zhǎng)精度之后,每間隔第一預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)確定一次上述第一步長(zhǎng)精度和上述第二步長(zhǎng)精度,并根據(jù)上述第一步長(zhǎng)精度和上述第二步長(zhǎng)精度得到第一數(shù)量的上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的偏差結(jié)果,其中,上述偏差結(jié)果包括存在偏差和不存在偏差;統(tǒng)計(jì)模塊,用于統(tǒng)計(jì)上述第一數(shù)量的偏差結(jié)果中偏差結(jié)果為存在偏差的第二數(shù)量;第三計(jì)算模塊,用于對(duì)上述第二數(shù)量與上述第一數(shù)量進(jìn)行除運(yùn)算,得到偏差比;第三確定模塊,用于在上述偏差比小于偏差比閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的偏差結(jié)果為不存在偏差;第四確定模塊,用于在上述偏差比大于或等于上述偏差比閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的偏差結(jié)果為存在偏差。

      7、作為一種可選的示例,上述裝置還包括:配置模塊,用于在上述偏差比小于偏差比閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的偏差結(jié)果為不存在偏差之后,為中斷寄存器配置中斷閾值和中斷計(jì)數(shù)值,以使上述中斷寄存器在上述中斷計(jì)數(shù)值的基礎(chǔ)上開(kāi)始計(jì)數(shù);第五確定模塊,用于在上述中斷寄存器的當(dāng)前計(jì)數(shù)值等于上述中斷閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面中斷是否置起;第一輸出模塊,用于在上述本測(cè)試平面或上述另一測(cè)試平面中斷未置起的情況下,在第二預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)后,輸出中斷錯(cuò)誤信息。

      8、作為一種可選的示例,上述裝置還包括:第六確定模塊,用于在確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面中斷是否置起之后,在上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面中斷均置起的情況下,再次確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的偏差結(jié)果。

      9、作為一種可選的示例,上述裝置還包括:第二輸出模塊,用于在確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的同步狀態(tài)為未同步的情況下,輸出同步錯(cuò)誤信息;第三輸出模塊,用于在確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的偏差結(jié)果為存在偏差的情況下,輸出偏差錯(cuò)誤信息。

      10、第三方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N存儲(chǔ)介質(zhì),該存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其中,該計(jì)算機(jī)程序被處理器運(yùn)行時(shí)執(zhí)行上述兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法。

      11、第四方面,本申請(qǐng)還提供了一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器和處理器,上述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,上述處理器被設(shè)置為通過(guò)上述計(jì)算機(jī)程序執(zhí)行上述的兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法。

      12、在本申請(qǐng)實(shí)施例中,采用了獲取本測(cè)試平面的計(jì)數(shù)寄存器的第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值、另一測(cè)試平面的計(jì)數(shù)寄存器的第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值、預(yù)設(shè)步長(zhǎng)值以及當(dāng)前時(shí)間值;根據(jù)上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值和上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面的同步狀態(tài);在確定上述同步狀態(tài)為同步的情況下,對(duì)上述當(dāng)前時(shí)間值與上述預(yù)設(shè)步長(zhǎng)值進(jìn)行除運(yùn)算,得到預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值;根據(jù)上述預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值、上述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值以及上述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,計(jì)算得到上述本測(cè)試平面的第一步長(zhǎng)精度和上述另一測(cè)試平面的第二步長(zhǎng)精度;在上述第一步長(zhǎng)精度和上述第二步長(zhǎng)精度分別小于目標(biāo)精度閾值的情況下,確定上述本測(cè)試平面和上述另一測(cè)試平面不存在偏差的方法,由于在上述方法中,根據(jù)兩平面的實(shí)際計(jì)數(shù)值確定同步狀態(tài),若兩平面的同步狀態(tài)為同步,則分別根據(jù)預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值和兩平面的實(shí)際計(jì)數(shù)值確定每一個(gè)平面的步長(zhǎng)精度,最后根據(jù)目標(biāo)精度閾值與步長(zhǎng)精度的大小,確定平面是否存在偏差。從而實(shí)現(xiàn)了有效檢測(cè)兩個(gè)測(cè)試平面是否保持同步的同時(shí)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的步長(zhǎng)精度監(jiān)測(cè),減少人為干預(yù),提高測(cè)試效率,提高系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性的目的,進(jìn)而解決了只能對(duì)單一平面的固定步長(zhǎng)精度進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)問(wèn)題。



      技術(shù)特征:

      1.一種兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法,其特征在于,包括:

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值和所述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,確定所述本測(cè)試平面和所述另一測(cè)試平面的同步狀態(tài)包括:

      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值、所述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值以及所述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,計(jì)算得到所述本測(cè)試平面的第一步長(zhǎng)精度和所述另一測(cè)試平面的第二步長(zhǎng)精度包括:

      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在根據(jù)所述預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值、所述第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值以及所述第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,計(jì)算得到所述本測(cè)試平面的第一步長(zhǎng)精度和所述另一測(cè)試平面的第二步長(zhǎng)精度之后,所述方法還包括:

      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,在所述偏差比小于偏差比閾值的情況下,確定所述本測(cè)試平面和所述另一測(cè)試平面的偏差結(jié)果為不存在偏差之后,所述方法還包括:

      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,在確定所述本測(cè)試平面和所述另一測(cè)試平面中斷是否置起之后,所述方法還包括:

      7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

      8.一種兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:

      9.一種計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器運(yùn)行時(shí)執(zhí)行所述權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)中所述的方法。

      10.一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器和處理器,其特征在于,所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述處理器被設(shè)置為通過(guò)所述計(jì)算機(jī)程序執(zhí)行所述權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)中所述的方法。


      技術(shù)總結(jié)
      本申請(qǐng)涉及一種兩平面步長(zhǎng)精度的檢測(cè)方法、裝置以及電子設(shè)備。該方法包括:獲取本測(cè)試平面的計(jì)數(shù)寄存器的第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值、另一測(cè)試平面的計(jì)數(shù)寄存器的第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值、預(yù)設(shè)步長(zhǎng)值以及當(dāng)前時(shí)間值;根據(jù)第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值和第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,確定本測(cè)試平面和另一測(cè)試平面的同步狀態(tài);對(duì)當(dāng)前時(shí)間值與預(yù)設(shè)步長(zhǎng)值進(jìn)行除運(yùn)算,得到預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值;根據(jù)預(yù)期步長(zhǎng)計(jì)數(shù)值、第一當(dāng)前計(jì)數(shù)值以及第二當(dāng)前計(jì)數(shù)值,計(jì)算得到本測(cè)試平面的第一步長(zhǎng)精度和另一測(cè)試平面的第二步長(zhǎng)精度;在第一步長(zhǎng)精度和第二步長(zhǎng)精度分別小于目標(biāo)精度閾值的情況下,確定本測(cè)試平面和另一測(cè)試平面不存在偏差。本申請(qǐng)解決了只能對(duì)單一平面的固定步長(zhǎng)精度進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)問(wèn)題。

      技術(shù)研發(fā)人員:馬鑫,劉金強(qiáng)
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:北京物芯科技有限責(zé)任公司
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/12/10
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