專利名稱：數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)，特別是，但不是唯獨(dú)地涉及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)接模塊(DSM)網(wǎng)絡(luò)中的數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)接模塊(DSM)是電信轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)制造中應(yīng)用頗為廣泛的一種開(kāi)關(guān)元件。各個(gè)DSM在網(wǎng)絡(luò)平面內(nèi)互連起來(lái)，從而使轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)兩端形成許多連接通路或轉(zhuǎn)接通路，以便將一個(gè)輸入端口連接到一個(gè)輸出端口。應(yīng)該理解的是，數(shù)據(jù)通過(guò)一些DSM按指定的轉(zhuǎn)接通路在諸輸入端口與諸輸出端口之間轉(zhuǎn)接時(shí)，要求確保其準(zhǔn)確性和完整性。
要檢驗(yàn)出轉(zhuǎn)接后的數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確和完整，簡(jiǎn)單的方法是設(shè)置兩個(gè)或三個(gè)與原DSM網(wǎng)絡(luò)平面一模一樣的DSM網(wǎng)絡(luò)平面。各DSM平面與各公共輸入端口等效而平行。經(jīng)轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)中的差錯(cuò)是通過(guò)往各平行的DSM平面發(fā)送公用數(shù)據(jù)信息，再在相應(yīng)的各輸出端口將所收到的數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較確定的。如果所收到的各數(shù)據(jù)信息之間有差異，就表明有差錯(cuò)存在。但要指定其中一個(gè)平面是正確的，然后使用者就倍加注意該平面。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)接裝置或轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)中的錯(cuò)誤確定之后，應(yīng)該而且從經(jīng)濟(jì)角度方面看也是需要更準(zhǔn)確地確定促使差錯(cuò)產(chǎn)生的DSM或DSM內(nèi)連線路的位置。數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)的作用就是更準(zhǔn)確地確定數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的位置。
我們可以參看圖1至圖4來(lái)說(shuō)明一般的數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)。一個(gè)數(shù)據(jù)通路可以通過(guò)注入一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)信息或一系列預(yù)定時(shí)間的測(cè)試數(shù)據(jù)信息進(jìn)行檢驗(yàn)。測(cè)試信息的進(jìn)展情況可以通過(guò)轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)數(shù)據(jù)通路的各DSM元件進(jìn)行檢驗(yàn)。
圖1是一個(gè)轉(zhuǎn)換裝置簡(jiǎn)單雙工通路的象征性示意圖。該雙工通路是從線路終端A在一個(gè)方向上經(jīng)由A、B、CDSM在另一方向上經(jīng)由F、E、DDSM至線路終端B的。各線路終端ARX、ATX、BTX和BRX(其中TX＝發(fā)送，RX＝接收)在DSMA、B、C和F、E、D之間形成一個(gè)回路。測(cè)試數(shù)據(jù)信息通常是通過(guò)DSMA、B、C和F、E、D中的一個(gè)DSM直接注入雙工通路中的。在DSMA、B、C和F、E、D有效形成回路的情況下，自任一個(gè)DSM輸入的測(cè)試信息可以在環(huán)路中該DSM以后的各DSM加以檢驗(yàn)，也就是說(shuō)，若測(cè)試信息是在DSM B注入的，它就可以順次在DSMB、C、F、E、D和A加以檢驗(yàn)，從而檢驗(yàn)所有的DSMA、B、C、F、E、D各環(huán)路，但對(duì)DSMA的輸出端口、DSM A至DSM B之間的接線和DSM B(除了其輸出端口)例外。在DSM E注入測(cè)試信息的情況下進(jìn)一步進(jìn)行數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)可以檢驗(yàn)出上述未檢驗(yàn)過(guò)的元件。通過(guò)這種簡(jiǎn)單的測(cè)試就可以定出產(chǎn)生差錯(cuò)的元件所在的位置，使該位置縮小到幾乎一個(gè)DSM和從上一個(gè)DSM輸入的接線范圍。
圖2至4例示了上述測(cè)試以及另一些為提高對(duì)出錯(cuò)的DSM位置判定能力所進(jìn)行的測(cè)試過(guò)程。圖2例示了上述測(cè)試過(guò)程。測(cè)試的目的是要驗(yàn)明環(huán)路中一個(gè)由DSMB及其來(lái)自DSMA的輸入接線組成的嫌疑區(qū)。圖3例示了第二次測(cè)試情況，其中通過(guò)在DSMB注入測(cè)試信息并在其后的DSMC檢驗(yàn)該信息來(lái)檢驗(yàn)受嫌疑的DSMB及其輸出。若這個(gè)第二次測(cè)試不合格，則幾乎可以肯定DSMB有問(wèn)題。若該第二次測(cè)試合格，則就要進(jìn)行圖4所示的第三次測(cè)試。在第三次測(cè)試中是對(duì)一系列往DSMB的不同輸入線進(jìn)行檢驗(yàn)。若有一個(gè)以上的輸入接線不合格，則問(wèn)題出在DSMA與DSMB之間的接線，或者是DSMA和B都出問(wèn)題。但這時(shí)只是大致上判定了故障區(qū)，于是就可以派遣維修的工程技術(shù)人員到轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)的該DSM區(qū)。
實(shí)際上，一系列測(cè)試信息是按預(yù)定的定時(shí)順序注入的，其目的在于確定是否存在定時(shí)上的差錯(cuò)和數(shù)據(jù)位堵塞情況。
這種公知的DSM通路檢驗(yàn)系統(tǒng)當(dāng)DSM開(kāi)關(guān)平面直接連接在一起時(shí)是大大受到了限制的。在各DSM平面直接連接的情況下，各平面之間就沒(méi)有線路終端供在數(shù)據(jù)通路之間進(jìn)行回送之用，因而測(cè)試信息通過(guò)這種環(huán)路時(shí)不能加以檢驗(yàn)。但這類DSM平面的外圍是設(shè)有一些線路終端的。應(yīng)該理解的是，問(wèn)題的根源在于，各DSM平面是彼此獨(dú)立的，因此毗鄰的各DSM平面彼此沒(méi)有機(jī)會(huì)從對(duì)方獲得或接收有關(guān)測(cè)試信息狀態(tài)的信息。為傳送這種信息而敷設(shè)內(nèi)部通信線路是要付出很大的代價(jià)的。
本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)，該系統(tǒng)的一種轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)是由若干直接連接著的DSM或轉(zhuǎn)接平面構(gòu)成，檢驗(yàn)這種轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)即可找出數(shù)據(jù)傳送出錯(cuò)的原因。
根據(jù)本發(fā)明，我們提供了一種數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)，用以在由其它方法測(cè)定出在多個(gè)開(kāi)關(guān)元件上數(shù)據(jù)傳送方面的差錯(cuò)時(shí)找出開(kāi)關(guān)元件中的故障所在。該系統(tǒng)包括所述通過(guò)內(nèi)連直接耦合在一起且由各控制元件分別控制的開(kāi)關(guān)元件，所述控制元件連接起來(lái)，用以確定哪一些內(nèi)連線路在工作，由此確定了由若干開(kāi)關(guān)元件和內(nèi)連線路組成的數(shù)據(jù)通路的范圍，從而在工作中當(dāng)測(cè)定出數(shù)據(jù)傳送中的差錯(cuò)時(shí)，能夠?qū)⒃摬铄e(cuò)與范圍已確定了的數(shù)據(jù)通路聯(lián)系起來(lái)，且可獨(dú)立地檢測(cè)該數(shù)據(jù)通路的各開(kāi)關(guān)元件和各內(nèi)連線路，方法是將某一注入的測(cè)試信息與開(kāi)關(guān)元件上或相應(yīng)的內(nèi)連線路上的測(cè)試信息進(jìn)行比較，從而找出數(shù)據(jù)傳送中的故障所在。
本發(fā)明還提供一種檢驗(yàn)通過(guò)多個(gè)直接耦合著的開(kāi)關(guān)元件之間的數(shù)據(jù)通路的方法，該方法包括下列步驟(ⅰ)指定至少其中一個(gè)所述直接耦合的開(kāi)關(guān)元件作為主開(kāi)關(guān)元件，借助于該主開(kāi)關(guān)元件存儲(chǔ)與所述主開(kāi)關(guān)元件毗鄰的一些開(kāi)關(guān)元件的狀態(tài);
(ⅱ)促使所述主開(kāi)關(guān)元件安排各開(kāi)關(guān)元件，包括它自己，使它們可以通過(guò)往所述相應(yīng)的開(kāi)關(guān)元件中的各轉(zhuǎn)接模塊注入測(cè)試數(shù)據(jù)信息，分別接受檢驗(yàn);
(ⅲ)促使所述主開(kāi)關(guān)元件安排各開(kāi)關(guān)元件之間的內(nèi)連線路接受檢驗(yàn);和(ⅳ)促使所述主開(kāi)關(guān)元件搜集對(duì)各開(kāi)關(guān)元件所述個(gè)別進(jìn)行的檢驗(yàn)結(jié)果和對(duì)所述加開(kāi)關(guān)元件之間的所述內(nèi)連線路的檢驗(yàn)結(jié)果，從而全面檢驗(yàn)多個(gè)直接耦合的開(kāi)關(guān)元件兩端的數(shù)據(jù)傳送通路。
現(xiàn)在僅以舉例的方式參看各


本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，附圖中圖5以方框圖的形式例示一種交換用的普通開(kāi)關(guān)控制裝置，該裝置包括若干直接連接的開(kāi)關(guān)元件或平面;
圖6則以方框圖的形式例示了本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中包括兩個(gè)開(kāi)關(guān)平面和兩個(gè)線路終端元件。
參看圖5，它舉例說(shuō)明一個(gè)交換裝置的框圖，該裝置包括一主轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)元件51和一些集線路開(kāi)關(guān)元件(53，55)。集線器開(kāi)關(guān)元件(53，55)將用戶線路的數(shù)目匯集成數(shù)目更少的交換線路，它保證了現(xiàn)有交換設(shè)備的經(jīng)濟(jì)使用。
用戶之間的實(shí)際交換操作是由轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)元件51進(jìn)行的。一般說(shuō)來(lái)，開(kāi)關(guān)元件51和集線器元件(53，55)是直接連接的類似器件，因而轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)元件51和集線器開(kāi)關(guān)元件-(53，55)的轉(zhuǎn)接模塊57、轉(zhuǎn)接處理器59和呼叫處理器61都具有相同的結(jié)構(gòu)。各轉(zhuǎn)接處理器59和呼叫處理器61是經(jīng)過(guò)適當(dāng)?shù)亟M合，這個(gè)組合體叫做控制元件64。各轉(zhuǎn)接模塊57可以包含若干DSM元件的平行平面，且系直接耦合到交換裝置中的其它轉(zhuǎn)接模塊57上。交換裝置中的諸呼叫處理器61由各接線63、65連接起來(lái)，使得可以通過(guò)集線器(53，55)和轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)元件51監(jiān)控呼叫過(guò)程。
這些接線63、65和轉(zhuǎn)接模塊57與轉(zhuǎn)接處理器59之間的接線以及轉(zhuǎn)接處理器59與呼叫處理器61之間的接線一樣，都是寬帶的，而且速率較高。呼叫處理器61激發(fā)著轉(zhuǎn)接處理器59，促使轉(zhuǎn)接模塊57提供將各用戶連接到交換裝置兩端的數(shù)據(jù)通路67。數(shù)據(jù)通路67載送著數(shù)據(jù)信號(hào)連同時(shí)鐘信號(hào)和控制信號(hào)一起。這樣各開(kāi)關(guān)元件64之間就可以直接通信而無(wú)需使用接線63和65。
經(jīng)過(guò)交換裝置傳送的數(shù)據(jù)，其中的差錯(cuò)可按上述一般方法檢測(cè)出來(lái)，即接上兩個(gè)與原轉(zhuǎn)接平面一模一樣的轉(zhuǎn)接平面，從而可以經(jīng)由該兩平面?zhèn)魉蛿?shù)據(jù)信息并加以比較。由此檢測(cè)出差錯(cuò)時(shí)，就令主轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)元件51的開(kāi)關(guān)控制元件64″作為主元件，用以找出差錯(cuò)所在的位置，同時(shí)令控制元件64′和64′″作為從屬元件。控制元件64″指示著自己的開(kāi)關(guān)元件57″和其它控制元件64′和64′″履行如上所述的通路檢驗(yàn)。送往57′、57″和57′″諸元件的指令信號(hào)不一定要經(jīng)由通路67，但這樣做會(huì)提高差錯(cuò)分析的速率。這樣就個(gè)別檢驗(yàn)了由開(kāi)關(guān)元件57所限定的數(shù)據(jù)通路67，同時(shí)由主控制元件64″搜集著如此個(gè)別檢驗(yàn)的結(jié)果，以確定交換裝置出差錯(cuò)的部位。
對(duì)開(kāi)關(guān)元件57的個(gè)別檢驗(yàn)并不能檢驗(yàn)出數(shù)據(jù)通路的有效性。現(xiàn)在參看圖6來(lái)說(shuō)明檢驗(yàn)數(shù)據(jù)通路有效性的方法。
圖6以象征性的形式例示了一個(gè)包括兩個(gè)直接連接的轉(zhuǎn)接平面71、73并且其兩端具有線路終端元件75、77的裝置。線路終端元件75、77使數(shù)據(jù)信號(hào)可以在轉(zhuǎn)接平面71、73之間“回送”。各平面71、73包括一直接連接到開(kāi)關(guān)B的開(kāi)關(guān)A。要檢驗(yàn)數(shù)據(jù)通路的有效性，即各開(kāi)關(guān)元件之間接線的有效性，就需要知道所有開(kāi)關(guān)元件的狀態(tài)。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，我們說(shuō)明了檢驗(yàn)一個(gè)數(shù)據(jù)通路有效性的方法，目的是確定有待被指定為主開(kāi)關(guān)的開(kāi)關(guān)。為進(jìn)行說(shuō)明，我們假設(shè)開(kāi)關(guān)B為主開(kāi)關(guān)。該主開(kāi)關(guān)安排得使其(可能在其控制元件64內(nèi))將連接到其上的各開(kāi)關(guān)(即開(kāi)關(guān)A)保持在過(guò)渡狀態(tài)。因此開(kāi)關(guān)A給開(kāi)關(guān)B發(fā)送一個(gè)狀態(tài)信號(hào)，表明每一次狀態(tài)改變時(shí)開(kāi)關(guān)A與開(kāi)關(guān)B之間各接線的狀態(tài)，例如當(dāng)開(kāi)關(guān)A建立或清除一個(gè)只在一個(gè)平面內(nèi)有效的通路時(shí)就是這樣。主開(kāi)關(guān)B將此狀態(tài)信號(hào)與其各接線的狀態(tài)進(jìn)行比較，以確保它們一致，從而確保通路的有效性。應(yīng)該指出的是，只有當(dāng)檢測(cè)出差錯(cuò)時(shí)才發(fā)送狀態(tài)信號(hào)。
在三個(gè)開(kāi)關(guān)的情況下，適用于兩個(gè)開(kāi)關(guān)情況的原理(如圖6所示)仍然有效。在狀態(tài)信號(hào)從毗鄰各開(kāi)關(guān)發(fā)送的情況下，確定中心的開(kāi)關(guān)為主開(kāi)關(guān)。
應(yīng)該理解的是，用結(jié)合圖5說(shuō)明的方法檢驗(yàn)各開(kāi)關(guān)元件，并用結(jié)合圖6說(shuō)明的方法核實(shí)或檢驗(yàn)各開(kāi)關(guān)之間的接線，就可以借助于本發(fā)明的系統(tǒng)全面檢驗(yàn)一個(gè)數(shù)據(jù)通路。
權(quán)利要求
1.一數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)，用以在由其它方法測(cè)定出在多個(gè)開(kāi)關(guān)元件間數(shù)據(jù)傳送方面的差錯(cuò)時(shí)在開(kāi)關(guān)元件中確定故障所在，其特征在于，該系統(tǒng)包括通過(guò)內(nèi)連直接耦合在一起且由各控制元件分別控制的所述開(kāi)關(guān)元件，所述控制元件連接起來(lái)以供確定哪一些內(nèi)連接線路處于工作狀態(tài)，因而確定了由若干開(kāi)關(guān)元件和內(nèi)連線路組成的數(shù)據(jù)通路的范圍，從而在工作過(guò)程中當(dāng)測(cè)定出數(shù)據(jù)傳送中的差錯(cuò)時(shí)，能夠?qū)⒃摬铄e(cuò)與該范圍確定了的數(shù)據(jù)通路聯(lián)系起來(lái)，且可通過(guò)是將某一注入的測(cè)試信息與開(kāi)關(guān)元件上或相應(yīng)的內(nèi)連線路上的測(cè)試信息進(jìn)行比較，從而找出數(shù)據(jù)傳送中的故障所在來(lái)獨(dú)立地檢測(cè)該數(shù)據(jù)通路的各內(nèi)連線路。
2.如權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，開(kāi)關(guān)元件是個(gè)數(shù)字轉(zhuǎn)接模塊DSM的兩個(gè)平行平面。
3.如權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，測(cè)試信息是多個(gè)按預(yù)定的定時(shí)排序的數(shù)據(jù)字。
4.如權(quán)利要求1、2或3所述的系統(tǒng)，其特征在于，各開(kāi)關(guān)元件配置成多個(gè)平行的平面，有公用的輸入端口和公用的輸出端口，相應(yīng)的限定在所述公用輸入端口與公用輸出端口之間的各轉(zhuǎn)接平面內(nèi)的數(shù)據(jù)通路。
5.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，配置有兩個(gè)平行的轉(zhuǎn)接平面，使得工作時(shí)，同一個(gè)數(shù)據(jù)通過(guò)各轉(zhuǎn)接平面?zhèn)魉?，并在公共輸出端進(jìn)行比較，以確定數(shù)據(jù)傳送中的差錯(cuò)。
6.一種檢驗(yàn)通過(guò)多個(gè)直接耦合著的開(kāi)關(guān)元件的數(shù)據(jù)傳送通路的方法，是特征在于，該方法包括下列步驟(ⅰ)指定至少其中一個(gè)所述直接耦合的開(kāi)關(guān)元件作為主開(kāi)關(guān)元件，借助于該主開(kāi)關(guān)元件存儲(chǔ)與所述主開(kāi)關(guān)元件毗鄰的一些開(kāi)關(guān)元件的狀態(tài);(ⅱ)促使所述主開(kāi)關(guān)元件安排各開(kāi)關(guān)元件，包括它自己，使它們可以通過(guò)往所述相應(yīng)的開(kāi)關(guān)元件中的各轉(zhuǎn)接模塊注入測(cè)試數(shù)據(jù)信息分別接受檢驗(yàn);(ⅲ)促使所述主開(kāi)關(guān)元件安排各開(kāi)關(guān)元件之間的內(nèi)連線路接受檢驗(yàn);和(ⅳ)促使所述主開(kāi)關(guān)元件搜集對(duì)各開(kāi)關(guān)元件所述個(gè)別進(jìn)行檢驗(yàn)的結(jié)果和對(duì)所述各開(kāi)關(guān)元件之間的所述內(nèi)連線路的檢驗(yàn)結(jié)果，由此而全面檢驗(yàn)多個(gè)直接耦合的開(kāi)關(guān)元件的數(shù)據(jù)傳送通路。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述開(kāi)關(guān)元件各個(gè)包括數(shù)字轉(zhuǎn)接模塊(DSM)的至少一個(gè)平面。
全文摘要
一種數(shù)據(jù)通路檢驗(yàn)系統(tǒng)，用以分析直接連接著的各開(kāi)關(guān)元件的平面內(nèi)的數(shù)據(jù)傳送差錯(cuò)。該系統(tǒng)檢驗(yàn)直接連接著的各開(kāi)關(guān)元件的平面是通過(guò)指定帶有有關(guān)控制元件的一個(gè)開(kāi)關(guān)元件作為主元件并指定其它開(kāi)關(guān)元件和有關(guān)控制元件作為從屬元件進(jìn)行的。該主開(kāi)關(guān)元件個(gè)別指令其它開(kāi)關(guān)元件檢驗(yàn)它們各自的開(kāi)關(guān)元件有無(wú)數(shù)據(jù)傳送上的差錯(cuò)，并檢驗(yàn)自己的開(kāi)關(guān)元件有無(wú)數(shù)據(jù)傳送上的差錯(cuò)。此外，還安排主開(kāi)關(guān)來(lái)證實(shí)各開(kāi)關(guān)元件之間接線的有效性。
文檔編號(hào)H04M3/26GK1036674SQ8910196
公開(kāi)日1989年10月25日 申請(qǐng)日期1989年3月30日 優(yōu)先權(quán)日1988年3月30日
發(fā)明者理查德·約翰·普羅克特, 托馬斯·斯萊德·馬登 申請(qǐng)人:普列斯海外有限公司