專利名稱：用于測試數(shù)字視頻設備成品狀態(tài)下dspic的測試裝置及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于處理數(shù)字信號的數(shù)字視頻設備，尤其涉及用于檢查產(chǎn)品內(nèi)的印制電路板(PCB)組合體中各數(shù)字信號處理器集成電路(DSP IC)和印制電路板(PCB)是處于損壞狀態(tài)還是處于完好狀態(tài)的測試裝置及其方法，在該產(chǎn)品內(nèi)各種DSP、ICS被組合地裝配在用于處理數(shù)字信號的數(shù)字視頻設備中。
通常在處理數(shù)字信號的數(shù)字視頻設備的PCB上組合地裝配了許多諸如DSP這樣的IC。在把這樣的IC安裝在PCB上之前，利用專用IC測試設備以進行確定它們是否已損壞的測試。通常通過僅檢查一塊IC來完成利用IC測試設備對IC損壞狀態(tài)的測試。
可把IC測試設備主要分成信號發(fā)生器和信號分析器。設計信號發(fā)生器以輸出適合各種IC特性的測試信號，以便檢查在設計和開發(fā)階段所制造的IC是否損壞和出現(xiàn)了故障(error)。設計信號分析器以便在把信號發(fā)生器產(chǎn)生的測試信號輸入給被測試的IC時對結果進行分析。
但是，應當分別地準備這種類型的IC測試設備，這種IC測試設備在對IC損壞狀態(tài)測試時僅能檢查一塊IC 因此，在已被復雜地安裝了各種IC的PCB的裝配狀態(tài)下，不能夠利用通常的IC測試設備來測試IC的損壞狀態(tài)。這樣就會在PCB上以線路連接IC和制造產(chǎn)品以及在存放和運輸成品時可能產(chǎn)生被損壞或出現(xiàn)了故障的部分 而沒有檢查產(chǎn)品的損壞或故障的方法。
有鑒于此，本發(fā)明的目的是提供一種能夠簡單地檢查在各個DSP IC的連接狀態(tài)下各個IC的操作狀態(tài)以及在制造成品時PCB的生產(chǎn)和裝配狀態(tài)的測試裝置及方法。
本發(fā)明的另一目的是提供能夠檢查在PCB上以線路連接IC、在制造產(chǎn)品以及在存放和運輸成品時可能造成的部件的損壞或可能產(chǎn)生錯誤的測試裝置及方法。
通過提供對數(shù)字視頻設備成品狀態(tài)測試多個數(shù)字信號處理器集成電路的測試裝置實現(xiàn)了本發(fā)明的以上及其它目的，該測試裝置包括，對產(chǎn)生數(shù)字信號形式的測試信號的測試信號發(fā)生器的信號進行處理的數(shù)字信號處理器集成電路(DSP IC)和監(jiān)視被測試的DSP IC的輸出的監(jiān)視器，測試信號發(fā)生器設置在DSP IC內(nèi)的前端處。
參看以下結合附圖對本發(fā)明的詳細描述將更充分理解本發(fā)明的目的、特征及其優(yōu)點，附圖中相同的標號表示相同或類似的元件，其中

圖1是表示具有多個DSP IC的數(shù)字視頻設備結構的方框圖，包括用于本發(fā)明一實施例的模數(shù)變換器(ADC)和數(shù)模變換器(DAC)；圖2是表示本發(fā)明一實施例的在DSP IC內(nèi)的水平掃描模型產(chǎn)生電路的電路圖；圖3是表示本發(fā)明一實施例的在DSP IC內(nèi)的垂直掃描模型產(chǎn)生電路的電路圖；圖4是表示本發(fā)明一實施例的水平掃描模型產(chǎn)生電路的水平掃描模型的波形圖；圖5是表示本發(fā)明一實施例的垂直掃描模型產(chǎn)生電路的垂直掃描模型的波形圖。
現(xiàn)在參看附圖詳細描述本發(fā)明的最佳實施例。注意在所看附圖中相同的標號或字母用來表示具有相同功能的類似或相同的元件。在以下的描述中，給出了例如構成具體電路的元件的具體數(shù)值和表達式以使更充分地理解本發(fā)明。但是，對于本領域的普通技術人員而言沒有這些具體數(shù)值也可以實施本發(fā)明。為對本發(fā)明進行詳細的說明，省略了對公知的功能和結構的詳細描述。
參看圖1其中描述了一種能夠簡單地檢查在各個DSP IC的連接狀態(tài)下各個IC的操作狀態(tài)以及在制造成品時PCB的生產(chǎn)和裝配狀態(tài)的測試裝置及方法。
圖1是表示具有多個DSP IC6、8、10的數(shù)字視頻設備的結構的方框圖，包括用于本發(fā)明一實施例的模數(shù)變換器(以后稱為ADC)4和數(shù)模變換器(以后稱為DAC)12。
假定把在圖1各方框內(nèi)的各電路裝配在PCB上。
參看圖1，復合視頻信號CV在彩色和同步分離器2中被分離成為色度信號和同步信號，被分離的信號在ADC 4中被變換成為數(shù)字信號，在以級聯(lián)形式連接在ADC 4的后端的一系列DSP IC6、8、10中執(zhí)行與固有操作一致的數(shù)字信號處理，然后在DAC12中再把進行了數(shù)字處理的信號變換成為模擬信號，以便在偏轉和顯示部分14中偏轉和顯示進行了模擬處理的信號。鎖相環(huán)(PLL)和時鐘發(fā)生器16相位鎖定接收自彩色和同步分離器2的信號、產(chǎn)生各種時鐘并分別將相應的時鐘提供給ADC 4、DSP IC6、8、10以及DAC 12。
在如圖1所示視頻設備實例內(nèi)的多個DSP IC 6、8、10具有分別如圖2和圖3所示的水平和垂直掃頻信號產(chǎn)生電路，在簡單地檢查各種DSP IC的連接狀態(tài)下各個IC的操作狀態(tài)以及在制造成品時PCB的生產(chǎn)和裝配狀態(tài)時使用這些電路。
圖2是表示被包括在圖1中的DSP IC 6、8、10內(nèi)的水平掃描信號發(fā)生器的電路圖，圖3是表示被包括在DSP IC 6、8、10內(nèi)的垂直掃描信號發(fā)生器的電路圖。水平掃描信號發(fā)生器和垂直掃描信號發(fā)生器設置在多個DSP IC 6、8、10內(nèi)的前端處。
圖4表示圖2的水平掃描信號產(chǎn)生電路產(chǎn)生的水平掃描信號的波形圖，圖5表示圖3的垂直掃描信號產(chǎn)生電路產(chǎn)生的垂直掃描信號的波形圖。當電視廣播結束時，電視機在其屏幕上連續(xù)地顯示出現(xiàn)的覆蓋像素中從黑電平至白電平的全部電平的圖像，此時的信號源的信號正是掃描信號。在本發(fā)明中水平和垂直掃描信號產(chǎn)生電路分別產(chǎn)生水平和垂直掃描信號的理由為掃描信號(能夠出現(xiàn)覆蓋了像素中的從黑電平至白電平的全部電平)是判斷電路是否正常地工作和PCB的狀態(tài)是否處于損壞狀態(tài)的最佳信號。
參看圖2，本發(fā)明一實施例中位于多個DSP IC 6、8、10內(nèi)的前端處的水平掃描信號發(fā)生器包括一水平掃描信號產(chǎn)生部分23和一多路復用器24，水平掃描信號產(chǎn)生部分23包括一計數(shù)器20和一D-型觸發(fā)器22。水平掃描信號產(chǎn)生部分23產(chǎn)生圖4所示的水平掃描信號，多路復用器24根據(jù)選擇信號SEL選擇水平掃描信號產(chǎn)生部分23產(chǎn)生的水平掃描信號或原來輸入的視頻信號以用于測試。時鐘信號CLK被提供給水平掃描信號產(chǎn)生部分23內(nèi)的D-型觸發(fā)器22的時鐘級(clock stage)，水平同步信號Hsync被提供給D-型觸發(fā)器22的清零級(clear stage)。D-型觸發(fā)器22的輸出端與在其后端的多路復用器24的輸入級1和計數(shù)器20連接。計數(shù)器20對D-型觸發(fā)器22的輸出向上計數(shù)1并把結果反饋給D-型觸發(fā)器22的輸入級D。
在圖3中，本發(fā)明一實施例中位于多個DSP IC6、8、10內(nèi)的前級處的垂直掃描信號發(fā)生器包括一垂直掃描信號產(chǎn)生部分33和一多路復用器34，垂直掃描信號產(chǎn)生部分33包括一計數(shù)器30和一D-型觸發(fā)器32。垂直掃描信號產(chǎn)生部分33產(chǎn)生圖5所示的垂直掃描信號，多路復用器34根據(jù)選擇信號SEL選擇垂直掃描信號產(chǎn)生部分33產(chǎn)生的垂直掃描信號或原來輸入的視頻信號以用于測試。時鐘信號CLK被提供給垂直掃描信號產(chǎn)生部分33內(nèi)的D-型觸發(fā)器32的時鐘級，垂直同步信號Vsync被提供給D-型觸發(fā)器32的清零級。D-型觸發(fā)器32的輸出端與在其后端的多路復用器34的輸入級1和計數(shù)器30連接。計數(shù)器30被水平同步信號Hsync清零，計數(shù)器30對D-型觸發(fā)器32的輸出向上計數(shù)1并把結果反饋給D-型觸發(fā)器32的輸入級D。
首先參看圖2和圖4其中描述了本發(fā)明一實施例的水平掃描信號的產(chǎn)生操作。對于通常的視頻信號，1水平行有910個點，屏幕上像素的亮度電平可用多達256個階梯來表示。因此可把圖2的水平掃描信號產(chǎn)生部分23具體化為8個位。為了表示與水平掃描信號有關的像素的這種亮度電平，在1水平行上將產(chǎn)生3.5個周期(＝910÷256)的水平掃描信號波形。為了產(chǎn)生1個周期的水平掃描信號波形，最好把圖2的水平掃描信號產(chǎn)生部分23具體化為10個位。
圖2的水平掃描信號產(chǎn)生部分23內(nèi)的D-型觸發(fā)器22的輸出由輸入給其清零級CLR的水平同步信號Hsync進行復位，利用時鐘信號CLK進行操作，以使其能夠用來鎖存和輸出輸入給輸入級D的該信號“0”。D-型觸發(fā)器22的輸出提供給在其后端的多路復用器24的輸入級1和計數(shù)器20。計數(shù)器20對D-型觸發(fā)器22的輸出向上計數(shù)“1”并將結果反饋給D-型觸發(fā)器22的輸入級D，以使D-型觸發(fā)器22的輸出或水平掃描信號產(chǎn)生部分23的輸出如“0、1、2、3......253、254、255”如此地逐漸增大。一旦D-型觸發(fā)器22的輸出為“256”，就產(chǎn)生進位，同時余下的值變成“0”，丟掉進位，保留余下的值，所以D-型觸發(fā)器22的輸出將變成“0”。計數(shù)器20對D-型觸發(fā)器22的輸出向上計數(shù)“1”并再把結果反饋給D-型觸發(fā)器22的輸入級D。當水平掃描信號產(chǎn)生部分23如此地工作時，就產(chǎn)生圖4(a)所示的鋸齒波形的水平掃描信號。如果向1水平行的尾部施加水平同步信號Hsync，就復位了D-型觸發(fā)器22。
以下參看圖2和圖4描述本發(fā)明一實施例的水平掃描信號的產(chǎn)生操作。
圖3的垂直掃描信號產(chǎn)生部分33內(nèi)的D-型觸發(fā)器32的輸出用來由輸入給其清零級CLR的垂直同步信號Vsync進行復位，利用時鐘信號CLK進行操作，以使其能夠用來鎖存和輸出輸入給輸入級D的該信號“0”。D-型觸發(fā)器32的輸出提供給在其后端的多路復用器34的輸入級1和計數(shù)器30。當沒有把水平同步信號Hsync提供給計數(shù)器30時，計數(shù)器30就把D-型觸發(fā)器32的輸出原樣地反饋至該D-型觸發(fā)器32的輸入級D，當把水平同步信號Hsync提供給計數(shù)器30時，計數(shù)器30對D-型觸發(fā)器32的輸出向上計數(shù)“1”并把結果反饋至D-型觸發(fā)器32的輸入級D，所以每當水平行增大，D-型觸發(fā)器32的輸出將逐漸增大。如果向1每直行的尾部施加垂直同步信號Vsync，就復位了D觸發(fā)器32。圖5(a)是表示垂直掃描信號的波形圖，而圖5(b)是表示從水平方向觀看的垂直掃描信號的波形圖。
以下描述了檢查圖1中包括圖2的水平掃描信號發(fā)生器和圖3的垂直掃頻信號發(fā)生器的DSPIC6、8、10的操作狀態(tài)和這些IC的連接狀態(tài)的測試操作。
首先應當把用于監(jiān)視的監(jiān)視器、例如示波器或電視監(jiān)視器連接至位于DSP IC6、8、10的后級的DSP IC 10的輸出線路，然后順序地從位于DSPIC6、8、10的后級的DSP IC 10至位于DSP IC6、8、10的前級的DSPIC 6進行測試。具體來說，向位于DSP IC 6、8、10的后級的DSP IC 10提供選擇信號SEL＝“1”，向位于DSP IC 6、8、10的前級的DSP IC 6、8提供選擇信號SEL＝“0”。于是位于DSP IC 6、8、10的前級的DSP IC6、8內(nèi)的水平和垂直掃描信號發(fā)生器的多路復用器24、34就分別選擇其輸入級“0”，但位于DSP IC 6、8、10的后級的DSP IC 10內(nèi)的水平和垂直掃描信號發(fā)生器的多路復用器24、34選擇其輸入級“1”。在位于其后級的DSP IC 10內(nèi)的分別選擇多路復用器24、34的輸入級“1”的水平和垂直掃描信號發(fā)生器產(chǎn)生水平和垂直掃描信號，并根據(jù)其固有的操作對掃描信號進行處理以輸出它們。如果利用與DSP IC 10的輸出線路連接的監(jiān)視器證實DSP IC 10的輸出是如圖4和圖5所示的水平和垂直掃描信號，就可以把位于其后級的DSP IC 10看作是正常運行的芯片。如果不是這樣，就把位于其后級的DSP IC 10看作是壞芯片如果位于其后級的DSP IC 10是正常的，就只向位于前級的DSP IC8提供選擇信號SEL＝“1”。向其余的DSP IC6、10提供選擇信號SEL＝“0”。結果是只有DSP IC8內(nèi)的掃描信號發(fā)生器產(chǎn)生掃描信號。在這種情況下，如果利用與DSP IC 10的輸出線路連接的監(jiān)視器證實DSP IC8的輸出是如圖4和圖5所示的水平和垂直掃描信號，就可以把DSPIC8看作是正常運行的芯片。如果不是這樣，就把該DSP IC8看作是壞芯片。
利用以上方法所進行的測試簡單地檢查了在多個DSP IC6、8、10的連接狀態(tài)下各個IC的操作狀態(tài)以及在制造成品時PCB的生產(chǎn)和裝配狀態(tài)。因此，在如上描述的本發(fā)明中，能夠簡單地檢查在各種DSP IC的連接狀態(tài)下各個IC的操作狀態(tài)以及在制造數(shù)字視頻設備的成品時PCB的生產(chǎn)和裝配狀態(tài)。此外，還能夠檢查在PCB上以線路連接IC、在制造產(chǎn)品時以及在存放和運輸成品時可能造成的部件的損壞或可能產(chǎn)生的錯誤。
雖然已描述了本發(fā)明的最佳實施例，但本領域的普通技術人員都懂得，在不超出本發(fā)明的范圍內(nèi)，可以對本發(fā)明作出各種變動和改進。因此，本發(fā)明不局限于被作為實現(xiàn)本發(fā)明的最佳方式進行描述的具體實施例，本發(fā)明應包括本發(fā)明權利要求范圍內(nèi)的全部實施例。
權利要求
1.一種用于測試數(shù)字視頻設備成品狀態(tài)下多個數(shù)字信號處理器集成電路的測試設備，包括多個數(shù)字信號處理器集成電路DSP IC，用于對由數(shù)字信號產(chǎn)生測試信號的測試信號發(fā)生器的信號進行處理以及在對測試進行控制時輸出進行了處理的數(shù)字信號，該測試信號發(fā)生器設置在多個DSP IC內(nèi)的前端處；監(jiān)視器，用于監(jiān)視正在被測試的DSP IC的輸出。
2.如權利要求1的測試設備，其中，該測試信號發(fā)生器包括，用于產(chǎn)生表示覆蓋了像素的黑電平至白電平的全部電平的掃描信號的掃描信號發(fā)生器。
3.如權利要求2的測試設備，其中，該掃描信號發(fā)生器包括，用于產(chǎn)生水平行的掃描信號的水平掃描信號發(fā)生器和用于產(chǎn)生垂直行的掃描信號的垂直掃描信號發(fā)生器。
4.如權利要求3的測試設備，其中，該水平掃描信號發(fā)生器包括利用水平同步信號清零和利用時鐘信號操作的D-型觸發(fā)器；對D-型觸發(fā)器的每一輸出向上計數(shù)至一預定值并將結果提供給D-型觸發(fā)器的輸入級的計數(shù)器；以及根據(jù)用于測試控制的選擇信號選擇D-型觸發(fā)器的輸出或選擇原始視頻信號的選擇裝置。
5.如權利要求3的測試設備，其中，該垂直掃描信號發(fā)生器包括利用垂直同步信號清零和利用時鐘信號操作的D-型觸發(fā)器；對D-型觸發(fā)器的每一輸出向上計數(shù)至一預定值并將結果提供給D-型觸發(fā)器的輸入級的計數(shù)器；以及根據(jù)用于測試控制的選擇信號選擇D-型觸發(fā)器的輸出或選擇原始視頻信號的選擇裝置。
6.一種用于測試數(shù)字視頻設備成品狀態(tài)下彼此級聯(lián)連結的多個數(shù)字信號處理器集成電路DSP IC的方法，包括以下步驟(a)在多個DSP IC的每一個內(nèi)的前端處安裝用于產(chǎn)生表示覆蓋了像素的黑電平至白電平的全部電平的掃描信號的掃描信號發(fā)生器；(b)控制被測試的預定的DSP IC以便僅使該DSP IC產(chǎn)生掃描信號，并控制其余的DSP IC以使它們產(chǎn)生原始視頻信號；以及(c)在多個DSP IC的后級處監(jiān)視從正在被測試的DSP IC輸出的結果。
7.如權利要求6的方法，其中，該掃描信號發(fā)生器包括用于產(chǎn)生水平行的掃描信號的水平掃描信號發(fā)生器和用于產(chǎn)生垂直行的掃描信號的垂直掃描信號發(fā)生器。
8.如權利要求7的方法，其中，該水平掃描信號發(fā)生器包括，利用水平同步信號清零和利用時鐘信號操作的D-型觸發(fā)器；對D-型觸發(fā)器的每一輸出向上計數(shù)至一預定值并將結果提供給D-型觸發(fā)器的輸入級的計數(shù)器；以及根據(jù)用于測試控制的選擇信號選擇D-型觸發(fā)器的輸出或選擇原始視頻信號的選擇裝置。
9.如權利要求7的方法，其中，該垂直掃描信號發(fā)生器包括，利用垂直同步信號清零和利用時鐘信號操作的D-型觸發(fā)器；對D-型觸發(fā)器的每一輸出向上計數(shù)至一預定值并將結果提供給D-型觸發(fā)器的輸入級的計數(shù)器；以及根據(jù)用于測試控制的選擇信號選擇D-型觸發(fā)器的輸出或選擇原始視頻信號的選擇裝置，該計數(shù)器利用水平同步信號清零。
全文摘要
一種用于測試數(shù)字視頻設備成品狀態(tài)下多個數(shù)字信號處理器集成電路的測試設備,包括:對由數(shù)字信號產(chǎn)生測試信號的測試信號發(fā)生器的信號進行處理以及在對測試進行控制時輸出進行了處理的數(shù)字信號的多個數(shù)字信號處理器集成電路(DSP IC),該測試信號發(fā)生器設置在多個DSP IC內(nèi)的前端處;以及監(jiān)視正在被測試的DSP IC的輸出的監(jiān)視器,該設備能夠簡單地檢查在各個DSP IC的連接狀態(tài)下各個IC的操作狀態(tài)以及在制造數(shù)字視頻設備的成品時PCB的生產(chǎn)和裝配狀態(tài)。
文檔編號H04N17/00GK1181683SQ9711151
公開日1998年5月13日 申請日期1997年5月9日 優(yōu)先權日1996年10月31日
發(fā)明者金炳辰 申請人:三星電子株式會社