多端口射頻元件的量測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)一種多端口射頻元件的量測方法，特別是針對多端口射頻元件量測系統(tǒng)中的多端口開關(guān)盒校正方法予以改進，提供一種可以降低多端口開關(guān)盒的雙端口校正次數(shù)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]射頻元件(如:基地臺天線)在出廠前，必須進行性能的量測(如:反射系數(shù)Sll及穿透系數(shù)S21等參數(shù)的量測)，能在使用時發(fā)揮性能，以達到最佳的使用效能。
[0003]如圖1所示，為一多端口射頻元件10的量測系統(tǒng)，該量測系統(tǒng)至少包含有一網(wǎng)絡(luò)分析儀20及多端口開關(guān)盒30 ;其中，多端口射頻元件10的端口數(shù)為n，多端口開關(guān)盒30的端口數(shù)為m。
[0004]如圖2所示，為一完整的多端口射頻元件10的雙端口校正參數(shù)圖；在量測多端口射頻元件10的反射系數(shù)Sll及穿透系數(shù)S21等參數(shù)前,必須先對多端口開關(guān)盒30進行雙端口校正，以得到 EDF、ESF、ERF、EDR、ESR、ERR、ELF、ELR、ETF、ETR、EXF、EXR 等 12 個校正參數(shù)；其中，圖2所示參數(shù)圖的S11A、S22A、S21A、S12A為多端口射頻元件10的量測值，其是經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)分析儀 20 內(nèi)部量測值 S11M、S22M、S21M、S12M 與 EDF、ESF、ERF、EDR、ESR、ERR、ELF、ELR、ETF, ETR、EXF, EXR等12個校正參數(shù)進行運算所得到。
[0005]但，在進行上述量測過程中，為求正確的量測及準(zhǔn)確的量測出多端口射頻元件10參數(shù)值，必須事先對多端口開關(guān)盒30的任意兩端口進行雙端口校正，因此當(dāng)多端口開關(guān)盒30的端口數(shù)為m時，必須進行/ 2次數(shù)的雙端口校正，例如當(dāng)多端口開關(guān)盒30的端口數(shù)m=12時，則必須進行12* (12-1) / 2=66次數(shù)的雙端口校正；由是，目前多端口開關(guān)盒30的雙端口校正相當(dāng)繁復(fù)費時。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]為改善上述目前多端口射頻元件的量測方法，針對多端口開關(guān)盒的雙端口校正方法予以改進，而提供一種多端口射頻元件的量測方法，其可以降低多端口開關(guān)盒的雙端口校正次數(shù)。
[0007]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
[0008]一種多端口射頻元件的量測方法，主要是利用網(wǎng)絡(luò)分析儀的量測端口間內(nèi)部很高的隔離度，及多端口開關(guān)盒的量測端口間內(nèi)部很高的隔離度，使得EXF及EXR兩個參數(shù)可以被忽略，并重復(fù)使用多端口開關(guān)盒的各端口校正參數(shù)，以大幅減少多端口開關(guān)盒的雙端口校正次數(shù)。
[0009]本發(fā)明的有益效果是，其可以降低多端口開關(guān)盒的雙端口校正次數(shù)。
【附圖說明】
[0010]下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。
[0011]圖1是用以量測多端口射頻元件的系統(tǒng)示意圖。
[0012]圖2是多端口射頻元件的完整雙端口校正參數(shù)圖。
[0013]圖3是本發(fā)明簡化后的雙端口校正參數(shù)圖。
[0014]圖4是本發(fā)明簡化后的各端口校正參數(shù)圖。
[0015]圖中標(biāo)號說明:
[0016]10多端口射頻元件
[0017]20網(wǎng)絡(luò)分析儀
[0018]30多端口開關(guān)盒
【具體實施方式】
[0019]為能更清楚的了解本發(fā)明為達到目的所運用的技術(shù)手段及其方法，茲謹(jǐn)再配合圖3所示簡化后多端口開關(guān)盒的雙端口校正參數(shù)圖及射頻量測流程圖，及圖4所示簡化后多端口開關(guān)盒的兩量測端口校正參數(shù)圖，詳細說明如下:
[0020]如圖3所示，本發(fā)明多端口射頻元件的量測方法，是針對多端口開關(guān)盒30的雙端口校正方法予以改進，提供一種可以降低多端口開關(guān)盒30的雙端口校正次數(shù)方法，其方法主要是利用網(wǎng)絡(luò)分析儀20的量測端口間內(nèi)部很高的隔離度，及多端口開關(guān)盒30的兩量測端口間內(nèi)部很高的隔離度，使得EXF及EXR兩個參數(shù)可以被忽略，并重復(fù)使用多端口開關(guān)盒30各端口校正參數(shù)，以大幅減少多端口開關(guān)盒30的雙端口校正次數(shù)。
[0021]如圖4所示，為本發(fā)明簡化后多端口開關(guān)盒30的量測端口校正參數(shù)圖，當(dāng)共同屬于Port J與Port K量測端口的EXF及EXR兩個參數(shù)被拿掉后，進一步將剩下的EDJ、ERJ、ESJ、EU、ETJ、EDK、ERK、ESK、ELK、ETK等校正參數(shù)各自歸屬于多端口開關(guān)盒30的兩量測端口 Port J、Port K。
[0022]其中，EDJ、ERJ、ESJ、ELJ、ETJ等校正參數(shù)歸屬于多端口開關(guān)盒30的量測端口 PortJ，EDK、ERK、ESK、ELK、ETK等參數(shù)歸屬于多端口開關(guān)盒30的量測端口 Port K ;當(dāng)屬于PortJ的EDJ、ERJ、ESJ、ELJ、ETJ等參數(shù)與Port K以外的其它端口組成雙端口時，若多端口開關(guān)盒30的量測端口 Port J內(nèi)部硬件路徑相同時，便可直接用于校正運算，不需做雙端口校正，而可節(jié)省雙端口校正的次數(shù)，當(dāng)屬于Port K的EDK、ERK、ESK、ELK、ETK等參數(shù)與Port K內(nèi)部硬件路徑相同時，同樣的可直接用于與其它端口校正運算。
[0023]經(jīng)由上述的方法，例如原本端口數(shù)n=12的射頻元件10必須進行66次多端口開關(guān)盒30的雙端口校正，可大幅降低至只須做11次多端口開關(guān)盒30的雙端口校正，其中有5次是因同一端口會因多端口開關(guān)盒30內(nèi)部硬件路徑不同，需額外做雙端口校正。舉例來說，當(dāng)多端口開關(guān)盒30的雙端口(X，y)進行量測校正時，該端口(X)經(jīng)由多端口開關(guān)盒30內(nèi)部硬件電路連到網(wǎng)絡(luò)分析儀20的量測端口 Portl，該端口(y)經(jīng)由多端口開關(guān)盒30內(nèi)部硬件電路連到網(wǎng)絡(luò)分析儀20的量測端口 Port2 ;因此，若多端口開關(guān)盒30的端口數(shù)為12時，其以雙端口(1，2)、(3,4), (5,6), (7,8), (9,10), (11，12)的方式與網(wǎng)絡(luò)分析儀20連結(jié)共作6次多端口開關(guān)盒30的雙端口校正；而由于多端口開關(guān)盒30內(nèi)部硬件路徑的不同，該第2、4、6、8、10端口并未與網(wǎng)絡(luò)分析儀20的Portl連結(jié)作校正，第3、5、7、9、11端口并未與網(wǎng)絡(luò)分析儀20的Port2連結(jié)作校正，所以必須再以雙端口 (2,3), (4,5), (6,7), (8,9), (10，ID的方式與網(wǎng)絡(luò)分析儀20連結(jié)額外作5次多端口開關(guān)盒30的雙端口校正，始可完成足夠的校正；同時，借由上述量測方法可作多端口開關(guān)盒30任意兩端口間的校正運算，如第(2，7)、(1,5), (10，12)等任意兩端口的校正運算，而不僅限于相鄰兩端口間的校正運算，因此可滿足多端口開關(guān)盒30任意兩端口間的運算所需。由是，如上述的量測方法，該端口數(shù)為12的多端口開關(guān)盒30，本發(fā)明僅需作11次的雙端口校正，相較于現(xiàn)有量測方法須作66次的雙端口校正，大幅減少量測校正次數(shù)。
[0024]由是，本發(fā)明確可大幅減少多端口開關(guān)盒的雙端口校正次數(shù)；因此，本發(fā)明在結(jié)構(gòu)設(shè)計、使用實用性及成本效益上，完全符合產(chǎn)業(yè)發(fā)展所需，且所揭示的結(jié)構(gòu)亦是具有前所未有的創(chuàng)新構(gòu)造，具有新穎性、創(chuàng)造性、實用性，符合有關(guān)發(fā)明專利要件的規(guī)定，故依法提起申請。
[0025]以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種多端口射頻元件的量測方法，其特征在于，應(yīng)用于多端口射頻元件量測系統(tǒng)中多端口開關(guān)盒的校正，主要利用網(wǎng)絡(luò)分析儀的量測端口間內(nèi)部很高的隔離度，及多端口開關(guān)盒的兩量測端口間內(nèi)部很高的隔離度，使得EXF及EXR兩個參數(shù)可以被忽略，并重復(fù)使用多端口開關(guān)盒各端口校正參數(shù)，以大幅減少多端口開關(guān)盒的雙端口校正次數(shù)。
【專利摘要】一種多端口射頻元件的量測方法，應(yīng)用于多端口射頻元件量測系統(tǒng)中多端口開關(guān)盒的校正，主要利用網(wǎng)絡(luò)分析儀的量測端口間內(nèi)部很高的隔離度，及多端口開關(guān)盒的兩量測端口間內(nèi)部很高的隔離度，使得EXF及EXR兩個參數(shù)可以被忽略，并重復(fù)使用多端口開關(guān)盒各端口校正參數(shù)，以大幅減少多端口開關(guān)盒的雙端口校正次數(shù)。
【IPC分類】H04B17-15, H04B17-29
【公開號】CN104734789
【申請?zhí)枴緾N201310702841
【發(fā)明人】李道根
【申請人】梅爾根電子有限公司
【公開日】2015年6月24日
【申請日】2013年12月19日