信息處理方法及電子設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種信息處理方法及電子設(shè)備，所述方法應(yīng)用于包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備中；所述方法包括：將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
【專利說明】
信息處理方法及電子設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及信息處理領(lǐng)域，尤其涉及一種信息處理方法及電子設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]網(wǎng)絡(luò)接口可簡稱為網(wǎng)卡，是用于電子設(shè)備連接到網(wǎng)絡(luò)的組件。
[0003]所述網(wǎng)卡可如融合網(wǎng)絡(luò)CNA網(wǎng)卡(Converged Network Adaptor，聚合網(wǎng)絡(luò)適配器)。在電子設(shè)備投入市場之前或在對電子設(shè)備進(jìn)行維護(hù)時，可能需要對網(wǎng)卡進(jìn)行性能測試。在現(xiàn)有技術(shù)中，通過由測試服務(wù)器，將待測網(wǎng)卡安裝在一臺電子設(shè)備，通過待測網(wǎng)卡對另一臺電子設(shè)備的硬盤進(jìn)行讀、寫等操作，進(jìn)而基于讀寫速度測得網(wǎng)卡傳輸速率等性能參數(shù)。但是通常硬盤的讀寫速度一般都較慢，這樣會拖慢網(wǎng)卡傳輸速率，進(jìn)而導(dǎo)致網(wǎng)卡的測試結(jié)果不夠精確的問題。于此同時，專門為網(wǎng)卡測試購買硬盤導(dǎo)致測試成本高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例期望提供一種信息處理方法及電子設(shè)備，至少能夠部分解決上述測試結(jié)果不夠精確及測試成本高的問題。
[0005]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
[0006]本發(fā)明公開了一種信息處理方法，應(yīng)用于包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備中；
[0007]所述方法包括:
[0008]將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0009]建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0010]優(yōu)選地，所述方法還包括:
[0011]通過所述網(wǎng)絡(luò)連接接收所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元發(fā)送的測試信息；
[0012]依據(jù)所述測試信息，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和/或讀數(shù)據(jù)；
[0013]其中，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)均為所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試操作。
[0014]優(yōu)選地，所述將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元，包括:
[0015]將所述內(nèi)存單元映射成用于測試的SAN存儲單元。
[0016]優(yōu)選地，所述第一電子設(shè)備還包括第二網(wǎng)絡(luò)接口單元；所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述內(nèi)存單元相連；
[0017]所述建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)男畔?，包?
[0018]建立所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元之間的連接。
[0019]本發(fā)明實(shí)施例第二方面提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備為包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備，
[0020]所述第一電子設(shè)備包括:
[0021]控制單元，用于將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0022]連接單元，用于建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0023]優(yōu)選地，所述第一電子設(shè)備還包括:
[0024]第二網(wǎng)絡(luò)接口單元，用于通過所述網(wǎng)絡(luò)連接接收所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元發(fā)送的測試信息；
[0025]所述控制單元，還用于依據(jù)所述測試信息，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和/或讀數(shù)據(jù)；
[0026]其中，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)均為所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試操作。
[0027]優(yōu)選地，所述控制單元，具體用于將所述內(nèi)存單元映射成用于測試的SAN存儲單
J L ο
[0028]優(yōu)選地，所述第一電子設(shè)備還包括第二網(wǎng)絡(luò)接口單元；所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述內(nèi)存單元相連；
[0029]所述連接單元，具體用于建立所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的連接。
[0030]優(yōu)選地，所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元之間，通過FCoE建立連接。
[0031]優(yōu)選地，所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元為CNA接口單元。
[0032]本發(fā)明實(shí)施例所述的信息處理方法及電子設(shè)備，不用專門設(shè)置進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試的硬盤，而是直接將第一電子設(shè)備的內(nèi)存單元視為所述用于性能測試的測試存儲單元，這樣顯然減少了測試的硬件成本，從而降低了測試成本，更為重要的是內(nèi)存的讀或?qū)懖僮鞯乃俣纫话愣急扔脖P的讀或?qū)懖僮鞯乃俣瓤?，這樣就可減少因讀取硬盤上的數(shù)據(jù)或向硬盤寫入數(shù)據(jù)的時延導(dǎo)致第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的測試結(jié)果誤差大的現(xiàn)象，從而可以提升測試結(jié)果的精確性。
【附圖說明】
[0033]圖1為本發(fā)明實(shí)施例所述的信息處理方法的流程示意圖之一；
[0034]圖2為本發(fā)明實(shí)施例所述的信息處理方法的流程示意圖之一；
[0035]圖3為本發(fā)明實(shí)施例所述的第一電子設(shè)備和第二電子設(shè)備的連接結(jié)構(gòu)示意圖之 ，
[0036]圖4為本發(fā)明實(shí)施例所述的第一電子設(shè)備和第二電子設(shè)備的連接結(jié)構(gòu)示意圖之-* *
[0037]圖5為本發(fā)明實(shí)施例所述的第一電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0038]圖6為本發(fā)明示例所述的第一電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0039]以下結(jié)合說明書附圖及具體實(shí)施例對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)闡述。
[0040]方法實(shí)施例一:
[0041]如圖1所示，本實(shí)施例提供一種信息處理方法，應(yīng)用于包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備中；
[0042]所述方法包括:
[0043]步驟SllO:將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0044]步驟S120:建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0045]所述內(nèi)存單元為包括內(nèi)存的單元，所述內(nèi)存又可稱為主存，是第一電子設(shè)備內(nèi)的處理器(如中央處理器CPU)能夠直接尋址的存儲空間，具有存儲速率快等優(yōu)點(diǎn)。例如，所述內(nèi)存單元可包括同步動態(tài)隨機(jī)存儲器(Synchronous Dynamic Random Access Memory,SDRAM)o
[0046]所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元通常為位于第二電子設(shè)備中的網(wǎng)絡(luò)接口單元，所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元可為包括CNA網(wǎng)卡的CNA接口單元。所述CNA網(wǎng)卡為融合網(wǎng)絡(luò)網(wǎng)卡。
[0047]在步驟SllO中將內(nèi)存單元映射成測試存儲單元的具體操作可包括通過執(zhí)行可執(zhí)行代碼，將所述內(nèi)存單元指定為執(zhí)行性能測試的存儲介質(zhì)，如通過開源代碼或包括開源代碼的開源軟件將所述第一電子設(shè)備內(nèi)部的至少部分內(nèi)存指定為進(jìn)行性能測試的存儲介質(zhì)。通過步驟SllO實(shí)現(xiàn)了將所述內(nèi)存單元虛擬成硬盤來使用，形成了能夠用于第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試的測試存儲單元。
[0048]在步驟S120中建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接可包括通過建立第一電子設(shè)備與所述第一網(wǎng)路接口單元之間的直連鏈路來建立所述網(wǎng)路連接，還可包括所述第一電子設(shè)備和所述第一網(wǎng)絡(luò)接口均連接到互聯(lián)網(wǎng)，通過互聯(lián)網(wǎng)來建立所述第一電子設(shè)備與第一網(wǎng)絡(luò)接口之間的連接；進(jìn)而所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元通過訪問所述第一電子設(shè)備而訪問到所述測試存儲單元。
[0049]具體如，第一電子設(shè)備可以依次通過iSCSI及以太網(wǎng)光纖通道(Fiber Channelover Ethernet，F(xiàn)CoE)與第一網(wǎng)絡(luò)接口單元建立網(wǎng)絡(luò)連接。所述SCSI為Internet SmallComputer System Interface，對應(yīng)的中文為網(wǎng)絡(luò)小型計算機(jī)系統(tǒng)接口。
[0050]在本實(shí)施例中將內(nèi)存單元映射成測試存儲單元，這樣在進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試時，是直接對內(nèi)存單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮?，而?nèi)存單元的讀或?qū)懖僮鞯乃俾蚀笥谟脖P的讀或?qū)懖僮?，這樣可以相對于現(xiàn)有技術(shù)中采用硬盤作為測試存儲單元；可以減少因硬盤讀或?qū)懖僮鞯乃俾事綄?dǎo)致對第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試結(jié)果不精確的問題。于此同時，利用第一電子設(shè)備的內(nèi)存單元作為所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元進(jìn)行性能測試的測試存儲單元，不用額外購置專用進(jìn)行性能測試的硬盤，從而還能降低測試成本，更好的利用了第一電子設(shè)備的內(nèi)存。
[0051]方法實(shí)施例二:
[0052]如圖1所示，本實(shí)施例提供一種信息處理方法，應(yīng)用于包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備中；
[0053]所述方法包括:
[0054]步驟SllO:將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0055]步驟S120:建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0056]如圖2所示，所述方法還包括:
[0057]步驟S130:通過所述網(wǎng)絡(luò)連接接收所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元發(fā)送的測試信息；
[0058]步驟S140:依據(jù)所述測試信息，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和/或讀數(shù)據(jù)；
[0059]其中，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)均為所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試操作。
[0060]所述測試信息可包括測試指令和操作數(shù)據(jù)；所述測試指令可包括讀指令或?qū)懼噶畹戎噶?。所述操作?shù)據(jù)包括向測試存儲單元寫入的數(shù)據(jù)等信息。
[0061]在本實(shí)施例中當(dāng)建立好所述網(wǎng)絡(luò)連接之后，就可以進(jìn)行所述性能測試了。故在步驟S130中所述第一電子設(shè)備將接收所述測試信息，并在步驟S140中依據(jù)所述測試信息在所述測試存儲單元，即所述內(nèi)存單元中進(jìn)行寫數(shù)據(jù)的寫操作或讀數(shù)據(jù)的讀操作。
[0062]采用本實(shí)施例所述的信息處理方法來進(jìn)行所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試，顯然由于內(nèi)存單元的快速讀寫，在進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸性能測試中，可以減少第一電子設(shè)備響應(yīng)性能測試導(dǎo)致的時延誤差，從而能夠提升性能測試的精確性。
[0063]方法實(shí)施例三:
[0064]如圖1所示，本實(shí)施例提供一種信息處理方法，應(yīng)用于包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備中；
[0065]所述方法包括:
[0066]步驟SllO:將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0067]步驟S120:建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0068]所述步驟SllO包括:
[0069]將所述內(nèi)存單元映射成用于測試的SAN存儲單元。所述SAN為Storage AreaNetworking的縮寫，對應(yīng)的中文可為存儲區(qū)域網(wǎng)。本實(shí)施例所述的步驟SllO中將所述第一電子設(shè)備的內(nèi)存單元映射成所述SAN存儲單元。
[0070]通常SAN存儲單元為基于SAN協(xié)議進(jìn)行信息傳輸?shù)拇鎯卧Ｋ龌赟AN協(xié)議進(jìn)行信息傳輸，可包括采用光纖等光信號傳輸通道進(jìn)行的信息傳輸。采用光纖等光信號傳輸通道進(jìn)行信息傳輸，能夠減少傳輸通道傳輸慢誤認(rèn)為是被測試的第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的信息傳輸慢的概率，從而再次提高所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試的精確度。所述光信號傳輸通道具體可包括FCoE。
[0071]方法實(shí)施例四:
[0072]如圖1所示，本實(shí)施例提供一種信息處理方法，應(yīng)用于包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備中；
[0073]所述方法包括:
[0074]步驟SllO:將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0075]步驟S120:建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0076]如圖3所示，所述第一電子設(shè)備還包括第二網(wǎng)絡(luò)接口單元；所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述內(nèi)存單元相連；
[0077]所述步驟S120可包括:建立所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元之間的連接。
[0078]所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元通常為設(shè)置在第二電子設(shè)備中的網(wǎng)絡(luò)接口，所述第一電子設(shè)備也包括網(wǎng)絡(luò)接口單元，所述第一電子設(shè)備包括的網(wǎng)絡(luò)接口可為所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元。所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元可為各種類型的網(wǎng)絡(luò)接口，如可為包括CNA網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)絡(luò)接口單元，還可為包括以太網(wǎng)光纖通道FCoE接口。
[0079]圖4所示的結(jié)構(gòu)為圖3所示的結(jié)構(gòu)的一個示例，所述第二電子設(shè)備中的第一網(wǎng)絡(luò)接口單元為包括CNA網(wǎng)卡的網(wǎng)絡(luò)接口單元，所述第一電子設(shè)備的第二網(wǎng)絡(luò)接口單元也為包括CNA網(wǎng)卡的網(wǎng)絡(luò)接口單元，所述第一網(wǎng)路接口單元和第二網(wǎng)路接口單元之間建立有網(wǎng)絡(luò)連接。
[0080]本實(shí)施例所述第一電子設(shè)備具體可為測試服務(wù)器，所述第二電子設(shè)備為設(shè)置有待測網(wǎng)絡(luò)接口單元的服務(wù)器。
[0081]本實(shí)施例所述的信息處理方法，在進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的心梗測試時，具有測試結(jié)果精確以及測試成本低等優(yōu)點(diǎn)。
[0082]設(shè)備實(shí)施例一:
[0083]如圖5所示，本實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備為包括內(nèi)存單元110的第一電子設(shè)備，
[0084]所述第一電子設(shè)備包括:
[0085]控制單元120，用于將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0086]連接單元130，用于建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0087]所述內(nèi)存單元110為包括內(nèi)存的存儲單元，所述內(nèi)存的相關(guān)介紹可以參見方法實(shí)施例一，在此就不再重復(fù)介紹了。
[0088]所述控制單元120及所述連接單元130的具體結(jié)構(gòu)可包括處理器及存儲介質(zhì)；所述處理器與存儲介質(zhì)之間通過總線連接。所述存儲介質(zhì)上可存儲有可執(zhí)行代碼，所述處理器通過執(zhí)行所述可執(zhí)行代碼能夠是吸納所述控制單元120的功能。所述處理器可包括應(yīng)用處理器AP、中央處理器CPU、微處理器MCU、數(shù)字信號處理器DSP、可編程陣列PLC等結(jié)構(gòu)。所述可執(zhí)行代碼可以為開源SAN軟件代碼等。所述控制單元120和所述連接單元130可單獨(dú)對應(yīng)不同的處理器或集成對應(yīng)相同的處理器。
[0089]所述連接單元130為能夠控制第一電子設(shè)備與第一網(wǎng)絡(luò)接口單元建立連接的結(jié)構(gòu)，具體如控制位于所述第一電子設(shè)備上的網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元建立網(wǎng)絡(luò)連接。位于所述第一電子設(shè)備上的所述網(wǎng)絡(luò)接口單元可為包括各種類型的網(wǎng)卡的單元。
[0090]本實(shí)施例所述第一電子設(shè)備可以為各種類型的具有信息處理功能的電子設(shè)備，如用于第一網(wǎng)絡(luò)接口單元性能測試的服務(wù)器等。
[0091]所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元可為包括CNA網(wǎng)卡的CNA接口單元。所述第一電子設(shè)備可以通過光信號傳輸通道與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元建立網(wǎng)絡(luò)連接。
[0092]總之本實(shí)施例所述的第一電子設(shè)備能夠用于進(jìn)行方法實(shí)施例中所述的信息處理，用本實(shí)施例所述第一電子設(shè)備進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試，不用另外專門設(shè)置用于進(jìn)行性能設(shè)置的硬盤，且通過利用內(nèi)存單元110來進(jìn)行性能測試，能夠提高測試結(jié)果的精確性。
[0093]設(shè)備實(shí)施例二:
[0094]如圖5所示，本實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備為包括內(nèi)存單元110的第一電子設(shè)備，
[0095]所述第一電子設(shè)備包括:
[0096]控制單元120，用于將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0097]連接單元130，用于建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0098]所述第一電子設(shè)備還包括:
[0099]第二網(wǎng)絡(luò)接口單元，用于通過所述網(wǎng)絡(luò)連接接收所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元發(fā)送的測試信息；
[0100]所述控制單元120，還用于依據(jù)所述測試信息，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和/或讀數(shù)據(jù)；
[0101]其中，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)均為所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試操作。
[0102]在本實(shí)施例中所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元可在所述連接單元120的控制下，建立與上所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，并接收所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元發(fā)送的測試信息。所述測試信息可包括測試指令以及操作數(shù)等信息。
[0103]控制單元120還用于依據(jù)測試信息，對測試存儲單元進(jìn)行寫數(shù)據(jù)和/或讀數(shù)據(jù)等操作；實(shí)質(zhì)上在所述第一電子設(shè)備的內(nèi)存單元110上進(jìn)行寫數(shù)據(jù)和/或讀數(shù)據(jù)等操作。
[0104]這樣就能實(shí)現(xiàn)利用第一電子設(shè)備的內(nèi)存單元110虛擬成測試存儲單元來進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試，具有測試結(jié)果精確、第一電子設(shè)備的內(nèi)存使用率高以及測試成本低的優(yōu)點(diǎn)。
[0105]設(shè)備實(shí)施例三:
[0106]如圖5所示，本實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備為包括內(nèi)存單元110的第一電子設(shè)備，
[0107]所述第一電子設(shè)備包括:
[0108]控制單元120，用于將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0109]連接單元130，用于建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0110]所述控制單元120，具體用于將所述內(nèi)存單元映射成用于測試的SAN存儲單元。
[0111]所述控制單元120的具體結(jié)構(gòu)可以參見設(shè)備實(shí)施例一，所述控制單元120可以通過執(zhí)行可執(zhí)行代碼可將所述內(nèi)存單元虛擬映射成各種類型的存儲單元，在本實(shí)施例中優(yōu)選為SAN存儲單元，這樣能夠進(jìn)一步提高測試結(jié)果的精確度。
[0112]設(shè)備實(shí)施例四:
[0113]如圖5所示，本實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備為包括內(nèi)存單元110的第一電子設(shè)備，
[0114]所述第一電子設(shè)備包括:
[0115]控制單元120，用于將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0116]連接單元130，用于建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0117]如圖4所示，所述第一電子設(shè)備還包括第二網(wǎng)絡(luò)接口單元；所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述內(nèi)存單元相連；所述連接單元120，具體用于建立所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的連接。
[0118]所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元可為包括CNA網(wǎng)卡的網(wǎng)絡(luò)接口或包括FCoE網(wǎng)卡的網(wǎng)口接
□ O
[0119]本實(shí)施例在上述設(shè)備實(shí)施例的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步限定了第一電子設(shè)備的具體結(jié)構(gòu)，本實(shí)施例所述的第一電子設(shè)備同樣的也具有能夠進(jìn)行精確的第一網(wǎng)絡(luò)接口的性能測試的優(yōu)點(diǎn)。
[0120]設(shè)備實(shí)施例五:
[0121]如圖5所示，本實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備為包括內(nèi)存單元110的第一電子設(shè)備，
[0122]所述第一電子設(shè)備包括:
[0123]控制單元120，用于將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試；
[0124]連接單元130，用于建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。
[0125]所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元之間，通過FCoE建立連接。所述FCoE為以太網(wǎng)光纖通道，采用光纖通道進(jìn)行測試信息的傳輸，能夠減少傳輸路徑上消耗的傳輸時間，從而能夠進(jìn)一步精確所述測試結(jié)果。
[0126]如圖6所示為應(yīng)用在Linux系統(tǒng)的一個第一電子設(shè)備的邏輯實(shí)體示意圖，其中圖示中的所述RAMDISK可為由內(nèi)存虛擬成的測試存儲單元。所述開源SAN軟件為運(yùn)行在所述Linux系統(tǒng)中的可執(zhí)行代碼，所述CNA控制為對應(yīng)進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的控制邏輯，這些都對應(yīng)著所述控制單元120。
[0127]總之，本實(shí)施例所述的第一電子設(shè)備在進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口時，具有測試結(jié)果精確以及測試成本低的優(yōu)點(diǎn)。
[0128]值得注意的是:本申請中的各個實(shí)施例在不相互矛盾的基礎(chǔ)上都可以相互結(jié)合，形成一個更為具體的實(shí)施例。具體如方法實(shí)施例一至四中的任意兩個的技術(shù)方案都可以兩兩結(jié)合，形成更為具體的實(shí)施方案；同樣也情況也適用于設(shè)備實(shí)施例。
[0129]在本申請所提供的幾個實(shí)施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的設(shè)備和方法，可以通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。以上所描述的設(shè)備實(shí)施例僅僅是示意性的，例如，所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實(shí)際實(shí)現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，如:多個單元或組件可以結(jié)合，或可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另外，所顯示或討論的各組成部分相互之間的耦合、或直接耦合、或通信連接可以是通過一些接口，設(shè)備或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性的、機(jī)械的或其它形式的。
[0130]上述作為分離部件說明的單元可以是、或也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是、或也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，也可以分布到多個網(wǎng)絡(luò)單元上；可以根據(jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或全部單元來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。
[0131]另外，在本發(fā)明各實(shí)施例中的各功能單元可以全部集成在一個處理模塊中，也可以是各單元分別單獨(dú)作為一個單元，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中；上述集成的單元既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用硬件加軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)。
[0132]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實(shí)現(xiàn)上述方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，前述的程序可以存儲于一計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述方法實(shí)施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括:移動存儲設(shè)備、只讀存儲器(ROM，Read-Only Memory)、隨機(jī)存取存儲器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。
[0133]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項】
1.一種信息處理方法，應(yīng)用于包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備中； 所述方法包括: 將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試； 建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于， 所述方法還包括: 通過所述網(wǎng)絡(luò)連接接收所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元發(fā)送的測試信息； 依據(jù)所述測試信息，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和/或讀數(shù)據(jù)； 其中，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)均為所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試操作。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于， 所述將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元，包括: 將所述內(nèi)存單元映射成用于測試的SAN存儲單元。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于， 所述第一電子設(shè)備還包括第二網(wǎng)絡(luò)接口單元；所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述內(nèi)存單元相連； 所述建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)男畔?，包? 建立所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元之間的連接。5.一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備為包括內(nèi)存單元的第一電子設(shè)備， 所述第一電子設(shè)備包括: 控制單元，用于將所述內(nèi)存單元映射成測試存儲單元；所述測試存儲單元用于進(jìn)行第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試； 連接單元，用于建立與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的網(wǎng)絡(luò)連接，以使所述測試存儲單元能獲取所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元傳輸?shù)臏y試信息。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子設(shè)備，其特征在于， 所述第一電子設(shè)備還包括: 第二網(wǎng)絡(luò)接口單元，用于通過所述網(wǎng)絡(luò)連接接收所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元發(fā)送的測試信息; 所述控制單元，還用于依據(jù)所述測試信息，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和/或讀數(shù)據(jù)； 其中，向所述測試存儲單元寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)均為所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的性能測試操作。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子設(shè)備，其特征在于， 所述控制單元，具體用于將所述內(nèi)存單元映射成用于測試的SAN存儲單元。8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子設(shè)備，其特征在于， 所述第一電子設(shè)備還包括第二網(wǎng)絡(luò)接口單元；所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述內(nèi)存單元相連；所述連接單元，具體用于建立所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元的連 接。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述第二網(wǎng)絡(luò)接口單元與所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元之間，通過FCoE建立連接。10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一網(wǎng)絡(luò)接口單元為CNA接口單元。
【文檔編號】H04L12/02GK105991368SQ201510101526
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2015年3月6日
【發(fā)明人】朱勁松
【申請人】聯(lián)想(北京)有限公司