一種8合1射頻測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種8合1射頻測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展，用戶對(duì)于無(wú)線網(wǎng)絡(luò)傳輸速率的要求越來(lái)越高，為了滿足 用戶的需求增強(qiáng)自身的競(jìng)爭(zhēng)力，運(yùn)營(yíng)商開(kāi)始部署第四代移動(dòng)通信網(wǎng)絡(luò)。目前中國(guó)只發(fā)布了 TD-LTE的4G拍照且分配的頻譜的頻率范圍比較高。由于頻譜特性決定高頻在覆蓋上要弱 于低頻，為了提高站點(diǎn)的覆蓋能力和容量，減少站點(diǎn)的數(shù)量，從而縮減成本以及工程量，目 前運(yùn)營(yíng)商在建設(shè)TD-LTE網(wǎng)絡(luò)時(shí)，很多都采用多天線技術(shù)。目前8T8R和2T2R是TD-LTE解 決方案的主流。為了適應(yīng)這種方案，目前通信RRU的射頻部分大多也采用8T8R方案。由于 要測(cè)試多個(gè)通道的射頻信號(hào)，在測(cè)試過(guò)程中通道切換，設(shè)備和測(cè)試儀器連接的射頻線纜也 要切換到相應(yīng)的通道，導(dǎo)致測(cè)試效率低下。為了解決這個(gè)問(wèn)題設(shè)計(jì)了這款8合1測(cè)試工裝。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003] 本實(shí)用新型的目的是為了減少在測(cè)試8路射頻模塊時(shí)切換輸入線路或者儀器，提 高測(cè)試效率和減少儀器使用量，以減少設(shè)計(jì)生產(chǎn)成本。本實(shí)用新型通過(guò)邏輯轉(zhuǎn)換來(lái)實(shí)現(xiàn)射 頻通道的選擇性切換，可以通過(guò)外部電源提供邏輯電平，也可以通過(guò)數(shù)字電路配合軟件一 起提供邏輯電平，提供了一種通用性強(qiáng)、架構(gòu)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單、且測(cè)試時(shí)操作簡(jiǎn)單的裝置。
[0004] 本實(shí)用新型的技術(shù)方案為：
[0005] -種8合1射頻測(cè)試裝置，所述裝置包括射頻合路電路，該電路主要功能是為射頻 信號(hào)提供通路，實(shí)現(xiàn)射頻信號(hào)的切換；邏輯控制電路，邏輯控制電路和射頻合路電路相連， 將外部提供的邏輯電平轉(zhuǎn)換為所需要的電平來(lái)控制射頻合路電路每個(gè)射頻通路的通斷。電 源電路，該電路主要是為其他電路提供直流電壓。
[0006] 所述射頻合路電路包括兩個(gè)4合1射頻開(kāi)關(guān)和一個(gè)2合1射頻開(kāi)關(guān)。
[0007] 與射頻合路電路相連的邏輯控制電路主要包括若干個(gè)與門、非門和與非門，并與 該裝置外部的MCU相連或者直接與外部的其他電平控制裝置相連；
[0008] 與射頻合路電路以及邏輯控制電路分別相連的電源電路包括DC-DC開(kāi)關(guān)電源和 LD0線性穩(wěn)壓電源，是整個(gè)系統(tǒng)的電源。
[0009] 所述的射頻合路電路中，8個(gè)射頻輸入端分別與兩個(gè)4合1開(kāi)關(guān)的8個(gè)端子相連， 兩個(gè)4合1射頻開(kāi)關(guān)的合路端分別和2合1射頻開(kāi)關(guān)的兩個(gè)端子相連，2合1射頻開(kāi)關(guān)的合 路端和整個(gè)電路的射頻合路端相連。
[0010] 所述的電源電路中，電源的輸入端和輸出端均設(shè)置有濾波電路。
[0011] 采用本實(shí)用新型所述的測(cè)試裝置，相比于傳統(tǒng)的測(cè)試方案，減少了測(cè)試時(shí)間，減小 了測(cè)試難度，節(jié)約了測(cè)試成本，從而提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
【附圖說(shuō)明】
[0012] 圖1為本實(shí)用新型的系統(tǒng)原理框圖。
[0013] 圖2為本實(shí)用新型的電源單元原理框圖。
[0014] 圖3為本實(shí)用新型的射頻合路單元原理框圖。
[0015] 圖4為本實(shí)用新型的邏輯控制單元原理框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0016] 下面結(jié)合附圖及具體實(shí)例，對(duì)本實(shí)用新型電路的實(shí)施作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
[0017]圖1是本實(shí)用新型的系統(tǒng)原理框圖。整個(gè)實(shí)用新型有三個(gè)部分組成：射頻合路單 元、邏輯控制單元和電源單元。整個(gè)系統(tǒng)有一個(gè)主電源，由電源單元轉(zhuǎn)換為所需的直流電 壓，轉(zhuǎn)換后的直流電壓給射頻合路單元和邏輯控制單元供電。邏輯控制單元起到邏輯轉(zhuǎn)換 的功能，它與外部的MCU或者直接與外部的其他電平控制裝置相連相連，將MCU或者其他電 平控制裝置相連的控制邏輯轉(zhuǎn)換后用于控制射頻合路單元。邏輯控制單元可以保證射頻合 路單元其中一路射頻輸入信號(hào)只可以以較小的插損傳輸?shù)?射頻輸出端其中1個(gè)，即保證 在測(cè)試其中某一通道時(shí)，其他通道對(duì)于輸出端來(lái)說(shuō)是關(guān)閉的。射頻合路單元受到MCU和邏 輯控制單元的控制，它是射頻通道切換的主體。射頻合路單元是個(gè)線性裝置，不會(huì)影響輸入 信號(hào)的線性、增益波動(dòng)等，或者使得這些信號(hào)的的改變?cè)诳山邮芊秶鷥?nèi)。
[0018] 圖2是電源單元的原理框圖。
[0019] 整個(gè)電源單元由一個(gè)DC-DC開(kāi)關(guān)電源和一個(gè)LD0線性穩(wěn)壓電源組成。電源單元有 一個(gè)主電源，為28V直流電壓。DC-DC開(kāi)關(guān)電源將28V電壓變換換到+5V。電源輸出電壓可 以由Vout端和FB相連的電阻決定。為了使得輸出電壓的紋波滿足要求，請(qǐng)根據(jù)開(kāi)關(guān)電源的 要求選擇合適的電感和合適的低ESR電容。開(kāi)關(guān)電源輸出的5V直流電壓除了直接給射頻 合路單元和邏輯控制單元供電外，還作為L(zhǎng)D0的輸入電壓。LD0將5V直流電壓變換到3. 3V 直流電壓，3. 3V直流電壓給射頻合路單元提供直流電壓。
[0020] 圖3是射頻合路單元的原理框圖。
[0021] 整個(gè)射頻合路單元由兩個(gè)4合1射頻開(kāi)關(guān)（或者可以實(shí)現(xiàn)4合1射頻合路的其他 射頻開(kāi)關(guān)）和一個(gè)2和1射頻開(kāi)關(guān)（或者可以實(shí)現(xiàn)2合1射頻合路的其他射頻開(kāi)關(guān)）組成。 可以根據(jù)測(cè)試的需求選擇開(kāi)關(guān)時(shí)間、隔離度、工作頻率、P1和IP3合適的射頻開(kāi)關(guān)。
[0022] 圖4是邏輯控制單元的原理框圖。對(duì)每個(gè)模塊分別而言：
[0023] 整個(gè)邏輯控制單元由門電路組成。通過(guò)門電路將4路控制信號(hào)轉(zhuǎn)換 為射頻合路單元中的射頻開(kāi)關(guān)的控制電平。保證其中一路開(kāi)啟時(shí)，其他幾路 是關(guān)閉的。其中一路4合1開(kāi)關(guān)的管腳控制電平和MCU給出的邏輯電平的關(guān) 系如下面三個(gè)公式：V3=FH_POW_RSW4,V2=FH_P0W_RSW2-FH_P0W_RSW3, Vl=Ft_K)W_RSWl-Fli_K)W_RSW3:另外一路4合1開(kāi)關(guān)的管腳控制電 平和MCU給出的邏輯電平的關(guān)系如下面三個(gè)公式：V3=FH_POW_RSW8, V2=Ft_P0W_RSW6-FE_IJ0W_RSW7,V1=FHPOVV_RSW5?FH_P0VV_RSW7。 2合1開(kāi)關(guān)的管腳控制電平和MCU給出的邏輯電平的關(guān)系如下面三個(gè)公式：VCTL= Ft；_P0W_RSW1 ?FtJ)0W_RSW2_FH_l)0W_RSW3-Ffc；_K)W_RSW4。經(jīng)過(guò)邏輯控制單元的電 平轉(zhuǎn)換，MCU給出的控制電平和控制射頻開(kāi)關(guān)的電平的關(guān)系見(jiàn)下面的真值表。
[0024]
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種8合1射頻測(cè)試裝置，其特征在于：包括射頻合路電路，該電路為射頻信號(hào)提供 通路，實(shí)現(xiàn)射頻信號(hào)的切換； 邏輯控制電路，邏輯控制電路與射頻合路電路相連，將外部提供的邏輯電平 轉(zhuǎn)換為所需要的電平來(lái)控制射頻合路電路每個(gè)射頻通路的通斷； 電源電路，該電路為其他兩個(gè)電路提供直流電壓。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種8合1射頻測(cè)試裝置，其特征在于：所述射頻合路電路 包括兩個(gè)4合1射頻開(kāi)關(guān)和一個(gè)2合1射頻開(kāi)關(guān)；與射頻合路電路相連的邏輯控制電路包 括若干個(gè)與口、非n和與非口，并與該裝置外部的MCU相連；與射頻合路電路W及邏輯控制 電路分別相連的電源電路包括DC-DC開(kāi)關(guān)電源和LDO線性穩(wěn)壓電源。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種8合1射頻測(cè)試裝置，其特征在于：所述的射頻合路電 路中，8個(gè)射頻輸入端分別與兩個(gè)4合1開(kāi)關(guān)的8個(gè)端子相連，兩個(gè)4合1射頻開(kāi)關(guān)的合路 端分別和2合1射頻開(kāi)關(guān)的兩個(gè)端子相連，2合1射頻開(kāi)關(guān)的合路端和整個(gè)電路的射頻合路 端相連。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種8合1射頻測(cè)試裝置，其特征在于；所述的電源電路中， 電源的輸入端和輸出端均設(shè)置有濾波電路。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種8合1射頻測(cè)試裝置。包括：射頻合路單元，該單元連接射頻輸入和輸出，并和邏輯控制單元相連，通過(guò)邏輯單元的控制將一路射頻通路其中一路開(kāi)啟，其他通路關(guān)閉；邏輯控制單元，該單元和射頻合路單元以及外部的監(jiān)控板（現(xiàn)有裝置）相連，主要是控制射頻通路的開(kāi)關(guān)；電源單元，主要是給上述兩個(gè)單元提供直流電壓。該實(shí)用新型和監(jiān)控板配合使用可以自動(dòng)測(cè)試多路的射頻單元，避免了在測(cè)試過(guò)程中不斷的換線，減少了儀器的使用量，提高了多路射頻單元的測(cè)試效率，減少了多路射頻單元的測(cè)試成本和測(cè)試時(shí)間。此外該實(shí)用新型還具有通用性強(qiáng)，架構(gòu)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單，資源少、成本低的特點(diǎn)。
【IPC分類】H04B17-309
【公開(kāi)號(hào)】CN204376921
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520086072
【發(fā)明人】張國(guó)強(qiáng), 羅偉, 胡愷珣, 張雪, 李德明, 高金萍
【申請(qǐng)人】武漢虹信通信技術(shù)有限責(zé)任公司
【公開(kāi)日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2015年2月6日