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      用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):10444106閱讀:716來源:國知局
      用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型屬于光通信域,具體涉及一種用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著光通信技術(shù)及物聯(lián)網(wǎng)的迅猛發(fā)展,光模塊作為網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)互通的核心部件,在越來越多的領(lǐng)域得到了大規(guī)模應(yīng)用。光模塊中使用的關(guān)鍵物料-光電芯片的性能參數(shù)受溫度的影響較大,為了檢驗(yàn)光模塊的性能在高低溫環(huán)境下是否滿足要求,一般會(huì)對(duì)光模塊進(jìn)行高低溫性能測(cè)試。在現(xiàn)有的生產(chǎn)及科研測(cè)試中,對(duì)光模塊進(jìn)行溫度測(cè)試所采用的環(huán)境設(shè)備一般是如今大量使用的溫循箱。進(jìn)行溫度測(cè)試時(shí),在溫循箱中放置光模塊,光模塊的光電參數(shù)測(cè)試待溫度穩(wěn)定一段時(shí)間后進(jìn)行,測(cè)試完成后,打開箱門更新下一只光模塊,重新等待溫度穩(wěn)定一段時(shí)間后進(jìn)行光電性能測(cè)試。在待測(cè)試的光模塊數(shù)量較少時(shí),該方法還可以適用。當(dāng)光模塊數(shù)量較多時(shí),該方法將難以完成測(cè)試任務(wù)。在進(jìn)行模塊溫度測(cè)試時(shí),對(duì)模塊進(jìn)行性能測(cè)試所花費(fèi)的時(shí)間較少,絕大部分時(shí)間都花費(fèi)在溫循箱箱內(nèi)溫度的穩(wěn)定等待上。如果在不打開箱門的前提下單次進(jìn)行多只模塊的性能測(cè)試,則相當(dāng)于大大減少了每只模塊的溫度等待時(shí)間,可以大大加快測(cè)試速度,滿足生產(chǎn)和科研的要求。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本實(shí)用新型的目的就是針對(duì)上述技術(shù)的不足,提供一種能有效提高測(cè)試效率的用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng)。
      [0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型所設(shè)計(jì)的用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng),包括
      [0005]待測(cè)光模塊評(píng)估板:包括復(fù)用器、與復(fù)用器接口相連的多路待測(cè)光模塊;
      [0006]光源:通過光開關(guān)與待測(cè)光模塊連接,并為各個(gè)待測(cè)光模塊提供光信號(hào),光源與光開關(guān)之間設(shè)置有光衰減器,光開關(guān)與各個(gè)待測(cè)光模塊之間通過選路開關(guān)導(dǎo)通;
      [0007]誤碼儀:誤碼儀發(fā)出光源電信號(hào)驅(qū)動(dòng)光源發(fā)出光信號(hào),并且接收復(fù)用器發(fā)出的電信號(hào)。
      [0008]進(jìn)一步地,所述光衰減器與所述光開關(guān)之間設(shè)置有光分路器,所述光分路器的一個(gè)輸出端與光不波器的一個(gè)輸入端相連,所述誤碼儀的輸出端與所述光不波器的另一個(gè)輸入端相連。
      [0009]進(jìn)一步地,所述誤碼儀發(fā)出的偽隨機(jī)碼電信號(hào)通過扇出器分成多路獨(dú)立的電信號(hào)給各個(gè)待測(cè)光模塊。
      [0010]進(jìn)一步地,所述光開關(guān)為1:8或1:16雙向可逆光開關(guān)。
      [0011]進(jìn)一步地,所述光分路器為1:2雙向可逆光分路器。
      [0012]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn):多個(gè)待測(cè)光模塊在同一溫度環(huán)境和待測(cè)光模塊評(píng)估板上進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試結(jié)果一致性好,極大減少開關(guān)溫循箱的次數(shù),加快了待測(cè)光模塊溫度測(cè)試速度;并且一次性完成多各待測(cè)光模塊的發(fā)射和接收測(cè)試工作,中途不需要換纖動(dòng)作,大大提高了測(cè)試效率。
      【附圖說明】
      [0013]圖1為本實(shí)用新型用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
      [0014]其中:待測(cè)光模塊評(píng)估板11、光源1、光衰減器2、光分路器3、光示波器4、誤碼儀5、光開關(guān)6、選路開關(guān)7、復(fù)用器8、待測(cè)光模塊9、扇出器10、待測(cè)光模塊評(píng)估板11。
      【具體實(shí)施方式】
      [0015]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
      [0016]如圖1為用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng),包括待測(cè)光模塊評(píng)估板11、光源1、光衰減器2、光示波器4、誤碼儀5、光分路器3、選路開關(guān)7及光開關(guān)6,其中:待測(cè)光模塊評(píng)估板11包括復(fù)用器8及與復(fù)用器8接口相連的多路待測(cè)光模塊9。
      [0017]誤碼儀5的三個(gè)輸出端分別與光源1、光不波器4的輸入端及扇出器10的輸入端相連,光源I依次通過光衰減器2、光分路器4、光開關(guān)6與待測(cè)光模塊9相連,光開關(guān)6與各個(gè)待測(cè)光模塊9之間通過選路開關(guān)7導(dǎo)通,光分路器3的另一個(gè)輸出端與光示波器4的另一個(gè)輸入端相連,扇出器10的輸出端分別與各個(gè)待測(cè)光模塊9相連,復(fù)用器8的輸出端與誤碼儀5的輸入端相連。本實(shí)施例中光開關(guān)6為1:8或1:16雙向可逆光開關(guān)6,根據(jù)一次需要測(cè)試的待測(cè)光模塊9數(shù)量選擇合適的光開關(guān)6,進(jìn)行測(cè)試系統(tǒng)組合時(shí),使光開關(guān)6和復(fù)用器8的路數(shù)保持一致即可;光分路器3為1:2雙向可逆光分路器3。
      [0018]誤碼儀5發(fā)出光源電信號(hào)驅(qū)動(dòng)光源I發(fā)出光信號(hào),通過選路開關(guān)7導(dǎo)通光開元6與所需測(cè)試的待測(cè)光模塊9,所需測(cè)試的待測(cè)光模塊9與復(fù)用器8對(duì)應(yīng)的通路導(dǎo)通,其它光路處于斷開狀態(tài),光信號(hào)通過光衰減器2、光分路器3、光開關(guān)6輸送給待測(cè)光模塊9,待測(cè)光模塊9將接收到的光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào),通過復(fù)用器8輸送給誤碼儀5進(jìn)行誤碼校驗(yàn),完成該通道的誤碼測(cè)試,多個(gè)測(cè)試通道共用一臺(tái)誤碼儀即可完成多個(gè)待測(cè)光模塊的測(cè)試,使多個(gè)待測(cè)光模塊在同一環(huán)境條件下一次性完成測(cè)試任務(wù),提高光模塊測(cè)試產(chǎn)能。同時(shí),誤碼儀5發(fā)出的偽隨機(jī)碼電信號(hào)通過扇出器10分成多路獨(dú)立的電信號(hào)給各個(gè)待測(cè)光模塊9,可以保證輸入到每個(gè)待測(cè)光模塊9的電信號(hào)質(zhì)量。
      [0019]再次如圖1中的誤碼儀5發(fā)出觸發(fā)信號(hào)給光示波器4,光示波器4不僅可以測(cè)試待測(cè)光模塊9的電眼圖,還可以測(cè)試待測(cè)光模塊9發(fā)射端的發(fā)射光功率。
      [0020]在進(jìn)行測(cè)試前,對(duì)所有光路進(jìn)行統(tǒng)一校準(zhǔn),使光衰減器的衰減量和實(shí)際光功率值對(duì)應(yīng)起來,根據(jù)光衰減器的衰減量就可以對(duì)應(yīng)出待測(cè)光模塊的接收靈敏度值。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:包括 待測(cè)光模塊評(píng)估板(11):包括復(fù)用器(8)、與復(fù)用器(8)接口相連的多路待測(cè)光模塊(9); 光源(I):通過光開關(guān)(6)與待測(cè)光模塊(9)連接,并為各個(gè)待測(cè)光模塊(9)提供光信號(hào),光源(I)與光開關(guān)(6)之間設(shè)置有光衰減器(2),光開關(guān)(6)與各個(gè)待測(cè)光模塊(9)之間通過選路開關(guān)(7)導(dǎo)通; 誤碼儀(5):誤碼儀(5)發(fā)出光源電信號(hào)驅(qū)動(dòng)光源(I)發(fā)出光信號(hào),并且接收復(fù)用器(8)發(fā)出的電信號(hào)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述光衰減器(2)與所述光開關(guān)(6)之間設(shè)置有光分路器(3),所述光分路器(3)的一個(gè)輸出端與光示波器(4)的一個(gè)輸入端相連,所述誤碼儀(5)的輸出端與所述光示波器(4)的另一個(gè)輸入端相連。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述誤碼儀(5)發(fā)出的偽隨機(jī)碼電信號(hào)通過扇出器(10)分成多路獨(dú)立的電信號(hào)給各個(gè)待測(cè)光模塊(9)04.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述光開關(guān)(6)為1:8或1:16雙向可逆光開關(guān)(6)。5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述光分路器(3)為1:2雙向可逆光分路器(3)。
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種用于光模塊的多通道并行測(cè)試系統(tǒng),待測(cè)光模塊評(píng)估板包括復(fù)用器、與復(fù)用器接口相連的多路待測(cè)光模塊;光源通過光開關(guān)與待測(cè)光模塊連接,并為各個(gè)待測(cè)光模塊提供光信號(hào),光源與光開關(guān)之間設(shè)置有光衰減器,光開關(guān)與各個(gè)待測(cè)光模塊之間通過選路開關(guān)導(dǎo)通;誤碼儀發(fā)出光源電信號(hào)驅(qū)動(dòng)光源發(fā)出光信號(hào),并且接收復(fù)用器發(fā)出的待測(cè)光模塊接收電信號(hào)。多個(gè)待測(cè)光模塊在同一溫度環(huán)境和待測(cè)光模塊評(píng)估板上進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試結(jié)果一致性好,極大減少開關(guān)溫循箱的次數(shù),加快了待測(cè)光模塊溫度測(cè)試速度;并且一次性完成多各待測(cè)光模塊的發(fā)射和接收測(cè)試工作,中途不需要換纖動(dòng)作,大大提高了測(cè)試效率。
      【IPC分類】H04B10/073
      【公開號(hào)】CN205356347
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201620113760
      【發(fā)明人】徐國旺, 呂輝, 黃楚云, 楊濤
      【申請(qǐng)人】湖北工業(yè)大學(xué)
      【公開日】2016年6月29日
      【申請(qǐng)日】2016年2月4日
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