專利名稱：小型硬盤測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)裝置，特別是一種對(duì)小型硬盤進(jìn)行檢測(cè)的裝置。
背景技術(shù)：
在硬盤的制造過程中，由于技術(shù)的復(fù)雜性，需要對(duì)硬盤性能測(cè)試的項(xiàng)目內(nèi)容非常之多，可達(dá)幾十項(xiàng)之多，測(cè)試的時(shí)間比較長，短的有幾個(gè)小時(shí)，長的達(dá)十幾個(gè)小時(shí)。在這些測(cè)試中，由于硬盤主軸馬達(dá)的高速旋轉(zhuǎn)，其間會(huì)產(chǎn)生大量的熱量，導(dǎo)致測(cè)試過程中硬盤的環(huán)境溫度升高；較高的環(huán)境溫度不利于將硬盤隨時(shí)產(chǎn)生的大量的熱量排走，如果硬盤的溫度愈來愈高，會(huì)嚴(yán)重影響硬盤的正常測(cè)試，例如導(dǎo)致硬盤的讀寫錯(cuò)誤，以及內(nèi)部機(jī)電元件的變形、失常和失效，輕者產(chǎn)生測(cè)試錯(cuò)誤，重者會(huì)使硬盤報(bào)廢，影響產(chǎn)品的良好率和生產(chǎn)效率。
由于過去的硬盤比較大，規(guī)?；a(chǎn)程度不高，大型的硬盤可以在較大的空間里測(cè)試，散熱問題不太突出。但現(xiàn)在的硬盤體積愈來愈小，規(guī)模化生產(chǎn)愈來愈高，常常是幾百個(gè)硬盤在一臺(tái)測(cè)試架上面同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，而且由于現(xiàn)有技術(shù)的限制，測(cè)試架不可能做得很大，在狹小的空間眾多的硬盤同時(shí)散發(fā)出大量的熱量，如果沒有良好的通風(fēng)系統(tǒng)，很難將測(cè)試環(huán)境保持到要求的溫度范圍以內(nèi)。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于，提供一種小型硬盤測(cè)試裝置。它可以在對(duì)小型硬盤進(jìn)行測(cè)試時(shí)，及時(shí)將測(cè)試硬盤過程中產(chǎn)生的熱量排出，將測(cè)試溫度保持在要求的溫度范圍以內(nèi)。
本實(shí)用新型是這樣構(gòu)成的小型硬盤測(cè)試裝置，它包括一個(gè)測(cè)試柜1，測(cè)試柜1底部為測(cè)試電腦2，上面有測(cè)試架3，測(cè)試架3上放置有測(cè)試筒4，測(cè)試筒4上裝有小型硬盤測(cè)試板13，小型硬盤測(cè)試板13上的轉(zhuǎn)接卡9與集線器電路板10相接；其特征在于每組測(cè)試架3的前部有進(jìn)風(fēng)通道8，進(jìn)風(fēng)通道8的頂部設(shè)有進(jìn)風(fēng)風(fēng)扇11；每兩組測(cè)試架3之間有排風(fēng)通道5，排風(fēng)通道5的頂部設(shè)有排風(fēng)扇7和排風(fēng)管6。
上述的小型硬盤測(cè)試裝置中，測(cè)試筒4上最好設(shè)有與排風(fēng)通道5相通的排風(fēng)口12。
前述的小型硬盤測(cè)試裝置中，與轉(zhuǎn)接卡9相接的集線器電路板10的寬度最好不大于測(cè)試筒4寬度的1/2。
本實(shí)用新型能夠及時(shí)將小型硬盤測(cè)試過程中產(chǎn)生的熱空氣排出測(cè)試柜，將測(cè)試溫度保持在要求的溫度范圍以內(nèi)?？杀ＷC硬盤的正常測(cè)試和提高測(cè)試效率，提高產(chǎn)品的良好率和生產(chǎn)效率。


圖1是本實(shí)用新型的正面結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型的工作示意圖；圖4是測(cè)試筒的側(cè)面和背面構(gòu)造示意圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例如圖1所示，小型硬盤測(cè)試裝置，它包括一個(gè)測(cè)試柜1，測(cè)試柜1底部為測(cè)試電腦2，上面有測(cè)試架3，測(cè)試架3上放置有測(cè)試筒4，測(cè)試筒4上裝有可放置小型硬盤的測(cè)試板13，小型硬盤測(cè)試板13上的轉(zhuǎn)接卡9與集線器電路板10相接；集線器電路板10的寬度小于測(cè)試筒4寬度的1/2(參見圖4)。每組測(cè)試架3的前部有進(jìn)風(fēng)通道8，進(jìn)風(fēng)通道8的頂部設(shè)有進(jìn)風(fēng)風(fēng)扇11；每兩組測(cè)試架3之間有排風(fēng)通道5，排風(fēng)通道5的頂部設(shè)有排風(fēng)扇7和排風(fēng)管6；每個(gè)測(cè)試筒4上設(shè)有與排風(fēng)通道5相通的排風(fēng)口12(參見圖2)。
小型硬盤測(cè)試裝置的整體是一個(gè)長方體的立式箱形結(jié)構(gòu)，箱的底部是測(cè)試電腦2，上部的測(cè)試架3四周有用透明材料做成的門，測(cè)試時(shí)測(cè)試門是關(guān)閉的，測(cè)試架3的前部與門之間形成進(jìn)風(fēng)通道8。測(cè)試架3上放置了幾排多層測(cè)試筒4，測(cè)試筒4可以是前后貫通的方框，也可以是與測(cè)試架3預(yù)留空孔融為一體的設(shè)計(jì)，測(cè)試筒4里面有供固定測(cè)試板13的水平臺(tái)條或別的固定用的設(shè)計(jì)，可以方便測(cè)試板13插入或固定，測(cè)試板13上的轉(zhuǎn)接卡9的接口插在緊挨在測(cè)試筒4后邊的USB集線器上。在測(cè)試架3的頂部靠近門的一邊，有吹送空氣用的進(jìn)風(fēng)風(fēng)扇11。每個(gè)測(cè)試筒4的正面，可望見一層層已固定好的測(cè)試板13，測(cè)試板13之間有一定的空隙，可供氣流通過。測(cè)試筒4的背面，是USB集線器電路板10，為了使得測(cè)試筒4里面的熱量能有效及時(shí)地排走，集線器電路板10的尺寸控制在測(cè)試筒4通孔寬度的一半以下，這樣，就可以讓氣流充分地從中流過。每個(gè)測(cè)試筒4可以設(shè)計(jì)專門的排風(fēng)口12通向排風(fēng)通道5，也可以不加任何東西，直接將測(cè)試板13上硬盤產(chǎn)生的熱氣排入排風(fēng)通道5。
排風(fēng)通道5介于兩個(gè)測(cè)試架3之間，從測(cè)試架3頂部進(jìn)風(fēng)風(fēng)扇11吹進(jìn)的空氣，經(jīng)測(cè)試筒4變成了熱風(fēng)，帶走了測(cè)試硬盤產(chǎn)生的熱量，進(jìn)入排氣通道5，排風(fēng)通道5的頂部有幾臺(tái)排風(fēng)風(fēng)扇7，隨時(shí)排走進(jìn)入的熱氣。
整個(gè)氣流的流向如圖3所示，測(cè)試架3頂部的進(jìn)風(fēng)風(fēng)扇11將冷空氣向下吹入測(cè)試裝置，冷空氣經(jīng)各個(gè)測(cè)試筒4將熱空氣帶走，排入排風(fēng)通道5中；由排風(fēng)通道5頂部的多臺(tái)排風(fēng)風(fēng)扇7將熱空氣抽走，經(jīng)排風(fēng)管道6排向室外。
圖4是測(cè)試筒的側(cè)視圖和背面的示意圖，集線器電路板10位于測(cè)試筒4的背面，冷空氣可以從測(cè)試筒4前面進(jìn)入，經(jīng)正在測(cè)試的硬盤，流向測(cè)試筒4后面。
權(quán)利要求1.小型硬盤測(cè)試裝置，它包括一個(gè)測(cè)試柜(1)，測(cè)試柜(1)底部為測(cè)試電腦(2)，上面有測(cè)試架(3)，測(cè)試架(3)上放置有測(cè)試筒(4)，測(cè)試筒(4)上裝有小型硬盤測(cè)試板(13)，小型硬盤測(cè)試板(13)上的轉(zhuǎn)接卡(9)與集線器電路板(10)相接；其特征在于每組測(cè)試架(3)的前部有進(jìn)風(fēng)通道(8)，進(jìn)風(fēng)通道(8)的頂部設(shè)有進(jìn)風(fēng)風(fēng)扇(11)；每兩組測(cè)試架(3)之間有排風(fēng)通道(5)，排風(fēng)通道(5)的頂部設(shè)有排風(fēng)扇(7)和排風(fēng)管(6)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的小型硬盤測(cè)試柜，其特征在于測(cè)試筒(4)上設(shè)有與排風(fēng)通道(5)相通的排風(fēng)口(12)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的小型硬盤測(cè)試柜，其特征在于與轉(zhuǎn)接卡(9)相接的集線器電路板(10)的寬度不大于測(cè)試筒(4)寬度的1/2。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種小型硬盤測(cè)試裝置，它包括一個(gè)測(cè)試柜(1)，測(cè)試柜(1)底部3為測(cè)試電腦(2)，內(nèi)有測(cè)試架(3)，測(cè)試架(3)上放置有測(cè)試筒(4)，測(cè)試筒(4)上裝有小型硬盤測(cè)試板(l3)，小型硬盤測(cè)試板(13)上的轉(zhuǎn)接卡(9)與集線器電路板(10)相接；特點(diǎn)是每組測(cè)試架(3)的前部有進(jìn)風(fēng)通道(8)，進(jìn)風(fēng)通道(8)的頂部設(shè)有進(jìn)風(fēng)風(fēng)扇(11)每兩組測(cè)試架(3)之間有排風(fēng)通道(5)，排風(fēng)通道(5)的頂部設(shè)有排風(fēng)扇(7)和排風(fēng)管(6)。該裝置可以在對(duì)小型硬盤進(jìn)行測(cè)試時(shí)，及時(shí)將小型硬盤測(cè)試過程中產(chǎn)生的熱空氣排出測(cè)試柜，將測(cè)試溫度保持在要求的溫度范圍以內(nèi)。可保證硬盤的正常測(cè)試和提高測(cè)試效率，提高產(chǎn)品的良好率和生產(chǎn)效率。
文檔編號(hào)G12B15/04GK2800425SQ20042015065
公開日2006年7月26日 申請(qǐng)日期2004年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2004年10月28日
發(fā)明者陳修賢, 曾紀(jì)光 申請(qǐng)人:貴州南方匯通世華微硬盤有限公司