專利名稱：顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及例如采用有機(jī)電致發(fā)光組件等作為各個像素的顯示組件的顯示裝置的檢查。
背景技術(shù)：
關(guān)于顯示裝置，為人所知的有采用屬電流驅(qū)動型發(fā)光組件的有機(jī)電致發(fā)光組件，作為各個像素的顯示組件的顯示裝置，尤其是在各個像素中具備晶體管(薄膜晶體管TFT)的所謂的主動矩陣型顯示裝置，該晶體管用于單獨對每個像素驅(qū)動設(shè)置在各個像素中的有機(jī)電致發(fā)光組件。
在這樣的主動矩陣型顯示裝置中，在水平掃描方向(行方向)上設(shè)置有柵極線GL，在垂直掃描方向(列方向)上設(shè)置有數(shù)據(jù)線DL及電源線PL，并借此定義像素。關(guān)于各個像素的等效電路，為人所知的有如圖12所示的等效電路，各個像素具有由n溝道型TFT所組成的選擇晶體管Ts；保持電容Cs；p溝道型TFT所組成的組件驅(qū)動晶體管Td；及有機(jī)電致發(fā)光組件EL。選擇晶體管Ts的漏極連接于將數(shù)據(jù)電壓供應(yīng)至垂直掃描方向上所排列的各個像素的數(shù)據(jù)線DL，該柵極連接于用于選擇水平掃描方向上所排列的像素的柵極線GL，此外，該源極連接于組件驅(qū)動晶體管Td的柵極。
此外，組件驅(qū)動晶體管Td的源極連接于電源線PL，漏極連接于有機(jī)電致發(fā)光組件EL的陽極。該有機(jī)電致發(fā)光組件EL的陰極形成為各個像素所共用，并連接于陰極電源CV。此外，在組件驅(qū)動晶體管Td的柵極與選擇晶體管Ts的源極之間，連接有保持電容Cs的一個的電極，該保持電容Cs的另一個的電極則連接于，例如為接地等的恒定電壓的電源上。
在這樣的電路中，一旦柵極線GL成為高電平，則選擇晶體管Ts為導(dǎo)通，使數(shù)據(jù)線DL的數(shù)據(jù)電壓通過選擇晶體管Ts而供應(yīng)至組件驅(qū)動晶體管Td的柵極，并在保持電容Cs中保持有對應(yīng)數(shù)據(jù)電壓的電壓。借此，組件驅(qū)動晶體管Td使對應(yīng)于該柵極電壓(保持電容Cs中所保持的電壓)的驅(qū)動電流流通，因此，即使柵極線GL成為L電平，組件驅(qū)動晶體管Td也可以對應(yīng)保持電容Cs中所保持的電壓，從連接在驅(qū)動電源PVDD的電源線PL中，將驅(qū)動電流供應(yīng)至有機(jī)電致發(fā)光組件EL，使有機(jī)電致發(fā)光組件EL以對應(yīng)于該驅(qū)動電流的輝度而發(fā)光。
關(guān)于與本發(fā)明相相關(guān)的文獻(xiàn)，例如有下列專利文獻(xiàn)1及專利文獻(xiàn)2。
[專利文獻(xiàn)1]特開平11-24604號公報[專利文獻(xiàn)2]特開2003-150127號公報發(fā)明內(nèi)容(發(fā)明所欲解決的課題) 上述有機(jī)電致發(fā)光組件的對于電流的供應(yīng)/停止的響應(yīng)性極為優(yōu)良，并且本質(zhì)上不易產(chǎn)生殘影，然而，在采用上述像素電路的顯示裝置中，存在產(chǎn)生殘影而導(dǎo)致顯示品質(zhì)惡化的問題。這可以被認(rèn)為是起因于p溝道型的組件驅(qū)動晶體管的滯后現(xiàn)象(Hysteresis)。也就是說，組件驅(qū)動晶體管對應(yīng)保持在保持電容并且供應(yīng)至柵極的數(shù)據(jù)電壓，在幾乎為1個框圖期間中使來自于電源Pvdd的驅(qū)動電流流通，并使下一個數(shù)據(jù)電壓寫入于保持電容Cs，借此可以在下1個框圖期間中使對應(yīng)新的數(shù)據(jù)電壓的驅(qū)動電流流通。這樣，由于在1個框圖期間中組件驅(qū)動晶體管Td持續(xù)使同一電流流通，因此該狀態(tài)被存儲，即使在供應(yīng)下1個數(shù)據(jù)電壓時，也殘存有上1個寫入的數(shù)據(jù)電壓的影響。該現(xiàn)象在數(shù)據(jù)電壓為中間電平時更為顯著，此外，在顯示數(shù)據(jù)電壓的變化較大的動畫時，該問題更為顯著。
因此在本發(fā)明中，實現(xiàn)改善此殘影的產(chǎn)生。
此外，在本發(fā)明中，對交流驅(qū)動的電容線進(jìn)行控制，借此維持顯示區(qū)域的檢查精度或是提高精度。
(用于解決課題的手段) 本發(fā)明涉及一種顯示裝置，其具備具有配置為矩陣狀的多個像素的顯示區(qū)域；及用于驅(qū)動上述顯示區(qū)域內(nèi)的上述多個像素的驅(qū)動電路，其特征為在上述顯示區(qū)域中，上述多個像素各自具備顯示組件，對應(yīng)顯示數(shù)據(jù)而控制上述顯示組件的像素晶體管，以及用于在預(yù)定期間將上述顯示數(shù)據(jù)保持的保持電容；上述保持電容具備第1電極及第2電極，上述第1電極連接在上述像素晶體管與上述顯示組件之間，上述第2電極連接電容線。上述驅(qū)動電路至少具有垂直方向驅(qū)動部及電容信號固定部；上述垂直方向驅(qū)動部具備，將預(yù)定的交流信號作為電容信號而輸出至上述電容線的電容信號形成部；上述電容信號固定部，選擇性的將從上述電容信號形成部所輸出的上述電容信號固定于直流電平。
此外，本發(fā)明的其它例所涉及的顯示裝置，其具備具有配置為矩陣狀的多個像素的顯示區(qū)域；及用于驅(qū)動上述顯示區(qū)域內(nèi)的上述多個像素的驅(qū)動電路，其特征為在上述顯示區(qū)域中，上述多個像素各自具備顯示組件，對應(yīng)顯示數(shù)據(jù)而控制上述顯示組件的像素晶體管，及用于將上述顯示數(shù)據(jù)保持預(yù)定期間的保持電容；上述保持電容具備第1電極及第2電極，上述第1電極連接在上述像素晶體管與上述顯示組件之間，第2電極連接電容線；在上述顯示區(qū)域的水平掃描方向上，延伸形成有用于選擇所對應(yīng)的像素的像素晶體管的選擇線；及用于控制上述保持電容的上述第2電極的電位的電容線；上述驅(qū)動電路至少具有垂直方向驅(qū)動部及電容信號固定部；上述垂直方向驅(qū)動部形成，根據(jù)表示1個垂直掃描期間的開始時序的垂直起始信號，為了選擇所對應(yīng)的行的上述像素晶體管而依序輸出至上述選擇線的選擇信號；以及根據(jù)上述垂直起始信號而在1個水平掃描期間中設(shè)定有第1電壓電平期間與第2電壓電平期間，并依序輸出至上述電容線的電容信號；上述電容信號固定部，選擇性的將從上述垂直方向驅(qū)動部所輸出的上述電容信號固定于直流電平。
在本發(fā)明的其它例中，在上述顯示裝置中，上述電容信號形成部具有用于將上述電容信號輸出至上述電容線的邏輯電路；在上述邏輯電路的1個輸入端上，供應(yīng)有來自上述電容信號固定部的所需電平的固定控制信號，并對應(yīng)該固定控制信號，將來自上述邏輯電路的上述電容信號的輸出電平加以固定。
在本發(fā)明的其它例中，在上述顯示裝置中，更具備將從上述電容信號形成部所輸出的上述電容信號的上述電壓電平加以設(shè)定的電平設(shè)定部。
在本發(fā)明的其它例中，在上述顯示裝置中，該電平設(shè)定部可以檢測出固定控制信號從上述電容信號固定部輸出，而將輸出部電源電壓的電平加以設(shè)定，其中該輸出部電源電壓用于在上述電容信號形成部的電容信號輸出部中決定該電容信號的電壓值。
此外，上述電平設(shè)定部具有電平設(shè)定用端子，可以對應(yīng)連接于該電平設(shè)定用端子的設(shè)定用電源，而設(shè)定上述電容信號的上述電壓電平。
在本發(fā)明的其它例中，上述電容信號固定部具有固定控制用端子，并對應(yīng)連接于該固定控制用端子的電源電壓，而進(jìn)行對上述電容信號的直流電平的固定控制。
此外，在本發(fā)明的其它例中，上述電容信號固定部可以在上述顯示區(qū)域的動作檢查模式時，固定上述電容信號的電平。
(發(fā)明的效果) 如上述般，根據(jù)本發(fā)明，可以選擇性的固定電容信號，該電容信號被輸出至設(shè)置在各個像素的保持電容中所連接的電容線而進(jìn)行交流驅(qū)動。也就是說，在在工廠產(chǎn)品出貨前等對形成有像素的顯示面板進(jìn)行缺陷檢查時，可以對應(yīng)必要而固定電容信號。在上述檢查時，檢查出各個像素的極小的電容值變動等。因此，如果在檢查時電容信號的電平產(chǎn)生較大變動，那么測定對象的各個像素的電容值產(chǎn)生較大變動，而無法精準(zhǔn)的測定出微小的電容變化，但是在本發(fā)明中，可以對應(yīng)要求而停止電容信號的變化，因此，可以兼顧一般動作時的顯示質(zhì)量的提升以及缺陷檢查時的精度提升兩方面。
此外，可以通過電容信號固定部將輸出至電容線的電壓電平設(shè)定于預(yù)定電平，因此可以在缺陷檢查時設(shè)定較大范圍的測定條件，而進(jìn)行更高精度的檢查。此外，由于可以提升缺陷檢查中所獲得的檢測信號的S/N比，因此可以縮短測定時間并提升處理能力。
此外，在一般顯示動作時等，可以對電容信號進(jìn)行交流驅(qū)動，因此可以通過強(qiáng)制性地將所對應(yīng)的像素的像素晶體管控制為非導(dǎo)通，而將顯示組件的動作控制為非導(dǎo)通，借此抑制殘影的產(chǎn)生，或是對顯示組件進(jìn)行交流驅(qū)動而防止殘影的產(chǎn)生。


圖1是本發(fā)明的實施例所涉及的發(fā)光顯示裝置的概略等效電路的說明圖。
圖2是實施例1所涉及的V驅(qū)動器的電路構(gòu)成的一例的附圖。
圖3是將圖2的構(gòu)成的一部分加以擴(kuò)大后的附圖。
圖4是圖2的電路構(gòu)成的動作的時序圖。
圖5是實施例2所涉及的V驅(qū)動器的電路構(gòu)成的一例的附圖。
圖6是實施例3所涉及的V驅(qū)動器的電路構(gòu)成的一例的附圖。
圖7是圖6的電路構(gòu)成的動作的時序圖。
圖8是用于說明將圖6所涉及的電路構(gòu)成加以一般化后的邏輯電路構(gòu)成的附圖。
圖9是圖8的電路構(gòu)成的動作的時序圖。
圖10是本發(fā)明的實施例所涉及的液晶顯示裝置的概略等效電路的說明圖。
圖11是圖10的電路構(gòu)成的一般顯示動作時的驅(qū)動波形的波形圖。
圖12是以往的發(fā)光顯示裝置的1個像素的等效電路圖。 主要組件符號說明10 選擇線12 電容線14 數(shù)據(jù)線16 電源線100 顯示部110 面板基板200 驅(qū)動器(周邊驅(qū)動電路)210 H驅(qū)動器220 V驅(qū)動器 222 垂直傳送緩存器224 傳送控制閘228 邏輯控制閘230 信號產(chǎn)生邏輯部232 邏輯與電路234 選擇線用NOR電路 236、330 反相器240、250 電容線用NOR電路260、280 選擇信號形成部(選擇信號用邏輯與電路)261、264、266、281、284 反相器
262 NOR電路 282 NAND電路300、600 電容信號固定部 302 電平設(shè)定部310 開關(guān)組件320 電平移位器330 緩沖區(qū) 340 開關(guān)組件Cs 保持電容ENB 使能信號STH H起始信號 STV V起始信號Tr1 選擇晶體管 Tr2 組件驅(qū)動晶體管Tr11 像素晶體管Tv3p 電平設(shè)定用端子(電源控制端子)V3P 檢查用電源 Vdata 顯示數(shù)據(jù)信號Vsc1 第1電壓電平 Vsc2 第2電壓電平XENB 反轉(zhuǎn)使能信號
具體實施例方式以下根據(jù)附圖來說明本發(fā)明的實施例。
(實施例1) 在本實施例中，在該以主動矩陣型電致發(fā)光顯示裝置為例來說明顯示裝置。該電致發(fā)光顯示裝置中，多個像素以矩陣狀配置于玻璃等的面板基板110上。圖1顯示該實施例的主動矩陣型顯示裝置的等效電路構(gòu)成的附圖。此外，圖2顯示圖1的V驅(qū)動器及電容固定控制部的具體電路構(gòu)成。在面板基板110的矩陣的水平掃描(行)方向上，形成依序輸出有選擇信號的柵極線(選擇線)10(GL)，在垂直掃描(列)方向上，設(shè)置輸出有數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)線14(DL)，以及用于將動作電源(PVDD)供應(yīng)至作為被驅(qū)動組件的有機(jī)電致發(fā)光組件的電源線16(PL)。
各個像素設(shè)置于大致上以這些線所規(guī)定的區(qū)域，各個像素的電路構(gòu)成為，具有作為被驅(qū)動組件的有機(jī)電致發(fā)光組件，并具有由n溝道型的TFT所構(gòu)成的選擇晶體管Tr1以及由p溝道型的TFT所構(gòu)成的組件驅(qū)動晶體管Tr2，此外并且具有保持電容Cs。
選擇晶體管Tr1的漏極連接于將數(shù)據(jù)電壓供應(yīng)至垂直掃描方向上所排列的各個像素的數(shù)據(jù)線14，其柵極連接于用于選擇1條水平掃描在線所排列的像素的柵極線10，其源極連接于組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極。
組件驅(qū)動晶體管Tr2的源極連接于電源線16，其漏極連接于有機(jī)電致發(fā)光組件EL的陽極(Anode)。此外，有機(jī)電致發(fā)光組件EL的陰極(Cathode)形成為各個像素所共用，并連接于陰極電源CV。
此外，在組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極與選擇晶體管Tr1的源極之間，連接有保持電容Cs的第1電極，該保持電容Cs的第2電極則連接于電容線12(SC)。電容線12與柵極線10平行而在行方向上延伸形成，為了改善的后述的各個像素中的殘影，供應(yīng)有電壓產(chǎn)生周期性變動的電容信號。
上述選擇晶體管Tr1及組件驅(qū)動晶體管Tr2，均可以采用半導(dǎo)體材料作為有源層，例如采用通過激光退火(laser anneal)等而進(jìn)行多晶化后的多晶硅等結(jié)晶硅，并且各自摻雜n導(dǎo)電型及p導(dǎo)電型作為不純物所形成的n溝道型、p溝道型的薄膜晶體管(TFT)而構(gòu)成。此外，TFT的有源層并不限定于多晶硅，也可以采用所謂的非晶硅。
關(guān)于像素電路的晶體管，在采用上述的以結(jié)晶硅為有源層的TFT時，該結(jié)晶硅TFT，不僅作為各個像素電路，也可以作為用于依序選擇及控制各個像素的周邊驅(qū)動電路的電路組件使用。因此，在本實施例所涉及的形成有顯示部100的面板基板110中，可以在制造像素電路用晶體管的同時，更在顯示部100的外側(cè)上形成與像素電路為相同的結(jié)晶硅TFT，并內(nèi)置有周邊驅(qū)動電路200。顯示部100中，具有上述構(gòu)成的多個像素配置為矩陣狀。
驅(qū)動部(驅(qū)動器)200將用于驅(qū)動顯示部100的各個像素的各種控制信號加以輸出。具體而言，驅(qū)動部200具有H驅(qū)動器(水平方向驅(qū)動電路)210及V驅(qū)動器(垂直方向驅(qū)動電路)220，H驅(qū)動器210將所對應(yīng)的數(shù)據(jù)信號，輸出至矩陣的列方向上所延伸的多數(shù)條數(shù)據(jù)線14。
V驅(qū)動器220具備，形成出在每1個水平掃描(1H)期間中使第1TFTTr1導(dǎo)通的選擇信號，并依序輸出至矩陣的行方向上所延伸的多數(shù)條選擇線10的選擇信號形成部(選擇信號輸出部)；及形成出使電容線12的電位產(chǎn)生周期性變動的保持電容信號并輸出的電容信號形成部(電容信號輸出部)。
此外，在本實施例中，內(nèi)置有選擇性的將來自上述電容信號輸出部的保持電容信號加以固定的電容信號固定部300。該電容信號固定部300，在顯示裝置的一般顯示時并未限制電容信號的輸出(容許交流的電容信號的輸出)，另一方面，在工廠出貨時等而對顯示面板進(jìn)行缺陷檢查時，可以固定電容信號的電壓電平而形成為直流信號。
在本實施例中，上述電容信號形成部的至少信號輸出部，以后述的設(shè)置在各行中的邏輯電路(在此為NOR電路)240構(gòu)成，換言之，具備數(shù)字信號處理的構(gòu)成。因此，電容信號固定部300只需具備可以連接于預(yù)定的外部電源的選擇器端子(電容固定控制用端子)Tsc，通過從該選擇器端子Tsc中將所需電平的電容固定控制信號(固定控制信號)輸出至電容信號形成部的邏輯電路240，可以不受到邏輯電路240的另一輸入端中所供應(yīng)的信號的影響，而固定該邏輯電路240的輸出電平。尤其是在本實施例的構(gòu)成中，從外部將VVDD連接并供應(yīng)至選擇器端子Tsc以作為固定控制用電源，借此可以將電容信號輸出部(NOR電路240)的1個輸入固定于H電平，而在此自動將NOR電路240的輸出固定為L電平。
此外，在本實施例中，如圖2所示，電容信號固定部300除了選擇器端子Tsc之外，也具備開關(guān)組件310。該開關(guān)組件310可以通過與像素電路、周邊驅(qū)動部200為同一構(gòu)造的薄膜晶體管，具體而言例如以n溝道型TFT而構(gòu)成。在是n溝道型TFT時，柵極連接于高壓電源(VVDD)，漏極(或源極)連接于GND(接地)。此外也有連接于低壓側(cè)電源VVSS的情形。源極(或漏極)連接于選擇器端子Tsc，并通過電平移位器320、緩沖區(qū)330而連接于電容信號輸出部。
n溝道型TFT 310經(jīng)常處于導(dǎo)通狀態(tài)，但是在像素電路的缺陷檢查等的預(yù)定的檢查模式時，使VVDD電源選擇性的連接于選擇器端子Tsc，借此在電容信號輸出部中，供應(yīng)有對應(yīng)選擇器端子Tsc的VVDD的H電平信號。相反的，在預(yù)定的缺陷檢查以外的檢查時或是檢查結(jié)束后的工廠出貨時(使用者使用時一般動作時)，選擇器端子Tsc連接于例如為低壓側(cè)電源的VVSS或GND，或是設(shè)定為漂浮狀態(tài)。如上所述，由于TFT 310經(jīng)常處于導(dǎo)通狀態(tài)，如果選擇器端子Tsc設(shè)定為漂浮狀態(tài)，那么對應(yīng)TFT 310的漏極(或源極)上所連接的電源(GND或VVSS)的電壓的L電平信號，通過TFT 310而供應(yīng)至電容信號形成部(輸出部)。此外，在此就降低經(jīng)常處于導(dǎo)通狀態(tài)的TFT310的電力消耗的觀點來看，在TFT 310的上述漏極(或源極)連接于GND時，在一般動作時或是其它檢查時，優(yōu)選的是，將連接于選擇器端子Tsc的L電平電源，設(shè)定為GND，于連接于VVSS時，優(yōu)選的是，將連接于選擇器端子Tsc的L電平電源，設(shè)定為VVSS。
接下來說明，在圖1所示的電路構(gòu)成中，在一般動作模式時的動作/驅(qū)動方法。在各個像素電路中，一旦輸出至選擇線10的選擇信號成為H電平，則選擇晶體管Tr1為導(dǎo)通，使對應(yīng)數(shù)據(jù)線14的數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)電壓通過選擇晶體管Tr1的漏極—源極—漏極間，而施加于組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極及保持電容Cs的第1電極。
保持電容Cs將對應(yīng)該第1電極上所施加的數(shù)據(jù)電壓，與從連接于第2電極的電容線12所供應(yīng)的電容控制電壓之間的電位差的電壓加以保持。在本實施例中，在寫入數(shù)據(jù)電壓時，電容線12的電容信號的電壓維持于例如為接地電平(0V)等的較低的恒定電壓而作為第1電壓電平Vsc1，施加在保持電容Cs的第1電極的數(shù)據(jù)電壓，作為組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極電壓而予以保持。更正確而言，該數(shù)據(jù)電壓作為與施加于電容線12的第1電壓電平之間的電位差而保持于保持電容Cs中。由于組件驅(qū)動晶體管Tr2為p溝道型，因此，數(shù)據(jù)電壓因為低于電源電壓PVDD的程度不同，而決定組件驅(qū)動晶體管Tr2所流通的驅(qū)動電流的大小，數(shù)據(jù)電壓較電源電壓PVDD愈低，則驅(qū)動電流愈大，也就是說有機(jī)電致發(fā)光組件的發(fā)光輝度愈大。
即使選擇線10的選擇信號成為L電平而使選擇晶體管Tr1成為非導(dǎo)通，保持電容Cs也保持對應(yīng)于數(shù)據(jù)信號的電壓。因此，組件驅(qū)動晶體管Tr2維持對有機(jī)電致發(fā)光組件EL的驅(qū)動電流的供應(yīng)，有機(jī)電致發(fā)光組件EL對應(yīng)數(shù)據(jù)電壓而發(fā)光。
在本實施例中，并非在所對應(yīng)的像素在下1個垂直掃描(1個框圖)期間中被選擇并且至新的數(shù)據(jù)信號被寫入為止，對應(yīng)前1個數(shù)據(jù)信號使有機(jī)電致發(fā)光組件持續(xù)發(fā)光，而是對應(yīng)數(shù)據(jù)電壓使有機(jī)電致發(fā)光組件在預(yù)定期間發(fā)光后，至下1個框圖期間為止之間，將組件驅(qū)動晶體管Tr2控制為非導(dǎo)通，而使有機(jī)電致發(fā)光組件EL熄滅。
具體而言，在經(jīng)過預(yù)定期間后，將輸出至電容線12的電容信號的第1電壓電平Vsc1，升壓至用于將組件驅(qū)動晶體管Tr2控制為非導(dǎo)通的充分高的第2電壓電平Vsc2(例如為10V)。如上所述，該保持電容Cs的第1電極連接于組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極與選擇晶體管Tr1的源極，如果該保持電容Cs的第2電極的電位通過電容線(電容控制線)SC而升壓至第2電壓電平Vsc2，那么對應(yīng)升壓量ΔV(Vsc2-Vsc1)使保持電容Cs的第1電極的電位上升。此外，電源電壓PVDD例如設(shè)定為8V。因此，一旦電容信號上升至第2電壓電平Vsc2，則組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極電壓Vg，較源極電位的電源電壓PVDD還高(即使于較低時，也成為較該組件驅(qū)動晶體管Tr2的動作閾值Vthp還小的電位差)，而使組件驅(qū)動晶體管Tr2成為非導(dǎo)通。
因此，在著眼于某像素時，在該著眼像素在下1個框圖期間時再次被選擇并且使有機(jī)電致發(fā)光組件對應(yīng)數(shù)據(jù)信號而發(fā)光之前，組件驅(qū)動晶體管Tr2控制為非導(dǎo)通，而強(qiáng)制性的使有機(jī)電致發(fā)光組件熄滅，因此可以獲得殘影的改善效果。
在本實施例中，即使在組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極絕緣膜中捕集有載子時，也在下1個框圖期間的顯示開始前，組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極電壓Vg對應(yīng)保持電容Cs的第1電極的升壓量ΔV而上升，因此上述所捕集的載子，成為往比柵極還低的電位的源極流通的穿隧電流，而被拉引出。因此，一旦使組件驅(qū)動晶體管Tr2的電氣特性達(dá)到初期化，則可以確實的完全停止對有機(jī)電致發(fā)光組件的驅(qū)動電流的供應(yīng)。
在本實施例中，在面板基板上內(nèi)置有用于進(jìn)行該電容電壓(電容控制電壓)的切換的構(gòu)成。雖然可以通過外加的IC來控制電容線12的電壓，但是此時由于用于接收來自外加電路的信號的面板連接端子數(shù)有所限制，因此優(yōu)選的是，一次控制所有的電容線12，并在回掃線期間中一次將電容信號的電位加以升壓，然而，也可以通過在內(nèi)置驅(qū)動器中設(shè)置用于進(jìn)行電容控制電壓切換的構(gòu)成，而容易對每1行進(jìn)行控制，因此也可以任意設(shè)定升壓期間。此外，通過在每1行中控制電容線12的電位，借此可以對任意畫面上的任一行位置的像素，在相等的期間中進(jìn)行組件驅(qū)動晶體管Tr2的非導(dǎo)通控制。以外加的IC在回掃線期間中一次將所有的電容線12的電位加以升壓時，如果觀察垂直回掃線期間前所選擇的像素，那么將數(shù)據(jù)信號寫入保持電容之后，立即從電容線中將高電壓施加于該保持電容，因此可以能導(dǎo)致選擇晶體管的漏電流的增大，應(yīng)予顯示的數(shù)據(jù)容易消失并且顯示畫質(zhì)容易降低的問題。然而，可以通過內(nèi)置該構(gòu)成而防止顯示畫質(zhì)的降低。
此外，如果以外部IC將電容線12的電壓控制于第1及第2電壓電平的間，那么實際的組件驅(qū)動晶體管的柵極到達(dá)電壓，由于配線電阻及對配線的寄生電容等影響而降低，因此需要求增大來自于外部IC的輸出電壓的振幅等的外部IC的驅(qū)動能力，或是導(dǎo)致外部IC的消耗電力的增大。如果在面板中所內(nèi)置的驅(qū)動器內(nèi)，設(shè)置可以形成出輸出至電容線12的電容信號的電路，那么如上所述，該振幅與選擇信號等并無太大差距，因此可以通過共用利用選擇信號形成電路等，而將驅(qū)動器的消耗電力抑制在最低限度，并且可以通過簡易的構(gòu)成而形成出所需振幅的電容信號。此外，由于將內(nèi)置IC所形成的電容信號輸出至電容線，因此在輸出第2電壓電平Vsc2時的組件驅(qū)動晶體管的柵極電壓Vg的目標(biāo)到達(dá)電位，較依據(jù)外部IC的控制更為提高例如10％至20％或是更高，此外也可以容易縮短到達(dá)時間。
如上所述，在面板上內(nèi)置有用于進(jìn)行電容控制電壓切換的構(gòu)成，借此更可以確實提高顯示質(zhì)量。另一方面，在內(nèi)置有驅(qū)動電路時，即使在面板由工廠出貨前的各個像素電路的缺陷檢查時，該電路動作也合乎設(shè)計要求，也就是說僅會進(jìn)行與一般使用時相同的動作。也就是說，在本實施例時，電容信號的電平會產(chǎn)生較大變動。然而，在各個像素電路的缺陷檢查時，測定像素電路的微細(xì)的電容值變動而判定保持電容及驅(qū)動晶體管等的缺陷，因此，如果在測定時電容線的電位產(chǎn)生較大變動，那么各個像素的電容值產(chǎn)生較大變動，而無法精準(zhǔn)的測定出微小的電容變化。
相對于此，在本實施例中，內(nèi)置有用于進(jìn)行該電容電壓(電容控制電壓)的切換的構(gòu)成，并內(nèi)置有電容信號固定部300，因此可以對應(yīng)要求而固定電容電壓電平。具體而言，在像素電路的缺陷檢查模式或是殘影檢查模式時，將VVDD等的高電壓電源供應(yīng)至控制端子Tsc，將該電源電壓作為H電平信號而輸入至電容信號形成部。借此，如圖2等所示的由NOR電路所構(gòu)成的邏輯電路240的輸出，不會受到另一邊的輸入信號的影響而固定為L電平。因此，在不具有電容控制線SC的電位變動的狀態(tài)下，可以依序選擇各個像素而寫入檢查用數(shù)據(jù)信號，借此執(zhí)行像素電路的缺陷檢測。像素電路的缺陷檢測，例如可以于檢查用數(shù)據(jù)寫入于各個像素后，通過測定數(shù)據(jù)線的電位變動或是電容控制線的電位變動等而加以執(zhí)行。
此外，上述像素電路的缺陷檢查及殘影檢查之外的檢查，具體而言例如為伴隨著顯示裝置及電壓邊限(margin)檢查等的實際動作的檢查時，與一般動作相同，至少選擇器端子Tsc未固定于高電壓電平。也就是說，此時輸出至電容信號形成部的固定控制信號的電平，成為對應(yīng)連接于選擇器端子Tsc的低壓電源，或是對應(yīng)通過TFT 310所供應(yīng)的低壓電源的低電壓電平。因此，來自邏輯電路240的電容信號的電平未被固定，并對應(yīng)信號G(k-I)-k而變化，該信號G(k-I)-k對應(yīng)供應(yīng)至邏輯電路240的第2輸入的緩存器輸出時序差。也就是說，電容信號在與一般顯示動作時為相同的時序中，使該電平產(chǎn)生變化(進(jìn)行交流驅(qū)動)。
以下參照圖2至圖4，說明本實施例中，在面板上內(nèi)置有電容線12的控制電路及電容信號固定部300時的更為具體的驅(qū)動器構(gòu)成及動作例。
首先說明H驅(qū)動器210及V驅(qū)動器220的基本構(gòu)成。圖中雖然未具體顯示，但H驅(qū)動器210具備，具有對應(yīng)顯示部100的列數(shù)m的段數(shù)的緩存器的水平傳送緩存器；以及取樣電路等。水平傳送緩存器對應(yīng)于，對應(yīng)有1個水平掃描方向的像素數(shù)的頻率的水平頻率CKH，依序?qū)⒅甘?個水平掃描方向的開始的H起始信號STH，傳送至下一段(鄰接列)的緩存器。此外，取樣電路例如通過對應(yīng)從水平傳送緩存器的各段緩存器所依序輸出的STH的選擇信號，對R、G、B、W(白色)的各個顯示信號Vdata進(jìn)行取樣，并將此作為數(shù)據(jù)信號DL，而輸出至所對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14。
如圖2所示，V驅(qū)動器220具備，具有對應(yīng)顯示部100的行數(shù)n的段數(shù)k(在圖2中，k＝n+2)的緩存器的垂直傳送緩存器222；將緩存器VSR的數(shù)據(jù)傳送方向加以控制的傳送控制閘224；及形成出選擇信號及電容信號的信號形成部230(信號產(chǎn)生邏輯部)。信號產(chǎn)生邏輯部230具備，根據(jù)緩存器VSR所傳送的V起始信號STV而形成出輸出至各條電容線12的電容信號SC1至SCk；及形成出依序輸出至各條選擇線10的選擇信號GL1至GLk的邏輯部。此外，與上述緩存器VSR的數(shù)據(jù)傳送方向的控制相同，也具有用于在信號產(chǎn)生邏輯部230內(nèi)將應(yīng)予進(jìn)行邏輯運算的連接行加以切換的邏輯控制閘228。
各個緩存器VSR1至VSRk，對應(yīng)1個水平掃描期間的二分之一的頻率的垂直頻率CKV，依序?qū)⒅甘?個垂直掃描期間的開始的V(垂直)起始信號STV，傳送至鄰接(鄰接行)的緩存器VSR1至VSRk。傳送控制閘224對應(yīng)傳送方向控制信號CSV，以控制各個緩存器VSR1至VSRk的V起始信號STV的傳送方向。在圖2的例子中，在CSV為H電平時，CSV輸入于柵極的n溝道型TFT均成為導(dǎo)通，相反的，CSV輸入于柵極的p溝道型TFT均成為非導(dǎo)通，借此使V起始信號STV被供應(yīng)至緩存器VSR1的輸入端子in，該緩存器VSR1的輸出端子out連接于緩存器VSR2的輸入端子in，同樣地，以使緩存器VSR2的輸出端子out連接于緩存器VSR3的輸入端子in的方式，對于往緩存器的輸出入進(jìn)行切換控制。因此，在CSV為H電平時，如圖4的時序圖所示，垂直傳送緩存器222的數(shù)據(jù)傳送方向是依序往VSR1、VSR2、……VSRk前進(jìn)。相反的，在CSV為L電平時，V起始信號STV被供應(yīng)至VSRk的輸入端子in，對應(yīng)該V起始信號STV的數(shù)據(jù)，依序往VSRk、……VSR1傳送。
在此，如圖4所示，在成為1個垂直掃描(1個框圖)期間的開始時意味著起始的H電平，并且在1個框圖內(nèi)的預(yù)定期間中，V起始信號STV保持于該H電平，并并且在剩余的期間中成為L電平。該V起始信號STV的H電平期間，一般約為1個水平掃描期間的長度，但是在本實施例中，設(shè)置有邏輯電路，使例如設(shè)定為200個水平掃描期間左右的長度，并以該H電平期間的長度來決定的后述的往各條電容線12輸出的保持控制信號的點燈期間的長度。在圖4中，為了附圖顯示方便，以4個水平掃描期間來表示上述H電平期間的長度。當(dāng)然，也可以如圖4所示的設(shè)定為4個水平掃描期間的H電平期間。
以下以CSV信號為H電平并且順向傳送數(shù)據(jù)的情況為例，來具體說明各部的動作。首先，在垂直傳送頻率CKV的上升時，在最初的緩存器VSR1中讀取V起始信號STV，同時，緩存器VSR1的輸出SR1成為H電平。該輸出SR1的H電平期間，從供應(yīng)至緩存器VSR1的V起始信號成為L電平開始，持續(xù)至最初的CKV在上升時序中成為L電平為止。也就是說，該輸出SR1的H電平期間，成為對應(yīng)V起始信號STV的H電平持續(xù)期間(脈沖寬度)的長度。
各個緩存器的數(shù)據(jù)讀取時序，以垂直頻率信號CKV的每半個周期互相偏移，因此如圖4所示，在CSV的下一次下降時序(CSV反轉(zhuǎn)信號(CSV2)的上升)中，第2個緩存器VSR2讀取緩存器VSR1的輸出SR1，并對應(yīng)于此使該的輸出SR2成為H電平。這樣一來，之后進(jìn)行的緩存器VSR3、VSRk-1、VSRk讀取前段緩存器的輸出并加以傳送。因此，各個緩存器VSR1至VSRk的輸出SR1至SRk，如圖4所示，依序成為于對應(yīng)V起始信號的期間中，維持于H電平的波形。
在垂直傳送緩存器222的輸出側(cè)上，設(shè)置有信號產(chǎn)生邏輯部230的邏輯與電路232。該邏輯與電路232由，進(jìn)行鄰接段的緩存器輸出SRk-1與SRk的NAND運算的NAND電路；及設(shè)置于該輸出側(cè)的具有反轉(zhuǎn)功能的電平移位器(L/S)所構(gòu)成。
在此，參照圖3來說明依據(jù)下列中段的緩存器的選擇信號GL7、電容信號SC7的形成步驟，該圖3顯示出，從圖2所示的中段的緩存器VSR7至VSR9的輸出SR7至SR9中，形成出被供應(yīng)至第6行的像素的選擇信號GL7、電容信號SC7的構(gòu)成的擴(kuò)大附圖。緩存器VSR7及VSR8的輸出，在所對應(yīng)的邏輯與電路232-7的NAND電路中進(jìn)行NAND運算，并通過具有反轉(zhuǎn)功能的電平移位器L/S，使該NAND輸出的電平移位，并進(jìn)行H、L電平的反轉(zhuǎn)而輸出。所獲得的反轉(zhuǎn)輸出如圖4中的G7-8所示，在邏輯與電路232-7中，對應(yīng)緩存器VSR7及VSR8的輸出時序的不同，而獲得邏輯與信號(G7-8)。此外，緩存器VSR8及VSR9的輸出，在所對應(yīng)的邏輯與電路232-8的NAND電路中進(jìn)行NAND運算，并通過具有反轉(zhuǎn)功能的電平移位器L/S，使該NAND輸出的電平移位，并進(jìn)行電平的反轉(zhuǎn)而輸出。所獲得的反轉(zhuǎn)輸出如圖4的G8-9所示，在邏輯與電路232-8中，對應(yīng)緩存器VSR8及VSR9的輸出時序的不同，而獲得邏輯與信號(G8-9)。
上述具有反轉(zhuǎn)功能的電平移位器L/S，以使通過后段的NOR電路而輸出至選擇線10的選擇信號的電平，成為可以確實對所對應(yīng)的行的選擇晶體管Tr1進(jìn)行導(dǎo)通及非導(dǎo)通的必要的電平的方式而設(shè)置。具體而言，在邏輯與電路232的NAND電路的輸出的L電平為0V，H電平為10V時，使H電平成為-2V，L電平成為10V的方式而進(jìn)行移位以及電平反轉(zhuǎn)。如上所述，從邏輯與電路232-7及232-8中，在圖4所示的G7-8、G8-9的時序中，輸出邏輯與信號。
邏輯與信號G7-8、G8-9通過邏輯控制閘228而分別供應(yīng)至NOR電路234、240。由于CSV信號為H電平，因此邏輯控制閘228，以使來自邏輯與電路232-7的輸出G7-8以及來自邏輯與電路232-8的輸出G8-9分別供應(yīng)至第6行的像素用的NOR電路234-7、240-7，而進(jìn)行切換控制。
在將選擇信號GL7輸出至第6行的像素的選擇信號用NOR電路234-7中，供應(yīng)有由反相器236-7所反轉(zhuǎn)后的邏輯與輸出G7-8的反轉(zhuǎn)信號；第8個邏輯與輸出G8-9；及用于禁止在1個水平掃描(1H)期間的切換時序中進(jìn)行選擇信號的輸出的使能信號ENB(在本實施例的電路構(gòu)成中，實際上為圖4所示的反轉(zhuǎn)使能信號XENB)。
因此，從該第7個NOR電路234-7中，僅在3個輸入信號均為L電平時輸出有成為H電平(10V)的NOR運算信號。在此，第7個邏輯與電路232-7的輸出G7-8的反轉(zhuǎn)信號以及第8個邏輯與電路232-8的輸出G8-9均成為L，為圖4中輸出G7-8成為H電平開始至下一個輸出G8-9成為H電平為止的CKV的半周期(1H期間)，并且是XENB信號的1H的最初與最后的期間以外的期間。因此，從XENB信號成為L電平的時序開始至上升至H電平為止的期間中，從NOR電路234-7中，輸出如圖4的GL7所示的H電平的選擇信號GL7。外部驅(qū)動IC對XENB信號及ENB信號供應(yīng)例如0V、3V的振幅，在供應(yīng)至各個NOR電路234之前，例如通過電平移位器L/S而移位為-2V、10V的振幅的信號。
在輸出電容信號的第7個NOR電路240-7中，輸入有對全部行的電容信號固定部300的共用輸出以及邏輯與電路232-7的輸出G7-8。如上所述，在缺陷檢查模式中，從缺陷檢查用的外部IC中將VVDD電源供應(yīng)至電容信號固定部300的選擇器端子Tsc，電容信號固定部300的輸出固定在H電平。
因此，從NOR電路240-7所輸出的電容信號SC7固定在L電平，第6行的像素的保持電容的第2電極電位，維持于一定的L電平。因此，所對應(yīng)的電容線12的保持電容SC，對從數(shù)據(jù)線DL通過切換晶體管Tr1所供應(yīng)的數(shù)據(jù)信號，加以與電容信號SC7之間的電位差而保持。
另一方面，在一般動作模式(在預(yù)定的缺陷檢查之外的檢查中也相同)中，由于選擇器端子Tsc為接地GND(或是漂浮狀態(tài))，因此電容信號固定部300的輸出成為L電平。因此，在邏輯與電路232-7的輸出G7-8成為H電平的期間中，NOR電路240-7的輸出，將成為L電平的電容信號SC7加以輸出(與邏輯與電路232-7的輸出的反轉(zhuǎn)電路具有同樣功能)。
在一般動作模式中，通過使電容信號SC從L電平改變?yōu)镠電平，使p溝道型的組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極電位上升，而將該組件驅(qū)動晶體管Tr2控制為非導(dǎo)通。電容信號SC的L電平(第1電壓電平Vsc1)的期間，等于各個邏輯與電路的輸出為H電平的期間，而該1個垂直掃描期間內(nèi)的剩余期間，成為H電平(第2電壓電平Vsc2)的期間，也就是說成為組件驅(qū)動晶體管Tr2的非導(dǎo)通控制期間(電致發(fā)光組件的熄滅期間)。也就是說，各行的電致發(fā)光組件的熄滅期間，對應(yīng)于V起始信號STV的L電平期間，可以通過調(diào)整STV的L電平期間(脈沖寬度)而調(diào)整熄滅期間。
此外，如圖4所示，下一行的像素的選擇信號GL8，在GL7成為H電平后的下1個水平掃描期間中成為H電平。如果是缺陷檢查模式，那么電容信號SC8與第6行的電容信號SC7相同，經(jīng)常固定在H電平。如果是一般動作模式，那么在邏輯與輸出G8-9為H電平的期間中，下一行的電容信號SC8維持在L電平，并在邏輯與輸出G8-9成為L電平的時序中成為H電平，使第8行的各個像素的電致發(fā)光組件熄滅。
這樣，僅在選擇器端子Tsc被設(shè)定為預(yù)定的L電平(GND或VVSS)或是漂浮狀態(tài)時，在各行的電容線12中輸出有，在每1行產(chǎn)生1個水平掃描期間的偏移，并且在各個相同期間中成為使電致發(fā)光組件熄滅的H電平的電容信號(電容線信控制號)。該電致發(fā)光組件熄滅期間(電容信號的升壓期間)可以通過上述V起始信號STV而被改變，例如可以設(shè)定為約2ms的長度，也可以在不會產(chǎn)生閃爍(Flicker)的范圍內(nèi)設(shè)定為更長，在1個垂直掃描(1個框圖)期間中的16ms中，甚至可以延長至人眼所可以辨識為閃爍的最長時間的4ms。在以外加的IC在垂直回掃線期間中使所有的電容線12成為熄滅電平時，可以確保熄滅期間的期間約為900μs。相對于此，可以通過內(nèi)置驅(qū)動器對電容線12形成出電容信號，借此，可以在每一行將各個像素的組件驅(qū)動晶體管Tr2及電致發(fā)光組件控制為非導(dǎo)通，而將非導(dǎo)通控制期間設(shè)定為較長時間，借此可以確實消除殘影。
如上所述，通過圖2所示的V驅(qū)動器的構(gòu)成，選擇信號可以通過下列的邏輯運算而獲得。
GLs＝Gs-(s+1)AND XG(s+1)-(s+2)在此，s為像素的行數(shù)，位于1至n的范圍內(nèi)，XG為所對應(yīng)的G信號的反轉(zhuǎn)信號。
在一般動作模式時，電容信號可以通過SCs＝Gs-(s+1)的反轉(zhuǎn)而獲得。
此外，在圖2的電路構(gòu)成中，首先準(zhǔn)備PVDD＝8V、GND＝0V、VVDD＝10V、VVSS＝-2V、CV＝-2V等電壓，輸出至選擇線10及電容線12的電容信號SC、選擇信號GL，均可以設(shè)定為H電平＝VVDD，L電平＝VVSS。通過形成這樣的電壓關(guān)，可以確實并且正確的控制選擇晶體管Tr1的導(dǎo)通及非導(dǎo)通、組件驅(qū)動晶體管Tr2的導(dǎo)通及非導(dǎo)通、及電致發(fā)光組件的點燈及熄滅。
在圖2中，緩存器設(shè)置有等于像素的行數(shù)n+2的k段。此外，將選擇信號GL、選擇信號GLk-1以及電容信號SC1、電容信號SCk-1，輸出至第1行的像素的前1行的假性(dummy)像素與第n行的像素的后1行的假性像素。該假性像素實際上也可以不形成在面板上。設(shè)置有k段的緩存器，為了在圖2的電路構(gòu)成中，采用如上所述的s-1至s+1的合計為3段的緩存器輸出而形成第s個輸出(s-1行的像素用輸出)。
(實施例2) 接下來參照圖5，說明實施例2，其是用于控制電容信號的其它例子。與實施例1的差異是，在實施例2中，除了電容信號固定部300之外，也可以對應(yīng)模式的不同，而設(shè)定用于決定電容信號的輸出電壓的電容信號輸出部的電源電壓。具體而言，可以通過具備電平設(shè)定部302而實現(xiàn)電平的設(shè)定。
電平設(shè)定部302可以由電平設(shè)定用端子Tv3p構(gòu)成。該電平設(shè)定用端子Tv3p通過保護(hù)電路而連接電容信號輸出部(邏輯電路240)的低壓側(cè)電源配線。在預(yù)定的缺陷檢查時，可以將該電源控制端子Tv3p連接于任意的電平設(shè)定用電源(外部檢查用電源)V3P，借此可以在邏輯電路240中，供應(yīng)有該檢查用電源V3P作為該低壓側(cè)電源。在缺陷檢查時，與上述實施例1相同，一般時將交流驅(qū)動的電容信號的電壓電平固定于H電平、L電平當(dāng)中的一邊(在此為L電平)，并且電平設(shè)定部302將該電容信號的固定電壓電平，控制為對應(yīng)供應(yīng)至上述電源控制端子Tv3p的檢查用電源的電平。
檢查用電源V3P可以設(shè)定為，對像素電路內(nèi)的電容的微小變動等，也可以由檢查電路精準(zhǔn)的檢測出該變動的任意的電壓，并對應(yīng)像素電路構(gòu)成數(shù)目及檢查的不良率水平而進(jìn)行優(yōu)化。例如，可以設(shè)定為與一般的輸入視頻信號為同電位，或是與PVDD為同電位。
此外，在圖5的電路構(gòu)成中，除了電源控制端子Tv3p之外，可以在面板110上與所內(nèi)置的H驅(qū)動器210、V驅(qū)動器220等的電路共用的下側(cè)電源VEE，以及電源控制端子Tv3p之間，還設(shè)置有開關(guān)組件340。開關(guān)組件340例如與開關(guān)組件320相同，由n溝道型薄膜晶體管(TFT)所構(gòu)成，并可以與像素電路等同時形成。該TFT340的柵極電極，連接于從選擇器端子Tsc往電容信號形成部的信號配線路徑上。具體而言，該柵極電極連接于，通過保護(hù)電路而連接于選擇器端子Tsc的電平移位器320的輸出側(cè)上所設(shè)置的反相器330上，在圖5中，連接于2個串聯(lián)連接的反相器內(nèi)的最初的反相器輸出。此外，開關(guān)組件340的源極或者漏極當(dāng)中的一個，連接于電源VEE，另一個則連接于電容信號形成部的輸出部(在此為以NOR電路240所組成的邏輯電路)的低壓側(cè)電源線，以及電源控制端子Tv3p。
如實施例1中所說明的，在預(yù)定的缺陷檢查模式時，在選擇器端子Tsc上連接有VVDD。因此在開關(guān)組件340的柵極上，施加有以反相器進(jìn)行反轉(zhuǎn)，并且對于預(yù)定基準(zhǔn)為與VVDD成為反極性的所謂的L電平電壓。如上所述，由于開關(guān)組件340是由n溝道型TFT所構(gòu)成，因此在L電平電壓施加于柵極電極時會成為非導(dǎo)通。也就是說，僅于成為預(yù)定的缺陷檢查模式并且高電平的電源VVDD連接于選擇器端子Tsc時，開關(guān)組件340成為非導(dǎo)通，電容信號輸出部(邏輯電路240)的低壓側(cè)電源線在一般動作時，從通過開關(guān)組件340所連接的電源VEE中分離。此時，通過保護(hù)電路而供應(yīng)至電源控制端子Tv3p的檢查用電源V3P，作為邏輯電路240的下側(cè)電源而供應(yīng)。
此外，在一般動作時等對電容控制線進(jìn)行交流驅(qū)動時，往電平移位器320的輸入電壓，成為對應(yīng)VVSS或是GND的L電平，施加于開關(guān)組件340的柵極的電壓成為H電平，開關(guān)組件340維持于導(dǎo)通狀態(tài)。因此，并不須形成特別的切換信號，在一般動作時，可以通過開關(guān)組件340而供應(yīng)與其它的邏輯電路的下側(cè)電源為相同的電源VEE，作為邏輯電路240的下側(cè)電源。
在此，在像素電路的缺陷檢查時，各個像素電路的特性變動，可以通過檢測出像素的電容值而加以測定。例如，使圖1所示的選擇晶體管Tr1導(dǎo)通，將檢查用數(shù)據(jù)輸出至數(shù)據(jù)線14，并以外部電路通過數(shù)據(jù)線14而讀出此時的電容值。此時，對應(yīng)檢查裝置的特性，預(yù)先將邏輯電路240的輸出，也就是說將電容控制線12的電壓設(shè)定為充分低的檢查用電源V3P，借此，可以將充分量的電荷充電至像素的保持電容Cs。尤其是，即使將用于使由p溝道TFT所構(gòu)成的組件驅(qū)動晶體管Tr2導(dǎo)通的充分低的電平的檢查用數(shù)據(jù)，通過選擇晶體管Tr1而施加于組件驅(qū)動晶體管Tr2的柵極時，也可以將電容控制線12維持在遠(yuǎn)較檢查用數(shù)據(jù)還低的電壓，借此可以正確的將檢查用數(shù)據(jù)寫入保持電容Cs。此外，由于可以將充分的電荷量供應(yīng)至保持電容Cs，因此可以如上所述，將通過數(shù)據(jù)線14而檢測出對應(yīng)保持電荷量的電壓時的精度加以提高。
被固定的電容信號所可以設(shè)定的電壓，可以在可以使電容信號輸出部動作、并且可以作為檢查用電源V3P而供應(yīng)的范圍內(nèi)任意設(shè)定，因此可以提升缺陷檢查時的條件設(shè)定的自由度。此外，可以設(shè)定多種類的檢查用電源V3P并變更電壓而進(jìn)行檢查，借此可以設(shè)定較廣范圍的測定條件，降低伴隨著像素電路的構(gòu)成的寄生電容的影響，而執(zhí)行更高精度的電容值測定(作為缺陷檢查中的一環(huán))。
在本實施例2中，與上述實施例1相同，在一般動作時以及上述預(yù)定的缺陷檢查之外的檢查時，解除電容信號固定部300所進(jìn)行的電容信號的固定控制，而對電容線進(jìn)行交流驅(qū)動。此外，此時的輸出電壓電平的低壓側(cè)(L電平)，成為此時供應(yīng)至電容信號輸出部的下側(cè)電源，此可以設(shè)定為其它的內(nèi)置電路的低壓側(cè)電源的電壓電平(VEE)。
(實施例3) 接下來說明實施例3。在實施例3中，具備根據(jù)來自垂直傳送緩存器222的各段緩存器的輸出，而形成出與實施例1相同的選擇信號GL及電容信號SC的更為簡易的電路構(gòu)成，并并且具備在預(yù)定檢查時停止電容信號SC的交流驅(qū)動，并且與實施例2相同可以將該電容信號SC固定于任意的設(shè)定電壓的構(gòu)成。
具體而言，如圖6所示，具有以下構(gòu)成。就垂直傳送緩存器222的各個緩存器VSR將所輸入的垂直起始信號STV加以傳送，并且各個緩存器VSR的輸出入方向由傳送控制閘224所控制這一點來說，與上述圖2的結(jié)構(gòu)共用。不同之處在于，省略了圖2的邏輯控制閘228及邏輯與電路232；輸出至電容線12的電容信號的形成部被簡化為NOR電路250(在一般動作時作為反相器而動作)；以及選擇信號形成部的構(gòu)成(邏輯)。此外，在圖2中，假性像素設(shè)置在面板的最上行及最下行，并且也形成選擇信號GL及電容信號SC而輸出至這些行，但于圖6的構(gòu)成例中，假性像素各自設(shè)置在上下2行。因此，在第1行的像素用緩存器VSR1的前段上，設(shè)置有假性像素用緩存器VSRd1、VSRd2。
此外，在本實施例3中，在構(gòu)成電容信號的形成部的NOR電路250中，在該一個輸入端上，供應(yīng)有來自所對應(yīng)的前1個緩存器的非反轉(zhuǎn)輸出，在另一個輸入端上，供應(yīng)有來自電容信號固定部300的電容固定控制信號。與實施例1、2相同，在像素電路的缺陷檢查模式及殘影檢查模式時，將VVDD等高電壓電源供應(yīng)至選擇器端子Tsc，該電源電壓作為H電平信號而輸入至電容控制用的邏輯電路的NOR電路250，因此，此時來自NOR電路250的輸出固定在L電平。此外也具備電平設(shè)定部302。也就是說具備可以連接外部電源的電平設(shè)定用端子Tv3p，該端子Tv3p連接電容信號輸出部的NOR電路250的下側(cè)電源。因此，在殘影檢查等使NOR電路250的輸出固定時，該輸出的固定L電平，控制為對應(yīng)此時連接于端子Tv3p的檢查用的電源電壓的電壓電平。
圖6所示電路的全體構(gòu)成及該動作如下所述。在傳送方向控制信號CSV為H電平時，V起始信號STV被供應(yīng)至第1個假性像素用緩存器VSRd1的輸入端子in，緩存器VSRd1于垂直頻率CKV1的上升時，讀取此信號而從輸出端子out中輸出。緩存器VSRd1的輸出SRd1被輸入至第2個假性像素用緩存器VSRd2，緩存器VSRd2在CKV1的下1次下降時序(CKV2的上升時序)中，讀取該輸出SRd1并從輸出端子out中輸出SRd2。在緩存器VSR1的輸入端子in中，供應(yīng)有上述緩存器VSRd2的輸出SRd2，緩存器VSR1在CKV1的下1次上升時序中讀取輸出SRd2，并從輸出端子out中輸出SR1。緩存器VSR1至VSRn是用于將選擇信號GL1至GLn及電容信號SC1至SCn輸出至實際的像素的緩存器，在緩存器VSRn的后段中，設(shè)置有對應(yīng)于假性像素的緩存器VSRd3及VSRd4，兩者均依序遵循于CKV1的上升或下降，讀取前段的緩存器輸出并輸出至后段的緩存器。
在往第n段的緩存器VSRn的輸入線與第n行的電容線SCn之間，設(shè)置有上述NOR電路250作為電容信號形成部。在NOR電路250的第1輸入中，供應(yīng)有上述緩存器VSRn-1的輸出信號，在第2輸入中供應(yīng)有來自電容信號固定部300的控制信號。
在一般的顯示動作時，對應(yīng)供應(yīng)至選擇器端子Tsc的電源VVSS或GND，從電容信號固定部300中將L電平的控制信號供應(yīng)至NOR電路250的第2輸入中。因此，NOR電路250實質(zhì)上具有使供應(yīng)至該第1輸入的緩存器VSRn-1的輸出信號SRn-1加以反轉(zhuǎn)的反相器的功能，緩存器輸出信號SRn-1的反轉(zhuǎn)信號從NOR電路250中，作為第n行的像素的電容信號SCn而輸出至所對應(yīng)的電容線SCn。
在此，在本實施例中，在相當(dāng)于決定電容信號的電壓電平的輸出部的NOR電路250中，供應(yīng)有作為H電平用的電源的VVDD。此外，關(guān)于L電平用的電源(低壓側(cè)電源)，在一般動作時通過開關(guān)組件340而供應(yīng)有電源VEE，在預(yù)定的檢查時供應(yīng)有連接電源控制端子Tv3p的檢查用電源V3P。因此，在一般動作時，從NOR電路250所輸出的電容信號SC的L電平(第1電壓電平Vsc1)，成為與VEE相等的電壓電平(例如為-2V)，H電平(第2電壓電平Vsc2)與VVDD相同，例如為10V。此外，在預(yù)定的檢查時，電容信號SC固定在預(yù)定電壓，并且該電壓值成為檢查用電源的電壓V3P。電壓V3P優(yōu)選的是，采用，事先對于對象電路構(gòu)成進(jìn)行最優(yōu)化后的值。
接下來說明選擇信號形成部260。于本實施例中，選擇信號形成部260設(shè)置于緩存器VSRn(該輸出)與選擇線10n之間，并以邏輯電路所構(gòu)成。
具體而言，該選擇信號形成部260具有反相器261；NOR電路262；及反相器264與266。在NOR電路262的第1輸入端中，供應(yīng)有緩存器VSRn的輸出SRn，在第2輸入端中，通過反相器261而供應(yīng)有往緩存器VSRn的輸入信號的反轉(zhuǎn)信號(XSRn-1)，在第3輸入端中，供應(yīng)有使能信號的反轉(zhuǎn)使能信號XENB。因此，NOR電路262進(jìn)行緩存器輸出SRn、XSRn-1、反轉(zhuǎn)使能信號XENB的NOR運算。反相器264將NOR電路262的輸出加以反轉(zhuǎn)，反相器266再將此反相器264的輸出加以反轉(zhuǎn)，并將此供應(yīng)至第n行的像素的選擇線10。NOR電路262、反相器264與266全體構(gòu)成用于進(jìn)行輸出SRn-1及輸出SRn的NOR運算的NOR閘，并將NOR運算結(jié)果作為選擇信號GLn而輸出至第n行的選擇線10。反相器264可以采用圖2中的邏輯與電路232的輸出側(cè)上所設(shè)置的具有反轉(zhuǎn)功能的電平移位器，可以將輸出的極性加以反轉(zhuǎn)，并對應(yīng)必要而將信號的電壓電平移位至電壓電平，并將此輸出至反相器266。
第1行的緩存器VSR1的輸入，為前段的緩存器的假性像素用緩存器VSRd2的輸出SRd2，該輸出SRd2在NOR電路250中被反轉(zhuǎn)(一般動作時)，并作為第1行的像素的電容信號SC1而輸出至電容線12。此外，第1行的選擇信號形成部260將緩存器VSR1的輸出SRd2的反轉(zhuǎn)信號XSRd2、與緩存器VSR1的輸出SR1之間的NOR運算結(jié)果，作為選擇信號GL1而輸出至第1行的選擇線10。
如上所述，通過圖6所示的V驅(qū)動器的電路構(gòu)成，也使對應(yīng)V起始信號STV的L電平期間的期間，成為電容信號SCn的H電平期間，也就是說為所對應(yīng)的行的像素的電致發(fā)光組件的熄滅期間。因此，在實施例2的電路構(gòu)成中，也可以通過V起始信號STV的調(diào)整，對每1行執(zhí)行電致發(fā)光組件的熄滅及組件驅(qū)動晶體管Tr2的非導(dǎo)通控制。此外，如上所述，由于可以較圖2的電路構(gòu)成更為省略傳送閘及邏輯電路，因此可以由最低限度的電路組件數(shù)來構(gòu)成V驅(qū)動器220，而縮小V驅(qū)動器的面積。在強(qiáng)烈要求面板上的電路面積的縮減的小型顯示裝置，例如電子取景窗(EVF)等中，必須縮減面板上所內(nèi)置的電路組件面積。因此，實施例2中所說明的電路構(gòu)成，對于該EVF等顯示裝置是很有利的，此外也可以通過采用該構(gòu)成降低消耗電力。
圖8顯示將圖6中所具體說明的電路構(gòu)成加以一般化后的邏輯電路構(gòu)成，圖9顯示圖8所示的構(gòu)成的時序圖。在此，在圖8所示的電路構(gòu)成中，也存在有與圖2的傳送控制閘224相同的傳送控制閘，但是以傳送方向控制信號CSV為H電平，數(shù)據(jù)(V起始信號STV)從緩存器VSRn-1傳送至緩存器VSRn的情況為例來說明，因此在圖8中省略該傳送控制閘的附圖。電容信號形成形成部(NOR電路250)、電容信號固定部300、及固定電容信號的電平控制的構(gòu)成與動作，均與圖6及圖7相同。
在圖8中，關(guān)于V驅(qū)動器的中段部分，顯示出采用緩存器VSR6至VSR8及該輸出而形成出選擇信號GL7至GL9及電容信號SC7至SC9的信號形成部。起始信號STV遵循垂直頻率CKV依序傳送至緩存器。一旦前段的緩存器VSR5的輸出SR5被輸入至緩存器VSR6，則緩存器VSR6對應(yīng)CKV而讀取此輸出SR5，并將輸出SR6加以輸出。輸出SR6被供應(yīng)至第7行的選擇線用的邏輯與電路280，此外并供應(yīng)至NOR電路250的第1輸入。在一般動作時，從電容信號固定部300中將L電平信號供應(yīng)至NOR電路250的第2輸入中。因此，具備對供應(yīng)至第1輸入的上述輸出SR6的反相器的功能，并將輸出SR6的H、L電平加以反轉(zhuǎn)。此外，例如使該輸出SR6的H電平成為10V(VVDD)，L電平成為-2V(VEE)般進(jìn)行電平移位，并將所獲得的信號作為電容信號SC7而輸出至第7行的像素的電容線。
第7行的選擇信號形成電路(選擇信號用邏輯與電路)280具有反相器281；NAND電路282；及反相器284。在NAND電路282的第1輸入中，供應(yīng)有緩存器VSR6的輸出SR6，于第2輸入中，通過反相器281而供應(yīng)有下1段的移位緩存器VSR7的輸出SR7的反轉(zhuǎn)信號XSR8，在第3輸入中，供應(yīng)有使能信號。NAND電路282進(jìn)行這3個輸入的NAND運算，反相器284對運算輸出進(jìn)行極性反轉(zhuǎn)。因此，輸出SR6及反轉(zhuǎn)輸出XSR7均成為H電平，并且在ENB為上升并且容許選擇信號往各條選擇線行進(jìn)的期間中成為H電平的選擇信號GL7，被輸出至第7行的像素的選擇線。由于從邏輯與電路280所輸出的選擇信號GL的電平，設(shè)定為可以充分驅(qū)動各個像素的選擇晶體管，因此從緩存器VSRn至所對應(yīng)的邏輯與電路280的路徑中，或是在邏輯與電路280內(nèi)，必須設(shè)置用于將緩存器輸出SRn的H電平、L電平各自設(shè)定為10V、-2V的電平移位器。
如上所述，通過圖8所示的邏輯電路構(gòu)成，與上述圖6所示的具體電路構(gòu)成相同，在一般動作時，可以將對應(yīng)V起始信號STV的H電平期間的期間中成為H電平的電容信號SCn，輸出至各行的電容線。此外，在各條選擇線10中，在每1個水平掃描期間中輸出選擇信號，將對應(yīng)顯示內(nèi)容的數(shù)據(jù)寫入所對應(yīng)的像素，并并且將上述般的電容信號SC輸出至電容線12，而執(zhí)行電致發(fā)光組件的熄滅控制及組件驅(qū)動晶體管Tr2的非導(dǎo)通控制。
(實施例4) 在上述實施例中，說明采用電致發(fā)光組件作為各個像素的顯示像素的電致發(fā)光顯示裝置中的電容控制構(gòu)成的例子，但本發(fā)明也適用于液晶顯示裝置。以下參照圖10，對實施例4，也就是對應(yīng)用于液晶顯示裝置的例子進(jìn)行說明。
在采用電致發(fā)光組件作為各個像素的顯示組件時，尤其是有機(jī)電致發(fā)光組件為電流驅(qū)動型組件并且為二極管構(gòu)造，因此使對應(yīng)顯示數(shù)據(jù)的電流從陽極往陰極單向流通，借此進(jìn)行發(fā)光顯示。在上述實施例1至實施例3中，對電容線512進(jìn)行交流驅(qū)動，用于周期性的使通過保持電容Cs連接該電容線12的組件驅(qū)動晶體管Tr2成為非導(dǎo)通之故。此外，像素的缺陷檢查時，使交流信號往電容線12的輸出停止，而將輸出電壓維持在固定電壓。
另一方面，在本實施例4所涉及的液晶顯示裝置(以下稱為LCD)中，采用電壓驅(qū)動型的液晶組件(Clc)作為顯示組件。在該LCD中，在可以對每個像素進(jìn)行高精度控制的主動矩陣型LCD中，具備用于在各個像素中單獨控制液晶的像素晶體管Tr11；以及與液晶組件并聯(lián)連接像素晶體管Tr11，并且用于在預(yù)定期間中將施加于液晶的電壓加以保持的保持電容Cs。此外，在該主動矩陣型LCD中，在為了防止殘影而對液晶進(jìn)行交流驅(qū)動時，存在有周期性的對電容信號進(jìn)行交流驅(qū)動的方法，該電容信號輸出至各個像素的保持電容Cs上所連接的電容線512。在采用該方法時，一旦執(zhí)行各個像素的缺陷檢查，則在檢查時輸出至電容線512的電容信號產(chǎn)生變動，而與上述實施例相同，難以正確測定各個像素的電容值。因此，為了實現(xiàn)高精度的缺陷檢查，優(yōu)選的是，在檢查時選擇性的將電容信號固定在預(yù)定電平。此外，在將用于驅(qū)動各個像素電路的H驅(qū)動器410及V驅(qū)動器420，內(nèi)置在與顯示部400的各個像素TFT為相同的基板中而形成時，必須具有在檢查時將輸出至電容線512的電容信號的電壓電平加以固定的構(gòu)成。
因此，在本實施例4中，在驅(qū)動器內(nèi)置型的主動矩陣型LCD中，設(shè)置與實施例1同樣構(gòu)成的電容信號固定部600，并在基板上具有圖10中未顯示的與圖4為相同構(gòu)成的電平設(shè)定部，借此，在像素的缺陷檢查時，可以將輸出至電容線512的電容信號的電壓電平加以固定。
以下詳細(xì)說明。首先在LCD中，通過將各自形成在各基板的液晶側(cè)的第1電極與第2電極上所施加的電壓加以控制，而控制密封在一對的基板間的液晶層的配向狀態(tài)并借此進(jìn)行顯示。液晶分子與所施加的電壓的極性無關(guān)，而對應(yīng)該電壓的絕對值來決定配向狀態(tài)，就從所謂的防止顯示殘影的觀點來看，即使周期性的對施加電壓進(jìn)行極性反轉(zhuǎn)，只要絕對值相同則可以維持同樣的顯示。因此在LCD中，采用周期性的對施加于液晶層的施加電壓極性進(jìn)行反轉(zhuǎn)的極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動，也就是說所謂的交流驅(qū)動。關(guān)于該液晶的交流驅(qū)動方法，存在有在每1個框圖(Frame)或是圖場(Field)期間中，對施加在各個像素的液晶的電壓的極性進(jìn)行反轉(zhuǎn)的框圖或圖場反轉(zhuǎn)驅(qū)動方法；在每1條線(在每1個水平掃描期間)中進(jìn)行反轉(zhuǎn)的線反轉(zhuǎn)驅(qū)動方法；及在每1個像素中進(jìn)行反轉(zhuǎn)的點反轉(zhuǎn)驅(qū)動方法。
在上述主動矩陣型LCD中，在第1基板側(cè)上，在每個像素中形成有單獨圖案的像素電極，作為在每個像素中驅(qū)動液晶的第1電極，在與第1基板之間包夾有液晶層而對向配置的第2基板側(cè)上，形成有對各個像素為共用的共用電極(對向電極)。
在第1基板上，形成有連接于上述像素電極的像素晶體管Tr11及保持電容Cs。此外，在第1基板上形成有，用于將顯示數(shù)據(jù)信號供應(yīng)至這些像素的數(shù)據(jù)線514；用于選擇各個像素晶體管Tr11的選擇線(柵極線)510；及連接于各個像素的保持電容Cs的一個的電極的電容線512(保持電容Cs的另一個的電極連接于像素電極)。
此外，在本實施例中，同樣在第1基板上的顯示部400的周邊區(qū)域上，形成有用于控制并驅(qū)動像素電路的H驅(qū)動器410及V驅(qū)動器420。
像素晶體管Tr11以TFT所構(gòu)成，在此采用圖10所示的n溝道型TFT。此外，內(nèi)置驅(qū)動器(H驅(qū)動器410、V驅(qū)動器420)由基本上可以與上述像素晶體管Tr11為相同制造過程所制造出的TFT而構(gòu)成，具體而言，可以采用n溝道型TFT、p溝道型TFT，多數(shù)的電路區(qū)塊以CMOS構(gòu)造而設(shè)置。
在主動矩陣型LCD中，如上所述的周期性進(jìn)行的各種液晶極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動，基板上是在預(yù)定周期中，對于從數(shù)據(jù)線514供應(yīng)至各個像素的顯示數(shù)據(jù)信號的極性，進(jìn)行反轉(zhuǎn)而執(zhí)行的。此外，與該顯示數(shù)據(jù)信號Vdata的極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動一同進(jìn)行下列的反轉(zhuǎn)驅(qū)動，也就是說，將共用電極電壓與電容電極電壓(電容線電壓)當(dāng)中的一種或兩種，反轉(zhuǎn)驅(qū)動為對顯示數(shù)據(jù)信號的基準(zhǔn)呈極性與反極性。通過對共用電極(Vcom)與電容電極(Vsc)兩者或當(dāng)中的一種進(jìn)行交流驅(qū)動，可以縮小顯示數(shù)據(jù)信號的極性反轉(zhuǎn)后的振幅，而確實對象素的液晶電容Clc進(jìn)行交流驅(qū)動，并可以在一定期間中確實將對應(yīng)顯示數(shù)據(jù)的電荷保持于保持電容Cs。此外，具有大面積并且采用有ITO(Indium TinOxide氧化銦錫)或IZO(Indium Zinc Oxide氧化銦鋅)等導(dǎo)電性透明金屬氧化物的共用電極，較多數(shù)的金屬導(dǎo)電層中所使用的Al及Cu等更具有高電阻。因此，如果共用電極的電壓的極性反轉(zhuǎn)周期較短(交流驅(qū)動的頻率變高)，那么消耗電力會增加。因此，為了更進(jìn)一步達(dá)到低消耗電力化，也可以僅對顯示數(shù)據(jù)信號及電容信號進(jìn)行交流驅(qū)動。
在本實施例4中，不論是否對共用電極電壓進(jìn)行交流驅(qū)動，均可以適用于對電容信號進(jìn)行交流驅(qū)動的情況。在對完成后的LCD在工廠出貨前進(jìn)行顯示缺陷檢查時，選擇各個像素而寫入檢查用數(shù)據(jù)，并從數(shù)據(jù)線等中將此時各個像素中的電容值變化作為電壓信號讀出。借此，如果施加在電容線的電容信號的電壓，在檢查時因為交流驅(qū)動而產(chǎn)生變動，則保持電容Cs的電極電壓產(chǎn)生變動而無法獲得充分的檢查精度。因此，在缺陷檢查時，優(yōu)選的是，使電容信號的交流驅(qū)動停止，而將輸出至電容線的電容信號電壓加以固定。尤其是在組裝有內(nèi)置驅(qū)動器時，顯示部經(jīng)常僅遵循內(nèi)置驅(qū)動器的控制而動作，因此如上述實施例那樣，必須在LCD的形成有TFT的TFT數(shù)組基板(在此是第1基板)上，形成電容信號固定部600。
LCD的H驅(qū)動器410、V驅(qū)動器420的電路構(gòu)成，該基本功能與上述電致發(fā)光顯示裝置為共用。也就是說，H驅(qū)動器410根據(jù)水平起始信號STH，將對應(yīng)相應(yīng)像素的顯示內(nèi)容的顯示數(shù)據(jù)信號Vdata，輸出至每1列中所設(shè)置的數(shù)據(jù)線514上。
V驅(qū)動器420根據(jù)垂直起始信號STV，形成用于在每1行中將顯示部400中配置為矩陣狀的各個像素加以選擇的選擇信號，并依序輸出至每1行上所設(shè)置的選擇線(柵極線)510，并將電容信號Vsc輸出至各個像素的保持電容Cs上所連接的電容線512。
如圖2、圖6、圖8所示，V驅(qū)動器420具備，依序傳送垂直起始信號STV的V移位緩存器(VSR)；及根據(jù)緩存器輸出SR形成選擇信號，并且形成電容信號的信號形成部。選擇信號的波形及輸出時序，可以與圖4、圖7、圖9等圖所示的選擇信號GL相同，選擇信號形成部的邏輯構(gòu)成，可以采用與上述圖2、圖6、圖8等為相同的構(gòu)成。另一方面，例如在每1行對電容信號進(jìn)行極性反轉(zhuǎn)時，電容信號形成部采用使反轉(zhuǎn)周期成為1H(1個水平掃描期間)的邏輯構(gòu)成。
在采用對每1個像素進(jìn)行極性反轉(zhuǎn)的點反轉(zhuǎn)驅(qū)動時，電容信號也在每個像素中具有不同極性，因而極具效果。另一方面，將顯示數(shù)據(jù)信號寫入保持電容之后，至寫入下1個顯示數(shù)據(jù)信號為止的期間中，就盡可以能不使所保持的數(shù)據(jù)信號損失的觀點來看，保持電容的電極電壓優(yōu)選的是，不會產(chǎn)生變動。因此，在點反轉(zhuǎn)時，電容線512在每1行中設(shè)置2條，當(dāng)中的1條電容線(512o)連接于奇數(shù)列的像素的保持電容Cs，另1條電容線(512e)連接于，供應(yīng)有與奇數(shù)列的像素為反極性的顯示數(shù)據(jù)信號的偶數(shù)列的像素的保持電容Cs。此外，V驅(qū)動器420的電容信號形成形成部的邏輯部，分別形成對奇數(shù)列用電容線及偶數(shù)列用電容線，在每1行中設(shè)定極性反轉(zhuǎn)時序后的電容信號。
圖11顯示對電容線進(jìn)行交流驅(qū)動時，在一般顯示動作時著眼于某1像素時的各信號的波形的一例。輸出至各行的選擇信號，成為在每1個水平掃描期間中使所對應(yīng)的行的像素晶體管Tr11導(dǎo)通的電平(在此為H電平)。在圖11的例子中，此時在所對應(yīng)的數(shù)據(jù)線514上，輸出有同一像素中的每個圖場的極性反轉(zhuǎn)后的顯示數(shù)據(jù)信號Vdata。
選擇信號從L電平改變?yōu)镠電平(選擇電平)，使像素晶體管Tr11導(dǎo)通，顯示數(shù)據(jù)信號通過像素晶體管Tr11的源極漏極之間而施加于像素電極，以及保持電容的一個電極。接著，一旦選擇信號從H電平下降至L電平，則像素晶體管Tr11成為非導(dǎo)通停止對保持電容Cs的充電，而決定了施加于像素電極的電壓Vp。至決定像素電極電壓為止，電容信號維持于一定的電壓，決定像素電極電壓的后(像素晶體管Tr11成為非導(dǎo)通后)，對基準(zhǔn)電壓(在此為中心電壓Vc)的極性產(chǎn)生反轉(zhuǎn)。在該例中，在顯示數(shù)據(jù)信號的對Vc的極性為H電平時，在像素晶體管Tr11成為非導(dǎo)通之后，電容信號Vsc從L電平改變?yōu)镠電平。相反的，在數(shù)據(jù)信號的極性為L電平時，在像素晶體管Tr11成為非導(dǎo)通之后從H電平改變?yōu)長電平。因此，如圖11所示，通過使成為與寫入后的顯示數(shù)據(jù)信號為同樣極性的方式而改變電容信號Vsc，可以對應(yīng)電容信號Vsc的變化而對保持電容Cs中所保持的顯示數(shù)據(jù)電壓Vp進(jìn)行電平移位。因此，可以將顯示數(shù)據(jù)信號Vdata的振幅抑制為最低程度，并且最終可以在各個像素中提高施加于液晶電容Clc的顯示數(shù)據(jù)電壓Vp。
在這樣構(gòu)成中，在進(jìn)行顯示缺陷檢查時，如果以一般方式來驅(qū)動各個像素時，那么使像素晶體管Tr11成為導(dǎo)通，在將檢查用數(shù)據(jù)寫入保持電容Cs之后，電容信號Vsc的電平會產(chǎn)生變化。也就是說，在通過數(shù)據(jù)線將寫入后的檢查數(shù)據(jù)加以讀出時，像素電極電壓會產(chǎn)生極大的變動，而容易導(dǎo)致檢查精度的降低。因此，在檢查時，優(yōu)選的是，使該電容信號的電平變化(交流驅(qū)動)停止，此外并可以通過電容線512，將像素電極電壓設(shè)定為更能夠提高檢查精度的電壓。
在這樣的對電容線進(jìn)行交流驅(qū)動時，電容信號形成部可以通過對來自V移位緩存器等的輸出進(jìn)行邏輯運算，而形成出如圖11所示的波形的電容信號。此外，也可以能僅單純的進(jìn)行預(yù)定緩存器的輸出的反轉(zhuǎn)，而形成電容信號。因此，在本實施例中，也在電容信號的輸出段上設(shè)置邏輯電路，此外并設(shè)置與圖2等為同樣構(gòu)成的電容信號固定部600，而將用于對應(yīng)要求將該輸出電平加以固定的電容固定控制信號，供應(yīng)至電容信號的輸出電路(圖2的邏輯電路240等)。借此，在顯示裝置的一般顯示時，不會限制電容信號的交流輸出，另一方面，在工廠出貨等時對顯示面板進(jìn)行缺陷檢查時，可以將電容信號的電壓電平固定于預(yù)定電平。此外，并不限定于將電容固定控制信號輸入至最終邏輯電路的輸入中的構(gòu)成，也可以采用下列構(gòu)成，也就是說，將另外的輸出電壓切換專用的TFT，與驅(qū)動器同時形成在基板上，并將其連接于電容線512，對應(yīng)檢查時等的要求而使TFT動作，并將電容信號的電壓電平連接于一定電壓的電源上的構(gòu)成。
此外，可以設(shè)置與圖2為相同構(gòu)成的電平設(shè)定部，并通過連接于設(shè)定用端子Tv3p的電源V3P，而將電容信號固定時的電容信號的電壓電平設(shè)定為任意電平。
在以上的各個實施例中，通過保護(hù)電路而分別將固定控制信用端子Tsc及設(shè)定用端子Tv3p連接于電容信號形成部的對應(yīng)的電路上，主要用于防止靜電噪聲等從這些端子中侵入，而導(dǎo)致面板上的電路受到靜電破壞。
權(quán)利要求
1.一種顯示裝置，其具備具有配置為矩陣狀的多個像素的顯示區(qū)域以及用于驅(qū)動上述顯示區(qū)域內(nèi)的上述多個像素的驅(qū)動電路，其特征在于在上述顯示區(qū)域中，上述多個像素各自具備顯示組件，對應(yīng)顯示數(shù)據(jù)而控制上述顯示組件的像素晶體管以及用于將上述顯示數(shù)據(jù)保持預(yù)定期間的保持電容；上述保持電容具備第1電極以及第2電極，上述第1電極連接在上述像素晶體管與上述顯示組件之間，上述第2電極連接在電容線上；上述驅(qū)動電路至少具有垂直方向驅(qū)動部及電容信號固定部；上述垂直方向驅(qū)動部具備，將預(yù)定的交流信號作為電容信號而輸出至上述電容線的電容信號形成部；上述電容信號固定部，選擇性的將從上述電容信號形成部輸出的上述電容信號固定在直流電平。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，還具備將從上述電容信號形成部輸出的上述電容信號的上述電壓電平加以設(shè)定的電平設(shè)定部。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，上述電平設(shè)定部檢測出固定控制信號從上述電容信號固定部的輸出，而將用于在上述電容信號形成部的電容信號輸出部中決定該電容信號的電壓值的輸出部電源電壓的電平加以設(shè)定。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，上述電平設(shè)定部具有電平設(shè)定用端子，并且對應(yīng)連接在該電平設(shè)定用端子的設(shè)定用電源，而設(shè)定上述電容信號的上述電壓電平。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，上述電容信號固定部具有固定控制用端子，并且對應(yīng)連接在該固定控制用端子的電源電壓，而進(jìn)行對上述電容信號的直流電平的固定控制。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，上述電容信號固定部在上述顯示區(qū)域的動作檢查模式時，固定上述電容信號的電平。
7.一種顯示裝置，其具備具有配置為矩陣狀的多個像素的顯示區(qū)域以及用于驅(qū)動上述顯示區(qū)域內(nèi)的上述多個像素的驅(qū)動電路，其特征為在上述顯示區(qū)域中，上述多個像素各自具備顯示組件，對應(yīng)顯示數(shù)據(jù)而控制上述顯示組件的像素晶體管以及用于將上述顯示數(shù)據(jù)保持預(yù)定期間的保持電容；上述保持電容具備第1電極及第2電極，上述第1電極連接在上述像素晶體管與上述顯示組件之間，第2電極連接在電容線上；在上述顯示區(qū)域的水平掃描方向中，延伸形成有用于選擇所對應(yīng)的像素的像素晶體管的選擇線以及用于控制上述保持電容的上述第2電極的電位的電容線；上述驅(qū)動電路至少具有垂直方向驅(qū)動部及電容信號固定部；上述垂直方向驅(qū)動部形成，根據(jù)表示1個垂直掃描期間的開始時序的垂直起始信號，用于選擇所對應(yīng)的行的上述像素晶體管而依序輸出至上述選擇線的選擇信號，并且形成根據(jù)上述垂直起始信號而在1個水平掃描期間中設(shè)定有第1電壓電平期間與第2電壓電平期間，并且依序輸出至上述電容線的電容信號；上述電容信號固定部，選擇性的將從上述垂直方向驅(qū)動部所輸出的上述電容信號固定在直流電平。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，上述垂直方向驅(qū)動部具備垂直傳送緩存器，具有用于讀取上述垂直起始信號并且予以依序傳送的多段的緩存器；選擇信號形成部，根據(jù)上述垂直傳送緩存器的輸出而形成供應(yīng)至上述選擇線的上述選擇信號；以及電容信號形成部，根據(jù)上述垂直傳送緩存器的輸出而形成上述電容信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的顯示裝置，其特征在于，上述電容信號形成部具有用于將上述電容信號輸出至上述電容線的邏輯電路；在上述邏輯電路的1個輸入端，供應(yīng)有來自上述電容信號固定部的預(yù)定電平的固定控制信號，并且對應(yīng)該固定控制信號，將來自上述邏輯電路的上述電容信號的輸出電平加以固定。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，還具備將從上述電容信號形成部輸出的上述電容信號的上述電壓電平加以設(shè)定的電平設(shè)定部。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的顯示裝置，其特征在于，上述電平設(shè)定部檢測出固定控制信號從上述電容信號固定部的輸出，而將用于在上述電容信號形成部的電容信號輸出部中決定該電容信號的電壓值的輸出部電源電壓的電平加以設(shè)定。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的顯示裝置，其特征在于，上述電平設(shè)定部具有電平設(shè)定用端子，并且對應(yīng)連接在該電平設(shè)定用端子的設(shè)定用電源，而設(shè)定上述電容信號的上述電壓電平。
13.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，上述電容信號固定部具有固定控制用端子，并且對應(yīng)連接在該固定控制用端子的電源電壓，而進(jìn)行對上述電容信號的直流電平的固定控制。
14.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，上述電容信號固定部在上述顯示區(qū)域的動作檢查模式時，固定上述電容信號的電平。
全文摘要
本發(fā)明的目的在于，提升在各個像素中具有顯示組件的顯示裝置中的檢查精度。本發(fā)明提供一種顯示裝置，在各個像素中具備顯示組件；控制該顯示組件的動作的像素晶體管；及將對應(yīng)顯示數(shù)據(jù)的電荷保持一定期間的保持電容。在一般動作時，在預(yù)定周期中對輸出至各個保持電容所連接的電容線的電容信號進(jìn)行交流驅(qū)動，借此可以提升顯示質(zhì)量等。另一方面，在像素的缺陷檢查等中，將輸出至電容線的電容信號設(shè)定為固定電平的構(gòu)成，預(yù)先與像素電路等同時形成在基板上。借此，在檢查時從各個像素的電容值數(shù)據(jù)等當(dāng)中檢測出各個像素的缺陷時，可以提升檢查精度。此外，在檢查時，也可以將固定電平，設(shè)定為適用于檢查的任意檢查用電壓。
文檔編號H05B33/08GK1945670SQ20061014205
公開日2007年4月11日 申請日期2006年10月8日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月4日
發(fā)明者神野優(yōu)志, 池田恭二, 上杉健哉 申請人:三洋電機(jī)株式會社