專利名稱:發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)電路及其驅(qū)動(dòng)方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種驅(qū)動(dòng)方法,尤其涉及一種發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)方法。
背景技術(shù):
發(fā)光二極管由于具有低耗電、高壽命和不易損壞的優(yōu)點(diǎn),因此常應(yīng)用于各種電子顯 示裝置,例如交通標(biāo)志或大型廣告看板等。然而,這種大型顯示裝置由于多設(shè)置于戶外, 容易受到例如刮風(fēng)下雨、動(dòng)物撞擊或其排泄物影響而損壞。傳統(tǒng)發(fā)光二極管顯示裝置并 無檢測(cè)機(jī)制。因此,控制端無法得知損壞發(fā)光二極管的數(shù)目或部位,而必須通過人眼辨 識(shí)而加以更換。對(duì)于架設(shè)高度動(dòng)輒數(shù)十米的發(fā)光二極管顯示裝置來說,維修人員必須近 距離加以確認(rèn)損壞情形。如此維修過程極為繁復(fù)而相當(dāng)耗費(fèi)成本。
為了解決上述問題,可在發(fā)光二極管顯示裝置的驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)設(shè)計(jì)檢測(cè)機(jī)制,使控制 端能直接獲得發(fā)光二極管的故障狀態(tài)數(shù)據(jù)。圖1顯示常規(guī)的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路,其連 接到控制端處理器200,并用以驅(qū)動(dòng)多個(gè)發(fā)光二極管400。所述驅(qū)動(dòng)電路IOO包含多個(gè) 移位寄存器IIO、多個(gè)鎖存器120、多個(gè)驅(qū)動(dòng)單元130、多個(gè)比較器140、多個(gè)狀態(tài)寄存 器150和一狀態(tài)轉(zhuǎn)換電路160,其中所述移位寄存器110、所述鎖存器120和所述驅(qū)動(dòng) 單元130的數(shù)目相等,并等于所述發(fā)光二極管400的數(shù)目。所述驅(qū)動(dòng)電路IOO另外具有 數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端、鎖存信號(hào)輸入端、開關(guān)信號(hào)輸入端、時(shí)鐘信號(hào)輸入端和數(shù)據(jù)信號(hào)輸出 端,其中所述數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端連接到所述移位寄存器IIO的第一級(jí)寄存器,而所述數(shù)據(jù) 信號(hào)輸出端連接到所述移位寄存器110的最后一級(jí)寄存器。
所述狀態(tài)轉(zhuǎn)換電路160根據(jù)輸入的鎖存信號(hào)和開關(guān)信號(hào)決定所述驅(qū)動(dòng)電路100的狀 態(tài)。在顯示模式時(shí),所述驅(qū)動(dòng)電路100由所述數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端接收來自所述控制端處理 器200所傳送的顯示信號(hào),并將其串列存入所述移位寄存器110中。待所述移位寄存器 IIO均被存入顯示信號(hào)后,將所存儲(chǔ)的顯示信號(hào)存入所述鎖存器120中,其中所述鎖存 器120的輸出即作為所述驅(qū)動(dòng)單元130的輸入。所述驅(qū)動(dòng)單元130的輸出分別連接到發(fā) 光二極管400,以驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管400。
在檢測(cè)模式時(shí),所述驅(qū)動(dòng)電路100由所述數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端接收來自所述控制端處理 器200所傳送的檢測(cè)信號(hào)(例如全為O或全為1的信號(hào)),并將其串列存入所述移位寄存器110中。待所述移位寄存器110均被存入檢測(cè)信號(hào)后,將所存儲(chǔ)的檢測(cè)信號(hào)存入所 述鎖存器120中,以作為所述驅(qū)動(dòng)單元130的輸入。每一所述比較器140的輸入分別連 接到一發(fā)光二極管400的輸出和一參考電位,而每一所述比較器140的輸出用來表示發(fā) 光二極管400是否處于故障狀態(tài)。所述狀態(tài)寄存器150用以存儲(chǔ)所述比較器140的比較 結(jié)果,并在之后回存入所述移位寄存器110中加以輸出并回傳到所述控制端處理器200。 所述控制端處理器200通過所述回傳的比較結(jié)果獲得所述發(fā)光二極管400的故障狀態(tài)數(shù) 據(jù)。例如,如果所述檢測(cè)信號(hào)為全為1的信號(hào),代表所述發(fā)光二極管400應(yīng)為全亮。如 果所述比較結(jié)果有0的信號(hào),代表其相對(duì)位置的發(fā)光二極管400發(fā)生損壞。
圖2顯示所述驅(qū)動(dòng)電路IOO的輸入和輸出信號(hào)的波形圖。如圖2所示,所述時(shí)鐘信 號(hào)用以控制所述移位寄存器IIO的輸入動(dòng)作。在顯示模式時(shí),所述顯示信號(hào)依次串列存 入到所述移位寄存器110中。此時(shí)所述驅(qū)動(dòng)電路100的輸出串列信號(hào)為冗余數(shù)據(jù) (redundant data)。待所述移位寄存器110均被存入顯示信號(hào)后,所述鎖存信號(hào)輸入一脈 沖將所述移位寄存器IIO存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)存入所述鎖存器120中。接著,在所述開關(guān)信號(hào)下 拉到0時(shí),根據(jù)所述鎖存器120的數(shù)據(jù)加以驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管400,此時(shí)所述驅(qū)動(dòng)電 路IOO的輸出串列信號(hào)即為所述顯示信號(hào)。在所述狀態(tài)轉(zhuǎn)換電路160切換所述驅(qū)動(dòng)電路 IOO到檢測(cè)模式后,即可用以檢測(cè)所述發(fā)光二極管400的損壞情形,或?qū)⒋鎯?chǔ)于所述狀 態(tài)寄存器150中的數(shù)據(jù)回傳到所述控制端處理器200。此時(shí)所述驅(qū)動(dòng)電路100的輸出串 列信號(hào)即為所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)。如圖2所示,所述驅(qū)動(dòng)電路IOO的狀態(tài)另外包含結(jié)束模 式,用以作為轉(zhuǎn)換檢測(cè)模式到顯示模式的界面模式。
然而,上述常規(guī)技術(shù)需要在顯示模式和檢測(cè)模式中加以切換,因而增加所述控制端 處理器200的操作復(fù)雜度。此外,檢測(cè)模式的所述狀態(tài)寄存器150和所述狀態(tài)轉(zhuǎn)換電路 160會(huì)構(gòu)成硬件成本的增加。因此,有必要設(shè)計(jì)一種更簡(jiǎn)單的顯示機(jī)制,其不僅需有檢 測(cè)功能而且不會(huì)帶給所述驅(qū)動(dòng)電路IOO額外的硬件成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)方法的一實(shí)施例應(yīng)用于多個(gè)發(fā)光二極管所組成的模塊,
所述驅(qū)動(dòng)方法包含下列步驟根據(jù)一串列的顯示數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管;在顯示模式
中同步檢測(cè)所述發(fā)光二極管,用以得到所述發(fā)光二極管的故障狀態(tài)數(shù)據(jù);以及串列輸出 所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的另一驅(qū)動(dòng)方法包含下列步驟:將顯示數(shù)據(jù)串列輸入到移位寄存器;將所述 移位寄存器的數(shù)據(jù)存入到多個(gè)鎖存器中;根據(jù)所述鎖存器的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管;在所述發(fā)光二極管顯示數(shù)據(jù)時(shí)同步將其故障狀態(tài)數(shù)據(jù)回存入所述移位寄存器中;以 及串列輸出所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)以分析所述發(fā)光二極管的故障狀態(tài)。
本發(fā)明的發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)電路的一實(shí)施例包含多個(gè)移位寄存器、多個(gè)鎖存器、多 個(gè)驅(qū)動(dòng)單元以及多個(gè)檢測(cè)單元。所述多個(gè)移位寄存器用于接收控制端處理器傳來的數(shù)據(jù)
和回傳故障狀態(tài)數(shù)據(jù)到所述控制端處理器。所述多個(gè)鎖存器用于鎖存所述多個(gè)移位寄存 器的輸出。所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)單元用于接收所述多個(gè)鎖存器的數(shù)據(jù)并驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管所 組成的模塊。所述多個(gè)移位寄存器用于在顯示模式中同步檢測(cè)所述發(fā)光二極管的故障狀 態(tài)數(shù)據(jù),并回存到所述多個(gè)移位寄存器。
圖1顯示常規(guī)的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路;
圖2顯示常規(guī)的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的輸入和輸出信號(hào)波形圖; 圖3顯示本發(fā)明的一實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路;
圖4顯示本發(fā)明的一實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的控制流程圖;以及
圖5顯示本發(fā)明的一實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的輸入和輸出信號(hào)波形圖。
具體實(shí)施例方式
圖3顯示應(yīng)用本發(fā)明的一實(shí)施例的發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)方法及其驅(qū)動(dòng)電路。所述驅(qū)動(dòng) 電路300連接到所述控制端處理器200,并用以驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管400。所述驅(qū)動(dòng)電 路300包含多個(gè)移位寄存器310、多個(gè)鎖存器320、多個(gè)驅(qū)動(dòng)單元330和多個(gè)檢測(cè)單元 340 (例如多個(gè)比較器),其中所述移位寄存器310、所述鎖存器320、所述驅(qū)動(dòng)單元330、 所述檢測(cè)單元340和所述發(fā)光二極管400的數(shù)目約略相等。所述驅(qū)動(dòng)電路300另外具有 數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端、鎖存信號(hào)輸入端、開關(guān)信號(hào)輸入端、時(shí)鐘信號(hào)輸入端和數(shù)據(jù)信號(hào)輸出 端,其中所述數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端連接到所述移位寄存器310的第一級(jí)寄存器,而所述數(shù)據(jù) 信號(hào)輸出端連接到所述移位寄存器310的最后一級(jí)寄存器。
本實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)方法在工作狀態(tài)時(shí)僅包含一模式,即顯示模 式,因此不需要常規(guī)驅(qū)動(dòng)電路100的所述狀態(tài)轉(zhuǎn)換電路160。在顯示模式時(shí),所述驅(qū)動(dòng) 電路300由所述數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端接收來自所述控制端處理器200所傳送的顯示信號(hào),并 將其串列存入所述移位寄存器310中。待所述移位寄存器310均被存入顯示信號(hào)后,將 所存儲(chǔ)的顯示信號(hào)存入所述鎖存器320中,其中所述鎖存器320的輸出即作為所述驅(qū)動(dòng) 單元330的輸入。所述驅(qū)動(dòng)單元330的輸出分別連接一發(fā)光二極管400,并加以驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管400。每一所述檢測(cè)單元340的輸入分別連接到一發(fā)光二極管400的輸出和一參考電位。所述檢測(cè)單元340的輸出用來表示所述發(fā)光二極管400是否處于故障狀態(tài)。所述檢測(cè)單元340可以同時(shí)檢測(cè)所述發(fā)光二極管400是否處于開路(open)或短路(short)的故障狀態(tài)。如果所述鎖存器320內(nèi)的顯示信號(hào)為1,而所述檢測(cè)單元340的輸出為O,那么代表所述發(fā)光二極管400處于開路(open)故障狀態(tài)。如果所述鎖存器320內(nèi)的顯示信號(hào)為O,而所述檢測(cè)單元340的輸出為1,那么代表所述發(fā)光二極管400處于短路(short)故障狀態(tài)。所述發(fā)光二極管400在驅(qū)動(dòng)完成的同時(shí),所述檢測(cè)單元340就將檢測(cè)結(jié)果(所述發(fā)光二極管400的故障狀態(tài)數(shù)據(jù))存入所述移位寄存器310中,而所述檢測(cè)結(jié)果就通過所述數(shù)據(jù)信號(hào)輸出端串列輸出。簡(jiǎn)單地說,本實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)方法是將檢測(cè)機(jī)制結(jié)合于顯示模式中,以實(shí)時(shí)方式將開路(open)與短路(short)的故障狀態(tài)數(shù)據(jù)回傳到所述控制端處理器200。
圖4顯示本發(fā)明的一實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的控制流程圖。在步驟Sl時(shí),將所述控制端處理器所輸出的顯示信號(hào)串列輸入到所述移位寄存器310。在步驟S2時(shí),將所述移位寄存器310的數(shù)據(jù)存入所述鎖存器320中。在步驟S3時(shí),根據(jù)所述鎖存器320的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管400。在步驟S4時(shí),將所述檢測(cè)單元340輸出的故障狀態(tài)數(shù)據(jù)存入所述移位寄存器310中。在步驟S5時(shí),所述驅(qū)動(dòng)電路300串列輸出所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)。
圖5顯示所述驅(qū)動(dòng)電路300的輸入和輸出信號(hào)的波形圖。如圖4所示,所述時(shí)鐘信號(hào)用以控制所述移位寄存器310的輸入動(dòng)作。在顯示模式時(shí),所述顯示信號(hào)依次串列存入到所述移位寄存器310中。此時(shí)所述驅(qū)動(dòng)電路300的輸出串列信號(hào)為冗余數(shù)據(jù)。待所述移位寄存器310均被存入顯示信號(hào)后,所述鎖存信號(hào)輸入一脈沖將所述移位寄存器310存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)存入所述鎖存器320中。接著,在所述開關(guān)信號(hào)下拉到O時(shí),根據(jù)所述鎖存器320的數(shù)據(jù)加以驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管400,并在下一時(shí)鐘信號(hào)脈沖輸入前將所述檢測(cè)單元340的比較結(jié)果存入所述移位寄存器310中。此時(shí)所述驅(qū)動(dòng)電路300的輸出串列信號(hào)即為所述比較結(jié)果(即故障狀態(tài)數(shù)據(jù))。因此,所述驅(qū)動(dòng)電路300在接收所述顯示信號(hào)并驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管400后,以實(shí)時(shí)方式輸出所述發(fā)光二極管400的故障狀態(tài)數(shù)據(jù),因而省去常規(guī)技術(shù)所需的所述狀態(tài)寄存器150。
所述控制端處理器200在收到所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)后,將其與顯示信號(hào)進(jìn)行比較,以得到所述發(fā)光二極管400的損壞數(shù)據(jù)。當(dāng)某一發(fā)光二極管400的顯示信號(hào)與其對(duì)應(yīng)的故障狀態(tài)數(shù)據(jù)不符時(shí),即表示所述發(fā)光二極管400發(fā)生開路(open)或短路(short)的損壞。綜上所述,本實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)方法是將檢測(cè)機(jī)制結(jié)合于其顯示模式內(nèi),因此能大幅降低硬件所需成本。另一方面,本實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)方法是以實(shí)時(shí)方式回傳發(fā)光二極管的開路(open)或短路(short)故障狀態(tài)數(shù)據(jù),因此能更快發(fā)現(xiàn)發(fā)光二極管的損壞情形。此外,由于本實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)方法僅包含一顯示模式,所述發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)以及其開路(open)或短路(short)的故障檢測(cè)三項(xiàng)功能可同步進(jìn)行完成,且控制端操作軟件不需另外設(shè)計(jì)模式切換機(jī)制,大幅降低復(fù)雜度。因此,本實(shí)施例的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)方法相當(dāng)滿足業(yè)界的需求,確實(shí)是不可多得的發(fā)明。
上文已揭示本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容和技術(shù)特點(diǎn),然而所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員仍可能基于本發(fā)明的教示和揭示而作出種種不背離本發(fā)明精神的替換和修改。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)不限于實(shí)施例所揭示的內(nèi)容,而是應(yīng)包括各種不背離本發(fā)明的替換和修改,并由所附權(quán)利要求書所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)方法,其應(yīng)用于多個(gè)發(fā)光二極管所組成的模塊,其特征在于所述驅(qū)動(dòng)方法包含下列步驟根據(jù)一串列的顯示數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管;在顯示模式中同步檢測(cè)所述發(fā)光二極管,用以得到所述發(fā)光二極管的故障狀態(tài)數(shù)據(jù);以及串列輸出所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其中所述顯示數(shù)據(jù)并非故意安排的檢 測(cè)數(shù)據(jù)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其中所述發(fā)光二極管的檢測(cè)是將所述 發(fā)光二極管的輸出電流與參考電流進(jìn)行比較。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其另外包含由控制端處理器比較所述 故障狀態(tài)數(shù)據(jù)的步驟,其中所述控制端處理器發(fā)送所述串列的顯示數(shù)據(jù)。
5. —種發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其包含下列步驟將顯示數(shù)據(jù)串列輸入到移位寄存器; 將所述移位寄存器的數(shù)據(jù)存入多個(gè)鎖存器中; 根據(jù)所述鎖存器的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管;在所述發(fā)光二極管顯示數(shù)據(jù)時(shí)同步將其故障狀態(tài)數(shù)據(jù)回存入所述移位寄存器中; 以及串列輸出所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)以分析所述發(fā)光二極管的故障狀態(tài)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其中所述顯示數(shù)據(jù)并非故意安排的檢 測(cè)數(shù)據(jù)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其中所述發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)電路的輸入 信號(hào)包含時(shí)鐘信號(hào),用以控制所述移位寄存器的輸出輸入動(dòng)作。
8. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其中在驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管的步驟 后,在下一時(shí)鐘信號(hào)脈沖輸入前執(zhí)行將所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)存入所述移位寄存器中的 步驟。
9. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其中所述移位寄存器、所述鎖存器和 所述發(fā)光二極管的數(shù)目相等。
10. —種發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)電路,其特征在于其包含多個(gè)移位寄存器,其用于接收控制端處理器傳來的顯示數(shù)據(jù)和回傳故障狀態(tài)數(shù)據(jù) 到所述控制端處理器;多個(gè)鎖存器,其用于鎖存所述多個(gè)移位寄存器的輸出;多個(gè)驅(qū)動(dòng)單元,其用于接收所述多個(gè)鎖存器的數(shù)據(jù)并驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管所組成 的模塊;以及多個(gè)檢測(cè)單元,其用于在顯示模式中同步檢測(cè)所述發(fā)光二極管的故障狀態(tài)數(shù)據(jù), 并回存到所述多個(gè)移位寄存器。
11. 根據(jù)權(quán)利要求IO所述的驅(qū)動(dòng)電路,其特征在于其中所述顯示數(shù)據(jù)并非故意安排的 檢測(cè)數(shù)據(jù)。
12. 根據(jù)權(quán)利要求IO所述的驅(qū)動(dòng)電路,其特征在于其中所述發(fā)光二極管的檢測(cè)是將所 述發(fā)光二極管的輸出電流與參考電流進(jìn)行比較。
13. 根據(jù)權(quán)利要求IO所述的驅(qū)動(dòng)電路,其特征在于其中在驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管的下一 筆顯示數(shù)據(jù)輸入前執(zhí)行串列輸出所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)。
14. 根據(jù)權(quán)利要求IO所述的驅(qū)動(dòng)電路,其特征在于其中所述移位寄存器、所述鎖存器 和所述發(fā)光二極管的數(shù)目相等。
15. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的驅(qū)動(dòng)電路,其特征在于其中所述檢測(cè)單元和所述發(fā)光二極 管的數(shù)目相等。
16. 根據(jù)權(quán)利要求IO所述的驅(qū)動(dòng)方法,其特征在于其中所述檢測(cè)單元是比較器。
全文摘要
本發(fā)明涉及發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)電路及其驅(qū)動(dòng)方法。所述驅(qū)動(dòng)方法應(yīng)用于多個(gè)發(fā)光二極管所組成的模塊,其包含下列步驟根據(jù)一串列的顯示數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管;在顯示模式中同步檢測(cè)所述發(fā)光二極管以得到所述發(fā)光二極管的故障狀態(tài)數(shù)據(jù);以及串列輸出所述故障狀態(tài)數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)H05B37/02GK101646286SQ20081013495
公開日2010年2月10日 申請(qǐng)日期2008年8月7日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月7日
發(fā)明者許祥麟 申請(qǐng)人:晶锜科技股份有限公司