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      板件檢修設(shè)備及其檢修的方法

      文檔序號(hào):8143312閱讀:259來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:板件檢修設(shè)備及其檢修的方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及印制線路板制作領(lǐng)域,特別涉及一種板件檢修設(shè)備及其檢修的方法。
      技術(shù)背景
      目前,印制線路板、高密度互聯(lián)板在制作完成后,還需要進(jìn)行光學(xué)檢測(cè),檢測(cè)出異 常板,為確保生產(chǎn)的良品率,通常在檢測(cè)出異常板后,還需要對(duì)異常板進(jìn)行檢修或補(bǔ)線。目 前,仍然通過(guò)人工的方式對(duì)異常點(diǎn)進(jìn)行修補(bǔ)。參見(jiàn)圖1,檢修設(shè)備包括檢修工作臺(tái)面,位于 檢修工作臺(tái)面上方的攝像頭,以及兩個(gè)LED臺(tái)面照明燈,該攝像頭與照明燈可固定在一起, 在設(shè)定的軌道空間內(nèi)運(yùn)動(dòng),即攝像頭與照明燈同步移動(dòng),以便對(duì)板件的每個(gè)異常點(diǎn)進(jìn)行仔 細(xì)的檢測(cè)。其檢修過(guò)程包括將板件放入檢修工作臺(tái)面上,打開(kāi)LED臺(tái)面照明燈后,控制攝 像頭,使其移動(dòng)到板件的異常點(diǎn)的上方,通過(guò)攝像頭中放大的圖像,確定該異常點(diǎn)是否有真 正的缺點(diǎn),即真點(diǎn);當(dāng)確認(rèn)為真點(diǎn)后,即對(duì)該點(diǎn)進(jìn)行修補(bǔ)。
      然而,在修補(bǔ)過(guò)程中往往產(chǎn)生大量的銅渣,現(xiàn)有清除銅渣的方式為擦拭法,即手工 把板面上銅渣擦掉。此種方式無(wú)法有效地將銅渣清除干凈,并且,還會(huì)發(fā)生反粘現(xiàn)象,產(chǎn)生 新的短路異常(aiot),從而導(dǎo)致良品率降低。
      可見(jiàn),目前的板件檢修設(shè)備并不能很好地提高板件產(chǎn)品的良品率,容易因清潔效 果不佳導(dǎo)致產(chǎn)品的良品率降低。發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明實(shí)施例提供一種板件檢修設(shè)備及其檢修的方法,用以提高板件產(chǎn)品的良品率。
      本發(fā)明實(shí)施例提供一種板件檢修設(shè)備,包括用于承載所述板件的檢修工作臺(tái)面 (1),位于所述檢修工作臺(tái)面(1)上方的圖像獲取裝置(2)和至少一個(gè)照明裝置(3),其特征 在于,該裝置還包括
      吸附管(4)、集塵器(5)、集塵控制閥(6)以及控制器(7);其中,
      所述吸附管(4)位于所述檢修工作臺(tái)面(1)上方;
      所述集塵控制閥(6)連接在吸附管⑷與集塵器(5)之間;
      所述控制器(7)與所述集塵控制閥(6)以有線或無(wú)線方式連接,控制所述集塵控 制閥(6)打開(kāi)或關(guān)閉,從而通過(guò)所述吸附管(4)和集塵器( 清除所述板件和/或所述檢 修工作臺(tái)面(1)上的異物。
      本發(fā)明實(shí)施例提供一種板件檢修的方法包括
      將待檢修的板件安置到板件檢修設(shè)備的檢修工作臺(tái)面上,打開(kāi)件檢修設(shè)備的照明裝置;
      通過(guò)板件檢修設(shè)備的圖像獲取裝置,確定所述待檢修的板件的異常點(diǎn)是否為真點(diǎn)。
      當(dāng)確定所述異常點(diǎn)為真點(diǎn)時(shí),對(duì)所述真點(diǎn)進(jìn)行修補(bǔ);
      清除所述板件和/或所述檢修工作臺(tái)面上的異物。
      本發(fā)明實(shí)施例中,板件檢修設(shè)備包括了吸附管、集塵器、集塵控制閥以及控制器, 從而,當(dāng)利用該裝置進(jìn)行板件檢修的過(guò)程中產(chǎn)生異物時(shí),通過(guò)控制控制器使得集塵控制閥 打開(kāi),從而,吸附管與集塵器導(dǎo)通,這樣,集塵器產(chǎn)生的較強(qiáng)的吸附力,通過(guò)吸附管將異物吸 走??梢?jiàn),該板件檢修設(shè)備可以有效地清潔板件檢修的過(guò)程中產(chǎn)生異物,避免因反粘而產(chǎn)生 新的異常,提高了板件產(chǎn)品的良品率。


      圖1為現(xiàn)有技術(shù)中板件檢修設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖2為本發(fā)明實(shí)施例中板件檢修設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖3為本發(fā)明實(shí)施例中板件檢修的流程圖。
      具體實(shí)施方式
      由于現(xiàn)有的板件檢修設(shè)備不能有效地清潔板件檢修過(guò)程中產(chǎn)生的異物,容易導(dǎo)致 新的異常,從而導(dǎo)致板件的良品率減低,因此,本發(fā)明實(shí)施例中,在板件檢修設(shè)備中增加了 清潔單元,能夠有效地清潔板件檢修過(guò)程中產(chǎn)生的異物,大大提高板件的良品率。
      本發(fā)明實(shí)施例中的板件檢修設(shè)備,包括用于承載所述板件的檢修工作臺(tái)面,位于 所述檢修工作臺(tái)面上方的圖像獲取裝置和至少一個(gè)照明裝置,該設(shè)備還包括吸附管、集塵 器、集塵控制閥以及控制器;其中,
      所述吸附管位于所述檢修工作臺(tái)面上方;
      所述集塵控制閥連接在吸附管與集塵器之間;
      所述控制器與所述集塵控制閥以有線或無(wú)線方式連接,控制所述集塵控制閥打開(kāi) 或關(guān)閉,從而通過(guò)所述吸附管和集塵器清除所述板件和/或所述檢修工作臺(tái)面上的異物。
      根據(jù)本發(fā)明的各實(shí)施例,優(yōu)選地,所述吸附管可具有以下的至少一個(gè)特征
      所述吸附管的中軸線與所述檢修工作臺(tái)面形成的角度為10° -90° ;和/或,
      所述吸附管的入口端與檢修工作臺(tái)面的最短距離為1-10厘米;和/或,
      所述吸附管與圖像獲取裝置固定連接;和/或,
      所述吸附管根據(jù)所述異物的位置進(jìn)行移動(dòng)。
      優(yōu)選地,所述控制器控制所述集塵器根據(jù)所述異物的大小和/或數(shù)量和/或位置 而調(diào)整以下中的至少一項(xiàng)
      吸附管入口端的吸附力大小,
      吸附的時(shí)間,
      吸附的次數(shù),
      所述吸附管的中軸線與所述檢修工作臺(tái)面形成的角度,
      所述吸附管的入口端與檢修工作臺(tái)面的最短距離。
      下面結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例作進(jìn)一步詳細(xì)描述。
      參見(jiàn)圖2,本發(fā)明實(shí)施例中,檢修設(shè)備不僅包括檢修工作臺(tái)面1,位于檢修工作臺(tái) 面上方的兩個(gè)照明裝置3,以及位于檢修工作臺(tái)面上方的圖像獲取裝置2,該檢修設(shè)備還包 括吸附管4、集塵器5,集塵控制閥以及控制器7。
      其中,檢修工作臺(tái)面1、照明裝置3、圖像獲取裝置2的位置關(guān)系可以與現(xiàn)有技術(shù)中 的板件檢修設(shè)備一致,較佳地,照明裝置3與圖像獲取裝置2固定連接,這樣兩者可以共同 移動(dòng),當(dāng)然,兩者也可以完全分開(kāi)。
      吸附管4位于檢修工作臺(tái)面1的上方,且該吸附管4與檢修工作臺(tái)面1有一定的 角度,這樣,便于清潔檢修過(guò)程中產(chǎn)生的異物。一般吸附管4為圓管,其中軸線與檢修工作 臺(tái)面1形成的角度為10° -90°,即吸附管4的中軸線與該中軸線在檢修工作臺(tái)面1上的 投影形成的角的角度范圍包括10° -90°,較佳地,吸附管4的中軸線與該中軸線在檢修 工作臺(tái)面1上的投影成60°角時(shí),最利于吸附管4吸附異物。
      并且,吸附管4的入口端與檢修工作臺(tái)面1的距離也必須在一定的范圍內(nèi),兩者過(guò) 近或過(guò)遠(yuǎn)都不利于異物的吸附。一般吸附管4的入口端與檢修工作臺(tái)面1的最短距離的范 圍包括1-10厘米,較佳地,吸附管4的入口端與檢修工作臺(tái)面1之間的最短距離為2. 2厘 米時(shí),最利于吸附管4吸附異物。
      在本發(fā)明的各實(shí)施例中,優(yōu)選地,吸附管4的入口端形狀包括圓柱形,或、漸開(kāi)形 狀(例如圓錐形或截錐形)。其材質(zhì)部分具有耐摩擦、不易產(chǎn)生粉屑、耐腐蝕及不易生銹等 特點(diǎn)。
      本發(fā)明的各實(shí)施例中,吸附管4與集塵器5之間并不是直接相連,而是通過(guò)集塵控 制閥6相連,集塵控制閥6連接在吸附管4與集塵器5之間,即集塵控制閥6 —端與吸附管 4連接,另一端與集塵器5連接,這樣,當(dāng)需要清潔板件檢修過(guò)程中產(chǎn)生的異物時(shí),集塵控制 閥6打開(kāi),從而吸附管4與集塵器5導(dǎo)通,這樣,可以集塵器5產(chǎn)生的強(qiáng)度吸附力,通過(guò)吸附 管4將異物吸走。而不需要進(jìn)行清潔時(shí),集塵控制閥6關(guān)閉,這樣,吸附管4與集塵器5并 不導(dǎo)通,從而,也不影響板件的其他檢修工序。即當(dāng)集塵控制閥6打開(kāi),吸附管4與集塵器 5導(dǎo)通,當(dāng)集塵控制閥6關(guān)閉,吸附管4與集塵器5不通。
      由于清潔過(guò)程中,需要控制集塵控制閥6實(shí)時(shí)地或定時(shí)地的打開(kāi)或關(guān)閉,因此,該 板件檢修設(shè)備還包括控制器7,控制器7與控制集塵控制閥6以有線或無(wú)線方式連接,用以 控制集塵控制閥6實(shí)時(shí)地或定時(shí)地的打開(kāi)或關(guān)閉。例如當(dāng)控制器7閉合時(shí),集塵控制閥6 打開(kāi),吸附管4與集塵器5導(dǎo)通。當(dāng)控制器7斷開(kāi)時(shí),集塵控制閥6關(guān)閉,吸附管4與集塵 器5不導(dǎo)通。當(dāng)然,還可以當(dāng)控制器7閉合時(shí),集塵控制閥6閉合。當(dāng)控制器7斷開(kāi)時(shí),集 塵控制閥6打開(kāi)。具體的控制就不再累述了。
      在本發(fā)明的各實(shí)施例中,為確保能夠產(chǎn)生足夠大的吸附力,能將清潔過(guò)程中產(chǎn)生 的異物吸走,集塵器5—般功率都較大。較佳地,集塵器5可以為中央集塵器。并且,集塵 器5可以根據(jù)檢修板件產(chǎn)生的異物的大小調(diào)整吸附管4入口端的吸附力的大小。
      本發(fā)明的各實(shí)施例中,吸附管4可以與圖像獲取裝置2固定連接,例如將吸附管4 綁在圖像獲取裝置2上,或者,通過(guò)固定的支架,圓盤(pán)等將吸附管4與圖像獲取裝置2固定 連接。這樣,在檢修的過(guò)程中,控制圖像獲取裝置2移動(dòng)的同時(shí)也控制了吸附管4的移動(dòng), 即吸附管4與圖像獲取裝置2同步移動(dòng)。當(dāng)然,吸附管4可以與圖像獲取裝置2也可以分 開(kāi),這樣,在檢修的過(guò)程中,還需對(duì)吸附管4的移動(dòng)進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)控制。因此,本發(fā)明實(shí)施 例中,吸附管4可根據(jù)板件的異常點(diǎn)的位置進(jìn)行移動(dòng)。
      當(dāng)然,檢修設(shè)備還有大量的線路,包括圖像獲取裝置2的線路,吸附管4的線路, 以及集塵控制閥6的線路。因此,必須合理的規(guī)劃這些線路。一般可以將現(xiàn)有的支撐圖像獲取裝置的導(dǎo)軌空間擴(kuò)大,使吸附管的線路,以及集塵控制閥6的線路都位于擴(kuò)大后的導(dǎo) 軌空間中,即圖像獲取裝置2的線路,吸附管4的線路,以及集塵控制閥6的線路位于同一 導(dǎo)軌空間中。當(dāng)然,本發(fā)明實(shí)施例不限于此,也可以根據(jù)電氣布線原則,將這些線路進(jìn)行分 開(kāi)布線。
      本發(fā)明的各實(shí)施例中,控制器7包括手動(dòng)控制開(kāi)關(guān)、或、腳踏控制開(kāi)關(guān)。由于在修 補(bǔ)板件時(shí),可能需要占用操作人員的兩支手,因此,本發(fā)明實(shí)施例中,較佳地,該控制器7為 腳踏控制開(kāi)關(guān)。
      當(dāng)然,本發(fā)明的各實(shí)施例中,優(yōu)選地,控制器7還可以控制圖像獲取裝置2,照明裝 置3,和吸附管4中的一個(gè)或多個(gè)的移動(dòng)。當(dāng)然,根據(jù)需要,圖像獲取裝置2,照明裝置3,或 吸附管4的移動(dòng)也可以由別的控制器進(jìn)行控制。
      照明裝置3可以為L(zhǎng)ED照明燈,或者白熾燈、日光燈。較佳地照明裝置3為L(zhǎng)ED照 明燈。圖2中,有兩個(gè)照明裝置,但本發(fā)明實(shí)施例不限于此,該板件檢修設(shè)備可以包括一個(gè), 兩個(gè),或多個(gè)照明裝置。
      圖像獲取裝置2包括(XD攝像頭,放大投影機(jī),或其他的放大設(shè)備。
      本發(fā)明的各實(shí)施例中,該板件檢修設(shè)備還可以包括一個(gè)異物檢測(cè)器,該異物檢測(cè) 器用于檢測(cè)板件上是否有異物。這樣,當(dāng)在檢修板件時(shí),可以借助該異物檢測(cè)器檢測(cè)板件上 是否有異物。當(dāng)然,操作人員也可以直接檢測(cè)板件上是否有異物。
      優(yōu)選地,異物檢測(cè)器一般可以為光學(xué)檢測(cè)器或聲學(xué)檢測(cè)器,位于檢修工作臺(tái)面1 的上方,優(yōu)選地,可以與圖像獲取裝置2固定連接,當(dāng)然,也可以與圖像獲取裝置2集成為一 體。再或者,圖像獲取裝置2具有異物檢測(cè)器的功能,即異物檢測(cè)器為圖像獲取裝置2的一 部分。該異物檢測(cè)器用于檢測(cè)異物并將檢測(cè)結(jié)果定時(shí)地或?qū)崟r(shí)地發(fā)送到控制器7,或者其他 的控制器。
      當(dāng)異物檢測(cè)器檢測(cè)板件上有異物時(shí),通過(guò)控制器7打開(kāi)集塵控制閥6,從而吸附管 4與集塵器5導(dǎo)通,這樣,集塵器5產(chǎn)生的吸附力,通過(guò)吸附管4將異物吸走。同時(shí),還可以 根據(jù)異物檢測(cè)器檢測(cè)板件上異物的大小,集塵器5調(diào)整吸附管4入口端的吸附力,或者,調(diào) 整吸附的時(shí)間,或者調(diào)整吸附的次數(shù)。即集塵器5根據(jù)異物檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果調(diào)整吸附管4 入口端的吸附力,或者,吸附的時(shí)間,或者,吸附的次數(shù)。本發(fā)明實(shí)施例中,集塵器5的調(diào)整 可以由控制器7進(jìn)行控制,在上述各實(shí)施例中,控制器7還可以控制集塵器5根據(jù)異物的大 小和/或數(shù)量和/或位置而調(diào)整吸附管4的中軸線與所述檢修工作臺(tái)面1形成的角度,以 及吸附管4的入口端與檢修工作臺(tái)面1的最短距離中的一種。
      當(dāng)然,也可以使用別的控制器控制集塵器5。
      在安裝了上述板件檢修設(shè)備后,可以通過(guò)該板件檢修設(shè)備對(duì)板件進(jìn)行檢修,參見(jiàn) 圖3,其檢修過(guò)程包括
      步驟301 將待檢修的板件放入板件檢修設(shè)備的檢修工作臺(tái)面1上。
      這里,板件為印制線路板,當(dāng)檢查出板件有異常點(diǎn)后,該板件為待檢修的板件,則 需將待檢修的板件放入板件檢修設(shè)備的檢修工作臺(tái)面1上。
      步驟302 打開(kāi)板件檢修設(shè)備的照明裝置3。
      步驟303 通過(guò)板件檢修設(shè)備的圖像獲取裝置2,確定待檢修的板件的異常點(diǎn)是否 為真點(diǎn),當(dāng)確定異常點(diǎn)為真的時(shí),執(zhí)行步驟304,否則,本次檢修過(guò)程結(jié)束。
      真點(diǎn)為真正的缺點(diǎn),包括短路點(diǎn),斷路點(diǎn),或接觸不良點(diǎn)。
      本實(shí)施例中,圖像獲取裝置2、照明裝置3以及吸附管4三者固定連接了,即三者 進(jìn)行了綁定,或者三者通過(guò)固定支架或者圓盤(pán)進(jìn)行了固定連接。并且,圖像獲取裝置2的線 路,吸附管4的線路,以及集塵控制閥6的線路位于同一導(dǎo)軌空間中。首先,沿著該導(dǎo)軌空 間,移動(dòng)圖像獲取裝置2,查找待檢修的板件上的異常點(diǎn)。然后通過(guò)圖像獲取裝置2,確定每 個(gè)異常點(diǎn)是否存在短路,斷路,或接觸不良想象,若有,則該異常點(diǎn)為真點(diǎn),執(zhí)行步驟304,否 則,本次檢修過(guò)程結(jié)束。
      步驟304 對(duì)真點(diǎn)進(jìn)行修補(bǔ)。
      根據(jù)真點(diǎn)的具體情況,對(duì)該異常點(diǎn)進(jìn)行修補(bǔ)。在修補(bǔ)的過(guò)程中,并產(chǎn)生一些異物, 這些異物包括金屬或非金屬的粉屑或渣。
      步驟305 清除異物,并返回步驟303。
      這里,異物可能在板件上,或者在檢修工作臺(tái)面上,或者,板件和檢修工作臺(tái)面上 都有。
      在本發(fā)明的各實(shí)施例中,清除異物可在修補(bǔ)過(guò)程中或持續(xù)進(jìn)行或在修補(bǔ)后進(jìn)行。
      本發(fā)明實(shí)施例中,由于圖像獲取裝置2以及照明裝置3、吸附管4三者固定連接了, 并且圖像獲取裝置2的線路,吸附管4的線路,以及集塵控制閥6的線路位于同一導(dǎo)軌空間 中,因此,同樣沿著該導(dǎo)軌空間移動(dòng)吸附管4,使得吸附管4的入口端對(duì)準(zhǔn)異物,并且,吸附 管4的中軸線與該中軸線在檢修工作臺(tái)面1的投影成60°角,吸附管4入口端距離檢修工 作臺(tái)面的最短距離為2. 2厘米。然后,通過(guò)板件檢修設(shè)備的控制器7控制集塵控制閥6實(shí) 時(shí)地或?qū)崟r(shí)地打開(kāi),使板件檢修設(shè)備的吸附管4與集塵器5導(dǎo)通,清潔修補(bǔ)過(guò)程中產(chǎn)生的異 物。
      這里,當(dāng)控制器7閉合時(shí),集塵控制閥門6打開(kāi),即腳踏上控制器7,則集塵控制閥 6打開(kāi),從而使板件檢修設(shè)備的吸附管4與集塵器5導(dǎo)通,這樣,集塵器產(chǎn)生較強(qiáng)的吸附力, 通過(guò)吸附管4將異物吸走,即可清除異物。
      將所有異物清潔干凈后,返回步驟303,再次確定該板件的異常點(diǎn)是否為真點(diǎn)。
      當(dāng)確定該板件所有異常點(diǎn)都被檢修后,即可將對(duì)板件進(jìn)行批量生成了。
      這里,當(dāng)板件檢修設(shè)備還包括異物檢測(cè)器時(shí),可首先根據(jù)異物檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果, 確定板件上和/或檢修工作臺(tái)面是否有異物,若有,則清潔該異物。并且,在清潔的過(guò)程,還 可根據(jù)異物檢測(cè)器檢測(cè)異物的大小,集塵器5調(diào)整吸附管4入口端的吸附力,或者,吸附的 時(shí)間,或者,吸附管的中軸線與所述檢修工作臺(tái)面形成的角度,或者,吸附管的入口端與檢 修工作臺(tái)面的最短距離。并且,當(dāng)一次清潔過(guò)后,還可以利用該異物檢測(cè)器確定檢修過(guò)程的 所有異物是否都清潔干凈,若沒(méi)有,則再次進(jìn)行清潔。即集塵器5根據(jù)異物檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié) 果調(diào)整吸附管4入口端的吸附力,或者,吸附的時(shí)間,或者,吸附的次數(shù),或者,吸附管的中 軸線與所述檢修工作臺(tái)面形成的角度,或者,吸附管的入口端與檢修工作臺(tái)面的最短距離。 只有將所有異物清潔干凈后,才返回步驟303。
      本發(fā)明實(shí)施例中,可在對(duì)真點(diǎn)進(jìn)行修補(bǔ)的過(guò)程中,利用板件檢修設(shè)備清除異物;或 者,對(duì)真點(diǎn)修補(bǔ)完成后,利用板件檢修設(shè)備清楚異物。
      在上述實(shí)施例中,異物一般是在對(duì)真點(diǎn)的檢修的過(guò)程中產(chǎn)生的,但是不發(fā)明不限 于此,其他過(guò)程中產(chǎn)生的異物也可以利用該板件檢修設(shè)備進(jìn)行清除。
      在上述實(shí)施例中,板件為印制線路板,但是本發(fā)明不限于此,板件還可以是五金板 件、或塑膠板件。
      在上述實(shí)施例中,吸附管4的中軸線與該中軸線在檢修工作臺(tái)面1上的投影形成 的角的角度,以及吸附管4入口端與檢修工作臺(tái)面的最短距離都是較佳的角度以及距離, 分別為60°以及2. 2厘米,但是本發(fā)明實(shí)施例不限于此,吸附管4的中軸線與該中軸線在檢 修工作臺(tái)面1上的投影形成的角的角度范圍包括10° -90° ;吸附管4的入口端與檢修工 作臺(tái)面的最短距離的范圍包括1-10厘米。
      當(dāng)然上述實(shí)施例中,圖像獲取裝置2、照明裝置3以及吸附管4三者固定連接了,即 三者進(jìn)行了綁定,或者三者通過(guò)固定支架或者圓盤(pán)進(jìn)行了固定連接。并且,圖像獲取裝置2 的線路,吸附管4的線路,以及集塵控制閥6的線路位于同一導(dǎo)軌空間中,但本發(fā)明實(shí)施例 不限于此,圖像獲取裝置2、照明裝置3以及吸附管4可以三者完全分開(kāi),或者,只有其中的 兩個(gè)進(jìn)行了固定連接。并且,圖像獲取裝置2的線路,吸附管4的線路,以及集塵控制閥6 的線路也可以處于不同的導(dǎo)軌空間中。
      另外,上述實(shí)施例中,控制器7為腳踏控制開(kāi)關(guān),當(dāng)然,控制器7還可以為手動(dòng)控制 開(kāi)關(guān)或無(wú)線控制開(kāi)關(guān)。
      本發(fā)明的各實(shí)施例中,板件檢修設(shè)備不僅包括了現(xiàn)有技術(shù)中的檢修單元,還包括 了清潔單元,即該裝置包括了吸附管、集塵器、集塵控制閥以及控制器,從而,當(dāng)利用該裝置 清除異物時(shí),通過(guò)控制控制器,使得集塵控制閥打開(kāi),吸附管與集塵器導(dǎo)通,這樣,集塵器產(chǎn) 生的較強(qiáng)的吸附力,通過(guò)吸附管將異物吸走??梢?jiàn),該板件檢修設(shè)備可以有效地清潔板件檢 修的過(guò)程中產(chǎn)生異物,避免因反粘而產(chǎn)生新的異常,提高了板件產(chǎn)品的良品率。
      顯然,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精 神和范圍。這樣,倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍 之內(nèi),則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
      權(quán)利要求
      1.一種板件檢修設(shè)備,包括用于承載所述板件的檢修工作臺(tái)面(1),位于所述檢修工 作臺(tái)面(1)上方的圖像獲取裝置(2)和至少一個(gè)照明裝置(3),其特征在于,該設(shè)備還包括 吸附管⑷、集塵器(5)、集塵控制閥(6)以及控制器(7);其中,所述吸附管(4)位于所述檢修工作臺(tái)面(1)上方; 所述集塵控制閥(6)連接在吸附管(4)與集塵器( 之間;所述控制器(7)與所述集塵控制閥(6)以有線或無(wú)線方式連接,控制所述集塵控制閥 (6)打開(kāi)或關(guān)閉,從而通過(guò)所述吸附管(4)和集塵器(5)清除所述板件和/或所述檢修工作 臺(tái)面⑴上的異物。
      2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其特征在于,所述吸附管(4)具有以下的至少一個(gè)特征 所述吸附管的中軸線與所述檢修工作臺(tái)面(1)形成的角度為10° -90° ;和/或 所述吸附管的入口端與檢修工作臺(tái)面(1)的最短距離為1-10厘米;和/或 所述吸附管(4)與圖像獲取裝置O)固定連接;和/或所述吸附管(4)根據(jù)所述異物的位置進(jìn)行移動(dòng)。
      3.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于,所述圖像獲取裝置(2)和照明 裝置(3)固定連接或集成為一體。
      4.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于,所述控制器(7)包括手動(dòng)控制 開(kāi)關(guān)或腳踏控制開(kāi)關(guān)。
      5.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于,所述控制器(7)控制所述集塵 器( 根據(jù)所述異物的大小和/或數(shù)量和/或位置而調(diào)整以下中的至少一項(xiàng)吸附管(4)入口端的吸附力大小, 吸附的時(shí)間, 吸附的次數(shù),所述吸附管的中軸線與所述檢修工作臺(tái)面(1)形成的角度, 所述吸附管的入口端與檢修工作臺(tái)面(1)的最短距離。
      6.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于,所述吸附管的入口端的形 狀包括圓柱形,或、漸開(kāi)形狀。
      7.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的設(shè)備,其特征在于,還包括異物檢測(cè)器,其位于檢修工作臺(tái)面(1)的上方,用于檢測(cè)異物并將檢測(cè)結(jié)果定時(shí)地或 實(shí)時(shí)地發(fā)送到所述控制器(7);優(yōu)選地,所述異物檢測(cè)器為光學(xué)檢測(cè)器和聲學(xué)檢測(cè)器中的 至少一種。
      8.如權(quán)利要求7所述的設(shè)備,其特征在于,所述異物檢測(cè)器與圖像獲取裝置(2)固定連 接或集成為一體,或者所述異物檢測(cè)器是所述圖像獲取裝置(2)。
      9.一種板件檢修的方法,其特征在于,包括將待檢修的板件安置到板件檢修設(shè)備的檢修工作臺(tái)面上,打開(kāi)件檢修設(shè)備的照明裝置;通過(guò)板件檢修設(shè)備的圖像獲取裝置,確定所述待檢修的板件的異常點(diǎn)是否為真點(diǎn); 當(dāng)確定所述異常點(diǎn)為真點(diǎn)時(shí),對(duì)所述真點(diǎn)進(jìn)行修補(bǔ); 清除所述板件和/或所述檢修工作臺(tái)面上的異物。
      10.如權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,所述板件包括印制線路板、五金板件、或塑膠板件;和/或 所述真點(diǎn)包括短路點(diǎn),斷路點(diǎn),或接觸不良點(diǎn);和/或 所述異物包括金屬或非金屬的粉屑或渣。
      11.如權(quán)利要求9或10所述的方法,其特征在于,根據(jù)所述異物的大小和/或數(shù)量和/ 或位置而調(diào)整以下中的至少一項(xiàng) 吸附管入口端的吸附力大小, 吸附的時(shí)間, 吸附的次數(shù),所述吸附管的中軸線與所述檢修工作臺(tái)面形成的角度, 所述吸附管的入口端與檢修工作臺(tái)面的最短距離。
      全文摘要
      本發(fā)明公開(kāi)了一種板件檢修設(shè)備及其檢修的方法,用以提高板件產(chǎn)品的良品率。該板件檢修設(shè)備,包括用于承載所述板件的檢修工作臺(tái)面(1),位于所述檢修工作臺(tái)面(1)上方的圖像獲取裝置(2)和至少一個(gè)照明裝置(3),該裝置還包括吸附管(4)、集塵器(5)、集塵控制閥(6)以及控制器(7);其中,所述吸附管(4)位于所述檢修工作臺(tái)面(1)上方;所述集塵控制閥(6)連接在吸附管(4)連接與集塵器(5)之間;所述控制器(7)與所述集塵控制閥(6)以有線或無(wú)線方式連接,控制所述集塵控制閥(6)打開(kāi)或關(guān)閉,從而通過(guò)所述吸附管(4)和集塵器(5)清除所述板件和/或所述檢修工作臺(tái)面(1)上的異物。
      文檔編號(hào)H05K3/00GK102036488SQ201010543988
      公開(kāi)日2011年4月27日 申請(qǐng)日期2010年11月12日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月12日
      發(fā)明者姚峰, 陳文德 申請(qǐng)人:北大方正集團(tuán)有限公司, 珠海方正科技多層電路板有限公司富山分公司
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