專利名稱：晶體生長監(jiān)測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及到一種晶體生長監(jiān)測裝置。
背景技術(shù)：
晶體在我們?nèi)粘Ｉ钪械膽?yīng)用越來越廣泛，而且大多數(shù)晶體都是人工合成的。現(xiàn)有晶體的制作方法大都采用提拉法，為了確保晶體的質(zhì)量，需要控制晶體在生長過程中的各種條件，而調(diào)控晶體生長條件的前提就是通過檢查晶體在生長過程中重量的變化來判斷是否需要改變晶體生長條件。原有方法都是通過人工觀察晶體的直徑變化來判斷晶體的生長情況，由于提拉法中的晶體是需要旋轉(zhuǎn)并同時上下移動的，這就對檢測人員的眼力要求很高，但是在晶體上下移動并旋轉(zhuǎn)的情況下，檢測人員還是很難判斷晶體的直徑變化，很容易是檢測人員發(fā)生眩暈。這樣生產(chǎn)出來的晶體就很難保證其質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種自動監(jiān)測晶體質(zhì)量變化的晶體生長監(jiān)測
直ο為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為一種晶體生長監(jiān)測裝置，包括支架和設(shè)置在支架內(nèi)的提升軸、支架內(nèi)頂端設(shè)置有稱重傳感器，所述稱重傳感器的下端固定設(shè)置有基座，基座內(nèi)轉(zhuǎn)動設(shè)置有從動吊裝裝置，從動吊裝裝置的上端位于基座內(nèi)，其下端伸出基座，提升軸的上端固定在從動吊裝裝置下端內(nèi)，提升軸上套設(shè)有傳動套，傳動套的上端位于從動吊裝裝置下端外側(cè)且與從動吊裝裝置的下端固定連接，傳動套的下端從支架中穿出并于位于支架外部的驅(qū)動傳動套轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置相連，提升軸的下端也從支架中穿出。所述從動吊裝裝置包括轉(zhuǎn)動設(shè)置基座內(nèi)的短軸和與短軸相連的短套，短套位于基座下側(cè)。本發(fā)明的有益效果是上述結(jié)構(gòu)的晶體生產(chǎn)控制裝置可自動監(jiān)測晶體生長時的質(zhì)量變化，而且晶體的旋轉(zhuǎn)和上下移動不會影響其監(jiān)測效果。


圖1是本發(fā)明晶體生長監(jiān)測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中1、支架，2、提升軸，3、稱重傳感器，4、基座，5、短軸，6、短套，7、傳動套。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖，詳細描述本發(fā)明的具體實施方案。如圖1所示，本發(fā)明所述的晶體生長監(jiān)測裝置，包括支架1和設(shè)置在支架1內(nèi)的提升軸2、支架1內(nèi)頂端設(shè)置有稱重傳感器3，所述稱重傳感器3的下端固定設(shè)置有基座4，基座4內(nèi)轉(zhuǎn)動設(shè)置有從動吊裝裝置。從動吊裝裝置包括通過軸承轉(zhuǎn)動設(shè)置基座4內(nèi)的短軸5 和與短軸相連的短套6，短套6位于基座4下側(cè)。在實際生產(chǎn)時，短軸5也可跟短套6 —體成型。提升軸2的上端固定設(shè)置在短套6內(nèi)。提升軸2上套設(shè)有傳動套7，傳動套7的上端位于短套6外側(cè)且與短套6固定連接。傳動套7的下端從支架1中穿出并于位于支架1外部的驅(qū)動傳動套7轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置(因現(xiàn)有技術(shù)，圖中未畫出)相連，提升軸12的下端也從支架1中穿出。 本發(fā)明的工作過程是因為在提拉法和旋轉(zhuǎn)法中，晶體在結(jié)晶的過程中需要旋轉(zhuǎn)并上下移動，所以利用驅(qū)動裝置驅(qū)動傳動套7轉(zhuǎn)動，傳動套7的上端帶動短套6轉(zhuǎn)動，短套 6再帶動短軸5在基座4內(nèi)轉(zhuǎn)動，稱重傳感器3在測量晶體重量時不受短軸5的轉(zhuǎn)動影響。 同時，短套6還帶動提升軸2轉(zhuǎn)動，隨著提升軸2的轉(zhuǎn)動，掛在提升軸2下端的晶體也開始轉(zhuǎn)動。晶體的上下移動則通過上下移動晶體生長監(jiān)測裝置和驅(qū)動裝置來實現(xiàn)。上述工作過程中，稱重傳感器3不受影響，能很好的監(jiān)測晶體的重量變化，從而給結(jié)晶條件提供一個很好的參考。
權(quán)利要求
1.晶體生長監(jiān)測裝置，包括支架和設(shè)置在支架內(nèi)的提升軸、支架內(nèi)頂端設(shè)置有稱重傳感器，其特征在于所述稱重傳感器的下端固定設(shè)置有基座，基座內(nèi)轉(zhuǎn)動設(shè)置有從動吊裝裝置，從動吊裝裝置的上端位于基座內(nèi)，其下端伸出基座，提升軸的上端固定在從動吊裝裝置下端內(nèi)，提升軸上套設(shè)有傳動套，傳動套的上端位于從動吊裝裝置下端外側(cè)且與從動吊裝裝置的下端固定連接，傳動套的下端從支架中穿出并于位于支架外部的驅(qū)動傳動套轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置相連，提升軸的下端也從支架中穿出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體生長監(jiān)測裝置，其特征在于所述從動吊裝裝置包括轉(zhuǎn)動設(shè)置基座內(nèi)的短軸和與短軸相連的短套，短套位于基座下側(cè)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種自動監(jiān)測晶體質(zhì)量變化的晶體生長監(jiān)測裝置，包括支架和設(shè)置在支架內(nèi)的提升軸、支架內(nèi)頂端設(shè)置有稱重傳感器，所述稱重傳感器的下端固定設(shè)置有基座，基座內(nèi)轉(zhuǎn)動設(shè)置有從動吊裝裝置，從動吊裝裝置的上端位于基座內(nèi)，其下端伸出基座，提升軸的上端固定在從動吊裝裝置下端內(nèi)，提升軸上套設(shè)有傳動套，傳動套的上端位于從動吊裝裝置下端外側(cè)且與從動吊裝裝置的下端固定連接，傳動套的下端從支架中穿出并于位于支架外部的驅(qū)動傳動套轉(zhuǎn)動的驅(qū)動裝置相連。本發(fā)明的優(yōu)點是上述結(jié)構(gòu)的晶體生產(chǎn)控制裝置可自動監(jiān)測晶體生長時的質(zhì)量變化，而且晶體的旋轉(zhuǎn)和上下移動不會影響其監(jiān)測效果。
文檔編號C30B15/22GK102534759SQ201110445448
公開日2012年7月4日 申請日期2011年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月28日
發(fā)明者伊戈爾庫茲涅佐夫, 伊戈爾柯爾克, 劉春艷, 畢成, 胡春霞, 馬克菲列格勒 申請人:蘇州優(yōu)晶光電科技有限公司