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      鑄造裝置的制作方法

      文檔序號(hào):8194424閱讀:187來源:國知局
      專利名稱:鑄造裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明屬于太陽能多晶硅鑄造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種降低鑄造多晶硅中碳含量的方法。
      背景技術(shù)
      一直以來,能源始終是人類最為關(guān)注的焦點(diǎn),傳統(tǒng)能源如石油,天然氣,煤礦等不可再生資源不斷的消耗,儲(chǔ)量急劇下降,同時(shí),傳統(tǒng)能源的使用也對(duì)全球環(huán)境也產(chǎn)生了負(fù)面的影響。太陽能發(fā)電作為一種新能源方式逐漸走進(jìn)了人們的生活。作為太陽能電池的基礎(chǔ)材料硅晶片,其材質(zhì)的光電轉(zhuǎn)換效率直接影響這太陽能電池的發(fā)電功率,如何提高太陽硅晶片的轉(zhuǎn)換效率,降低光衰減是各個(gè)光伏廠家亟待解決的問題。碳是鑄造多晶硅中的一種主要的雜質(zhì),其基本的性質(zhì)(包括分凝系數(shù)、固溶度、擴(kuò)散系數(shù)、測(cè)量等)與直拉單晶硅是相同的。但是,由于鑄造多晶硅的設(shè)備熱場(chǎng)龐大而復(fù)雜,在晶體鑄造或定向凝固過程中,石墨在加熱器高溫下存在大量的碳蒸發(fā),會(huì)污染晶體硅,所以,鑄造多晶硅中的碳含量偏高,嚴(yán)重影響了多晶硅片的質(zhì)量。

      發(fā)明內(nèi)容
      針對(duì)上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種有效降低鑄造多晶硅中碳含量的鑄造裝置。本發(fā)明通過以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn),一種鑄造裝置,包括坩堝和位于所述坩堝頂部及外側(cè)的石墨護(hù)板,所述鑄造裝置包括鑰板隔離層,所述鑰板位于坩堝與石墨護(hù)板之間。本發(fā)明通過在坩堝與石墨護(hù)板之間加入鑰板隔離層,減少高溫下石墨護(hù)板產(chǎn)生的碳蒸氣進(jìn)入坩堝內(nèi)的硅晶體中;阻止高溫狀態(tài)下坩堝與石墨護(hù)板的反應(yīng);阻止回沖氬氣時(shí)多晶管路中的雜質(zhì)進(jìn)入娃料。作為本發(fā)明鑄造裝置的進(jìn)一步改進(jìn),所述鑰板厚度為0.外形與石墨護(hù)板外形一致且兩者連接為一體,在實(shí)際操作時(shí)簡(jiǎn)單方便。


      附圖為本發(fā)明鑄造裝置的鑰板隔離層結(jié)構(gòu)示意圖。
      具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明做出進(jìn)一步說明。根據(jù)鑰板頂板I上安裝孔位置,在石墨頂板相應(yīng)位置加工安裝孔,并去除打孔時(shí)殘留在石墨頂板表面的石墨粉末,用石墨螺檢將鑰板固定在石墨頂板上,用同樣的方法將坩堝的四周側(cè)面的石墨護(hù)板用鑰板側(cè)板2包裹起來,在裝爐前,用無塵布擦拭鑰板表面,去除所粘的灰塵,將裝有硅料、石墨護(hù)板和鑰板隔離層的石英坩堝投入多晶爐中。 所述坩堝中的硅料以不接觸到鑰板為限,這樣可防止高溫下鑰板不被硅料所熔蝕、損壞,。鑰板的厚度以0. 5mm-5mm為佳。
      以上實(shí)施例的描述較為具體、詳細(xì),但并不能因此而理解為對(duì)本專利范圍的限制,應(yīng)當(dāng)指出的是,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
      權(quán)利要求
      1.一種鑄造裝置,包括坩堝和位于所述坩堝頂部及外側(cè)的石墨護(hù)板,其特征在于所述鑄造裝置包括鑰板隔離層,所述鑰板隔離層位于坩堝與石墨護(hù)板之間。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的鑄造裝置,其特征在于所述鑰板厚度為0.5mm--5mm,外形與石墨護(hù)板外形一致且兩者連接為一體。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的鑄造裝置,其特征在于所述鑰板與石墨護(hù)板采用螺栓連接。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種鑄造裝置,包括坩堝和位于所述坩堝頂部及外側(cè)的石墨護(hù)板,所述鑄造裝置包括鉬板隔離層,所述鉬板位于坩堝與石墨護(hù)板之間。本發(fā)明通過在坩堝與石墨護(hù)板之間加入鉬板隔離層,減少高溫下石墨護(hù)板產(chǎn)生的碳蒸氣進(jìn)入坩堝內(nèi)的硅晶體中;阻止高溫狀態(tài)下坩堝與石墨護(hù)板的反應(yīng);阻止回沖氬氣時(shí)多晶管路中的雜質(zhì)進(jìn)入硅料。作為本發(fā)明鑄造裝置的進(jìn)一步改進(jìn),所述鉬板厚度為0.5mm-5mm,外形與石墨護(hù)板外形一致且兩者連接為一體,在實(shí)際操作時(shí)簡(jiǎn)單方便。
      文檔編號(hào)C30B28/06GK102653880SQ201210118719
      公開日2012年9月5日 申請(qǐng)日期2012年4月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月20日
      發(fā)明者司榮進(jìn), 王祿堡, 袁志鐘 申請(qǐng)人:鎮(zhèn)江環(huán)太硅科技有限公司
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