塞孔的判定方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種塞孔的判定方法,包括:獲取需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖;盲孔分布圖包括N個(gè)盲孔,N≥1;電路板包括通過半固化片層壓為一體的第一芯板和第二芯板,N個(gè)盲孔位于在第一芯板上;在盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,M≥1;計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從M個(gè)總面積中選出最大值;將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于標(biāo)準(zhǔn)值,則判定第一芯板上的盲孔需要在層壓之前另行填塞,否則判定第一芯板上的盲孔不需要在層壓之前另行填塞。本發(fā)明還公開了一種塞孔的判定裝置。本發(fā)明能夠快速、精確地判定電路板上的盲孔是否需要在層壓之前另行塞孔,從而提高盲孔電路板的生產(chǎn)質(zhì)量及效率,且降低成本。
【專利說明】塞孔的判定方法及裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電路板的制作領(lǐng)域,尤其涉及一種塞孔的判定方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電路板設(shè)計(jì)越來越密集,盲孔的設(shè)計(jì)也越來越多。在加工過程中盲孔需要被樹脂填塞飽滿,以防止在后續(xù)的微蝕或蝕刻過程中,盲孔被藥水腐蝕出現(xiàn)孔內(nèi)開路,使電路板無法滿足最基本的電氣連接。在電路板層壓制作的高溫高壓環(huán)境中,用于粘接芯板的半固化片會(huì)產(chǎn)生流膠進(jìn)入盲孔中,但部分半固化片由于流動(dòng)性較差,無法使盲孔被樹脂填塞飽滿,此部分盲孔需要單獨(dú)做樹脂塞孔。
[0003]目前行業(yè)內(nèi),對(duì)于判定盲孔是否需要單獨(dú)做樹脂塞孔,沒有較好的方法。一般不進(jìn)行判定,直接對(duì)全部電路板單獨(dú)做樹脂塞孔,導(dǎo)致電路板制作成本上升;要不就是判定規(guī)則不合理,容易導(dǎo)致判定不出需要單獨(dú)做樹脂塞孔的盲孔,使電路板成品上存在未被樹脂填塞飽滿的盲孔,最終導(dǎo)致電路板出現(xiàn)質(zhì)量問題。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]本發(fā)明實(shí)施例的多個(gè)方面提出一種塞孔的判定方法及裝置,能夠快速、精確地判定電路板上的盲孔是否需要在層壓之前另行塞孔,從而提高盲孔電路板的生產(chǎn)質(zhì)量及效率,且降低成本。
[0005]本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面提供一種塞孔的判定方法,包括:
[0006]獲取需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖;所述盲孔分布圖包括N個(gè)盲孔,N ^ I ;所述電路板包括通過半固化片層壓為一體的第一芯板和第二芯板,所述N個(gè)盲孔位于在所述第一芯板上;
[0007]在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,M彡I ;
[0008]計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從M個(gè)總面積中選出最大值;
[0009]將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述第一芯板上的盲孔需要在層壓之前另行填塞,否則判定所述第一芯板上的盲孔不需要在層壓之前另行填塞。
[0010]在一個(gè)實(shí)施方式中,所述盲孔分布圖是采用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件對(duì)電路原理圖進(jìn)行布線設(shè)計(jì)后,而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息。
[0011]在另一個(gè)實(shí)施方式中,所述盲孔分布圖是在所述電路板的制作過程中,通過對(duì)所述第一芯板的板面線路進(jìn)行拍照或掃描,并對(duì)盲孔進(jìn)行定位后而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息。
[0012]進(jìn)一步的,在一個(gè)實(shí)施方式中,所述在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,具體包括:分別以所述盲孔分布圖上的每個(gè)盲孔為中心,在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,使M個(gè)判定區(qū)域分別與N個(gè)盲孔一一對(duì)應(yīng),N = M0
[0013]在另一個(gè)實(shí)施方式中,所述在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,具體包括:將所述盲孔分布圖平均劃分成M個(gè)判定區(qū)域。
[0014]又進(jìn)一步的,所述判定區(qū)域的面積為S,所述第一芯板上的盲孔的最大深度為H,所述標(biāo)準(zhǔn)值是指:在使用半固化片對(duì)所述第一芯板和所述第二芯板進(jìn)行層壓時(shí),面積為S的半固化片的流膠能夠填滿所述第一芯板上的深度為H的盲孔的總面積的最大值。
[0015]再進(jìn)一步的,所述判定區(qū)域?yàn)閳A形、橢圓形、規(guī)則多邊形或者不規(guī)則多邊形。
[0016]本發(fā)明實(shí)施例的另一個(gè)方面提供一種塞孔的判定裝置,包括:
[0017]盲孔分布圖獲取模塊,用于獲取需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖;所述盲孔分布圖包括N個(gè)盲孔,N > I ;所述電路板包括通過半固化片層壓為一體的第一芯板和第二芯板,所述N個(gè)盲孔位于在所述第一芯板上;
[0018]區(qū)域劃分模塊,用于在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,M彡I ;
[0019]盲孔計(jì)算模塊,用于計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從M個(gè)總面積中選出最大值;和,
[0020]塞孔判定模塊,用于將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述第一芯板上的盲孔需要在層壓之前另行填塞,否則判定所述第一芯板上的盲孔不需要在層壓之前另行填塞。
[0021]進(jìn)一步的,所述盲孔分布圖是采用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件對(duì)電路原理圖進(jìn)行布線設(shè)計(jì)后,而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息;
[0022]或者,所述盲孔分布圖是在所述電路板的制作過程中,通過對(duì)所述第一芯板的板面線路進(jìn)行拍照或掃描,并對(duì)盲孔進(jìn)行定位后而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息。
[0023]再進(jìn)一步的,所述區(qū)域劃分模塊具體用于:分別以所述盲孔分布圖上的每個(gè)盲孔為中心,在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,使M個(gè)判定區(qū)域分別與N個(gè)盲孔一一對(duì)應(yīng),N = M ;
[0024]或者,所述區(qū)域劃分模塊具體用于:將所述盲孔分布圖平均劃分成M個(gè)判定區(qū)域。
[0025]本發(fā)明實(shí)施例提供的塞孔的判定方法及裝置,在需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖上劃出至少一個(gè)判定區(qū)域,計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從所述總面積中選出最大值;將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述電路板上的盲孔不能被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的盲孔另行填塞;若所述最大值小于或等于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述電路板上的盲孔能夠被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,不需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的盲孔另行填塞。本發(fā)明實(shí)施例能夠快速、精確地判定電路板上的盲孔是否需要在層壓之前另行塞孔,如果不需要,則在電路板的制作過程中,在層壓之前不執(zhí)行對(duì)電路板另外塞孔的工序,從而提高生成效率,并降低生產(chǎn)成本;如果需要,則在電路板的制作過程中,在層壓之前執(zhí)行對(duì)電路板另外塞孔的工序,從而保證電路板成品的盲孔均被樹脂填塞飽滿,提聞電路板的生產(chǎn)質(zhì)量。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0026]圖1是本發(fā)明提供的塞孔的判定方法的一個(gè)實(shí)施例的流程示意圖;
[0027]圖2是本發(fā)明提供的塞孔的判定方法中所應(yīng)用的電路板的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)圖;
[0028]圖3是本發(fā)明提供的塞孔的判定方法中建立判定區(qū)域的一個(gè)實(shí)施例的示意圖;
[0029]圖4是本發(fā)明提供的塞孔的判定方法中建立判定區(qū)域的另一個(gè)實(shí)施例的示意圖;
[0030]圖5是本發(fā)明提供的塞孔的判定裝置的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0031]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。參見圖1,是本發(fā)明提供的塞孔的判定方法的一個(gè)實(shí)施例的流程示意圖。
[0032]本發(fā)明提供一種塞孔的判定方法,包括步驟SlOl至S104,具體如下:
[0033]S101、獲取需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖;所述盲孔分布圖包括N個(gè)盲孔,NS I ;所述電路板包括通過半固化片層壓為一體的第一芯板和第二芯板,所述N個(gè)盲孔位于在所述第一芯板上。
[0034]具體的,所述盲孔分布圖可以是采用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件對(duì)電路原理圖進(jìn)行布線設(shè)計(jì)后,而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信肩、O
[0035]此外,所述盲孔分布圖還可以是在所述電路板的制作過程中,通過對(duì)所述第一芯板的板面線路進(jìn)行拍照或掃描,并對(duì)盲孔進(jìn)行定位后而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息。
[0036]也就是說,本發(fā)明實(shí)施例提供的塞孔的判定方法,可以在制作電路板之前或者在制作電路板的過程中,根據(jù)該電路板的布線圖來判定該電路板上的盲孔是否需要在層壓之前另行塞孔。
[0037]S102、在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,M彡I。
[0038]在步驟S102中,建立判定區(qū)域的方法包括至少兩個(gè)實(shí)施例。在一個(gè)實(shí)施例中,上述步驟S102具體包括:分別以所述盲孔分布圖上的每個(gè)盲孔為中心,在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,使M個(gè)判定區(qū)域分別與N個(gè)盲孔一一對(duì)應(yīng),N = M0
[0039]在另一個(gè)實(shí)施例中,上述步驟S102具體包括:將所述盲孔分布圖平均劃分成M個(gè)判定區(qū)域。
[0040]具體實(shí)施時(shí),所述判定區(qū)域?yàn)閳A形、橢圓形、規(guī)則多邊形或者不規(guī)則多邊形。其中,所述規(guī)則多邊形為各邊長(zhǎng)相等的多邊形,例如正三角形、正四邊形、正五邊形、正六邊形等;所述不規(guī)則多邊形為各邊長(zhǎng)不相等的多邊形,且所述邊長(zhǎng)為直線或者曲線,例如梯形等。
[0041]優(yōu)選的,所述判定區(qū)域?yàn)檎倪呅?,邊長(zhǎng)為16mm。
[0042]應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,可將所述邊長(zhǎng)設(shè)定為其他數(shù)值,或者將所述判定區(qū)域設(shè)為其他形狀,這些改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0043]S103、計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從M個(gè)總面積中選出最大值。
[0044]具體實(shí)施時(shí),在步驟S103中,可以根據(jù)盲孔分布圖上的盲孔的位置信息,計(jì)算出每個(gè)盲孔的面積,再分別計(jì)算出每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積。然后,再通過對(duì)比的方式,得出M個(gè)總面積中的最大值。
[0045]S104、將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述第一芯板上的盲孔需要在層壓之前另行填塞,否則判定所述第一芯板上的盲孔不需要在層壓之前另行填塞。
[0046]在電路板制作工藝中,使用半固化片對(duì)多層電路板進(jìn)行壓合時(shí),半固化片因?yàn)楦邷馗邏憾a(chǎn)生的流膠會(huì)進(jìn)入盲孔中,通過對(duì)半固化片在層壓過程中的流膠能力進(jìn)行分析,能夠統(tǒng)計(jì)出某一尺寸的半固化片在層壓過程中,其流膠所能填滿的盲孔的大小。
[0047]假設(shè)所述判定區(qū)域的面積為S,所述第一芯板上的盲孔的最大深度為H,所述標(biāo)準(zhǔn)值是指:在使用半固化片對(duì)所述第一芯板和所述第二芯板進(jìn)行層壓時(shí),面積為S的半固化片的流膠能夠填滿所述第一芯板上的深度為H的盲孔的總面積的最大值。
[0048]本發(fā)明實(shí)施例將上述步驟S103中得出的判定區(qū)域中的盲孔的總面積的最大值,與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述電路板上的盲孔不能被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的盲孔另行填塞;若所述最大值小于或等于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述電路板上的盲孔能夠被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,不需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的盲孔另行填塞。
[0049]本發(fā)明實(shí)施例能夠快速、精確地判定電路板上的盲孔是否需要在層壓之前另行塞孔,如果不需要,則在電路板的制作過程中,在層壓之前不執(zhí)行對(duì)電路板另外塞孔的工序,從而提高生成效率,并降低生產(chǎn)成本;如果需要,則在電路板的制作過程中,在層壓之前執(zhí)行對(duì)電路板另外塞孔的工序,從而保證電路板成品的盲孔均被樹脂填塞飽滿,提聞電路板的生產(chǎn)質(zhì)量。
[0050]下面結(jié)合圖2、圖3和圖4,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例提供的塞孔的判定方法進(jìn)行詳細(xì)說明。參見圖2,是本發(fā)明提供的塞孔的判定方法中所應(yīng)用的電路板的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)圖。
[0051]本發(fā)明實(shí)施例提供一種需要進(jìn)行塞孔判定的電路板,包括第一芯板201和第二芯板202。第一芯板201上開設(shè)有第一盲孔Al、第二盲孔A2、第三盲孔A3和第四盲孔A4。在電路板的制作過程中,第一芯板201和第二芯板202需要通過半固化片203層壓為一體。
[0052]需要說明的是,上述電路板除了是包括第一芯板和第二芯板的兩層板之外,還可以是三層板、四層板等等,且上述第一芯板和第二芯板可以是單層板,也可以是多層板。
[0053]參見圖3,是本發(fā)明提供的塞孔的判定方法中建立判定區(qū)域的一個(gè)實(shí)施例的示意圖。
[0054]盲孔分布圖1是需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖,該盲孔分布圖1上具有4個(gè)盲孔,分別為第一盲孔Al、第二盲孔A2、第三盲孔A3和第四盲孔A4,上述4個(gè)盲孔都是在位于第一芯板201上。
[0055]分別以盲孔分布圖1上的每個(gè)盲孔為中心,在盲孔分布圖1上劃出4個(gè)判定區(qū)域,使4個(gè)判定區(qū)域分別與4個(gè)盲孔一一對(duì)應(yīng),具體如下:以第一盲孔Al為中心,在盲孔分布圖1上劃出第一判定區(qū)域BI ;以第二盲孔A2為中心,在盲孔分布圖1上劃出第二判定區(qū)域B2 ;以第三盲孔A3為中心,在盲孔分布圖1上劃出第三判定區(qū)域B3 ;以第四盲孔A4為中心,在盲孔分布圖1上劃出第四判定區(qū)域B4。
[0056]根據(jù)每個(gè)盲孔的位置信息進(jìn)行計(jì)算,得出第一盲孔Al的面積為Sai,第二盲孔A2的面積為Sa2,第三盲孔A3的面積為Sa3,第四盲孔A4的面積為SA4。
[0057]假設(shè)第一判定區(qū)域BI中的盲孔的總面積為Sbi,則Sbi = Sa1
[0058]假設(shè)第二判定區(qū)域B2中的盲孔的總面積為SB2,則SB2 = SA2+SA3。
[0059]假設(shè)第三判定區(qū)域B3中的盲孔的總面積為SB3,則SB3 = SA2+SA3。
[0060]假設(shè)第四判定區(qū)域B4中的盲孔的總面積為SB4,則Sb4 = SA4。
[0061]由于SB2 = Sb3,因此4個(gè)總面積中的最大值為Sb2和SB3。
[0062]通過將Sb2(或者Sb3)和標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較,若Sb2小于標(biāo)準(zhǔn)值,則判定電路板上的全部或者部分盲孔不能被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的所有盲孔另行填塞;若Sb2小于或等于標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述電路板上的所有盲孔能夠被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,不需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的盲孔另行填塞。
[0063]參見圖4,是本發(fā)明提供的塞孔的判定方法中建立判定區(qū)域的另一個(gè)實(shí)施例的示意圖。
[0064]盲孔分布圖1是需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖,該盲孔分布圖1上具有4個(gè)盲孔,分別為第一盲孔Al、第二盲孔A2、第三盲孔A3和第四盲孔A4,上述4個(gè)盲孔都是在位于第一芯板201上。
[0065]將盲孔分布圖1平均劃分成4個(gè)判定區(qū)域,包括第一判定區(qū)域Cl、第二判定區(qū)域C2、第三判定區(qū)域C3和第四判定區(qū)域C4。
[0066]根據(jù)每個(gè)盲孔的位置信息進(jìn)行計(jì)算,得出第一盲孔Al的面積為Sai,第二盲孔A2的面積為Sa2,第三盲孔A3的面積為Sa3,第四盲孔A4的面積為SA4。
[0067]假設(shè)第一判定區(qū)域Cl中的盲孔的總面積為Sa,則Sa = Sai。
[0068]假設(shè)第二判定區(qū)域C2中的盲孔的總面積為Se2,則Se2 = O。
[0069]假設(shè)第三判定區(qū)域C3中的盲孔的總面積為SC3,則Sra = SA2+SA3。
[0070]假設(shè)第四判定區(qū)域C4中的盲孔的總面積為Se4,則Se4 = SA4。
[0071]因此4個(gè)總面積中的最大值為SC3。
[0072]通過將Sra和標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較,若Sc3小于標(biāo)準(zhǔn)值,則判定電路板上的全部或者部分盲孔不能被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的所有盲孔另行填塞;若所述S。小于或等于標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述電路板上的所有盲孔能夠被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,不需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的盲孔另行填塞。
[0073]需要說明的是,本實(shí)施例中的4個(gè)判定區(qū)域中,并非每一個(gè)判定區(qū)域中均包含盲孔。
[0074]需要進(jìn)一步說明的是,上述實(shí)施例僅以M = 4為例進(jìn)行說明。應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,可將M設(shè)定為其他數(shù)值,并對(duì)應(yīng)修改標(biāo)準(zhǔn)值,同樣可以實(shí)現(xiàn)塞孔判定,這些改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0075]上述實(shí)施例僅以電路板為雙層板,判定區(qū)域?yàn)檎叫螢槔M(jìn)行說明,并不代表本發(fā)明只能應(yīng)用于上述實(shí)施例。在具體實(shí)施當(dāng)中,電路板還可以是三層板、四層板等多層板,判定區(qū)域還可以是圓形、橢圓形、正五邊形等其他形狀。
[0076]本發(fā)明實(shí)施例還提供一種塞孔的判定裝置,能夠?qū)嵤┥鲜鋈椎呐卸ǚ椒ǖ乃辛鞒獭?br>
[0077]參見圖4,是本發(fā)明提供的塞孔的判定裝置的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0078]本發(fā)明實(shí)施例提供一種塞孔的判定裝置,包括:
[0079]盲孔分布圖獲取模塊501,用于獲取需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖;所述盲孔分布圖包括N個(gè)盲孔,NS I ;所述電路板包括通過半固化片層壓為一體的第一芯板和第二芯板,所述N個(gè)盲孔位于在所述第一芯板上;
[0080]區(qū)域劃分模塊502,用于在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,MS I ;
[0081]盲孔計(jì)算模塊503,用于計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從M個(gè)總面積中選出最大值;和,
[0082]塞孔判定模塊504,用于將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述第一芯板上的盲孔需要在層壓之前另行填塞,否則判定所述第一芯板上的盲孔不需要在層壓之前另行填塞。
[0083]具體的,所述盲孔分布圖可以是采用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件對(duì)電路原理圖進(jìn)行布線設(shè)計(jì)后,而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信肩、O
[0084]此外,所述盲孔分布圖還可以是在所述電路板的制作過程中,通過對(duì)所述第一芯板的板面線路進(jìn)行拍照或掃描,并對(duì)盲孔進(jìn)行定位后而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息。
[0085]進(jìn)一步的,所述區(qū)域劃分模塊2具體用于:分別以所述盲孔分布圖上的每個(gè)盲孔為中心,在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,使M個(gè)判定區(qū)域分別與N個(gè)盲孔一一對(duì)應(yīng),N = M ;
[0086]或者,所述區(qū)域劃分模塊2具體用于:將所述盲孔分布圖平均劃分成M個(gè)判定區(qū)域。
[0087]假設(shè)所述判定區(qū)域的面積為S,所述第一芯板上的盲孔的最大深度為H,所述標(biāo)準(zhǔn)值是指:在使用半固化片對(duì)所述第一芯板和所述第二芯板進(jìn)行層壓時(shí),面積為S的半固化片的流膠能夠填滿所述第一芯板上的深度為H的盲孔的總面積的最大值。
[0088]本發(fā)明實(shí)施例提供的塞孔的判定方法及裝置,在需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖上劃出至少一個(gè)判定區(qū)域,計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從所述總面積中選出最大值;將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述電路板上的盲孔不能被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的盲孔另行填塞;若所述最大值小于或等于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述電路板上的盲孔能夠被層壓過程中的半固化片的流膠塞滿,不需要在層壓之前對(duì)所述電路板上的盲孔另行填塞。本發(fā)明實(shí)施例能夠快速、精確地判定電路板上的盲孔是否需要在層壓之前另行塞孔,如果不需要,則在電路板的制作過程中,在層壓之前不執(zhí)行對(duì)電路板另外塞孔的工序,從而提高生成效率,并降低生產(chǎn)成本;如果需要,則在電路板的制作過程中,在層壓之前執(zhí)行對(duì)電路板另外塞孔的工序,從而保證電路板成品的盲孔均被樹脂填塞飽滿,提聞電路板的生產(chǎn)質(zhì)量。
[0089]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程,是可以通過計(jì)算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件來完成,所述的程序可存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中,該程序在執(zhí)行時(shí),可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中,所述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲(chǔ)記憶體(Read-Only Memory, ROM)或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(Random AccessMemory, RAM)等。
[0090]以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾,這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種塞孔的判定方法,其特征在于,包括: 獲取需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖;所述盲孔分布圖包括N個(gè)盲孔,NSl ;所述電路板包括通過半固化片層壓為一體的第一芯板和第二芯板,所述N個(gè)盲孔位于在所述第一芯板上; 在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,M^l; 計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從M個(gè)總面積中選出最大值; 將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述第一芯板上的盲孔需要在層壓之前另行填塞,否則判定所述第一芯板上的盲孔不需要在層壓之前另行填塞。
2.如權(quán)利要求1所述的塞孔的判定方法,其特征在于,所述盲孔分布圖是采用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件對(duì)電路原理圖進(jìn)行布線設(shè)計(jì)后,而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息; 或者,所述盲孔分布圖是在所述電路板的制作過程中,通過對(duì)所述第一芯板的板面線路進(jìn)行拍照或掃描,并對(duì)盲孔進(jìn)行定位后而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息。
3.如權(quán)利要求1所述的塞孔的判定方法,其特征在于,所述在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,具體包括: 分別以所述盲孔分布圖上的每個(gè)盲孔為中心,在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,使M個(gè)判定區(qū)域分別與N個(gè)盲孔一一對(duì)應(yīng),N = M0
4.如權(quán)利要求1所述的塞孔的判定方法,其特征在于,所述在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,具體包括: 將所述盲孔分布圖平均劃分成M個(gè)判定區(qū)域。
5.如權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的塞孔的判定方法,其特征在于,所述判定區(qū)域的面積為S,所述第一芯板上的盲孔的最大深度為H,所述標(biāo)準(zhǔn)值是指:在使用半固化片對(duì)所述第一芯板和所述第二芯板進(jìn)行層壓時(shí),面積為S的半固化片的流膠能夠填滿所述第一芯板上的深度為H的盲孔的總面積的最大值。
6.如權(quán)利要求5所述的塞孔的判定方法,其特征在于,所述判定區(qū)域?yàn)閳A形、橢圓形、規(guī)則多邊形或者不規(guī)則多邊形。
7.—種塞孔的判定裝置,其特征在于,包括: 盲孔分布圖獲取模塊,用于獲取需要進(jìn)行塞孔判定的電路板的盲孔分布圖;所述盲孔分布圖包括N個(gè)盲孔,NS I ;所述電路板包括通過半固化片層壓為一體的第一芯板和第二芯板,所述N個(gè)盲孔位于在所述第一芯板上; 區(qū)域劃分模塊,用于在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,MS I ; 盲孔計(jì)算模塊,用于計(jì)算每個(gè)判定區(qū)域中的盲孔的總面積,并從M個(gè)總面積中選出最大值;和, 塞孔判定模塊,用于將所述最大值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比,若所述最大值大于所述標(biāo)準(zhǔn)值,則判定所述第一芯板上的盲孔需要在層壓之前另行填塞,否則判定所述第一芯板上的盲孔不需要在層壓之前另行填塞。
8.如權(quán)利要求7所述的塞孔的判定裝置,其特征在于,所述盲孔分布圖是采用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件對(duì)電路原理圖進(jìn)行布線設(shè)計(jì)后,而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息; 或者,所述盲孔分布圖是在所述電路板的制作過程中,通過對(duì)所述第一芯板的板面線路進(jìn)行拍照或掃描,并對(duì)盲孔進(jìn)行定位后而獲得的印制板布線圖,所述印制板布線圖包含所述第一芯板上的盲孔的位置信息。
9.如權(quán)利要求7所述的塞孔的判定裝置,其特征在于,所述區(qū)域劃分模塊具體用于:分別以所述盲孔分布圖上的每個(gè)盲孔為中心,在所述盲孔分布圖上劃出M個(gè)判定區(qū)域,使M個(gè)判定區(qū)域分別與N個(gè)盲孔一一對(duì)應(yīng),N = M5 或者,所述區(qū)域劃分模塊具體用于:將所述盲孔分布圖平均劃分成M個(gè)判定區(qū)域。
10.如權(quán)利要求7至9任一項(xiàng)所述的塞孔的判定裝置,其特征在于,所述判定區(qū)域的面積為S,所述第一芯板上的盲孔的最大深度為H,所述標(biāo)準(zhǔn)值是指:在使用半固化片對(duì)所述第一芯板和所述第二芯板進(jìn)行層壓時(shí),面積為S的半固化片的流膠能夠填滿所述第一芯板上的深度為H的盲孔的總面積的最大值。
【文檔編號(hào)】H05K3/40GK104411121SQ201410712953
【公開日】2015年3月11日 申請(qǐng)日期:2014年11月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月28日
【發(fā)明者】江杰猛, 李孔, 任代學(xué), 李超謀, 張良昌, 鄺良發(fā) 申請(qǐng)人:廣州杰賽科技股份有限公司