專利名稱:全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種瞄準(zhǔn)具檢測(cè)技術(shù)，具體地說(shuō)是一種全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在武器系統(tǒng)中，瞄準(zhǔn)具是確保打擊精度，實(shí)現(xiàn)有效打擊的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。為確保武器系統(tǒng)的準(zhǔn)確有效，在生產(chǎn)、裝調(diào)和維護(hù)等各個(gè)環(huán)節(jié)中，均需對(duì)瞄準(zhǔn)具及其裝調(diào)校正的各種技術(shù)參數(shù)進(jìn)行精確的檢測(cè)。由于瞄準(zhǔn)具大多通過(guò)指向遠(yuǎn)方的光學(xué)軸線與火力發(fā)射系統(tǒng)的發(fā)射軸線之間的匹配關(guān)系來(lái)實(shí)現(xiàn)瞄準(zhǔn)，因此對(duì)瞄準(zhǔn)具各類技術(shù)參數(shù)的檢測(cè)方案大多以各種不同性能的平行光管為核心系統(tǒng)。
用于瞄準(zhǔn)具檢測(cè)的平行光管系統(tǒng)，通常由光源、分劃板和準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成。為了適應(yīng)不同的測(cè)量要求需要用到不同的分劃板圖案，傳統(tǒng)的做法是針對(duì)不同的檢測(cè)需求設(shè)計(jì)和配備不同的分劃板，并針對(duì)不同的測(cè)量項(xiàng)目換裝不同的分劃板。由于分劃板需要經(jīng)過(guò)專門的設(shè)計(jì)和特殊的加工，一套檢測(cè)系統(tǒng)通常只能針對(duì)一些特定的檢測(cè)項(xiàng)目，系統(tǒng)的靈活性與適應(yīng)性差。
為了改善檢測(cè)系統(tǒng)的靈活性與適應(yīng)性，有一種做法是利用LCD器件作為分劃圖案生成器件，通過(guò)計(jì)算機(jī)軟件根據(jù)實(shí)際使用要求生成所需的分劃圖案，形成的數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)極大地?cái)U(kuò)展了檢測(cè)系統(tǒng)的適用范圍和檢測(cè)能力，并對(duì)新的測(cè)量需求提供了低成本快速反應(yīng)的可能性。然而，現(xiàn)有的LCD分劃技術(shù)采用的是透射式成像器件，與之配套的光學(xué)系統(tǒng)在紅外到紫外的寬波段內(nèi)有效地實(shí)現(xiàn)功能是十分困難的。同時(shí)，LCD器件及其所配套使用的偏振器件對(duì)紫外輻射的耐受性限制了其在紫外波段的應(yīng)用。
隨著軍事斗爭(zhēng)與軍事科技的發(fā)展，瞄準(zhǔn)具技術(shù)已向著更為廣闊的光譜范圍延伸，針對(duì)目標(biāo)熱輻射的紅外技術(shù)和針對(duì)飛行羽煙的紫外技術(shù)均獲得了長(zhǎng)足的發(fā)展，許多武器系統(tǒng)同時(shí)裝備有可見光、微光夜視、紅外熱成像、紫外成像等多種瞄準(zhǔn)具，迫切需要針對(duì)紅外熱成像瞄準(zhǔn)具和紫外成像瞄準(zhǔn)具檢測(cè)與調(diào)校技術(shù)手段的支持，尤其是迫切需要開發(fā)出能夠同時(shí)對(duì)各種不同譜段瞄準(zhǔn)具進(jìn)行共軸調(diào)校的技術(shù)手段。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對(duì)上述問(wèn)題，提供一種全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，采用該系統(tǒng)可以在全光譜范圍內(nèi)對(duì)瞄準(zhǔn)具進(jìn)行檢測(cè)。
按照本發(fā)明的技術(shù)方案一種全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，包括數(shù)字化平行光管系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，所述數(shù)字化平行光管系統(tǒng)包括輻射源、DMD數(shù)字微鏡器件、DMD驅(qū)動(dòng)電路以及準(zhǔn)直系統(tǒng)，DMD數(shù)字微鏡器件位于準(zhǔn)直系統(tǒng)的焦面上，DMD數(shù)字微鏡器件通過(guò)DMD驅(qū)動(dòng)電路接收計(jì)算機(jī)系統(tǒng)輸入的分劃圖案，輻射源發(fā)出的光譜輻射投射到DMD數(shù)字微鏡器件的靶面上，由DMD數(shù)字微鏡器件控制將投射到參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到準(zhǔn)直系統(tǒng)。[0008]所述系統(tǒng)還包括輔助檢測(cè)系統(tǒng)，所述輔助檢測(cè)系統(tǒng)包括輻射源控制系統(tǒng)，以及各種角度測(cè)量、位移測(cè)量等外圍測(cè)量裝置，用于針對(duì)具體的技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行系統(tǒng)狀態(tài)調(diào)整與測(cè)量。
所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)由系統(tǒng)控制軟件控制，所述系統(tǒng)控制軟件包括分劃圖像生成模塊、瞄準(zhǔn)具測(cè)量流程控制模塊及外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊，所述瞄準(zhǔn)具測(cè)量流程控制模塊分別管理和控制所述分劃圖像生成模塊及外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊，所述分劃圖像生成模塊通過(guò)數(shù)字分劃圖像輸出接口與所述DMD驅(qū)動(dòng)電路相連，所述外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊與所述輔助檢測(cè)系統(tǒng)相連。
所述輻射源發(fā)出的光譜輻射耦合輸入到積分器的入口，經(jīng)均化和光束整形后在出口以均勻面光源的形式出射，照明投射系統(tǒng)將積分器出口按規(guī)定的入射角投影成像到DMD數(shù)字微鏡器件的靶面上，利用DMD數(shù)字微鏡器件將投射到參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到準(zhǔn)直系統(tǒng)，將投射到不參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到成像光路以外，并通過(guò)吸收器吸收。
所述照明投射系統(tǒng)與DMD數(shù)字微鏡器件之間增加一個(gè)反射鏡。
所述照明投射系統(tǒng)與DMD數(shù)字微鏡器件之間增加一組光路轉(zhuǎn)折棱鏡對(duì)。
所述準(zhǔn)直系統(tǒng)采用離軸拋物面反射系統(tǒng)，所述離軸拋物面反射系統(tǒng)包括輔鏡及主鏡，DMD數(shù)字微鏡器件接收輻射照明光源投射來(lái)的照明光束，并接收分劃圖像信號(hào)，將分劃圖案像素點(diǎn)的照明輻射反射到所述離軸拋物面反射系統(tǒng)的輔鏡，成像輻射經(jīng)副鏡投射到離軸拋物面主鏡后，準(zhǔn)直為平行光束出射。
本發(fā)明的技術(shù)效果在于通過(guò)計(jì)算機(jī)生成靜態(tài)或動(dòng)態(tài)分劃圖像，控制DMD數(shù)字微鏡器件像素點(diǎn)的通、斷實(shí)現(xiàn)分劃圖案的顯示，可以靈活的生成、切換和用戶定制分劃靶標(biāo)，使系統(tǒng)具有極強(qiáng)的檢測(cè)項(xiàng)目適應(yīng)能力和應(yīng)用范圍。利用DMD數(shù)字微鏡器件金屬反射膜像素點(diǎn)的全光譜反射特性，輔之以相應(yīng)的照明輻射源和準(zhǔn)直系統(tǒng)，可以在紅外熱成像、可見光、微光夜視儀及紫外成像等全光譜的范圍內(nèi)靈活的生成檢測(cè)所需的無(wú)窮遠(yuǎn)檢測(cè)靶標(biāo)，所構(gòu)建瞄準(zhǔn)具檢測(cè)的技術(shù)平臺(tái)具有極強(qiáng)的輻射譜段適應(yīng)能力和應(yīng)用范圍。采用全光譜數(shù)字平行光管系統(tǒng)不僅用一套系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了在全光譜不同譜段的檢測(cè)需求，而且使得對(duì)各譜段瞄準(zhǔn)具進(jìn)行同軸檢測(cè)的方法成為可能。利用計(jì)算機(jī)生成動(dòng)態(tài)目標(biāo)及場(chǎng)景圖像，還可以在全光譜范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)景物模擬，進(jìn)行全光譜范圍內(nèi)的系統(tǒng)功能模擬測(cè)試和模擬實(shí)訓(xùn)。


圖1為本發(fā)明的系統(tǒng)框圖；
圖2為本發(fā)明的數(shù)字化平行光管的第一種實(shí)施例；
圖3為本發(fā)明的數(shù)字化平行光管的第二種種實(shí)施例；
圖4為本發(fā)明的數(shù)字化平行光管的第三種實(shí)施例；
圖5為本發(fā)明的離軸拋物面反射系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖6為本發(fā)明的計(jì)算機(jī)控制軟件的原理框圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步的說(shuō)明。[0022]如圖1所示，本發(fā)明其包括數(shù)字化平行光管系統(tǒng)15以及計(jì)算機(jī)系統(tǒng)12。數(shù)字化平行光管系統(tǒng)15包括輻射源1、DMD數(shù)字微鏡器件4、DMD驅(qū)動(dòng)電路14以及準(zhǔn)直系統(tǒng)5。輻射源I包括輻射發(fā)生源和照明系統(tǒng)，必要時(shí)可采用不同波段輻射源切換或全波段輻射源附加波段選擇裝置來(lái)保證系統(tǒng)在檢測(cè)要求所設(shè)定的窄波段范圍工作。DMD數(shù)字微鏡器件4位于準(zhǔn)直系統(tǒng)5的焦面上，DMD數(shù)字微鏡器件4通過(guò)DMD驅(qū)動(dòng)電路14接收計(jì)算機(jī)系統(tǒng)12輸入的分劃圖案，輻射源I發(fā)出的光譜輻射投射到DMD數(shù)字微鏡器件4的靶面上，由DMD數(shù)字微鏡器件4控制將投射到參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到準(zhǔn)直系統(tǒng)5。
本發(fā)明還包括輔助檢測(cè)系統(tǒng)17，輔助檢測(cè)系統(tǒng)17包括輻射源控制系統(tǒng)18，以及各種角度測(cè)量、位移測(cè)量等外圍測(cè)量裝置16，用于針對(duì)具體的技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行系統(tǒng)狀態(tài)調(diào)整與測(cè)量。
本發(fā)明以數(shù)字化平行光管系統(tǒng)15為主體，利用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)12生成和定義分劃圖案，并對(duì)檢測(cè)流程進(jìn)行協(xié)調(diào)和控制，同時(shí)通過(guò)對(duì)輔助檢測(cè)系統(tǒng)17的切換及變化來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)不同光譜、不同技術(shù)指標(biāo)的檢測(cè)。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)12根據(jù)瞄準(zhǔn)具測(cè)量流程的需要，輸出適當(dāng)?shù)撵o態(tài)或動(dòng)態(tài)分劃圖案，并通過(guò)與輔助檢測(cè)系統(tǒng)17的通信，對(duì)輻射源I以及必要的輔助檢測(cè)裝置發(fā)出適當(dāng)?shù)目刂浦噶睢Ｍㄟ^(guò)人機(jī)交互，用戶可以定制分劃圖案，以適應(yīng)新的瞄準(zhǔn)具型號(hào)或新的技術(shù)指標(biāo)的檢測(cè)要求。
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)12由系統(tǒng)控制軟件11控制，系統(tǒng)控制軟件11包括分劃圖像生成模塊21、瞄準(zhǔn)具測(cè)量流程控制模塊20及外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊19，瞄準(zhǔn)具測(cè)量流程控制模塊20分別管理和控制分劃圖像生成模塊21及外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊19，分劃圖像生成模塊21通過(guò)數(shù)字分劃圖像輸出接口 13與DMD驅(qū)動(dòng)電路14相連，外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊19與輔助檢測(cè)系統(tǒng)17相連。
整個(gè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)全光譜檢測(cè)的關(guān)鍵措施是采用以金屬反射膜微鏡為成像單元的DMD數(shù)字微鏡器件4作為分劃圖像發(fā)生器，利用金屬反射膜的全光譜反射特性可以適應(yīng)檢測(cè)需要的全光譜范圍內(nèi)圖像生成的要求。根據(jù)被測(cè)瞄準(zhǔn)具對(duì)輻射譜段的具體要求，采用相應(yīng)的輻射照明光源和適當(dāng)?shù)臏?zhǔn)直系統(tǒng)即可形成作為檢測(cè)系統(tǒng)核心的全光譜數(shù)字化平行光管系統(tǒng)，從而實(shí)現(xiàn)在全光譜范圍內(nèi)，尤其是在紅外熱成像和紫外波段內(nèi)相關(guān)技術(shù)指標(biāo)測(cè)量。
根據(jù)不同的檢測(cè)要求，作為檢測(cè)系統(tǒng)核心的全光譜數(shù)字化平行光管系統(tǒng)15有一些不同的實(shí)施例。
第一種實(shí)施例，如圖2所示，輻射源I發(fā)出的光譜輻射耦合輸入到積分器2的入口，經(jīng)均化和光束整形后在出口以均勻面光源的形式出射，照明投射系統(tǒng)3將積分器2出口按規(guī)定的入射角投影成像到DMD數(shù)字微鏡器件4的靶面上，利用DMD數(shù)字微鏡器件4將投射到參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到準(zhǔn)直系統(tǒng)5，將投射到不參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到成像光路以外，并通過(guò)吸收器6吸收。DMD數(shù)字微鏡器件4位于準(zhǔn)直系統(tǒng)5的焦面上，因此DMD數(shù)字微鏡器件4上顯示的圖像被準(zhǔn)直系統(tǒng)5成像在無(wú)窮遠(yuǎn)處，形成瞄準(zhǔn)器檢測(cè)所需的無(wú)窮遠(yuǎn)目標(biāo)。
第二種實(shí)施例，如圖3所示，它與第一種實(shí)施例相似，所不同的是在照明投射系統(tǒng)3與DMD數(shù)字微鏡器件4之間增加一個(gè)反射鏡7，使光路發(fā)生了轉(zhuǎn)折，從而使得光路更加緊湊，為輻射源I的安裝、調(diào)整及其切換等創(chuàng)造更為有利的結(jié)構(gòu)空間。。
第三種實(shí)施例，如圖4所示，它與第二種實(shí)施例相似，所不同的是照明投射系統(tǒng)3與DMD數(shù)字微鏡器件4之間增加一組光路轉(zhuǎn)折棱鏡對(duì)8。將光路轉(zhuǎn)折反射鏡7用一組光路轉(zhuǎn)折棱鏡對(duì)8來(lái)替代。此方案結(jié)構(gòu)更加緊湊合理，但由于光路中使用了棱鏡對(duì)8，由于棱鏡材料光譜透過(guò)率的局限性，限制了系統(tǒng)在一個(gè)寬泛的光譜范圍內(nèi)同時(shí)工作，因此只適合在相對(duì)狹窄的固定波段使用。
在上述三種實(shí)施例中，準(zhǔn)直系統(tǒng)5可以采用常用的折射系統(tǒng)，此時(shí)通過(guò)選用不同的光學(xué)材料，可以分別在紅外、可見及紫外范圍內(nèi)適用。當(dāng)系統(tǒng)要求同時(shí)對(duì)紅外、可見、紫外等不同波段的瞄準(zhǔn)具進(jìn)行檢測(cè)與校正時(shí)，則可以采用離軸拋物面反射系統(tǒng)，以形成完全由金屬反射膜組成的寬光譜范圍全光譜平行光管系統(tǒng)，其典型結(jié)構(gòu)如圖5所示
準(zhǔn)直系統(tǒng)5采用離軸拋物面反射系統(tǒng)，離軸拋物面反射系統(tǒng)由輔鏡9及主鏡10構(gòu)成，DMD數(shù)字微鏡器件4接收輻射照明光源投射來(lái)的照明光束，并接收分劃圖像信號(hào)，將分劃圖案像素點(diǎn)的照明輻射反射到離軸拋物面反射系統(tǒng)的輔鏡9，成像輻射經(jīng)副鏡9投射到離軸拋物面主鏡10后，準(zhǔn)直為平行光束出射，從而將分劃圖像成像到無(wú)窮遠(yuǎn)處。當(dāng)系統(tǒng)完全由反射面構(gòu)成時(shí)，全光譜系統(tǒng)在寬光譜范圍內(nèi)的色差，透射材料在全光譜范圍內(nèi)的光譜透過(guò)率等技術(shù)障礙均得到很好的解決，使系統(tǒng)可以適應(yīng)對(duì)各種不同譜段瞄準(zhǔn)具同時(shí)進(jìn)行同軸檢測(cè)的需要。
作為分劃圖像的生成源和檢測(cè)系統(tǒng)的控制中樞，計(jì)算機(jī)及其控制軟件起著人機(jī)溝通、過(guò)程控制和圖像生成的作用。
其中瞄準(zhǔn)具檢測(cè)系統(tǒng)控制軟件的原理框圖如圖6所示。
檢測(cè)系統(tǒng)軟件開始運(yùn)行并通過(guò)權(quán)限控制后分別進(jìn)入三個(gè)分支
常規(guī)檢測(cè)過(guò)程首先經(jīng)過(guò)靜態(tài)圖像選擇功能選定與檢測(cè)項(xiàng)目匹配的分劃圖案，經(jīng)過(guò)定標(biāo)及檢測(cè)參數(shù)設(shè)置后進(jìn)入檢測(cè)流程。
特殊檢測(cè)過(guò)程可以由用戶定制分劃圖案，并進(jìn)行相應(yīng)的定標(biāo)及檢測(cè)參數(shù)設(shè)置。用戶的定制信息經(jīng)確定存儲(chǔ)后成為可以隨時(shí)調(diào)用的技術(shù)數(shù)據(jù)，并在選擇調(diào)用后進(jìn)入檢測(cè)流程。
通過(guò)選擇動(dòng)態(tài)分劃圖像并設(shè)置相應(yīng)的運(yùn)動(dòng)參數(shù)，可以進(jìn)入功能模擬過(guò)程。利用動(dòng)態(tài)分劃模擬實(shí)際使用中的目標(biāo)場(chǎng)景，從而進(jìn)行模擬訓(xùn)練以及實(shí)際使用效果的模擬分析和綜合檢測(cè)。
檢測(cè)流程通過(guò)檢測(cè)過(guò)程控制模塊進(jìn)行管理和控制，通過(guò)該模塊檢測(cè)系統(tǒng)向輔助檢測(cè)系統(tǒng)發(fā)出指令和相關(guān)控制參數(shù)，并接收輔助檢測(cè)系統(tǒng)傳回的檢測(cè)數(shù)據(jù)和人機(jī)交互信息。
由被測(cè)系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)以及檢測(cè)過(guò)程中的人機(jī)交互構(gòu)成的檢測(cè)過(guò)程通過(guò)輔助檢測(cè)系統(tǒng)通訊接口與檢測(cè)過(guò)程控制模塊形成雙向交互信息流，共同完成檢測(cè)過(guò)程操作，通過(guò)測(cè)量與讀數(shù)過(guò)程，進(jìn)入數(shù)據(jù)處理與輸出模塊完成檢測(cè)工作。
功能模擬過(guò)程通過(guò)動(dòng)態(tài)分劃圖像模擬出實(shí)際使用中的目標(biāo)場(chǎng)景，觀測(cè)者利用被測(cè)系統(tǒng)觀察模擬檢測(cè)系統(tǒng)中的虛擬目標(biāo)，并通過(guò)模擬檢測(cè)系統(tǒng)通訊接口對(duì)被測(cè)系統(tǒng)運(yùn)行參數(shù)進(jìn)行測(cè)定與記錄，模擬訓(xùn)練參數(shù)與觀測(cè)數(shù)據(jù)記錄通過(guò)數(shù)據(jù)處理與輸出模塊處理與輸出。
權(quán)利要求
1.一種 全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，包括數(shù)字化平行光管系統(tǒng)(15)以及計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(12)，其特征是:所述數(shù)字化平行光管系統(tǒng)(15)包括輻射源(I)、DMD數(shù)字微鏡器件(4)、DMD驅(qū)動(dòng)電路(14)以及準(zhǔn)直系統(tǒng)(5)，DMD數(shù)字微鏡器件⑷位于準(zhǔn)直系統(tǒng)(5)的焦面上，DMD數(shù)字微鏡器件(4)通過(guò)DMD驅(qū)動(dòng)電路(14)接收計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(12)輸入的分劃圖像，輻射源(I)發(fā)出的光譜輻射投射到DMD數(shù)字微鏡器件(4)的靶面上，由DMD數(shù)字微鏡器件(4)控制將投射到參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到準(zhǔn)直系統(tǒng)(5)。
2.按照權(quán)利要求
1所述的全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是:所述全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)還包括輔助檢測(cè)系統(tǒng)(17)，輔助檢測(cè)系統(tǒng)(17)包括輻射源控制系統(tǒng)(18)與外圍測(cè)量裝置(16)，用于針對(duì)具體的技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行系統(tǒng)狀態(tài)調(diào)整與測(cè)量。
3.按照權(quán)利要求
2所述的全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是:所述外圍測(cè)量裝置(16)包括角度測(cè)量裝置與位移測(cè)量裝置。
4.按照權(quán)利要求
2所述的全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是:所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(12)由系統(tǒng)控制軟件(11)控制，所述系統(tǒng)控制軟件(11)包括分劃圖像生成模塊(21)、瞄準(zhǔn)具測(cè)量流程控制模塊(20)及外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊(19);所述瞄準(zhǔn)具測(cè)量流程控制模塊(20)分別管理和控制所述分劃圖像生成模塊(21)及外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊(19)，所述分劃圖像生成模塊(21)通過(guò)數(shù)字分劃圖像輸出接口(13)與所述DMD驅(qū)動(dòng)電路(14)相連，所述外圍測(cè)量輔助系統(tǒng)控制模塊(19)與所述輔助檢測(cè)系統(tǒng)(17)相連。
5.按照權(quán)利要求
1所述的全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是:所述輻射源(I)發(fā)出的光譜輻射耦合輸入到積分器(2)的入口，經(jīng)均化和光束整形后在積分器(2)的出口以均勻面光源的形式出射，照明投射系統(tǒng)(3)將積分器(2)出口的以均勻面光源的形式出射的光譜按規(guī)定的入射角投影成像到DMD數(shù)字微鏡器件(4)的靶面上，利用DMD數(shù)字微鏡器件(4)將投射到參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到準(zhǔn)直系統(tǒng)(5)，將投射到不參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到成像光路以外，并通過(guò)吸收器(6)吸收。
6.按照權(quán)利要求
5所述的全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是:所述照明投射系統(tǒng)⑶與DMD數(shù)字微鏡器件⑷之間增加一個(gè)反射鏡(7)。
7.按照權(quán)利要求
5所述的全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是:所述照明投射系統(tǒng)(3)與DMD數(shù)字微鏡器件(4)之間增加一組光路轉(zhuǎn)折棱鏡對(duì)(8)。
8.按照權(quán)利要求
1所述的全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征是:所述準(zhǔn)直系統(tǒng)(5)采用離軸拋物面反射系統(tǒng)，所述離軸拋物面反射系統(tǒng)包括輔鏡(9)及主鏡(10)，DMD數(shù)字微鏡器件(4)接收輻射源(I)投射來(lái)的光譜輻射，并接收分劃圖像信號(hào)，將參與成像的分劃圖像像素點(diǎn)上的照明輻射反射到所述離軸拋物面反射系統(tǒng)的輔鏡(9)，并經(jīng)輔鏡(9)投射到離軸拋物面主鏡(10)后，準(zhǔn)直為平行光束出射。
專利摘要
本發(fā)明涉及一種全光譜瞄準(zhǔn)具數(shù)字化檢測(cè)系統(tǒng)，其包括數(shù)字化平行光管系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，數(shù)字化平行光管系統(tǒng)由輻射源、DMD數(shù)字微鏡器件、DMD驅(qū)動(dòng)電路以及準(zhǔn)直系統(tǒng)構(gòu)成，DMD數(shù)字微鏡器件位于準(zhǔn)直系統(tǒng)的焦面上，DMD數(shù)字微鏡器件通過(guò)DMD驅(qū)動(dòng)電路接收計(jì)算機(jī)系統(tǒng)輸入的分劃圖案，輻射源發(fā)出的光譜輻射投射到DMD數(shù)字微鏡器件的靶面上，由DMD數(shù)字微鏡器件控制將投射到參與成像的像素點(diǎn)上的照明輻射反射到準(zhǔn)直系統(tǒng)。本發(fā)明利用DMD數(shù)字微鏡器件金屬反射膜像素點(diǎn)的全光譜反射特性，輔之以相應(yīng)的照明輻射源和準(zhǔn)直系統(tǒng)，可以在紅外熱成像、可見光、微光夜視儀及紫外成像等全光譜的范圍內(nèi)靈活的生成檢測(cè)所需的無(wú)窮遠(yuǎn)檢測(cè)靶標(biāo)。
文檔編號(hào)F41G1/54GKCN101608883SQ200910031850
公開日2013年5月1日 申請(qǐng)日期2009年6月26日
發(fā)明者安寶林, 薛晉生, 杜士杰 申請(qǐng)人:無(wú)錫市星迪儀器有限公司導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan專利引用 (6),