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      弱射束檢測(cè)的制作方法

      文檔序號(hào):8015134閱讀:179來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:弱射束檢測(cè)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及電梯中的檢測(cè)器,更具體地說(shuō)涉及對(duì)電梯廂門口的障礙物的檢測(cè)。
      在電梯中,通常用一個(gè)或多個(gè)自動(dòng)滑門。為了保護(hù)乘客,采用各種系統(tǒng)來(lái)檢測(cè)在門打開(kāi)期間、門關(guān)閉之前和關(guān)閉時(shí)存在的障礙物。如果系統(tǒng)檢測(cè)到障礙物,電梯門就避免進(jìn)一步關(guān)閉,最好是重新打開(kāi)。
      檢測(cè)電梯門通道中的障礙物的一種已知系統(tǒng)是將光束放在跨越打開(kāi)的門的通道中,并用傳感器檢測(cè)光束的中斷,如果在打開(kāi)的門之中有障礙物,光束就中斷。一旦檢測(cè)到該中斷,傳感器就發(fā)出一個(gè)信號(hào),以便改變門的運(yùn)動(dòng),最好是使門重新打開(kāi)。
      該系統(tǒng)具有垂直地放在門的一側(cè)的用于產(chǎn)生光束的光發(fā)射器陣列,以及排列在另一門上的用于檢測(cè)這些光束的相應(yīng)的光敏檢測(cè)器陣列,這樣建立的系統(tǒng)可以檢測(cè)門口的不同高度處的障礙物。發(fā)射器和檢測(cè)器被放在門上,因此如果門打開(kāi),那么發(fā)射器和檢測(cè)器就遠(yuǎn)離,而如果門關(guān)閉或正在關(guān)閉,那么發(fā)射器和檢測(cè)器就靠近。發(fā)射器和檢測(cè)器面臨性能下降的可能性,因此當(dāng)它們相互遠(yuǎn)離時(shí),由發(fā)射器發(fā)出的能量可能不被檢測(cè)器檢測(cè)到。
      本發(fā)明的一個(gè)目的是改進(jìn)對(duì)確定區(qū)域中例如電梯廂門口的障礙物的檢測(cè)。
      本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種更耐用的障礙物檢測(cè)系統(tǒng)。
      本發(fā)明的再一個(gè)目的是提供一種改進(jìn)的障礙物檢測(cè)系統(tǒng),因此可以減少電梯門碰撞乘客的事故的數(shù)量。
      根據(jù)本發(fā)明,用于檢測(cè)弱射束的裝置包括多個(gè)用于發(fā)出能量射束的發(fā)射器,多個(gè)用于檢測(cè)由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的能量射束的檢測(cè)器,以及確定由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的射束是否弱的裝置。
      本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是改進(jìn)了對(duì)確定區(qū)域中例如電梯廂門口的障礙物的檢測(cè),并且通過(guò)提供更耐用的障礙物檢測(cè)改進(jìn)了對(duì)障礙物的檢測(cè)。
      通過(guò)參看以下的詳細(xì)描述和附圖,本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將變得更清楚。


      圖1是采用本發(fā)明的最佳實(shí)施例的電梯門口的正視圖;圖2表示發(fā)射器陣列的側(cè)視圖,以及發(fā)射器陣列電路的最佳實(shí)施例的代表性示意圖;圖3表示檢測(cè)器陣列的側(cè)視圖;圖4是最佳控制器的框圖;圖5是檢測(cè)器放大器/濾波器的最佳實(shí)施例的代表性示意圖;圖6是信號(hào)調(diào)整器的最佳實(shí)施例的代表性示意圖;圖7是A/D轉(zhuǎn)換器的最佳實(shí)施例的代表性示意圖,以及檢測(cè)輸入鎖存器的最佳實(shí)施例的代表性示意圖;圖8是本發(fā)明中實(shí)施的最佳弱射束檢測(cè)方法的流程圖;圖9是本發(fā)明中實(shí)施的最佳障礙物檢測(cè)方法的流程圖。
      在圖1中畫出了電梯廂10、第一電梯門15、第二電梯門20、發(fā)射器陣列25、檢測(cè)器陣列30、控制器35和多個(gè)能量射束。以打開(kāi)位置表示的門15、20滑動(dòng)開(kāi)啟和關(guān)閉,因此當(dāng)門關(guān)閉時(shí),門15的關(guān)閉邊緣45與門20的關(guān)閉邊緣50接觸。
      圖中所示的發(fā)射器陣列25放在第一門20的附近,所示的檢測(cè)器陣列30放在第二門15的附近??刂破?5放在電梯廂10的頂部,與發(fā)射器陣列25和檢測(cè)器陣列30實(shí)現(xiàn)電連接(55)。電連接部分55使得控制器35能夠與發(fā)射器陣列25和檢測(cè)器陣列30聯(lián)系。
      參照?qǐng)D2,發(fā)射器陣列25包括多個(gè)發(fā)射器60。發(fā)射器60是燈泡、LED部件或任何發(fā)射部件;例如可調(diào)制的紅外線發(fā)射器,因此它的發(fā)射能量可與周圍背景的輻射區(qū)分開(kāi)來(lái)。在一個(gè)最佳實(shí)施例中,如圖2所示,每個(gè)發(fā)射器是LED部件65,它與齊納二極管70串聯(lián),于是形成了LED/二極管對(duì)75。每個(gè)LED/二極管對(duì)75與另一極性相反的LED/二極管對(duì)并聯(lián)連接,因此采用相同電連接根據(jù)電流的方向可以選擇任何一對(duì)75。這一配置通過(guò)減少所需的導(dǎo)線和連接部分,使得制造成本下降。在一個(gè)最佳實(shí)施例中,發(fā)射器陣列包括56個(gè)發(fā)射器60。
      參照?qǐng)D3,檢測(cè)器陣列30包括多個(gè)檢測(cè)器80。檢測(cè)器80是任何對(duì)發(fā)射器60的發(fā)射敏感的部件;最好對(duì)除該發(fā)射器以外的其它的發(fā)射不敏感。例如,檢測(cè)器80可以是光電二極管或光電三極管,它們被設(shè)計(jì)用來(lái)使在發(fā)射器的調(diào)制的頻率和波長(zhǎng)下的信號(hào)通過(guò)。
      在一個(gè)最佳實(shí)施例中,發(fā)射器陣列25中的每個(gè)發(fā)射器60對(duì)應(yīng)于檢測(cè)器陣列30中相應(yīng)的檢測(cè)器80,因此形成了配對(duì)。每個(gè)檢測(cè)器80根據(jù)其配對(duì)中的相應(yīng)的發(fā)射器60發(fā)出的能量產(chǎn)生一個(gè)檢測(cè)器信號(hào)85(圖4中所示)。檢測(cè)器信號(hào)85是一個(gè)模擬信號(hào),代表由檢測(cè)器80檢測(cè)到的發(fā)出能量的幅度。在該最佳實(shí)施例中,在任何一個(gè)時(shí)間,只有一個(gè)配對(duì)被啟動(dòng),因此消除了發(fā)射器60之間交叉干擾。
      參照?qǐng)D4,控制器35包括微控制器90、存儲(chǔ)器95、嵌入開(kāi)關(guān)鎖存器100、檢測(cè)輸入鎖存器105、發(fā)射尋址鎖存器110、檢測(cè)尋址鎖存器115、I/O解碼器120、地址/數(shù)據(jù)總線125、檢測(cè)器放大器/濾波器130、信號(hào)調(diào)整器135、A/D轉(zhuǎn)換器140、發(fā)射器驅(qū)動(dòng)器145、檢測(cè)器驅(qū)動(dòng)器150、繼電器155和電源160。
      微控制器90是用來(lái)實(shí)現(xiàn)控制功能的部件。下面說(shuō)明本發(fā)明中射束檢測(cè)方法和弱射束檢測(cè)方法。存儲(chǔ)器95用來(lái)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和程序。地址/數(shù)據(jù)總線125提供微控制器90與存儲(chǔ)器95、嵌入開(kāi)關(guān)鎖存器100、檢測(cè)輸入鎖存器105、發(fā)射尋址鎖存器110、檢測(cè)尋址鎖存器115和I/O解碼器120之間的電連接。適合用作微控制器90的部件是商品化的Intel 80C31型微控制器。
      I/O解碼器120是這樣一種部件,它能夠使微控制器90向鎖存器部件100、105、110、115以及從這些鎖存器部件傳輸數(shù)據(jù)。例如,如果微控制器90需要來(lái)自檢測(cè)輸入鎖存器105的當(dāng)前數(shù)據(jù),I/O解碼器120就通過(guò)地址/數(shù)據(jù)總線輪詢檢測(cè)輸入鎖存器并檢索當(dāng)前數(shù)據(jù)。I/O解碼器120與嵌入開(kāi)關(guān)鎖存器100、檢測(cè)輸入鎖存器105、發(fā)射尋址鎖存器110、檢測(cè)尋址鎖存器115和微控制器90電連接。
      嵌入開(kāi)關(guān)鎖存器100提供了一個(gè)用戶接口,因此通過(guò)控制器35可以進(jìn)行嵌入開(kāi)關(guān)設(shè)置。例如,用戶通過(guò)選擇一種預(yù)定的嵌入開(kāi)關(guān)設(shè)置,可以選擇一特定的系統(tǒng)模式。一種這樣的系統(tǒng)模式是弱射束檢測(cè),并將在以下予以說(shuō)明。檢測(cè)輸入鎖存器105將來(lái)自檢測(cè)器陣列30的檢測(cè)器數(shù)據(jù)提供給微控制器90。發(fā)射尋址鎖存器110將來(lái)自微控制器90的發(fā)射器尋址數(shù)據(jù)提供給發(fā)射器驅(qū)動(dòng)器145。檢測(cè)尋址鎖存器115將來(lái)自微控制器90的檢測(cè)器尋址數(shù)據(jù)提供給檢測(cè)器驅(qū)動(dòng)器150。觸發(fā)器或寄存器如在本領(lǐng)域中已知的那樣適合用作鎖存器部件。
      發(fā)射器驅(qū)動(dòng)器145接收由微控制器90提供的發(fā)射器地址數(shù)據(jù),并啟動(dòng)發(fā)射器陣列25中的相應(yīng)的發(fā)射器60。同樣,檢測(cè)器驅(qū)動(dòng)器150接收由微控制器90提供的檢測(cè)器地址數(shù)據(jù),并啟動(dòng)檢測(cè)器陣列30中的相應(yīng)的檢測(cè)器80。在一個(gè)最佳實(shí)施例中,發(fā)射器驅(qū)動(dòng)器145和檢測(cè)器驅(qū)動(dòng)器150二者都由多路轉(zhuǎn)接器實(shí)現(xiàn),多路轉(zhuǎn)接器分別對(duì)發(fā)射器或檢測(cè)器地址數(shù)據(jù)作出響應(yīng),并啟動(dòng)相應(yīng)的發(fā)射器60或檢測(cè)器80。這種尋址技術(shù)在本領(lǐng)域中是已知的。采用這一安排,微控制器90可以啟動(dòng)發(fā)射器和檢測(cè)器陣列25、30中的配對(duì)。在一個(gè)最佳實(shí)施例中,微控制器90按照配對(duì)實(shí)際排列的次序,順序啟動(dòng)配對(duì)。然而,可以按任何所要求的次序啟動(dòng)配對(duì)。
      檢測(cè)器放大器/濾波器130對(duì)來(lái)自每個(gè)檢測(cè)器80的檢測(cè)器信號(hào)85接收、放大并濾波,因此它向信號(hào)調(diào)整器135提供一個(gè)經(jīng)放大/濾波的檢測(cè)器信號(hào)165。這一電路用來(lái)通過(guò)提供非線性放大補(bǔ)償發(fā)射強(qiáng)度和距離之間的非線性關(guān)系。檢測(cè)器/濾波器的一個(gè)最佳實(shí)施例示于圖5。
      信號(hào)調(diào)整器135是這樣一種電路,它提供濾波、放大和整流功能,并對(duì)經(jīng)放大/濾波的檢測(cè)器信號(hào)165作出響應(yīng),因此它向A/D轉(zhuǎn)換器140提供經(jīng)調(diào)整的檢測(cè)器信號(hào)170。這種類型的電路在本領(lǐng)域中是已知的,一個(gè)最佳實(shí)施例示于圖6。
      參照?qǐng)D7,圖中畫出了A/D轉(zhuǎn)換器140和檢測(cè)輸入鎖存器105的一個(gè)最佳實(shí)施例的示意圖。檢測(cè)輸入鎖存器105包括七個(gè)觸發(fā)器175。A/D轉(zhuǎn)換器140包括七個(gè)比較器180,每個(gè)具有經(jīng)調(diào)整的檢測(cè)器信號(hào)170和電壓分離點(diǎn)作為其輸入。每個(gè)電壓分離點(diǎn)由VR(電壓基準(zhǔn))信號(hào)和分壓器網(wǎng)絡(luò)上的位置確定。每個(gè)比較器180分別提供一個(gè)輸出信號(hào)185,它依賴于經(jīng)調(diào)整的檢測(cè)器信號(hào)170和電壓分離點(diǎn)。連接比較器180,如果經(jīng)調(diào)整的檢測(cè)器信號(hào)170的幅度大于在網(wǎng)絡(luò)的特定級(jí)上的電壓分離點(diǎn),那么在那級(jí)的比較器180將產(chǎn)生一個(gè)輸出信號(hào)185,該信號(hào)記錄相應(yīng)的觸發(fā)器175以產(chǎn)生數(shù)字檢測(cè)器信號(hào)190。微控制器90將多個(gè)數(shù)字檢測(cè)器信號(hào)190存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器95中。對(duì)一個(gè)特定的發(fā)射器60的多個(gè)數(shù)字檢測(cè)器信號(hào)190共同表示從零到七的一個(gè)整數(shù)值,并且以后稱為數(shù)字檢測(cè)器值。當(dāng)前啟動(dòng)的發(fā)射器60的數(shù)字檢測(cè)器值稱為當(dāng)前射束強(qiáng)度(“CBS”)。于是,這一電路結(jié)構(gòu)用來(lái)檢測(cè)每個(gè)發(fā)射器60的經(jīng)調(diào)整的檢測(cè)器信號(hào)170的峰值,并將它轉(zhuǎn)換成數(shù)字格式,因此微控制器90可將它存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器95中。
      再次參照?qǐng)D4,繼電器155與微控制器90和電梯系統(tǒng)的門控制器(未示出)相連,并且如果檢測(cè)到障礙物時(shí),用來(lái)向門控制器提供一個(gè)相反的門信號(hào)195。
      電源160用來(lái)向本發(fā)明的各部分提供電源,這在本領(lǐng)域中是已知的。
      在根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)最佳實(shí)施例中,控制器35按照弱射束檢測(cè)方法工作,確定對(duì)應(yīng)于發(fā)射器和檢測(cè)器陣列的配對(duì)的能量射束是否是“弱”的。通過(guò)提供檢測(cè)可能由故障設(shè)備引起的弱射束的能力,這一方法使得本發(fā)明改進(jìn)了對(duì)確定區(qū)域中例如電梯廂門口的障礙物的檢測(cè)。弱射束是這樣一種射束,它或者已經(jīng)變得被部分地阻礙,或者已經(jīng)變得弱了。當(dāng)某些物質(zhì)如灰塵遮擋發(fā)射器并使得發(fā)光量減小時(shí),射束變得部分地被阻礙。變?nèi)醯纳涫沁@樣一種射束,所發(fā)射的光強(qiáng)度與平均射束相比相當(dāng)弱。這兩種情況,部分地被阻礙的射束和變?nèi)醯纳涫?,?dǎo)致光強(qiáng)度下降或射束弱。如果檢測(cè)系統(tǒng)不能檢測(cè)弱射束,則可將弱射束理解為是一種障礙,因此電梯門將繼續(xù)打開(kāi),直到觸發(fā)引起注意(nudging)模式。當(dāng)經(jīng)過(guò)一段預(yù)定時(shí)間之后門依然打開(kāi),則觸發(fā)引起注意模式,并使得門以減小的速度和力矩關(guān)閉。一旦引起注意模式被觸發(fā),盡管有障礙物電梯門也將試圖關(guān)閉。于是,弱射束檢測(cè)也可以減少電梯門碰撞乘客的事故的數(shù)量,這在降低維護(hù)費(fèi)用的同時(shí)使得顧客更滿意了。弱射束檢測(cè)方法保存在存儲(chǔ)器95中,下面將說(shuō)明本發(fā)明的這一方法。
      圖8是在本發(fā)明中實(shí)施的弱射束方法的流程圖。該流程圖表示對(duì)發(fā)射器60和檢測(cè)器80一個(gè)配對(duì)所進(jìn)行的掃描。流程從標(biāo)以“開(kāi)始”的步驟200開(kāi)始,第一步驟205確定門是否充分打開(kāi)。為了確定門是否充分打開(kāi),微控制器90產(chǎn)生一個(gè)平均射束強(qiáng)度(“ABS”)。為了產(chǎn)生ABS,微控制器90確定非阻礙作用射束的數(shù)字檢測(cè)器值的和,并用非阻礙作用射束的個(gè)數(shù)去除該和。隨著門15、20的移動(dòng),ABS將改變。例如,當(dāng)門關(guān)閉邊緣45、50之間的距離增加時(shí),ABS將減小。小于整數(shù)值4的ABS代表充分打開(kāi)的門。如果門沒(méi)有充分打開(kāi),那么不執(zhí)行弱射束檢測(cè),因?yàn)槿绻l(fā)射器和檢測(cè)器相互靠近的話,弱射束可能看起來(lái)是正常的。選擇ABS的整數(shù)值4作為確定門是否充分打開(kāi)的最佳閾值。
      如果微控制器90在步驟205確定門沒(méi)有充分打開(kāi),那么微控制器90不利用弱射束檢測(cè);相反,微控制器90進(jìn)行到步驟245,并開(kāi)始對(duì)下一個(gè)射束進(jìn)行掃描。如果微控制器90確定門充分打開(kāi),那么微控制器90進(jìn)行到步驟210,確定射束是否受到阻礙。在根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)最佳實(shí)施例中,控制器35根據(jù)可變射束檢測(cè)方法操作,以便動(dòng)態(tài)控制能量射束的檢測(cè)閾值。可變射束檢測(cè)方法保存在存儲(chǔ)器95中。
      圖9是可變射束方法的流程圖。該流程圖表示對(duì)發(fā)射器60和檢測(cè)器80一個(gè)配對(duì)所進(jìn)行的掃描。流程從標(biāo)以“開(kāi)始”的步驟250開(kāi)始,第一步驟255產(chǎn)生平均射束強(qiáng)度ABS。為了產(chǎn)生ABS,微控制器90確定非阻礙作用射束的數(shù)字檢測(cè)器值的和,并用非阻礙作用射束的個(gè)數(shù)去除該和。小于整數(shù)值3的ABS代表門關(guān)閉邊緣45、50之間的距離大,這時(shí)可變射束檢測(cè)不是關(guān)鍵的,因?yàn)樵谶h(yuǎn)距離障礙物可以很容易地阻擋能量射束。
      執(zhí)行步驟260,確定為了檢測(cè)障礙物的存在是否應(yīng)將CBS與靜態(tài)或動(dòng)態(tài)閾值進(jìn)行比較。靜態(tài)檢測(cè)閾值是一個(gè)預(yù)定值,CBS與之進(jìn)行比較,檢測(cè)障礙物的存在。動(dòng)態(tài)檢測(cè)閾值是一個(gè)可變值,CBS與之進(jìn)行比較,檢測(cè)障礙物的存在。在步驟260,微控制器90將ABS與整數(shù)值3進(jìn)行比較。如果ABS不大于或不等于整數(shù)值3,那么本發(fā)明執(zhí)行靜態(tài)檢測(cè)閾值0。本發(fā)明執(zhí)行靜態(tài)檢測(cè)閾值的過(guò)程如下。在步驟265微控制器90確定CBS是否等于0。如果CBS等于0,那么微控制器90確定能量射束被阻礙,如步驟270所示。如果CBS不等于0,那么微控制器90確定能量射束未被阻礙,如步驟275所示。
      如果ABS大于或等于整數(shù)值3,那么本發(fā)明通過(guò)利用ABS減去整數(shù)值2的動(dòng)態(tài)檢測(cè)閾值執(zhí)行可變射束檢測(cè)。本發(fā)明執(zhí)行動(dòng)態(tài)檢測(cè)閾值的過(guò)程如下。在步驟280微控制器90確定CBS是否小于或等于ABS減去整數(shù)值2。如果CBS小于或等于ABS減去整數(shù)值2,那么微控制器90在步驟285確定當(dāng)前射束被阻礙。如果CBS不小于或不等于ABS減去整數(shù)值2,那么微控制器90在步驟290確定當(dāng)前射束未被阻礙。整數(shù)值2代表允許被忽略的偏離平均射束強(qiáng)度的小偏離量的預(yù)定范圍,以便避免檢測(cè)誤判為障礙物。因此,本發(fā)明確定CBS的偏移是否超出了ABS的預(yù)定范圍。在一個(gè)最佳實(shí)施例中,每100毫秒產(chǎn)生ABS,而每35毫秒產(chǎn)生CBS。因此每次對(duì)該配對(duì)進(jìn)行掃描期間,在步驟255不產(chǎn)生新的ABS。本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員應(yīng)懂得,在該最佳實(shí)施例中采用的整數(shù)值來(lái)源于本發(fā)明的一個(gè)具體的實(shí)施方案,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可以選擇其它的值。此外,上述可變射束檢測(cè)方法僅僅是檢測(cè)障礙物的一個(gè)具體的實(shí)施方案,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可以采用其它方法。例如,可以采用僅利用靜態(tài)檢測(cè)閾值0的障礙物檢測(cè)方法。
      再次參照?qǐng)D8,如果微控制器90確定射束受到阻礙,那么在步驟215使該特定射束的弱射束計(jì)時(shí)器的計(jì)時(shí)增加。弱射束計(jì)時(shí)器由存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器95中的程序?qū)崿F(xiàn)。每個(gè)射束具有相關(guān)的弱射束計(jì)時(shí)器,它用來(lái)確定射束受到阻礙的時(shí)間有多長(zhǎng)。如在下面將要說(shuō)明的,每個(gè)計(jì)時(shí)器只在門充分打開(kāi)時(shí)才增加其計(jì)時(shí)。在步驟220,微控制器90確定弱射束計(jì)時(shí)器的值是否大于80秒。如果弱射束計(jì)時(shí)器的值不大于80秒,那么微控制器90返回到步驟205對(duì)下一個(gè)射束進(jìn)行掃描。如果弱射束計(jì)時(shí)器的值大于80秒,那么在步驟225射束被記為弱射束。一旦射束被記為弱射束,便由障礙物檢測(cè)系統(tǒng)確定為不起作用,并在其后的障礙物檢測(cè)中不予考慮。這避免了障礙物探測(cè)系統(tǒng)把弱射束當(dāng)作障礙物。通過(guò)使系統(tǒng)從故障部件或從射束的部分阻礙中恢復(fù),獲得了更耐用的障礙物探測(cè)系統(tǒng)。
      返回步驟210,如果射束未被阻礙,那么微控制器90進(jìn)行到步驟230,確定該射束當(dāng)前是否被記為弱射束。如果該射束當(dāng)前被記為弱射束,那么微控制器90在步驟235將該射束記為“正?!薄H缓笪⒖刂破?0進(jìn)行到步驟240,將該射束計(jì)時(shí)器復(fù)位為0。如果該射束不被記為弱射束,那么微控制器90進(jìn)行到步驟240,將該射束計(jì)時(shí)器復(fù)位為0。
      以下是弱射束檢測(cè)的一個(gè)例子。為了對(duì)該例進(jìn)行說(shuō)明,假定第三射束是弱射束。當(dāng)門充分打開(kāi)時(shí),第三射束的弱射束計(jì)時(shí)器啟動(dòng)。門保持開(kāi)啟達(dá)20秒,這是典型的引起注意時(shí)間,因?yàn)榈谌涫@示出有一個(gè)明顯的障礙物。當(dāng)門采用引起注意模式關(guān)閉時(shí),計(jì)時(shí)器暫停,因?yàn)殚T沒(méi)有處于充分打開(kāi)狀態(tài)。這時(shí),第三射束在其弱射束計(jì)時(shí)器上具有20秒的計(jì)數(shù)。在電梯下一次停止時(shí),門打開(kāi),第三射束的弱射束計(jì)時(shí)器恢復(fù)計(jì)時(shí)。這一方式一直繼續(xù)下去,直到弱射束計(jì)時(shí)器達(dá)到80秒,在這一點(diǎn)上射束被認(rèn)為是弱射束,并從掃描中去除。若是在門充分打開(kāi)的任何時(shí)間,該射束都應(yīng)連通的話,射束將會(huì)恢復(fù)上述原狀。
      這樣,本發(fā)明提供通過(guò)提供檢測(cè)可能由故障設(shè)備引起的弱射束的能力,改進(jìn)了對(duì)確定區(qū)域中例如電梯廂門口的障礙物的檢測(cè)。對(duì)弱射束的檢測(cè)使系統(tǒng)能夠補(bǔ)償并減少電梯門碰撞乘客的事故的數(shù)量,這在降低維護(hù)費(fèi)用的同時(shí)使得顧客更滿意了。
      雖然針對(duì)本發(fā)明的最佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作了展示和說(shuō)明,但是本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員應(yīng)懂得,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可對(duì)本發(fā)明的形式和細(xì)節(jié)做各種其它的變化、省略和添加。
      權(quán)利要求
      1.一種用于檢測(cè)電梯門口中的障礙物的裝置,所述裝置包括a.多個(gè)用于發(fā)出能量射束的發(fā)射器,所述多個(gè)發(fā)射器放在第一電梯門的附近;b.多個(gè)用于檢測(cè)由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的能量射束的檢測(cè)器,所述多個(gè)檢測(cè)器放在第二電梯門的附近;以及c.確定由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的射束是否弱的裝置。
      2.權(quán)利要求1所述的裝置,其中所述裝置對(duì)由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的每個(gè)射束提供弱射束計(jì)時(shí)器。
      3.權(quán)利要求1所述的裝置,其中由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的能量射束是光束。
      4.一種用于檢測(cè)弱射束的弱射束檢測(cè)裝置,所述裝置包括a.多個(gè)用于發(fā)出能量射束的發(fā)射器;b.多個(gè)用于檢測(cè)由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的能量射束的檢測(cè)器;以及c.確定由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的射束是否弱的裝置。
      5.權(quán)利要求4所述的弱射束檢測(cè)裝置,其中所述裝置對(duì)由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的每個(gè)射束提供弱射束計(jì)時(shí)器。
      6.權(quán)利要求4所述的弱射束檢測(cè)裝置,其中由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的能量射束是光束。
      7.在一種射束檢測(cè)系統(tǒng)中確定能量射束是否是弱射束的裝置,該種系統(tǒng)包括發(fā)出能量射束的發(fā)射器和檢測(cè)由該發(fā)射器發(fā)出的能量的檢測(cè)器,其中所述裝置包括確定由該發(fā)射器發(fā)出的能量射束是否是弱射束的控制器。
      8.權(quán)利要求7所述的裝置,其中所述控制器對(duì)由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的每個(gè)射束提供弱射束計(jì)時(shí)器。
      9.權(quán)利要求7所述的裝置,其中由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的能量射束是光束。
      10.一種弱射束檢測(cè)方法包括以下步驟a.發(fā)出多個(gè)能量射束;b.檢測(cè)多個(gè)能量射束;c.確定多個(gè)能量射束中的一個(gè)能量射束是否是弱射束。
      11.權(quán)利要求10所述的弱射束檢測(cè)方法,其中所述確定步驟包括對(duì)在所述發(fā)射步驟中發(fā)出的多個(gè)射束的每個(gè)射束提供弱射束計(jì)時(shí)器。
      12.權(quán)利要求10所述的弱射束檢測(cè)方法,其中所述方法進(jìn)一步包括確定弱射束不起作用的步驟。
      13.權(quán)利要求10所述的弱射束檢測(cè)方法,其中障礙物探測(cè)系統(tǒng)采用所述方法檢測(cè)一個(gè)確定區(qū)域中的障礙物。
      全文摘要
      在射束檢測(cè)系統(tǒng)中一種用于檢測(cè)弱射束的裝置包括多個(gè)用于發(fā)出能量射束的發(fā)射器,多個(gè)根據(jù)由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的能量射束提供檢測(cè)器信號(hào)的檢測(cè)器,以及確定由所述多個(gè)發(fā)射器發(fā)出的射束是否弱的裝置。如果檢測(cè)到弱射束,那么由障礙物檢測(cè)系統(tǒng)確定該射束無(wú)效,并且在其后的障礙物檢測(cè)中不考慮該射束。
      文檔編號(hào)B66B13/26GK1132177SQ9511810
      公開(kāi)日1996年10月2日 申請(qǐng)日期1995年10月24日 優(yōu)先權(quán)日1994年10月25日
      發(fā)明者B·J·阿門德 申請(qǐng)人:奧蒂斯電梯公司
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