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      一種制備柔性azo薄膜的方法

      文檔序號:9723159閱讀:558來源:國知局
      一種制備柔性azo薄膜的方法
      【技術領域】
      [0001]本發(fā)明涉及真空鍍膜技術領域,具體是一種制備柔性AZO薄膜的方法。
      【背景技術】
      [0002]AZO薄膜是一種透明導電薄膜,在適當的摻雜濃度下,表現出良好的透明導電特性,被認為是最有可能替代ITO薄膜的材料。近年來,以柔性有機聚合物為襯底代替?zhèn)鹘y(tǒng)的玻璃基片制備AZO透明導電薄膜,具有質量輕、可折疊、不易碎、便于運輸、費用低廉以及易于大面積生產等優(yōu)點,在光電子器件、液晶顯示、太陽能電池及電磁屏蔽等領域具有廣闊的應用前景。
      [0003]但是,采用傳統(tǒng)的磁控濺射裝置進行AZO薄膜的制備時,基片襯底與靶材相對設置,在濺射時,靶材上的高能粒子會對沉積薄膜產生離子損傷,并且高能粒子轟擊會引起基底變熱,尤其在柔性材料上沉積薄膜時,會導致柔性襯底變形,影響薄膜質量。

      【發(fā)明內容】

      [0004]本發(fā)明的目的在于提供一種制備柔性AZO薄膜的方法,該方法能夠避免在濺射時對沉積薄膜造成離子損傷,并確保柔性襯底不會損傷,保證薄膜質量。
      [0005]本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是:
      一種制備柔性AZO薄膜的方法,包括以下步驟:
      a)將磁控濺射裝置的AZO靶材設為兩個,兩個AZO靶材上下相對設置,磁控濺射裝置內還設有在兩個AZO靶材之間形成磁場的磁體,磁場方向與靶材垂直;
      b)將柔性襯底設置于兩個AZO靶材的外側,使柔性襯底與靶材垂直;
      c)對柔性襯底進行預濺射;
      d)將磁控濺射裝置的功率設為200?300W,以1.76?2.65W/cm2的功率密度對柔性襯底進行濺射,使柔性襯底上生長一層厚度為50?SOnm的底層AZO薄膜;
      e)將磁控濺射裝置的功率調整為400?600W,以4.06?5.30W/cm2的功率密度對柔性襯底進行濺射,使柔性襯底在底層AZO薄膜的基礎上再生長一層厚度為270?300nm的AZO薄膜。
      [0006]進一步的,兩個靶材的間距為70mm。
      [0007]進一步的,所述柔性襯底與兩個靶材中心線之間的距離為65mm。
      [0008]本發(fā)明的有益效果是,采用兩個相對設置的靶材,將柔性襯底垂直地設于兩個靶材的外側,在濺射過程中,二次電子飛出靶面后,被靶材陰極的電場加速,電子受磁場束縛向陽極運動,并被有效的封閉在兩個靶材之間作洛侖茲運動,形成柱狀等離子體,最終沉積在柔性襯底上。由于該電子的能量很低,傳遞給柔性襯底的能量很小,致使柔性襯底溫升較低并且使得薄膜有效避免了離子損傷。先使用低功率濺射,可以減少對柔性襯底的熱輻射,同時影響成膜速率,晶粒尺寸和結晶度,形成結晶性較低的納米晶,之后增大生長功率,濺射粒子能量較大,容易吸附在襯底表面,具有較高的迀移率,容易結晶長大,且底層薄膜會借助高能量生長,兩層的結合力較大,薄膜致密性好。并且由于柔性襯底與靶材相垂直位置,使得薄膜是由靶材離子散射和熱分解沉積得到,因此薄膜在室溫中沉積,避免柔性襯底在傳統(tǒng)磁控濺射過程中燒糊,變形等損壞。
      【附圖說明】
      [0009]下面結合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明:
      圖1是本發(fā)明的原理不意圖;
      圖2是本發(fā)明的流程示意圖。
      【具體實施方式】
      [0010]實施例一
      結合圖1與圖2所示,本發(fā)明提供一種制備柔性AZO薄膜的方法,包括以下步驟:
      a)將磁控濺射裝置的AZO靶材設為兩個,即上AZO靶材Ia與下AZO靶材Ib,兩個靶材上下相對設置,并通過銅導體3相連;上靶材Ia的上部設有第一磁體N,下靶材Ib的下部設有第二磁體S,第一磁體N與第二磁體S在兩個靶材之間形成磁場,磁場方向與靶材垂直;作為優(yōu)選的,兩個靶材的間距dl為70mm;
      b)將柔性襯底5設置于兩個AZO靶材的外側,采用厚度為0.8mm的PET作為柔性襯底,使柔性襯底5與靶材垂直,可采用基片架裝載一組柔性襯底;作為優(yōu)選的,柔性襯底5與兩個靶材中心線之間的距離d2為65mm;
      c)對柔性襯底5進行預濺射,可采用常規(guī)工藝進行預濺射;
      d)將磁控濺射裝置通入30sccm的氬氣,工作壓強0.3Pa,功率設為200W,以1.76ff/cm2的功率密度對柔性襯底5進行濺射,沉積時間5min,使柔性襯底5上生長一層厚度為50nm的底層AZO薄膜;
      e)將磁控濺射裝置的功率增加到400W,以4.06W/cm2的功率密度對柔性襯底進行濺射,沉積時間13min,使柔性襯底在底層AZO薄膜的基礎上再生長一層厚度為270nm的AZO薄膜,得到最終的ΑΖ0\ΡΕΤ薄膜。
      [0011 ] 將上述得到的ΑΖ0/ΡΕΤ薄膜分別進行透過率測試、電阻率測試與XRD測試,可見光平均透過率為83.6%,電阻率為7.2*10—3 Ω.011,乂1?圖譜表明420^^1'薄膜在20=34.4°出現微弱衍射峰,對應六角纖鋅礦ZnO結構(002)衍射峰。
      [0012]實施例二
      本實施例的步驟a?c與實施例一相同,步驟
      d)將磁控濺射裝置通入30sccm的氬氣,工作壓強0.3Pa,功率設為250W,以2.21W/cm2的功率密度對柔性襯底5進行濺射,沉積時間4min,使柔性襯底5上生長一層厚度為65nm的底層AZO薄膜;
      e)將磁控濺射裝置的功率增加到500W,以4.42W/cm2的功率密度對柔性襯底進行濺射,沉積時間I Imin,使柔性襯底在底層AZO薄膜的基礎上再生長一層厚度為280nm的AZO薄膜,得到最終的ΑΖ0\ΡΕΤ薄膜。
      [0013]將上述得到的ΑΖ0/ΡΕΤ薄膜分別進行透過率測試、電阻率測試與XRD測試,可見光平均透過率為83%,電阻率為5.7*10—3 Ω.011,乂^)圖譜表明420^^1'薄膜在20=34.4°出現衍射峰,對應六角纖鋅礦ZnO結構(002)衍射峰。
      [0014]實施例三
      本實施例的步驟a?c與實施例一相同,步驟
      d)將磁控濺射裝置通入30sccm的氬氣,工作壓強0.3Pa,功率設為300W,以2.65ff/cm2的功率密度對柔性襯底5進行濺射,沉積時間4min,使柔性襯底5上生長一層厚度為80nm的底層AZO薄膜;
      e)將磁控濺射裝置的功率增加到600W,以5.30W/cm2的功率密度對柔性襯底進行濺射,沉積時間1min,使柔性襯底在底層AZO薄膜的基礎上再生長一層厚度為300nm的AZO薄膜,得到最終的ΑΖ0\ΡΕΤ薄膜。
      [0015]將上述得到的ΑΖ0/ΡΕΤ薄膜分別進行透過率測試、電阻率測試與XRD測試,可見光平均透過率為82.7%,電阻率為4.8*10—3 Ω.011,乂1?圖譜表明420^^1'薄膜在20=34.4°出現衍射峰,對應六角纖鋅礦ZnO結構(002)衍射峰。
      [0016]采用兩個相對設置的靶材,將柔性襯底垂直地設于兩個靶材的外側,在濺射過程中,二次電子飛出靶面后,被靶材陰極的電場加速,電子受磁場束縛向陽極6運動,并被有效的封閉在兩個靶材之間作洛侖茲運動,形成柱狀等離子體4,最終沉積在柔性襯底上。由于該電子的能量很低,傳遞給柔性襯底的能量很小,致使柔性襯底溫升較低并且使得薄膜有效避免了離子損傷。先使用低功率濺射,可以減少對柔性襯底的熱輻射,同時影響成膜速率,晶粒尺寸和結晶度,形成結晶性較低的納米晶,之后增大生長功率,濺射粒子能量較大,容易吸附在襯底表面,具有較高的迀移率,容易結晶長大,且底層薄膜會借助高能量生長,兩層的結合力較大,薄膜致密性好。并且由于柔性襯底與靶材相垂直位置,使得薄膜是由靶材離子散射和熱分解沉積得到,因此薄膜在室溫中沉積,避免柔性襯底在傳統(tǒng)磁控濺射過程中燒糊,變形等損壞。
      [0017]以上所述,僅是本發(fā)明的較佳實施例而已,并非對本發(fā)明作任何形式上的限制;任何熟悉本領域的技術人員,在不脫離本發(fā)明技術方案范圍情況下,都可利用上述揭示的方法和技術內容對本發(fā)明技術方案做出許多可能的變動和修飾,或修改為等同變化的等效實施例。因此,凡是未脫離本發(fā)明技術方案的內容,依據本發(fā)明的技術實質對以上實施例所做的任何簡單修改、等同替換、等效變化及修飾,均仍屬于本發(fā)明技術方案保護的范圍內。
      【主權項】
      1.一種制備柔性AZO薄膜的方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟: a)將磁控濺射裝置的AZO靶材設為兩個,兩個AZO靶材上下相對設置,磁控濺射裝置內還設有在兩個AZO靶材之間形成磁場的磁體,磁場方向與靶材垂直; b)將柔性襯底設置于兩個AZO靶材的外側,使柔性襯底與靶材垂直; c)對柔性襯底進行預濺射; d)將磁控濺射裝置的功率設為200?300W,以1.76?2.65W/cm2的功率密度對柔性襯底進行濺射,使柔性襯底上生長一層厚度為50?SOnm的底層AZO薄膜; e)將磁控濺射裝置的功率調整為400?600W,以3.52?5.30W/cm2的功率密度對柔性襯底進行濺射,使柔性襯底在底層AZO薄膜基礎上再生長一層厚度為270?300nm的AZO薄膜。2.根據權利要求1所述的一種制備柔性AZO薄膜的方法,其特征在于,兩個靶材的間距為70mm.3.根據權利要求1或2所述的一種制備柔性AZO薄膜的方法,其特征在于,所述柔性襯底到兩個靶材的中心線距離為65mm。
      【專利摘要】本發(fā)明公開一種制備柔性AZO薄膜的方法,包括以下步驟:a)?將磁控濺射裝置的AZO靶材設為兩個,并上下相對設置,磁控濺射裝置內還設有在AZO靶材之間形成磁場的磁體,磁場方向與靶材垂直;b)將柔性襯底設置于兩個靶材的外側,使柔性襯底與靶材垂直;c)對柔性襯底進行預濺射;d)對柔性襯底進行濺射沉積底層AZO薄膜;e)?在底層AZO薄膜基礎上再濺射沉積AZO薄膜;濺射過程中,二次電子飛出靶面后,被有效的封閉在兩個靶之間作洛侖茲運動,形成柱狀等離子體,最終沉積在柔性襯底上;由于電子能量很低,柔性襯底溫升較低并且使得薄膜有效避免了離子損傷,同時,薄膜在室溫中沉積,避免柔性襯底在傳統(tǒng)磁控濺射過程中燒糊,變形等損壞,保證薄膜質量。
      【IPC分類】C23C14/35
      【公開號】CN105483630
      【申請?zhí)枴緾N201510876503
      【發(fā)明人】彭壽, 姚婷婷, 鐘汝梅, 楊勇, 張寬翔, 蔣繼文, 曹欣, 徐根保
      【申請人】凱盛光伏材料有限公司, 中國建筑材料科學研究總院, 蚌埠玻璃工業(yè)設計研究院
      【公開日】2016年4月13日
      【申請日】2015年12月3日
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