用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明屬于光譜分析裝置技術領域，具體涉及一種用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺。
【背景技術】
[0002]在光譜分析時，通常都是在光譜分析儀采光位置固定不變的情況下進行的，因此為了保證光譜分析的可靠性和精度，需要保證光譜分析儀的采光高度與樣品表面位置的一致性(即保證光譜分析儀采光位置和待測樣品表面之間的距離一致)，但是由于樣品的大小形狀不可能完全相同，所以很難保證每次光譜分析時光譜分析儀的采光高度與樣品表面位置相一致。
[0003]此外，光譜分析儀采光位置固定不變，且樣品通常放置于密閉環(huán)境中，一次放置一塊樣品進行分析，無法對多種小樣品進行采集和分析，分析速度慢，分析效率低。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術的不足，提供一種用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺。
[0005]本發(fā)明是通過以下技術方案實現(xiàn)的:
[0006]—種用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺，包括第一平臺、第二平臺、第三平臺，
[0007]所述第一平臺的底面通過第一滑軌和第一絲杠副與第二平臺的上面相連接；
[0008]所述第二平臺的底面通過第二滑軌和第二絲杠副與第三平臺的上面相連接;且第一滑軌和第二滑軌相互垂直設置；
[0009]第一平臺上設置有多個用于裝卡光譜分析樣品的樣品放置夾具，所述樣品放置夾具成點陣等間距的分布在第一平臺上;所述樣品放置夾具由上套筒、下套筒、彈簧和頂緊平臺組成，其中上套筒的筒頂面設置有一圈凸臺，上套筒和下套筒通過螺紋同軸連接，所述彈簧的一端固定在下套筒的底面上，彈簧的另一端與頂緊平臺固定。
[0010]在上述技術方案中，第一絲杠副包括通過軸承座固定在第二平臺上的第一絲杠，以及與第一平臺底面連接的第一絲杠螺母，第一絲杠與第一步進電機連接。
[0011]在上述技術方案中，第二絲杠副包括通過軸承座固定在第三平臺上的第二絲杠，以及與第二平臺底面連接的第二絲杠螺母，第二絲杠與第二步進電機連接。
[0012]在上述技術方案中，所述下套筒的底面固定在第一平臺上。
[0013]在上述技術方案中，所述樣品放置夾具的上套筒的內壁設置有內螺紋，下套筒的外壁設置有與上套筒相配合的外螺紋。
[0014]本發(fā)明的優(yōu)點和有益效果為:
[0015]本發(fā)明設置有可沿X、Y方向移動的平臺結構，并在該平臺上設置有多個成點陣等間距分布的用于裝卡光譜分析樣品的樣品放置夾具，樣品放置夾具可分別裝卡相同或者不同的待測樣品，通過控制平臺在Χ、Υ方向上平移可以方便地切換待測樣品，從而實現(xiàn)一次性對多種或者多個同種樣品的快速高效光譜分析。同時，通過樣品放置夾具保證了光譜分析樣品上表面的高度是固定的，從而保證了光譜分析儀的采光高度與樣品表面位置的一致性。
【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明的結構示意圖。
[0017]圖2是本發(fā)明中的樣品放置夾具的結構示意圖。
[0018]其中:I為第一平臺，2為第二平臺，2-1為第一滑軌，2-2為第一絲杠副，3為第三平臺，3-1為第二滑軌，3-2為第二絲杠副，4為樣品放置夾具，4-1為上套筒，4-2為下套筒，4-3為彈簧，4-4為頂緊平臺，4-5為凸臺。
【具體實施方式】
[0019]下面結合具體實施例進一步說明本發(fā)明的技術方案。
[0020]本發(fā)明所涉及的一種用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺，包括第一平臺1、第二平臺2、第三平臺3，
[0021]所述第一平臺I的底面通過第一滑軌2-1和第一絲杠副2-2與第二平臺2的上面相連接，第一絲杠副2-2包括通過軸承座固定在第二平臺上的第一絲杠，以及與第一平臺I底面連接的第一絲杠螺母，第一絲杠與第一步進電機連接，第一步進電機通過驅動第一絲杠副可以帶動第一平臺I在第二平臺的滑軌上平移；
[0022]所述第二平臺2的底面通過第二滑軌3-1和第二絲杠副3-2與第三平臺3的上面相連接，第二絲杠副3-2包括通過軸承座固定在第三平臺上的第二絲杠，以及與第二平臺底面連接的第二絲杠螺母，第二絲杠與第二步進電機連接，第二步進電機通過驅動第二絲杠副可以帶動第二平臺2在第三平臺的滑軌上平移;所述第一滑軌2-1和第二滑軌3-1相互垂直設置，以使第一平臺可以沿X軸和Y軸移動。
[0023]第一平臺I上設置有多個用于裝卡光譜分析樣品的樣品放置夾具4，所述樣品放置夾具4成點陣等間距的分布在第一平臺I上；如圖2所示，所述樣品放置夾具4由上套筒4-1、下套筒4-2、彈簧4-3和頂緊平臺4-4組成，其中上套筒4-1的筒頂面設置有一圈凸臺4-5，上套筒4-1和下套筒4-2通過螺紋同軸連接(S卩上套筒4-1的內壁設置有內螺紋，下套筒4-2的外壁設置有與上套筒4-1相配合的外螺紋)，下套筒4-2設置有底面，所述彈簧4-3的一端固定在下套筒4-2的底面上，彈簧4-3的另一端與頂緊平臺4-4固定;下套筒4-2的底面固定在第一平臺I上。當對光譜分析樣品進行裝卡時，首先旋出上套筒4-1，然后將光譜分析樣品(光譜分析樣品預先加工成小于套筒筒徑但大于凸臺內徑的圓柱形或圓形薄片)裝入下套筒4-2中，然后將上套筒4-1旋入下套筒4-2，由于下套筒4-2的底面設置有彈簧，所以光譜分析樣品會在彈簧的作用下被頂緊平臺4-4和套筒4-1的凸臺上下夾緊固定；由于上套筒4-1和下套筒4-2通過螺紋同軸連接后的總高度是固定的，所以保證了光譜分析樣品上表面的高度是固定的，從而保證了光譜分析儀的采光高度與樣品表面位置的一致性。
[0024]以上對本發(fā)明做了示例性的描述，應該說明的是，在不脫離本發(fā)明的核心的情況下，任何簡單的變形、修改或者其他本領域技術人員能夠不花費創(chuàng)造性勞動的等同替換均落入本發(fā)明的保護范圍。
【主權項】
1.一種用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺，其特征在于:包括第一平臺、第二平臺、第三平臺和樣品放置夾具， 所述第一平臺的底面通過第一滑軌和第一絲杠副與第二平臺的上面相連接； 所述第二平臺的底面通過第二滑軌和第二絲杠副與第三平臺的上面相連接;且第一滑軌和第二滑軌相互垂直設置； 第一平臺上設置有多個用于裝卡光譜分析樣品的樣品放置夾具，所述樣品放置夾具成點陣等間距的分布在第一平臺上;所述樣品放置夾具由上套筒、下套筒、彈簧和頂緊平臺組成，其中上套筒的筒頂面設置有一圈凸臺，上套筒和下套筒通過螺紋同軸連接，所述彈簧的一端固定在下套筒的底面上，彈簧的另一端與頂緊平臺固定。2.根據(jù)權利要求1所述的用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺，其特征在于:第一絲杠副包括通過軸承座固定在第二平臺上的第一絲杠，以及與第一平臺底面連接的第一絲杠螺母，第一絲杠與第一步進電機連接。3.根據(jù)權利要求1所述的用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺，其特征在于:第二絲杠副包括通過軸承座固定在第三平臺上的第二絲杠，以及與第二平臺底面連接的第二絲杠螺母，第二絲杠與第二步進電機連接。4.根據(jù)權利要求1所述的用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺，其特征在于:所述下套筒的底面固定在第一平臺上。5.根據(jù)權利要求1所述的用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺，其特征在于:所述樣品放置夾具的上套筒的內壁設置有內螺紋，下套筒的外壁設置有與上套筒相配合的外螺紋。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于光譜分析的點陣式定位檢測平臺，包括第一平臺、第二平臺、第三平臺，所述第一平臺的底面通過第一滑軌和第一絲杠副與第二平臺的上面相連接；所述第二平臺的底面通過第二滑軌和第二絲杠副與第三平臺的上面相連接；且第一滑軌和第二滑軌相互垂直設置；第一平臺上設置有多個用于裝卡光譜分析樣品的樣品放置夾具，所述樣品放置夾具成點陣等間距的分布在第一平臺上；所述樣品放置夾具由上套筒、下套筒、彈簧和頂緊平臺組成，其中上套筒的筒頂面設置有一圈凸臺，上套筒和下套筒通過螺紋同軸連接，所述彈簧的一端固定在下套筒的底面上，彈簧的另一端與頂緊平臺固定。
【IPC分類】G01N21/01
【公開號】CN105651698
【申請?zhí)枴?br>【發(fā)明人】馬增
【申請人】天津速倫科技有限公司
【公開日】2016年6月8日
【申請日】2015年12月30日