一種顯示面板測試電路、顯示面板及其測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種顯示面板測試電路、顯示面板及其測試方法，其中，顯示面板測試電路包括：多條與柵線一一對應(yīng)的柵極測試線；各柵極測試線的輸出端與對應(yīng)的柵線相連，各柵極測試線的輸入端相互短接；且各柵極測試線的延伸方向與柵線一致；柵極測試線，用于在測試時向連接的柵線輸入柵極測試信號。本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測試電路，節(jié)省了大量的測試模塊和檢測探針，并且各柵極測試線相互短接，對各柵極測試線輸入一個相同的柵極測試信號即可，可以防止信號衰減，并且能夠使顯示面板迅速點(diǎn)亮，替代了輸入多個測試信號進(jìn)行行掃描的測試方式，減少了顯示面板點(diǎn)亮的時間，即減少了測試時間。
【專利說明】
一種顯示面板測試電路、顯示面板及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤指一種顯示面板測試電路、顯示面板及其測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid CrystalDisplay，TFT-LCD)生產(chǎn)過程中包括:將制作好的陣列基板和彩膜基板利用封框膠貼合在一起，形成一個完整的顯示面板，然后利用檢測電路對顯示面板進(jìn)行檢測。
[0003]在對液晶盒(Cell)進(jìn)行檢測時，需要使用測試模塊(block)進(jìn)行測試，測試模塊通過檢測探針接觸(Block Pin Contact)方式對顯示面板連接(Lead)區(qū)的信號線加載信號，檢測探針(Block Pin)與連接區(qū)中的信號線一一對應(yīng)，相鄰的檢測探針之間以及相鄰的信號線之間的距離為38-40um。由于引腳間距(Lead Pitch)極小，檢測探針接觸時容易發(fā)生偏移、劃傷等，由于檢測探針自身尺寸過小亦容易損壞，發(fā)生偏移會導(dǎo)致檢測探針沒有與連接線對應(yīng)連接(Pin Miss)，嚴(yán)重影響液晶盒的檢測效果。
[0004]對于柵線方向的信號輸入，小尺寸的顯示面板可以采用柵極驅(qū)動集成在陣列基板(Gate On Array，G0A)技術(shù)，但對于大尺寸的顯示面板(大于等于65inch)，柵極信號線較多，并且由于面板尺寸大，信號衰減嚴(yán)重，無法使用GOA方式，因此，對大尺寸顯示面板柵線方向輸入信號時，更容易產(chǎn)生檢測探針和信號線之間接觸不良(Pin Miss)、劃傷信號線或者損壞檢測探針，嚴(yán)重影響顯示面板測試效果和產(chǎn)品良率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示面板測試電路、顯示面板及其測試方法，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的對大尺寸顯示面板柵線方向輸入信號時，容易產(chǎn)生檢測探針和信號線之間接觸不良、劃傷信號線或者損壞檢測探針的問題。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示面板測試電路，包括:多條與柵線一一對應(yīng)的柵極測試線；
[0007]各所述柵極測試線的輸出端與對應(yīng)的所述柵線相連，各所述柵極測試線的輸入端相互短接;且各所述柵極測試線的延伸方向與所述柵線一致；
[0008]所述柵極測試線，用于在測試時向連接的柵線輸入柵極測試信號。
[0009]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，各所述柵極測試線的輸入端通過第一短路條相互短接，所述第一短路條的延伸方向與各所述柵極測試線的延伸方向相互交叉。
[0010]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，各所述柵極測試線分為多組，屬于同一組的各所述柵極測試線通過第一短路條相互短接，各組所述柵極測試線之間通過連接導(dǎo)線相連。
[0011]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，還包括:設(shè)置于所述第一短路條和所述柵極測試線的輸出端之間的第一定位標(biāo)記。
[0012]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，還包括:多條與數(shù)據(jù)線一一對應(yīng)連接的數(shù)據(jù)測試線；
[0013]所述數(shù)據(jù)測試線的延伸方向與所述數(shù)據(jù)線一致；
[0014]各所述數(shù)據(jù)測試線的輸出端與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線相連；
[0015]所述數(shù)據(jù)測試線，用于在測試時向連接的數(shù)據(jù)線輸入數(shù)據(jù)測試信號。
[0016]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，還包括:至少一條柵極測試引線；
[0017]各所述柵極測試引線的輸出端與所述柵極測試線的延伸方向一致且并排設(shè)置，且與所述柵極測試線的輸入端相互短接；
[0018]各所述柵極測試引線的輸入端與所述數(shù)據(jù)測試線的輸入端的延伸方向一致且并排設(shè)置。
[0019]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，還包括:多個與所述柵極測試引線一一對應(yīng)的柵極測試墊；
[0020]所述柵極測試墊與對應(yīng)所述柵極測試引線的輸入端相連。
[0021]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，各所述數(shù)據(jù)測試線分為至少一組，屬于同一組的各所述數(shù)據(jù)測試線通過第二短路條相互短接。
[0022]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，還包括:與所述第二短路條一一對應(yīng)連接的數(shù)據(jù)測試墊。
[0023]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路中，還包括:設(shè)置于所述第二短路條和所述數(shù)據(jù)測試線的輸出端之間，同時位于各所述柵極測試墊和所述柵極測試引線之間的第二定位標(biāo)記。
[0024]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示面板，包括:上述顯示面板測試電路。
[0025]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種上述顯示面板的測試方法，包括:
[0026]在測試時，向柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號；
[0027]在測試結(jié)束后，將相互短接的各所述柵極測試線的輸入端和輸出端斷開。
[0028]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板的測試方法中，在向所述柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號的同時，向數(shù)據(jù)測試線的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號。
[0029]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板的測試方法中，在向所述柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號的同時，向數(shù)據(jù)測試線的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號，具體包括:
[0030]通過柵極測試墊向所述柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號，同時通過數(shù)據(jù)測試墊向所述數(shù)據(jù)測試線的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號。
[0031]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板的測試方法中，將相互短接的各所述柵極測試線的輸入端和輸出端斷開，具體包括:
[0032]根據(jù)第一定位標(biāo)記的位置，將第一短路條和所述柵極測試線的輸出端斷開。
[0033]在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板的測試方法中，還包括:
[0034]根據(jù)第二定位標(biāo)記的位置，將第二短路條和所述數(shù)據(jù)測試線的輸出端斷開，同時將各柵極測試墊和柵極測試引線斷開。
[0035]本發(fā)明有益效果如下:
[0036]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示面板測試電路、顯示面板及其測試方法，其中，顯示面板測試電路包括:多條與柵線一一對應(yīng)的柵極測試線；各柵極測試線的輸出端與對應(yīng)的柵線相連，各柵極測試線的輸入端相互短接;且各柵極測試線的延伸方向與柵線一致;柵極測試線，用于在測試時向連接的柵線輸入柵極測試信號。本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測試電路，通過將各柵極測試線的輸入端相互短接，在測試時，可以僅對其中的一條柵極測試線輸入柵極測試信號，節(jié)省了大量的測試模塊和檢測探針，并且各柵極測試線相互短接，對各柵極測試線輸入一個相同的柵極測試信號即可，可以防止信號衰減，并且能夠使顯示面板迅速點(diǎn)亮，替代了輸入多個測試信號進(jìn)行行掃描的測試方式，減少了顯示面板點(diǎn)亮的時間，即減少了測試時間。
【附圖說明】
[0037]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖之一；
[0038]圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖之二；
[0039]圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的測試方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0040]針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的對大尺寸顯示面板柵線方向輸入信號時，容易產(chǎn)生檢測探針和信號線之間接觸不良、劃傷信號線或者損壞檢測探針的問題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示面板測試電路、顯示面板及其測試方法。
[0041]下面結(jié)合附圖，對本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板測試電路、顯示面板及其測試方法的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)地說明。附圖中各部分的形狀和大小不反映真實(shí)比例，目的只是示意說明本
【發(fā)明內(nèi)容】
。
[0042]如圖1所示。本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示面板測試電路，包括:多條與柵線一一對應(yīng)的柵極測試線101;
[0043]各柵極測試線101的輸出端與對應(yīng)的柵線相連，各柵極測試線101的輸入端相互短接;且各柵極測試線101的延伸方向與柵線一致；圖1中1lA表示柵極測試線101的輸入端，1lB表示柵極測試線101的輸出端；
[0044]柵極測試線101，用于在測試時向連接的柵線輸入柵極測試信號。
[0045]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的測試電路，通過將各柵極測試線101的輸入端相互短接，在測試時，可以僅對其中的一條柵極測試線101輸入柵極測試信號，節(jié)省了大量的測試模塊和檢測探針，并且各柵極測試線101相互短接，對各柵極測試線101輸入一個相同的柵極測試信號即可，可以防止信號衰減，并且能夠使顯示面板迅速點(diǎn)亮，替代了輸入多個測試信號進(jìn)行行掃描的測試方式，減少了顯示面板點(diǎn)亮的時間，即減少了測試時間。
[0046]在具體實(shí)施時，為了保證檢測探針和柵極測試線101的接觸，可以同時向幾條柵極測試線101輸入柵極測試信號，保證其中某條柵極測試線101接觸不良時，不會影響柵極測試信號的輸入。如圖1所示，為了使檢測探針容易和柵極測試線101相接觸，可以在制作柵極測試線101的時候制作一段較粗的線，如圖1中的虛線框M框住的柵極測試線101。在測試時，可以向柵極測試線101的輸入端輸入開啟信號(Von)，測試結(jié)束時，向柵極測試線101的輸入端輸入截止信號(Voff)。
[0047]具體地，上述柵極測試線101的輸入端可以通過以下方式相互短接:
[0048]方式一，各柵極測試線101的輸入端通過第一短路條102相互短接，第一短路條102的延伸方向與各柵極測試線101的延伸方向相互交叉，如圖1所示。
[0049]方式二，各柵極測試線101分為多組，屬于同一組的各柵極測試線101通過第一短路條102相互短接，各組柵極測試線101之間通過連接導(dǎo)線110相連，如圖2所示，為了便于示意，圖2中只畫出了兩組柵極測試線101，實(shí)際還可以包括多組柵極測試線101，并不對其分組數(shù)量進(jìn)行限定。
[0050]參照圖1或圖2，在具體實(shí)施時，本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板檢測電路，還包括:設(shè)置于第一短路條102和柵極測試線101的輸出端之間的第一定位標(biāo)記103。
[0051]通過設(shè)置第一定位標(biāo)記103，在測試結(jié)束后，可以根據(jù)第一定位標(biāo)記103的位置將第一短路條102和柵極測試線101的輸出端斷開，上述第一定位標(biāo)記103優(yōu)選為兩個，如圖1或圖2所示，可以設(shè)置在第一短路條102和柵極測試線101的輸出端之間，并且優(yōu)選設(shè)置在柵極測試線101的兩側(cè)的位置，在具體實(shí)施時，可以通過控制激光沿著兩個第一定位標(biāo)記103的連線或連線的延長線將第一短路條102和柵極測試線101的輸出端之間斷開，將第一短路條切除，可以避免第一短路條102外漏引起的信號線短接以及腐蝕風(fēng)險對后續(xù)工藝的影響。
[0052]進(jìn)一步地，本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路，還可以包括:多條與數(shù)據(jù)線一一對應(yīng)連接的數(shù)據(jù)測試線104;
[0053]數(shù)據(jù)測試線104的延伸方向與數(shù)據(jù)線一致；
[0054]各數(shù)據(jù)測試線104的輸出端與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線相連；圖1中104A表示數(shù)據(jù)測試線104的輸入端，104B表示數(shù)據(jù)測試線104的輸出端；
[0055]數(shù)據(jù)測試線104，用于在測試時向連接的數(shù)據(jù)線輸入數(shù)據(jù)測試信號。
[0056]如圖1所示，為了使檢測探針容易和數(shù)據(jù)測試線104相接觸，可以在制作數(shù)據(jù)測試線104的時候制作一段較粗的線，如圖1中的虛線框N框住的數(shù)據(jù)測試線104。
[0057]更進(jìn)一步地，本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路，還可以包括:至少一條柵極測試引線105;
[0058]各柵極測試引線105的輸出端與柵極測試線101的延伸方向一致且并排設(shè)置，且與柵極測試線101的輸入端相互短接；
[0059]各柵極測試引線105的輸入端與數(shù)據(jù)測試線104的輸入端的延伸方向一致且并排設(shè)置;圖1中105A表示柵極測試引線105的輸入端，105B表示柵極測試引線105的輸出端。
[0060]由于柵極測試引線105的輸入端與數(shù)據(jù)測試線104的輸入端的延伸方向一致，可以使柵線側(cè)的測試信號和數(shù)據(jù)側(cè)的測試信號在顯示面板的同一側(cè)輸入，有利于顯示面板的窄邊框設(shè)計。如圖1所示，為了使檢測探針容易和柵極測試引線105相接觸，可以在制作柵極測試引線105的時候制作一段較粗的線，如圖1中的虛線框M和N框住的柵極測試引線105。
[0061]上述柵極測試引線105最少為一條，優(yōu)選為多條并排設(shè)置，如圖1或圖2所示，這樣，當(dāng)其中某條柵極測試引線105出現(xiàn)問題時，不會影響柵極測試信號的輸入，柵極測試引線105為多條并排設(shè)置是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，此處并不對柵極測試線101的數(shù)量進(jìn)行限定。
[0062]在具體實(shí)施時，本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路，還可以包括:多個與柵極測試引線105—一對應(yīng)的柵極測試墊106;
[0063]柵極測試墊106與對應(yīng)柵極測試引線105的輸入端相連。
[0064]通過設(shè)置多個與柵極測試引線105—一對應(yīng)的柵極測試墊106，在測試時，可以通過柵極測試墊106向柵極測試線101的輸入端輸入柵極測試信號，而不用通過檢測探針和圖1中的虛線框M中的柵極測試線101、柵極測試引線105或虛線框N中的柵極測試引線105進(jìn)行接觸，即避免了使用檢測探針和柵極測試引線105或柵極測試線101進(jìn)行接觸，從而不會對柵極測試引線105或柵極測試線101造成劃傷。并且柵極測試墊106的尺寸一般在ΙΟΟμπιΧ200μπι左右，比柵極測試線101或柵極測試引線105的線寬(大約20μπι左右)的尺寸大很多，從而降低了出現(xiàn)接觸不良的概率。
[0065]具體地，在具體實(shí)施時，各數(shù)據(jù)測試線104分為至少一組，屬于同一組的各數(shù)據(jù)測試線104通過第二短路條107相互短接。
[0066]通過將屬于同一組的各數(shù)據(jù)測試線104通過第二短路條107相互短接，可以節(jié)省大量的測試模塊和檢測探針。
[0067]在具體實(shí)施時，上述數(shù)據(jù)測試線104優(yōu)選為分為兩組，位于奇數(shù)位置的數(shù)據(jù)測試線104分為同一組，位于偶數(shù)位置的數(shù)據(jù)測試線104分為同一組，屬于同一組的各數(shù)據(jù)測試線104通過第二短路條107相互短接，在實(shí)際應(yīng)用中，可以根據(jù)數(shù)據(jù)測試線104的數(shù)量以及需要輸入的數(shù)據(jù)測試信號的數(shù)量來確定將數(shù)據(jù)測試線104分為幾組，此處不對數(shù)據(jù)測試線104的分組數(shù)量進(jìn)行限定。
[0068]具體地，本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路，還可以包括:與第二短路條107——對應(yīng)連接的數(shù)據(jù)測試墊108。
[0069]通過設(shè)置與第二短路條107—一對應(yīng)的數(shù)據(jù)測試墊108，在測試時，可以通過數(shù)據(jù)測試墊108向數(shù)據(jù)測試線104的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號，而不用通過檢測探針和圖1中虛線框N中的數(shù)據(jù)測試線104進(jìn)行接觸，即避免了使用檢測探針和數(shù)據(jù)測試線104進(jìn)行接觸，從而不會對數(shù)據(jù)測試線104造成劃傷。并且數(shù)據(jù)測試墊108的尺寸一般在100μπιΧ2(Κ)μπι左右，比數(shù)據(jù)測試線104的線寬(大約20μπι左右)的尺寸大很多，從而降低了出現(xiàn)接觸不良的概率。
[0070]在具體實(shí)施時，本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板測試電路，還可以包括:設(shè)置于第二短路條107和數(shù)據(jù)測試線104的輸出端之間，同時位于各柵極測試墊106和柵極測試引線105之間的第二定位標(biāo)記109。
[0071]通過設(shè)置第二定位標(biāo)記109，在測試結(jié)束后，可以根據(jù)第二定位標(biāo)記109的位置將第二短路條107和數(shù)據(jù)測試線104的輸出端斷開，同時將柵極測試墊106和柵極測試引線105斷開，上述第二定位標(biāo)記109優(yōu)選為兩個，如圖1或圖2所示，可以設(shè)置在第二短路條107和數(shù)據(jù)測試線104的輸出端之間，以及柵極測試墊106和柵極測試引線的輸出端之間，并且優(yōu)選設(shè)置在柵極測試引線105和數(shù)據(jù)測試線104兩側(cè)的位置，在具體實(shí)施時，可以通過控制激光沿著兩個第二定位標(biāo)記109的連線或連線的延長線將第一短路條102和柵極測試線101的輸出端之間斷開，將第二短路條107和柵極測試墊106切除，可以避免第二短路條107、數(shù)據(jù)測試墊108以及柵極測試墊106外漏引起的信號線短接以及腐蝕風(fēng)險對后續(xù)工藝的影響。
[0072]在具體實(shí)施時，為了使上述顯示面板測試電路可通用于各種尺寸的顯示面板，并對應(yīng)的通用于測試模塊的檢測探針，可以設(shè)置數(shù)據(jù)測試墊108和柵極測試墊106的大小相同，并且各數(shù)據(jù)測試墊108的間距優(yōu)選為和各柵極測試墊106的間距相同，在能夠滿足測試要求的情況下，還可以設(shè)置柵極測試墊106的數(shù)量和數(shù)據(jù)測試墊108的數(shù)量相同，并且各柵極測試墊106和各數(shù)據(jù)測試墊108對稱設(shè)置。
[0073]在實(shí)際應(yīng)用中，為了簡化工藝流程，上述柵極測試線101可以為柵線的延長線，同樣的，上述數(shù)據(jù)測試線104可以為數(shù)據(jù)線的延長線。
[0074]基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示面板，包括:上述顯示面板測試電路。該顯示面板可以應(yīng)用于手機(jī)、平板電腦、電視機(jī)、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導(dǎo)航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。由于該顯示面板解決問題的原理與上述顯示面板測試電路相似，因此該顯示面板的實(shí)施可以參見上述顯示面板測試電路的實(shí)施，重復(fù)之處不再贅述。
[0075]基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種上述顯示面板的測試方法，由于該測試方法解決問題的原理與上述顯示面板相似，因此該測試方法的實(shí)施可以參見上述顯示面板的實(shí)施，重復(fù)之處不再贅述，如圖3所示，包括:
[0076]S301、在測試時，向柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號；
[0077]S302、在測試結(jié)束后，將相互短接的各柵極測試線的輸入端和輸出端斷開。
[0078]具體地，上述步驟S301具體可以包括:
[0079]S3011、在向柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號的同時，向數(shù)據(jù)測試線的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號。
[0080]具體地，上述步驟S3011具體可以通過以下方法實(shí)現(xiàn):
[0081 ]通過柵極測試墊向柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號，同時通過數(shù)據(jù)測試墊向數(shù)據(jù)測試線的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號。
[0082]具體地，上述步驟S302具體可以包括:
[0083]根據(jù)第一定位標(biāo)記的位置，將第一短路條和柵極測試線的輸出端斷開。
[0084]進(jìn)一步地，本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板的測試方法，還可以包括:
[0085]S303、根據(jù)第二定位標(biāo)記的位置，將第二短路條和數(shù)據(jù)測試線的輸出端斷開，同時將各柵極測試墊和柵極測試引線斷開。
[0086]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的測試電路、顯示面板及其測試方法，通過將各柵極測試線的輸入端相互短接，在測試時，可以僅對其中的一條柵極測試線輸入柵極測試信號，節(jié)省了大量的測試模塊和檢測探針，并且各柵極測試線相互短接，對各柵極測試線輸入一個相同的柵極測試信號即可，可以防止信號衰減，并且能夠使顯示面板迅速點(diǎn)亮，替代了輸入多個測試信號進(jìn)行行掃描的測試方式，減少了顯示面板點(diǎn)亮的時間，即減少了測試時間。
[0087]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進(jìn)行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種顯示面板測試電路，其特征在于，包括:多條與柵線一一對應(yīng)的柵極測試線； 各所述柵極測試線的輸出端與對應(yīng)的所述柵線相連，各所述柵極測試線的輸入端相互短接;且各所述柵極測試線的延伸方向與所述柵線一致； 所述柵極測試線，用于在測試時向連接的柵線輸入柵極測試信號。2.如權(quán)利要求1所述的測試電路，其特征在于，各所述柵極測試線的輸入端通過第一短路條相互短接，所述第一短路條的延伸方向與各所述柵極測試線的延伸方向相互交叉。3.如權(quán)利要求1所述的測試電路，其特征在于，各所述柵極測試線分為多組，屬于同一組的各所述柵極測試線通過第一短路條相互短接，各組所述柵極測試線之間通過連接導(dǎo)線相連。4.如權(quán)利要求2或3所述的測試電路，其特征在于，還包括:設(shè)置于所述第一短路條和所述柵極測試線的輸出端之間的第一定位標(biāo)記。5.如權(quán)利要求1-3任一項所述的測試電路，其特征在于，還包括:多條與數(shù)據(jù)線一一對應(yīng)連接的數(shù)據(jù)測試線； 所述數(shù)據(jù)測試線的延伸方向與所述數(shù)據(jù)線一致； 各所述數(shù)據(jù)測試線的輸出端與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線相連； 所述數(shù)據(jù)測試線，用于在測試時向連接的數(shù)據(jù)線輸入數(shù)據(jù)測試信號。6.如權(quán)利要求5所述的測試電路，其特征在于，還包括:至少一條柵極測試引線； 各所述柵極測試引線的輸出端與所述柵極測試線的延伸方向一致且并排設(shè)置，且與所述柵極測試線的輸入端相互短接； 各所述柵極測試引線的輸入端與所述數(shù)據(jù)測試線的輸入端的延伸方向一致且并排設(shè)置。7.如權(quán)利要求6所述的測試電路，其特征在于，還包括:多個與所述柵極測試引線一一對應(yīng)的柵極測試墊； 所述柵極測試墊與對應(yīng)所述柵極測試引線的輸入端相連。8.如權(quán)利要求5所述的測試電路，其特征在于，各所述數(shù)據(jù)測試線分為至少一組，屬于同一組的各所述數(shù)據(jù)測試線通過第二短路條相互短接。9.如權(quán)利要求8所述的測試電路，其特征在于，還包括:與所述第二短路條一一對應(yīng)連接的數(shù)據(jù)測試墊。10.如權(quán)利要求8所述的測試電路，其特征在于，還包括:設(shè)置于所述第二短路條和所述數(shù)據(jù)測試線的輸出端之間，同時位于各所述柵極測試墊和所述柵極測試引線之間的第二定位標(biāo)記。11.一種顯示面板，其特征在于，包括:如權(quán)利要求1-10任一項所述的顯示面板測試電路。12.—種如權(quán)利要求11所述的顯示面板的測試方法，其特征在于，包括: 在測試時，向柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號； 在測試結(jié)束后，將相互短接的各所述柵極測試線的輸入端和輸出端斷開。13.如權(quán)利要求12所述的測試方法，其特征在于，在向所述柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號的同時，向數(shù)據(jù)測試線的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號。14.如權(quán)利要求13所述的測試方法，其特征在于，在向所述柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號的同時，向數(shù)據(jù)測試線的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號，具體包括: 通過柵極測試墊向所述柵極測試線的輸入端輸入柵極測試信號，同時通過數(shù)據(jù)測試墊向所述數(shù)據(jù)測試線的輸入端輸入數(shù)據(jù)測試信號。15.如權(quán)利要求12-14任一項所述的測試方法，其特征在于，將相互短接的各所述柵極測試線的輸入端和輸出端斷開，具體包括: 根據(jù)第一定位標(biāo)記的位置，將第一短路條和所述柵極測試線的輸出端斷開。16.如權(quán)利要求15所述的測試方法，其特征在于，還包括: 根據(jù)第二定位標(biāo)記的位置，將第二短路條和所述數(shù)據(jù)測試線的輸出端斷開，同時將各柵極測試墊和柵極測試引線斷開。
【文檔編號】G09G3/00GK105929575SQ201610551607
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年7月13日
【發(fā)明人】曹金虎, 歷偉, 馬明輝, 吳巖巖, 高棉, 曹斌, 權(quán)南仁, 于鳳武
【申請人】京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司