顯示面板及測(cè)試該顯示面板的方法
【專利摘要】公開了顯示面板及測(cè)試該顯示面板的方法。該顯示面板包括：顯示器，包括電連接至數(shù)據(jù)線的像素列；非顯示區(qū)域，鄰近顯示器；測(cè)試電路，配置為接收經(jīng)過(guò)非顯示區(qū)域的至少一部分的點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)，并響應(yīng)于測(cè)試控制信號(hào)將點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線；以及開關(guān)，配置為從外部部件接收數(shù)據(jù)信號(hào)，并響應(yīng)于開關(guān)信號(hào)將數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線。
【專利說(shuō)明】
顯示面板及測(cè)試該顯示面板的方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明的示例實(shí)施例涉及顯示設(shè)備和/或顯示面板及測(cè)試該顯示設(shè)備和/或顯示面板的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]通常，有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備包括顯示圖像的顯示面板、向顯示面板提供掃描信號(hào)的掃描驅(qū)動(dòng)器、向顯示面板提供數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器，以及向顯示面板提供發(fā)射控制信號(hào)的發(fā)射控制驅(qū)動(dòng)器。
[0003]顯示面板通常通過(guò)復(fù)雜的半導(dǎo)體制造工藝制造。在制造期間，在諸如刻蝕工藝、切割工藝等制造工藝步驟期間，在各種部件、布線和基板中可能出現(xiàn)裂痕(或缺陷)。
[0004]裂痕可能導(dǎo)致諸如面板驅(qū)動(dòng)故障、面板收縮等問題。例如，在可折疊顯示面板或可卷曲顯示面板的情況下，隨著顯示面板被折疊/展開或卷曲/鋪開，可能出現(xiàn)(或顯現(xiàn))因外力而導(dǎo)致的嚴(yán)重裂痕。
[0005]可利用點(diǎn)亮測(cè)試(lighting test)來(lái)檢測(cè)在顯示面板的制造過(guò)程期間出現(xiàn)的顯示面板的內(nèi)部裂痕(或內(nèi)部缺陷)(例如，檢測(cè)包括在顯示面板中的布線的損壞)。然而，對(duì)于檢測(cè)微小裂痕，點(diǎn)亮測(cè)試具有局限性。另外，點(diǎn)亮測(cè)試可能在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板之前執(zhí)行，從而點(diǎn)亮測(cè)試可能無(wú)法檢測(cè)驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板之后出現(xiàn)的裂痕。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明示例實(shí)施例涉及顯示設(shè)備。例如，本發(fā)明實(shí)施例涉及檢測(cè)內(nèi)部裂痕(或內(nèi)部缺陷)的顯示面板以及測(cè)試該顯示面板的方法。
[0007]—些示例實(shí)施例提供一種顯示面板，其中內(nèi)部裂痕(或內(nèi)部缺陷)可被檢測(cè)，同時(shí)結(jié)構(gòu)和/制造該顯示面板的過(guò)程的變化得以最小化。
[0008]—些示例實(shí)施例提供一種測(cè)試顯示面板的方法，所述方法能夠在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板中之后以及在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板中之前檢測(cè)顯示面板的內(nèi)部裂痕。
[0009]根據(jù)示例實(shí)施例，一種顯示面板包括:顯示器，包括電連接至數(shù)據(jù)線的像素列；非顯示區(qū)域，鄰近所述顯示器;測(cè)試電路，配置為接收經(jīng)過(guò)所述非顯示區(qū)域的至少一部分的點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)，并響應(yīng)于測(cè)試控制信號(hào)將所述點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線；以及開關(guān)，配置為從外部部件接收數(shù)據(jù)信號(hào)，并響應(yīng)于開關(guān)信號(hào)將所述數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線。
[0010]顯示面板可進(jìn)一步包括驅(qū)動(dòng)集成電路，該驅(qū)動(dòng)集成電路可配置為生成所述測(cè)試控制信號(hào)和所述開關(guān)信號(hào)，并將參考信號(hào)供應(yīng)至所述開關(guān)。
[0011 ]驅(qū)動(dòng)集成電路可配置為生成所述測(cè)試控制信號(hào)和所述開關(guān)信號(hào)，以將所述點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)和所述參考信號(hào)交替供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線。
[0012]所述測(cè)試電路可包括點(diǎn)亮測(cè)試線，該點(diǎn)亮測(cè)試線經(jīng)由所述非顯示區(qū)域的所述至少一部分延伸，并經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線電連接至所述顯示器的最外側(cè)處的一個(gè)像素列。
[0013]所述顯示器可包括:第一像素列，其中發(fā)射第一顏色的光的第一像素和發(fā)射第二顏色的光的第二像素交替排布;第二像素列，其中所述第一像素和所述第二像素以與所述第一像素列相反的順序交替排布；以及第三像素列，其中排布有發(fā)射第三顏色的光的第三像素，其中所述點(diǎn)亮測(cè)試線電連接至所述第三像素列。
[0014]顯示器可進(jìn)一步包括第四像素列，在所述第四像素列中排布有所述第三像素，所述第四像素列經(jīng)由電阻器電連接至所述測(cè)試電路，所述電阻器的電阻等于所述點(diǎn)亮測(cè)試線的電阻。
[0015]所述測(cè)試電路可進(jìn)一步包括測(cè)試晶體管，該測(cè)試晶體管配置為響應(yīng)于所述測(cè)試控制信號(hào)將所述點(diǎn)亮測(cè)試線與數(shù)據(jù)線電連接。
[0016]所述開關(guān)可包括配置為選擇性地將所述數(shù)據(jù)信號(hào)供應(yīng)至所述像素列的數(shù)據(jù)分配電路。
[0017]所述開關(guān)可包括配置為響應(yīng)于所述開關(guān)信號(hào)將所述數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線的開關(guān)晶體管。
[0018]所述開關(guān)可在驅(qū)動(dòng)集成電路中實(shí)現(xiàn)。
[0019]所述顯示面板可進(jìn)一步包括預(yù)測(cè)試電路，該預(yù)測(cè)試電路并聯(lián)電連接至所述開關(guān)，并配置為響應(yīng)于預(yù)測(cè)試控制信號(hào)將預(yù)點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線。
[0020]所述預(yù)測(cè)試電路可包括經(jīng)由所述非顯示區(qū)域的所述至少一部分延伸的預(yù)點(diǎn)亮測(cè)試線。
[0021]所述數(shù)據(jù)線可在第一時(shí)段期間通過(guò)所述點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)被初始化，并且所述預(yù)點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)可在不同于所述第一時(shí)段的第二時(shí)段期間被寫入到所述數(shù)據(jù)線中。
[0022]根據(jù)本發(fā)明的一些示例實(shí)施例，顯示面板包括顯示器和非顯示區(qū)域，該顯示器包括電連接至數(shù)據(jù)線的像素列，非顯示區(qū)域鄰近顯示器;第一測(cè)試電路，配置為接收經(jīng)過(guò)所述非顯示區(qū)域的至少一部分的第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)，并且響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)將所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線;開關(guān)，配置為從外部部件接收數(shù)據(jù)信號(hào)，并且響應(yīng)于開關(guān)信號(hào)將所述數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線;第二測(cè)試電路，并聯(lián)電連接至所述開關(guān)，并配置為響應(yīng)于第二測(cè)試控制信號(hào)將第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線；以及驅(qū)動(dòng)集成電路，配置為生成所述第一測(cè)試控制信號(hào)、所述第二測(cè)試控制信號(hào)和所述開關(guān)信號(hào)。
[0023]所述驅(qū)動(dòng)集成電路可配置為使用所述第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)將所述第二測(cè)試電路控制在關(guān)斷狀態(tài)，所述驅(qū)動(dòng)集成電路可配置為使用所述第一測(cè)試控制信號(hào)控制所述第一測(cè)試電路在第一時(shí)段期間將所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線，并且所述驅(qū)動(dòng)集成電路可配置為使用所述開關(guān)信號(hào)控制所述開關(guān)在不同于所述第一時(shí)段的第二時(shí)段期間將參考信號(hào)供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線。
[0024]所述顯示面板可進(jìn)一步包括:掃描驅(qū)動(dòng)器，配置為控制所述像素列在第二時(shí)段期間從所述數(shù)據(jù)線接收所述參考信號(hào)。
[0025]所述第二測(cè)試電路可包括經(jīng)由所述非顯示區(qū)域的所述至少一部分延伸的第二點(diǎn)亮測(cè)試線。
[0026]根據(jù)本發(fā)明的一些示例實(shí)施例，在測(cè)試顯示面板的方法中，所述顯示面板包括顯示器和非顯示區(qū)域，該顯示器包括電連接至數(shù)據(jù)線的像素列，該非顯示區(qū)域鄰近該顯示器，該方法包括:將經(jīng)過(guò)非顯示部分的至少一部分的第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至向數(shù)據(jù)線傳送第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)的第一測(cè)試電路;使用開關(guān)將從驅(qū)動(dòng)集成電路供應(yīng)的參考信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線；以及使用所述第一測(cè)試電路將所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線。
[0027]給所述第一測(cè)試電路供應(yīng)所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)可包括:將第二測(cè)試電路控制在關(guān)斷狀態(tài)，并且所述第二測(cè)試電路可并聯(lián)電連接至所述開關(guān)，并給所述數(shù)據(jù)線供應(yīng)經(jīng)過(guò)所述非顯示區(qū)域的所述至少一部分的第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)。
[0028]傳送所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)可包括:將第一測(cè)試控制信號(hào)供應(yīng)至所述第一測(cè)試電路；以及響應(yīng)于所述第一測(cè)試控制信號(hào)將所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線。
[0029]因此，根據(jù)示例實(shí)施例的顯示面板通過(guò)包括排布在所述顯示面板的外部區(qū)域中的點(diǎn)亮測(cè)試線，可相對(duì)容易地檢測(cè)顯示面板的內(nèi)部裂痕，同時(shí)使得結(jié)構(gòu)和/或制造顯示面板的過(guò)程的改變得以最小化或減少，其中所述顯示面板的點(diǎn)亮狀態(tài)響應(yīng)于點(diǎn)亮測(cè)試線的電阻變化而改變。
[0030]另外，根據(jù)示例實(shí)施例的測(cè)試顯示面板的方法通過(guò)使用測(cè)試電路部分和開關(guān)部分給所述顯示面板供應(yīng)點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)，可在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板中之后以及在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板中之前檢測(cè)顯示面板的內(nèi)部裂痕。
【附圖說(shuō)明】
[0031]從以下結(jié)合附圖進(jìn)行的詳細(xì)描述，例示性、非限制性示例實(shí)施例將得以更清楚地理解。
[0032]圖1是例示根據(jù)示例實(shí)施例的顯示面板的框圖。
[0033]圖2是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[0034]圖3是例示圖2的顯示面板的點(diǎn)亮測(cè)試結(jié)果的波形圖。
[00；35 ]圖4A是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[OO3 6 ]圖4B是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[0037]圖5是例示圖4B的顯示面板的點(diǎn)亮測(cè)試結(jié)果的波形圖。
[0038]圖6是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[0039]圖7是例示圖6的顯示面板的點(diǎn)亮測(cè)試結(jié)果的波形圖。
[0040]圖8是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[0041 ]圖9是例示測(cè)試圖1的顯示面板的方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0042]下文中，將參照附圖更詳細(xì)地解釋本發(fā)明示例實(shí)施例的方面，附圖中同樣的附圖標(biāo)記始終指代同樣的元件。然而，本發(fā)明可以多種不同形式體現(xiàn)，而不應(yīng)當(dāng)解釋為僅限于本文所例示的實(shí)施例。相反，提供這些實(shí)施例作為示例以使本公開將是透徹和完整的，并將向本領(lǐng)域技術(shù)人員充分地傳達(dá)本發(fā)明的方面和特征。相應(yīng)地，可不描述對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員完整理解本發(fā)明的方面和特征而言非必需的過(guò)程、元件和技術(shù)。除非另有指示，否則同樣的附圖標(biāo)記在附圖和書面描述中始終指代同樣的元件，因此，將不再重復(fù)其描述。在附圖中，為了清楚起見，可放大元件、層和區(qū)域的相對(duì)尺寸。
[0043]應(yīng)當(dāng)理解，盡管本文中可使用術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”、“第三”等來(lái)描述各種元件，部件、區(qū)域、層和/或部分，但這些元件、部件、區(qū)域、層和/或部分不應(yīng)受到這些術(shù)語(yǔ)的限制。這些術(shù)語(yǔ)用于區(qū)分一個(gè)元件、部件、區(qū)域、層或部分與另一元件、部件、區(qū)域、層或部分。因此，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，下面描述的第一元件、部件、區(qū)域、層或部分可被稱為第二元件、部件、區(qū)域、層或部分。
[0044]為了便于解釋，本文可使用諸如“在…下方”、“在…下面”、“較低的”、“在…之下”、“在…上面”、“較高的”等的空間上相關(guān)的術(shù)語(yǔ)來(lái)描述附圖中所例示的一個(gè)元件或特征與另外的元件或特征的關(guān)系。將理解，除在附圖中描繪的方位之外，空間上相關(guān)的術(shù)語(yǔ)意在還涵蓋使用中或操作中的設(shè)備的不同的方位。例如，如果附圖中的設(shè)備被翻轉(zhuǎn)，則描述為在另一元件或特征“下面”或“下方”或“之下”的元件或特征將隨之定向?yàn)樵诹硪辉蛱卣鳌吧厦妗?。因此，示例術(shù)語(yǔ)“在…下面”和“之下”可涵蓋上面和下面兩種方位。器件可被另外定向(例如，旋轉(zhuǎn)90度或以其它方位)，并且本文使用的空間上相關(guān)的描述詞應(yīng)被相應(yīng)地解釋。
[0045]將理解，當(dāng)提及一元件或?qū)釉诹硪辉驅(qū)印吧稀?、“連接至”或“聯(lián)接至”另一元件或?qū)訒r(shí)，該元件或?qū)涌芍苯釉诹硪辉驅(qū)由?、連接至或聯(lián)接至另一元件或?qū)?，或者也可以存在一個(gè)或多個(gè)中間元件或?qū)印４送?，還應(yīng)當(dāng)理解，當(dāng)提及一元件或?qū)釉趦蓚€(gè)元件或?qū)印爸g”時(shí)，其可以是兩個(gè)元件或?qū)又g僅有的元件或?qū)樱蛞部梢源嬖谝粋€(gè)或多個(gè)中間元件或?qū)印?br>[0046]本文使用的術(shù)語(yǔ)僅用于描述特定實(shí)施例的目的而不意在限制本發(fā)明。用于本文時(shí)，除非上下文清楚地另有指示，否則單數(shù)形式意在也包括復(fù)數(shù)形式，。將進(jìn)一步理解，當(dāng)在本發(fā)明書中使用時(shí)，術(shù)語(yǔ)“包括”和“包含”指明存在所敘述特征、整體、步驟、操作、元件和/或部件，但不排除存在或附加有一個(gè)或多個(gè)其它特征、整體、步驟、操作、元件、部件和/或其組。用于本文時(shí)，術(shù)語(yǔ)“和/或”包括相關(guān)聯(lián)的所列項(xiàng)的一個(gè)或多個(gè)的任意和所有組合。諸如
“......中的至少一個(gè)”之類的表述在一系列元件之后時(shí)，修飾的是整個(gè)元件系列而非修飾系列中的獨(dú)立元件。
[0047]用于本文時(shí)，術(shù)語(yǔ)“基本”、“大約”及類似術(shù)語(yǔ)用作近似術(shù)語(yǔ)而非程度術(shù)語(yǔ)，并且意在對(duì)由本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到的測(cè)量值或計(jì)算值的固有偏差做出解釋。進(jìn)一步，當(dāng)描述本發(fā)明的實(shí)施例時(shí)使用的“可”、“可以”、“可能”指“本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例”。用于本文時(shí)，術(shù)語(yǔ)“使用”可被認(rèn)為與“利用”同義。而且，術(shù)語(yǔ)“示例性”意在指示例或例示。
[0048]除非另有定義，否則本文使用的所有術(shù)語(yǔ)(包括技術(shù)和科學(xué)術(shù)語(yǔ))具有與本發(fā)明所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同的含義。將進(jìn)一步理解，諸如在常用的詞典中定義的術(shù)語(yǔ)之類的術(shù)語(yǔ)應(yīng)當(dāng)解釋為具有與其在相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域和/或本說(shuō)明書的語(yǔ)境中的含義一致的含義，而不應(yīng)以理想的或過(guò)于形式的意義來(lái)解釋，除非本文中表述為如此定義。
[0049]通常，點(diǎn)亮測(cè)試是指在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板中之前檢測(cè)顯示面板中的缺陷像素、電路損壞等的方法。然而，根據(jù)示例實(shí)施例的點(diǎn)亮測(cè)試包括模塊裂痕檢測(cè)(MCD)測(cè)試，該MCD測(cè)試用于在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示部分之后檢測(cè)顯示面板的非顯示部分中的裂痕。
[0050]圖1是例示根據(jù)示例實(shí)施例的顯示面板的框圖。
[0051]參照?qǐng)D1，顯示面板100可包括顯示部分(或顯示器)110、第一測(cè)試電路部分(或第一測(cè)試電路)120、開關(guān)部分(或開關(guān))130、第二測(cè)試電路部分(或第二測(cè)試電路)140、焊盤部分(或焊盤)150和掃描驅(qū)動(dòng)部分(或掃描驅(qū)動(dòng)器)160。根據(jù)一些示例實(shí)施例，顯示面板100可以是有機(jī)發(fā)光二極管顯示面板。
[0052]顯示部分110可包括掃描線51、52和511、數(shù)據(jù)線01、02、03、03111-2、03111-1和03111以及像素111。像素111可排布在掃描線31、32和311與數(shù)據(jù)線01、02、03、03111-2、03111-1和03111的交叉處。當(dāng)掃描信號(hào)經(jīng)由掃描線31、32和311供應(yīng)時(shí)，像素111可存儲(chǔ)經(jīng)由數(shù)據(jù)線01、02、03、03111-2、D3m-1和D3m供應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)，并可基于數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)光。
[0053]顯示部分110可包括平行于數(shù)據(jù)線01、02、03、03111-2、03111-1和03111排布的像素列。
[0054]顯示面板100的除顯示部分110外的區(qū)域(例如，顯示部分110所占區(qū)域之外的區(qū)域)可以是非顯示部分(或非顯示區(qū)域)。非顯示部分可以是鄰近顯示部分110排布的空間。在示例中，非顯示部分可以是排布有第一測(cè)試電路部分(或第一測(cè)試電路)120的空間。
[0055]第一測(cè)試電路部分120可響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)將點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線Dl、D2、D3、D3m-2、D3m-l和D3m。這里，第一測(cè)試控制信號(hào)可以是用以控制第一測(cè)試電路部分120的信號(hào)，并且點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)可以是用于點(diǎn)亮測(cè)試的測(cè)試電壓。第一測(cè)試電路部分120可電連接在數(shù)據(jù)線01、02、03、03111-2、03111-1和03111與焊盤部分150之間。第一測(cè)試電路部分120可響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)將第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線01、02、03、03111-2、03111-1和D3m。這里，第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)可經(jīng)由第一點(diǎn)亮測(cè)試線121傳送，并且第一測(cè)試控制信號(hào)可經(jīng)由第一測(cè)試控制線122傳送。
[0056]在一些示例實(shí)施例中，第一測(cè)試電路部分120可包括第一點(diǎn)亮測(cè)試線，第一點(diǎn)亮測(cè)試線電連接至排布在顯示部分110的最外側(cè)區(qū)域中(或排布在顯示部分110的外圍或所占區(qū)域之外)的像素列。這里，第一點(diǎn)亮測(cè)試線可經(jīng)由非顯示部分的至少一部分被布置。將參照?qǐng)D2更詳細(xì)地描述第一點(diǎn)亮測(cè)試線。
[0057]開關(guān)部分130可響應(yīng)于開關(guān)信號(hào)將從外部部件施加的數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線D1、D2、D3、D3m-2、D3m-l和D3m。開關(guān)部分130可電連接在第二測(cè)試電路部分140與數(shù)據(jù)線Dl、D2、D3、D3m-2、D3m-l和D3m之間。開關(guān)部分130可將從第二測(cè)試電路部分140(或焊盤部分150)提供的數(shù)據(jù)信號(hào)(或第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào))傳送至數(shù)據(jù)線Dl、D2、D3、D3m-2、D3m-l和D3m。例如，開關(guān)部分130可以是選擇性地向像素列供應(yīng)數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)分配電路(例如，解復(fù)用器)。
[0058]第二測(cè)試電路部分140可響應(yīng)于第二測(cè)試控制信號(hào)將第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線01、02、03、03111-2、03111-1和03111。第二測(cè)試電路部分140可電連接在開關(guān)部分130與焊盤部分150之間。第二測(cè)試電路部分140可響應(yīng)于第二測(cè)試控制信號(hào)將第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至開關(guān)部分130。
[0059]進(jìn)一步，在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板100中之后，第二測(cè)試電路部分140可由從焊盤部分150提供的偏置信號(hào)來(lái)關(guān)斷。由于第二測(cè)試電路部分140僅在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板100之前被使用，因此第二測(cè)試電路部分140可被稱作預(yù)測(cè)試電路部分(或預(yù)測(cè)試電路)。同樣，第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)和第二測(cè)試控制信號(hào)可分別稱作預(yù)點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)和預(yù)測(cè)試控制信號(hào)。
[0060]焊盤部分150可包括多個(gè)焊盤P，以將從外部部件施加的各種驅(qū)動(dòng)電力和各種驅(qū)動(dòng)信號(hào)傳送至顯示面板100。
[0061 ]掃描驅(qū)動(dòng)部分160可響應(yīng)于掃描驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)生成掃描信號(hào)，并可順序?qū)呙栊盘?hào)供應(yīng)至掃描線。這里，掃描驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)可包括開始脈沖和時(shí)鐘信號(hào)，并且掃描驅(qū)動(dòng)部分160可包括移位寄存器，移位寄存器響應(yīng)于開始信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)順序地生成掃描信號(hào)。
[0062]將參照?qǐng)D2和圖3更詳?shù)孛枋鲇糜谠隍?qū)動(dòng)集成電路未被安裝在顯示面板100中的情況下的點(diǎn)亮測(cè)試的顯示面板100的配置。將參照?qǐng)D4A和圖5更詳?shù)孛枋鲇糜谠隍?qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板100中的情況下的點(diǎn)亮測(cè)試的顯示面板100的配置。
[0063 ]圖2是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[0064]參照?qǐng)D1和圖2，顯示面板100可包括顯示部分110、第一測(cè)試電路部分120，以及第二測(cè)試電路部分140。
[0065]顯示部分110可包括第一像素列、第二像素列和第三像素列。第一像素列可包括發(fā)射紅色光的第一像素R。第二像素列可包括發(fā)射綠色光的第二像素G。第三像素列可包括發(fā)射藍(lán)色光的第三像素B。通常，子像素可顯示從紅色、綠色和藍(lán)色選出的一種，并且像素可包括多個(gè)子像素。然而，第一像素、第二像素和第三像素可以是這種子像素或這種像素。
[0066]盡管在圖2中例示顯示部分110包括沿右方順序排布的第一像素列、第二像素列和第三像素列，但顯示部分110不限于此。例如，顯示部分110可包括沿右方順序排布的第一像素列、第三像素列和第二像素列。例如，顯示部分110可包括布置為波形瓦(Pentile)矩陣的像素。將參照?qǐng)D4A更詳細(xì)的描述排布為Pent i I e矩陣的像素。
[0067]第一測(cè)試電路部分120可響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)將電源布線連接至數(shù)據(jù)線。第一測(cè)試電路部分120可包括第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管和第一測(cè)試控制線。第一晶體管可連接在第一像素列與傳送第一電壓0(:_1?的第一布線之間。第二晶體管可連接在第二像素列與傳送第二電壓0(:_6的第二布線之間。第三晶體管可連接在第三像素列與傳送第三電壓0(:_8的第三布線之間。第一測(cè)試控制線可傳送測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE以導(dǎo)通第一至第三晶體管。
[0068]在圖2中，第一至第三晶體管中的每一個(gè)被示出為P溝道金屬氧化物半導(dǎo)體(PMOS)晶體管。然而，晶體管不限于此。例如，第一至第三晶體管中的每一個(gè)可以是η溝道金屬氧化物半導(dǎo)體(NMOS)晶體管。例如，第一至第三晶體管中的至少兩個(gè)的類型可彼此不同。
[0069]在示例實(shí)施例中，第一測(cè)試電路部分120可包括點(diǎn)亮測(cè)試線，點(diǎn)亮測(cè)試線電連接至排布在顯示部分110的最外側(cè)上的像素列。這里，點(diǎn)亮測(cè)試線可經(jīng)由非顯示部分的至少一部分延伸(或被布置)。
[0070]如圖2中所示，第一測(cè)試電路部分120可包括第一點(diǎn)亮測(cè)試線221和第二點(diǎn)亮測(cè)試線222。第一點(diǎn)亮測(cè)試線221可電連接在第二布線與位于顯示部分110的左側(cè)的第二晶體管之間。這里，第一點(diǎn)亮測(cè)試線221可經(jīng)由非顯示部分的至少一部分延伸(或被布置)。第一點(diǎn)亮測(cè)試線221可具有電阻，并且第一點(diǎn)亮測(cè)試線221的電阻可由該部分中出現(xiàn)的裂痕(即損壞)而被改變。因此，顯示面板100可基于第一點(diǎn)亮測(cè)試線的電阻的變化來(lái)檢測(cè)顯示面板100(尤其是，非顯示部分)中的損壞。
[0071]類似地，第二點(diǎn)亮測(cè)試線222可電連接在第二布線與排布在顯示部分110的右側(cè)的第二晶體管之間。這里，第二點(diǎn)亮測(cè)試線222可經(jīng)由非顯示部分的右部延伸(或被布置)。
[0072]在圖2中，點(diǎn)亮測(cè)試線221和222示出為電連接至第二像素列(例如，G像素列)。然而，點(diǎn)亮測(cè)試線221和222不限于此。例如，點(diǎn)亮測(cè)試線221和222可電連接至第一像素列(例如，R像素列)或第三像素列(例如，B像素列)。例如，點(diǎn)亮測(cè)試線221和222可電連接至不同的像素列。
[0073]在示例實(shí)施例中，點(diǎn)亮測(cè)試線可電連接至排布在顯示部分110的最外側(cè)的綠像素列。紅像素R、綠像素G和藍(lán)像素B中的每一個(gè)可具有不同的發(fā)光特性，并且綠像素G的亮度可高于紅像素R和藍(lán)像素B的亮度。因此，第一點(diǎn)亮測(cè)試線221可電連接至排布有綠像素G的第二像素列，從而可使用綠像素G的可視性更容易地檢測(cè)顯示面板的內(nèi)部損壞。
[0074]在示例實(shí)施例中，顯示部分110可包括:經(jīng)由電阻器電連接至第一測(cè)試電路部分120的綠像素列，其中，電阻器的電阻等于點(diǎn)亮測(cè)試線的電阻。即，未連接至點(diǎn)亮測(cè)試線的綠像素列可經(jīng)由電阻器電連接至第二布線。這里，電阻器的電阻可等于點(diǎn)亮測(cè)試線的電阻。
[0075]第二測(cè)試電路部分140可包括第四電阻器，其中，第四電阻器響應(yīng)于第二測(cè)試控制信號(hào)TEST_GATE將第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA傳送至數(shù)據(jù)線。
[0076]如上所述，顯示設(shè)備100可包括:經(jīng)由非顯示部分的至少一部分延伸(或被布置)的點(diǎn)亮測(cè)試線，并且，點(diǎn)亮測(cè)試線的電阻可由非顯示部分中出現(xiàn)的裂痕(即，損壞)而被改變。因此，可基于電連接至點(diǎn)亮測(cè)試線的像素列的點(diǎn)亮狀態(tài)來(lái)檢測(cè)損壞。
[0077]圖3是例示圖2的顯示面板的點(diǎn)亮測(cè)試結(jié)果的波形圖。在圖3中，假定裂痕在圖2的顯示面板100的右側(cè)非顯示部分(S卩，布置有第二點(diǎn)亮測(cè)試線222的區(qū)域)中出現(xiàn)。
[0078]參照?qǐng)D2和圖3，第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B、第一測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE、第二測(cè)試控制信號(hào)TEST_GATE、第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA以及掃描信號(hào)SCAN[n](其中η為正整數(shù))中的每一個(gè)可以是供應(yīng)至顯示面板100用于點(diǎn)亮測(cè)試的信號(hào)。
[0079]第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B可以具有0V。第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B可以是從圖2中所示第一至第三電壓0(:_1?、0(:_6和0(:_8中選出的至少一個(gè)。第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA可以具有6.3V(DC)?？蛇x擇地，第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B和第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA可依據(jù)點(diǎn)亮測(cè)試條件而具有不同的電壓。例如，第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B可具有3V，并且第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA可具有6V。
[0080]第一測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE可在第一時(shí)段tl期間具有低電平，并可在其它時(shí)段具有高電平。因此，第一測(cè)試電路部分120可響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE在第一時(shí)段tl期間將第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B傳送至數(shù)據(jù)線。例如，第一測(cè)試電路部分120中的第一至第三晶體管可響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE在第一時(shí)段tl期間被導(dǎo)通，以便第一至第三布線可分別電連接至數(shù)據(jù)線。因此，第一測(cè)試電路部分120可在第一時(shí)段tl期間初始化數(shù)據(jù)線。
[0081 ]第二測(cè)試控制信號(hào)TEST_GATE可在第二時(shí)段t2期間具有低電平，并可在其它時(shí)段具有高電平。因此，第二測(cè)試電路部分140可響應(yīng)于第二測(cè)試控制信號(hào)TEST_GATE在第二時(shí)段t2期間將第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA傳送至數(shù)據(jù)線。
[0082]這里，第一時(shí)段tl可不同于第二時(shí)段t2。即，第一時(shí)段tl和第二時(shí)段t2可彼此不重疊。第一時(shí)段tl和第二時(shí)段t2可基于像素列的數(shù)量、掃描線的數(shù)量、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的速度等來(lái)設(shè)置。
[0083]如上所述，顯示面板100可在第一時(shí)段tl期間響應(yīng)于第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B對(duì)寫入數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行初始化，并可在不同于第一時(shí)段tl的第二時(shí)段t2期間將第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA寫入數(shù)據(jù)線。
[0084]掃描信號(hào)SCAN[n]可以是供應(yīng)至第η條掃描線的掃描信號(hào)，并且掃描信號(hào)SCAN[n]可在第三時(shí)段t3期間具有高電平。像素可基于響應(yīng)于掃描信號(hào)SCAN[n]寫入到數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)信號(hào)來(lái)發(fā)光。
[0085]測(cè)得的信號(hào)VDATA#1和VDATA#3可以是在分別電連接到第一點(diǎn)亮測(cè)試線221和第二點(diǎn)亮測(cè)試線222的數(shù)據(jù)線上測(cè)得的信號(hào)。
[0086]第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可在第一時(shí)段tl期間由第一測(cè)試電路部分120初始化。第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可保持初始狀態(tài)直至第二時(shí)段t2開始。第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可從第二時(shí)段t2的開始點(diǎn)朝著第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)(例如，6.3V)升高。第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可保持6.3V直至第二時(shí)段t2結(jié)束。這里，根據(jù)數(shù)據(jù)線延遲效應(yīng)，第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可具有拋物線形狀。
[0087]第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可在第一時(shí)段tl期間由第一測(cè)試電路部分120初始化。第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可保持初始狀態(tài)直至第二時(shí)段t2開始。第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可升高。然而，第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可低于第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)(例如，6.3V)。由于第二點(diǎn)亮測(cè)試線222的因非顯示部分中出現(xiàn)的裂痕而導(dǎo)致的增大的電阻使得依據(jù)第二點(diǎn)亮測(cè)試線的數(shù)據(jù)線延遲效應(yīng)增強(qiáng)，因此直至第二時(shí)段t2結(jié)束，第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可達(dá)不到目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓
6.3Vo
[0088]因此，第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可在數(shù)據(jù)信號(hào)被供應(yīng)至像素的點(diǎn)處(或在t3的開始點(diǎn)處)與第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1具有電壓差A(yù)V_SCREEN。電連接至第二點(diǎn)亮測(cè)試線222的像素列可發(fā)射與電連接至第一點(diǎn)亮測(cè)試線221的另外的像素列的光不同顏色的光。
[0089]如上所述，由于點(diǎn)亮測(cè)試線的增大的電阻可使得數(shù)據(jù)線延遲效應(yīng)增強(qiáng)，并且依據(jù)增強(qiáng)的數(shù)據(jù)線延遲效應(yīng)，電連接至點(diǎn)亮測(cè)試線的像素列可發(fā)射與其它像素列不同顏色的光。因此，顯示面板能夠基于電連接至點(diǎn)亮測(cè)試線的像素列的點(diǎn)亮狀態(tài)來(lái)檢測(cè)顯示面板100的內(nèi)部裂痕。
[°09°]圖4A是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖，并且圖4B是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[0091]參照?qǐng)D1、圖4A和圖4B，顯示面板100可包括顯示部分110、第一測(cè)試電路部分120、開關(guān)部分130、第二測(cè)試電路部分140，以及驅(qū)動(dòng)集成電路。
[0092]顯示部分110可包括布置為Pentile矩陣的像素列。顯示部分110可包括第四像素列、第五像素列和第六像素列。第四像素列可包括交替排布的第一像素R和第三像素B。第五像素列可包括以與第四像素列相反的順序交替排布的第一像素R和第三像素B。第六像素列可包括第二像素G。
[0093]第一測(cè)試電路部分120可與參照?qǐng)D2描述的第一測(cè)試電路部分基本類似或相同。然而，圖4A中所示第一測(cè)試電路部分120可根據(jù)Pentile矩陣選擇性地將第一電壓DC_R和第三電壓DC_B供應(yīng)至第四像素列(S卩，第一像素R和第三像素B交替排布的像素列)。第一測(cè)試電路部分120可包括三條子測(cè)試控制線以傳送第一測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE_R、DC_GATE_G和DC_GATE_Bo
[0094]參照?qǐng)D4A，第一至第三電壓0(:_1?、0(:_6和0(:_8(或第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào))，以及第一測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE_R、DC_GATE_G和DC_GATE_B可由從外部部件施加的高電平信號(hào)(例如充入到C中的電壓)來(lái)偏置。因此，第一測(cè)試電路部分120可被關(guān)斷。
[0095]第二測(cè)試電路部分140可與參照?qǐng)D2描述的第二測(cè)試電路部分140基本類似或相同。第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA和第二測(cè)試控制信號(hào)TEST_GATE可由高電平信號(hào)來(lái)偏置。因此，第二測(cè)試電路部分140可被關(guān)斷。
[0096]開關(guān)部分130可響應(yīng)于從驅(qū)動(dòng)集成電路(或第二測(cè)試電路部分)供應(yīng)的開關(guān)信號(hào)CLA和CLB選擇性地將從驅(qū)動(dòng)集成電路供應(yīng)的信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線。
[0097]驅(qū)動(dòng)集成電路可給開關(guān)部分130提供數(shù)據(jù)信號(hào)和開關(guān)信號(hào)CLA和CLB。驅(qū)動(dòng)集成電路可作為柔性印刷電路上的芯片(COF)被安裝在顯示面板100中。
[0098]當(dāng)?shù)诙c(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA由第二測(cè)試電路部分140供應(yīng)至數(shù)據(jù)線用于圖4A的顯示面板100的點(diǎn)亮測(cè)試時(shí)，第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA可與從驅(qū)動(dòng)集成電路供應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)沖突。因此，圖4A的顯示面板的點(diǎn)亮測(cè)試是不可行的。
[0099]參照?qǐng)D4B，除驅(qū)動(dòng)集成電路的第三端子LTPS SIG#3以外，顯示面板100可與圖4A的顯示面板100相同或基本相似。
[0100]第三端子LTPS SIG#3可輸出第三子測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE_G并可經(jīng)由第三子點(diǎn)亮測(cè)試線電連接至第二像素列(例如，G像素列)。第一測(cè)試電路部分120可響應(yīng)于第三子測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE_G將第三電壓DC_G供應(yīng)至第二像素列(例如，G像素列)。
[0101]圖4B的顯示面板100可具有布線，用于得到從驅(qū)動(dòng)集成電路供應(yīng)的第一測(cè)試控制信號(hào)，使得顯示面板100可使用第一測(cè)試電路部分120和開關(guān)部分130生成點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)。雖然圖2和圖4A中所示的顯示面板可使用第一測(cè)試電路部分120和第二測(cè)試電路部分140來(lái)生成點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)，但圖4B的顯示面板可使用第一測(cè)試電路部分120和開關(guān)部分130來(lái)生成點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)。因此，圖4B的安裝有驅(qū)動(dòng)集成電路的顯示面板100的點(diǎn)亮測(cè)試可以是可行的。
[0102]進(jìn)一步，可使用排布在顯示部分110的左側(cè)的第一像素列(S卩，第一像素R和第三像素B交替排布的像素列)來(lái)執(zhí)行點(diǎn)亮測(cè)試。然而，考慮第一像素列的AC特性(或供應(yīng)至第一像素列的信號(hào))的影響，可使用排布有一種類型的像素的第二像素列(例如，綠像素列)來(lái)執(zhí)行點(diǎn)亮測(cè)試。
[0103]下文中，將參照?qǐng)D5對(duì)執(zhí)行點(diǎn)亮測(cè)試(或模塊裂痕檢測(cè)測(cè)試)的測(cè)試圖4B的顯示面板的方法進(jìn)行描述。
[0104]圖5是例示圖4B的顯示面板的點(diǎn)亮測(cè)試結(jié)果的波形圖。在圖5中，假定裂痕在圖4B的顯示面板100的右側(cè)非顯示部分中出現(xiàn)。
[0105]參照?qǐng)D4B和圖5，第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B可具有0V。第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B可以是從圖4B中所示的第一至第三電壓0(:_1?、0(:_6和0(:_8中選出的至少一個(gè)。盡管圖4B中未示出，但從驅(qū)動(dòng)集成電路供應(yīng)至開關(guān)部分130的參考信號(hào)可具有0V。參考信號(hào)可用作第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)。
[0106]開關(guān)控制信號(hào)CLB可在第一時(shí)段tl期間具有低電平，并可在其它時(shí)段具有高電平。因此，開關(guān)部分130可響應(yīng)于開關(guān)控制信號(hào)CLB在第一時(shí)段tl期間將參考信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線。例如，開關(guān)部分中的開關(guān)晶體管可響應(yīng)于開關(guān)控制信號(hào)在第一時(shí)段tl期間被導(dǎo)通，從而驅(qū)動(dòng)集成電路中的源放大器的輸出端子可電連接至數(shù)據(jù)線。因此，開關(guān)部分130可在第一時(shí)段tl期間將寫入到數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)信號(hào)初始化。
[0107]第三子測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE_G(或第一測(cè)試控制信號(hào))可在第二時(shí)段t2期間具有低電平，并可在其它時(shí)段期間具有高電平。因此，第一測(cè)試電路部分120可響應(yīng)于第三子測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE_G(或第一測(cè)試控制信號(hào))在第二時(shí)段t2內(nèi)將第二電壓DC_G(或第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào))傳送至數(shù)據(jù)線。
[0108]掃描信號(hào)SCAN[n](其中，η為正整數(shù))可在第三時(shí)段t3期間具有高電平。像素可基于響應(yīng)于掃描信號(hào)SCAN[n]寫入到數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)光。
[0109]第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可以是在電連接至經(jīng)由沒有出現(xiàn)裂痕(S卩，沒有損壞)的非顯示部分延伸(或被布置)的點(diǎn)亮測(cè)試線的數(shù)據(jù)線處測(cè)得的信號(hào)。第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可以是在電連接至經(jīng)由出現(xiàn)裂痕(即，損壞)的非顯示部分延伸(或被布置)的點(diǎn)亮測(cè)試線的數(shù)據(jù)線處測(cè)得的信號(hào)。
[0110]與參照?qǐng)D3描述的測(cè)得的信號(hào)VDATA#1和VDATA#3類似，第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可在第二時(shí)段t2期間被充入到6.4V。第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可在第二時(shí)段t2的開始點(diǎn)處升高，但由于增強(qiáng)的數(shù)據(jù)線延遲效應(yīng)，直至第二時(shí)段結(jié)束，第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可達(dá)不到目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓6.4V。因此，第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可在數(shù)據(jù)信號(hào)被供應(yīng)至像素的點(diǎn)(S卩，t3的開始點(diǎn))處與第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可具有電壓差Δ V_SCREEN。
[0111]如上所述，測(cè)試顯示面板100的方法可使用第一測(cè)試電路部分120和開關(guān)部分130給數(shù)據(jù)線供應(yīng)第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)和參考信號(hào)。因此，安裝有驅(qū)動(dòng)集成電路的顯示面板100的點(diǎn)亮測(cè)試可以是可行的。
[0112]如參照?qǐng)D2至圖5所描述的，根據(jù)示例實(shí)施例的顯示面板100不僅能夠在驅(qū)動(dòng)集成電路未被安裝在顯示面板100中的情況下執(zhí)行點(diǎn)亮測(cè)試，而且能夠在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板100中的情況下執(zhí)行點(diǎn)亮測(cè)試。例如，安裝有驅(qū)動(dòng)集成電路的顯示面板100能夠使用第一測(cè)試電路部分120和開關(guān)部分130執(zhí)行點(diǎn)亮測(cè)試。因此，根據(jù)示例實(shí)施例的顯示面板100不僅能夠在驅(qū)動(dòng)集成電路未被安裝的情況下使顯示面板中的裂痕被檢測(cè)到，而且能夠在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝的情況下使顯示面板中的裂痕被檢測(cè)到。
[0113]圖6是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[0114]參照?qǐng)D1和圖6，顯示面板100可包括顯示部分110、第一測(cè)試電路部分120、第二測(cè)試電路部分140，以及驅(qū)動(dòng)集成電路。
[0115]顯示面板100可與圖4B的顯示面板相同或基本相似。然而，圖6的顯示面板可不包括開關(guān)部分130。
[0116]參照?qǐng)D6，驅(qū)動(dòng)集成電路可具有與圖4B中所示開關(guān)部分基本類似地開關(guān)功能。例如，驅(qū)動(dòng)集成電路可通過(guò)改變?cè)捶糯笃鱏OURCE AMP#K SOURCE AMP#2、S0URCE AMP#3和SOURCE AMP#4的輸出端子的阻抗來(lái)執(zhí)行開關(guān)操作。即，驅(qū)動(dòng)集成電路可響應(yīng)于源放大器SOURCE AMP#K SOURCE AMP#2、S0URCE AMP#3和SOURCE AMP#4的輸出端子的高阻抗(S卩，H1-Z)與數(shù)據(jù)線電斷開。
[0117]例如，驅(qū)動(dòng)集成電路可在源放大器SOURCE AMP#K SOURCE AMP#2、S0URCE AMP#3和SOURCE AMP#4的輸出端子處包括附加的開關(guān)。
[0118]如上所述，盡管顯示面板100可不包括開關(guān)部分，但顯示面板100能夠使用驅(qū)動(dòng)集成電路的開關(guān)功能在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝的情況下執(zhí)行點(diǎn)亮測(cè)試。
[0119]下文中，可參照?qǐng)D7對(duì)執(zhí)行點(diǎn)亮測(cè)試(或模塊裂痕檢測(cè)測(cè)試)的測(cè)試圖6的顯示面板100的方法進(jìn)行描述。
[0120]圖7是例示圖6的顯示面板的點(diǎn)亮測(cè)試結(jié)果的波形圖。在圖7中，假定裂痕在圖6的顯示面板100的右側(cè)非顯示部分中出現(xiàn)。
[0121 ] 參照?qǐng)D7，第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B、第三子測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE_G(或第一測(cè)試控制信號(hào))和掃描信號(hào)SCAN[n]可與圖5中所示基本相同。由于已參照?qǐng)D5對(duì)第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)DC_R/G/B、第三子測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE_G和掃描信號(hào)SCAN[n]進(jìn)行了描述，因此將不再重復(fù)重復(fù)的描述。
[0122]源放大器的輸出阻抗SOURCE AMP在第一時(shí)段tl期間可以是低的(例如，白)，并且在其它時(shí)段期間可以是高的(例如，H1-Z)。根據(jù)源放大器的阻抗SOURCE AMP，驅(qū)動(dòng)集成電路可在第一時(shí)段tl期間將參考信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線。因此，驅(qū)動(dòng)集成電路可利用輸出阻抗的變化在第一時(shí)段tl期間將寫入到數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)信號(hào)初始化。
[0123]如上所述，第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可以是在電連接至經(jīng)由沒有出現(xiàn)裂痕(S卩，沒有損壞)的非顯示部分延伸(或被布置)的點(diǎn)亮測(cè)試線的數(shù)據(jù)線處測(cè)得的信號(hào)。第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可以是在電連接至經(jīng)由出現(xiàn)裂痕(S卩，損壞)的非顯示部分延伸(或被布置)的點(diǎn)亮測(cè)試線的數(shù)據(jù)線處測(cè)得的信號(hào)。
[0124]第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1可在第二時(shí)段t2期間朝著6.4V增大。第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可在第二時(shí)段t2的開始點(diǎn)處升高。然而，由于增大的數(shù)據(jù)線延遲，直至第二時(shí)段結(jié)束，第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可達(dá)不到6.4V的目標(biāo)電壓。因此，在數(shù)據(jù)被供應(yīng)至像素的點(diǎn)(或t3的開始點(diǎn))處，第二測(cè)得信號(hào)VDATA#3可與第一測(cè)得信號(hào)VDATA#1具有電壓差Δ V_SCREEN。
[0125]如上所述，當(dāng)顯示面板可不包括開關(guān)部分(例如，解復(fù)用器)時(shí)，測(cè)試顯示面板的方法可利用對(duì)驅(qū)動(dòng)集成電路的輸出阻抗的控制使得第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)和參考信號(hào)可被供應(yīng)至數(shù)據(jù)線。因此，該方法可執(zhí)行對(duì)安裝有驅(qū)動(dòng)集成電路的顯示面板(例如，顯示模塊)的點(diǎn)亮測(cè)試。
[0126]類似地，測(cè)試顯示面板的方法可通過(guò)控制第二電路部分并控制驅(qū)動(dòng)集成電路的輸出阻抗來(lái)給數(shù)據(jù)線選擇性地供應(yīng)第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)和參考信號(hào)。因此，該方法可執(zhí)行對(duì)安裝有驅(qū)動(dòng)集成電路的顯示面板(例如，顯示模塊)的點(diǎn)亮測(cè)試。
[0127]圖8是例示圖1的顯示面板的示例的電路圖。
[0128]參照?qǐng)D1和圖8，顯示面板100可包括顯示部分110、第一測(cè)試電路部分120、第二測(cè)試電路部分140和焊盤部分150。
[0129]顯示部分110可包括布置為PentiIe矩陣的像素列。
[0130]第一測(cè)試電路部分120可經(jīng)由第一至第三布線得到從焊盤部分供應(yīng)的第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)0(:_1?、0(:_6和0(:_8。第一測(cè)試電路部分120可包括響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)DC_GATE將第一至第三布線與像素列電連接的測(cè)試晶體管。
[0131]第二測(cè)試電路部分140可包括響應(yīng)于第二測(cè)試控制信號(hào)TEST_GATE將第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)TEST_DATA1和TEST_DATA2從焊盤部分150傳送至數(shù)據(jù)線的晶體管。
[0132]在示例實(shí)施例中，第二測(cè)試電路部分140可包括經(jīng)由非顯示部分的至少一部分延伸(或被布置)的點(diǎn)亮測(cè)試線。
[0133]例如，第二測(cè)試電路部分140可包括經(jīng)由非顯示部分的左側(cè)部分和非顯示部分的左上角延伸(或被布置)的第一點(diǎn)亮測(cè)試線。這里，依照在顯示部分110的左側(cè)的第一像素列(例如，R/B像素列)，第一點(diǎn)亮測(cè)試線可電連接至數(shù)據(jù)線。例如，第二測(cè)試電路部分140可包括經(jīng)由非顯示部分的右側(cè)部分和非顯示部分的右上角延伸(或被布置)的第二點(diǎn)亮測(cè)試線。這里，依照在顯示部分110的右側(cè)的第二像素列(例如，G像素列)，第一點(diǎn)亮測(cè)試線可電連接至數(shù)據(jù)線。在一些示例實(shí)施例中，第一點(diǎn)亮測(cè)試線和第二點(diǎn)亮測(cè)試線可接收不同的點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)(例如TEST_DATA1 和TEST_DATA2)。
[0134]在圖8的顯示面板中，在驅(qū)動(dòng)集成電路未被安裝在顯示面板100中的情況下，對(duì)顯示面板100的點(diǎn)亮測(cè)試可使用第一測(cè)試電路部分120和第二測(cè)試電路部分140來(lái)執(zhí)行。在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板100中的情況下，對(duì)顯示面板100的點(diǎn)亮測(cè)試可使用第一測(cè)試電路部分120和驅(qū)動(dòng)集成電路執(zhí)行。即，在驅(qū)動(dòng)集成電路被安裝在顯示面板100中的情況下，點(diǎn)亮測(cè)試可使用從驅(qū)動(dòng)集成電路供應(yīng)的參考信號(hào)和通過(guò)第一測(cè)試電路120供應(yīng)的點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)來(lái)執(zhí)行。
[0135]根據(jù)一些實(shí)施例，用于檢測(cè)裂痕的測(cè)試顯示面板的方法可在包括顯示部分和非顯示部分的顯示面板中執(zhí)行，其中顯示部分包括電連接至數(shù)據(jù)線的像素列，非顯示部分鄰近顯示部分布置。測(cè)試顯示面板的方法可包括:將經(jīng)過(guò)非顯示部分的至少一部分的第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至向數(shù)據(jù)線傳送第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)的第一測(cè)試電路部分;使用開關(guān)部分將從驅(qū)動(dòng)集成電路供應(yīng)的參考信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線；以及使用第一測(cè)試電路部分將第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線。
[0136]圖9是例示測(cè)試圖1的顯示面板的方法的流程圖。
[0137]參照?qǐng)D1和圖9，測(cè)試顯示面板100的方法可包括:將經(jīng)過(guò)非顯示部分的至少一部分的第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至向數(shù)據(jù)線傳送第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)的第一測(cè)試電路部分(操作S910);使用開關(guān)部分將從驅(qū)動(dòng)集成電路供應(yīng)的參考信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線(操作S920);以及使用第一測(cè)試電路部分將第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線(操作S930)。
[0138]在示例實(shí)施例中，給第一測(cè)試電路部分供應(yīng)第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)可包括將第二測(cè)試電路部分控制在關(guān)斷狀態(tài)。第二測(cè)試電路部分并聯(lián)電連接至開關(guān)部分，并被配置為給數(shù)據(jù)線供應(yīng)經(jīng)過(guò)非顯示部分的至少一部分的第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)。
[0139]在示例實(shí)施例中，傳送第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)可包括給第一測(cè)試電路部分供應(yīng)第一測(cè)試控制信號(hào)；以及響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)將第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至數(shù)據(jù)線。
[0140]本實(shí)施例可應(yīng)用于具有顯示面板的任意顯示設(shè)備。例如，本發(fā)明可應(yīng)用于有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備和液晶顯示設(shè)備，或本發(fā)明可應(yīng)用于電視機(jī)、計(jì)算機(jī)監(jiān)視器、臺(tái)式機(jī)、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、蜂窩手機(jī)、智能手機(jī)、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、便攜式多媒體播放器(PMP)、MP3播放器、導(dǎo)航系統(tǒng)、視頻電話等。
[0141]以上為示例實(shí)施例的例示而不解釋為對(duì)限制進(jìn)行限制。盡管已經(jīng)描述了若干示例實(shí)施例，但本領(lǐng)域技術(shù)人員將容易地想到，在不明顯地偏離示例實(shí)施例的新穎教導(dǎo)和方面的情況下，在示例實(shí)施例中很多修改是可行的。相應(yīng)地，所有的這樣的修改意在包括在如權(quán)利要求書中限定的示例實(shí)施例的范圍內(nèi)。在權(quán)利要求書中，裝置加功能(means-plus-funct1n)句式意在覆蓋本文描述的結(jié)構(gòu)作為執(zhí)行所敘述功能，不僅意在覆蓋結(jié)構(gòu)等同物，而且意在覆蓋等同的結(jié)構(gòu)。因此，將會(huì)理解，上述為示例實(shí)施例的例示而不被解釋為限于所公開的特定實(shí)施例，并且對(duì)所公開示例實(shí)施例的修改，以及其它示例實(shí)施例意在也包括在所附權(quán)利要求的范圍內(nèi)。本發(fā)明由所附權(quán)利要求限定，權(quán)利要求的等同也包括在其中。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種顯不面板，包括: 顯示器，包括電連接至數(shù)據(jù)線的像素列； 非顯示區(qū)域，鄰近所述顯示器； 測(cè)試電路，配置為接收經(jīng)過(guò)所述非顯示區(qū)域的至少一部分的點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)，并響應(yīng)于測(cè)試控制信號(hào)將所述點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線；以及 開關(guān)，配置為從外部部件接收數(shù)據(jù)信號(hào)，并響應(yīng)于開關(guān)信號(hào)將所述數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線。2.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，進(jìn)一步包括: 驅(qū)動(dòng)集成電路，配置為生成所述測(cè)試控制信號(hào)和所述開關(guān)信號(hào)，并向所述開關(guān)供應(yīng)參考信號(hào)， 其中所述驅(qū)動(dòng)集成電路配置為生成所述測(cè)試控制信號(hào)和所述開關(guān)信號(hào)，以將所述點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)和所述參考信號(hào)交替供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線。3.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，其中所述測(cè)試電路包括: 點(diǎn)亮測(cè)試線，經(jīng)由所述非顯示區(qū)域的所述至少一部分延伸，并經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線電連接至所述顯示器的最外側(cè)處的一個(gè)像素列。4.如權(quán)利要求3所述的顯示面板，其中所述顯示器包括: 第一像素列，在所述第一像素列中，發(fā)射第一顏色的光的第一像素和發(fā)射第二顏色的光的第二像素交替排布； 第二像素列，在所述第二像素列中，所述第一像素和所述第二像素以與所述第一像素列相反的順序交替排布；以及 第三像素列，在所述第三像素列中，排布有發(fā)射第三顏色的光的第三像素， 其中所述點(diǎn)亮測(cè)試線電連接至所述第三像素列。5.如權(quán)利要求1所述的顯示面板，進(jìn)一步包括: 預(yù)測(cè)試電路，并聯(lián)電連接至所述開關(guān)，并配置為響應(yīng)于預(yù)測(cè)試控制信號(hào)將預(yù)點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線。6.如權(quán)利要求5所述的顯示面板，其中所述預(yù)測(cè)試電路包括經(jīng)由所述非顯示區(qū)域的所述至少一部分延伸的預(yù)點(diǎn)亮測(cè)試線。7.如權(quán)利要求5所述的顯示面板，其中所述數(shù)據(jù)線在第一時(shí)段期間通過(guò)所述點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)被初始化，并且所述預(yù)點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)在不同于所述第一時(shí)段的第二時(shí)段期間被寫入到所述數(shù)據(jù)線中。8.—種顯不面板，包括: 顯示器，包括電連接至數(shù)據(jù)線的像素列； 非顯示區(qū)域，鄰近所述顯示器； 第一測(cè)試電路，配置為接收經(jīng)過(guò)所述非顯示區(qū)域的至少一部分的第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)，并響應(yīng)于第一測(cè)試控制信號(hào)將所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線； 開關(guān)，配置為從外部部件接收數(shù)據(jù)信號(hào)，并響應(yīng)于開關(guān)信號(hào)將所述數(shù)據(jù)信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線； 第二測(cè)試電路，并聯(lián)電連接至所述開關(guān)，并配置為響應(yīng)于第二測(cè)試控制信號(hào)將第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線；以及 驅(qū)動(dòng)集成電路，配置為生成所述第一測(cè)試控制信號(hào)、所述第二測(cè)試控制信號(hào)和所述開關(guān)信號(hào)。9.如權(quán)利要求8所述的顯示面板，其中所述驅(qū)動(dòng)集成電路配置為使用所述第二點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)將所述第二測(cè)試電路控制在關(guān)斷狀態(tài)，所述驅(qū)動(dòng)集成電路配置為使用所述第一測(cè)試控制信號(hào)，控制所述第一測(cè)試電路在第一時(shí)段期間將所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線，并且所述驅(qū)動(dòng)集成電路配置為使用所述開關(guān)信號(hào)，控制所述開關(guān)在不同于所述第一時(shí)段的第二時(shí)段期間將參考信號(hào)供應(yīng)至所述數(shù)據(jù)線。10.—種測(cè)試顯示面板的方法，所述顯示面板包括顯示器和非顯示區(qū)域，所述顯示器包括電連接至數(shù)據(jù)線的像素列，所述非顯示區(qū)域鄰近所述顯示器，所述方法包括: 將經(jīng)過(guò)所述非顯示區(qū)域的至少一部分的第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)供應(yīng)至向所述數(shù)據(jù)線傳送所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)的第一測(cè)試電路； 使用開關(guān)將從驅(qū)動(dòng)集成電路供給的參考信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線；以及 使用所述第一測(cè)試電路將所述第一點(diǎn)亮測(cè)試信號(hào)傳送至所述數(shù)據(jù)線。
【文檔編號(hào)】G09G3/00GK105938698SQ201610115702
【公開日】2016年9月14日
【申請(qǐng)日】2016年3月1日
【發(fā)明人】郭源奎, 張桓壽, 李丞珪
【申請(qǐng)人】三星顯示有限公司