一種yvo4配對(duì)檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及光學(xué)領(lǐng)域，尤其涉及一種YV04配對(duì)檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]酸釔(YVO4)單晶是一種具有優(yōu)良物理光學(xué)性能的雙折射晶體材料。該晶體透光范圍寬，透過率高、雙折射系數(shù)大、并易于加工。因此，YVO4晶體被廣泛應(yīng)用于光纖通信領(lǐng)域，是光通信無源器件如光隔離器、旋光器、延遲器、偏振器中的關(guān)鍵材料。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的是針對(duì)以上不足之處，提供了一種YV04配對(duì)檢測裝置，用于檢測元器件YV04晶體且進(jìn)行優(yōu)良區(qū)分。
[0004]本實(shí)用新型解決技術(shù)問題所采用的方案是:一種YV04配對(duì)檢測裝置，其特征在于:包括一 LED光源，所述LED光源經(jīng)依次經(jīng)一垂直偏振的起偏器、一法拉第旋轉(zhuǎn)器、二分之一波片和一檢偏器；所述檢偏器的偏振方向與所述起偏器的偏振方向成45°，所述檢偏器和所述起偏器的偏振片為YV04晶體。
[0005]進(jìn)一步的，所述法拉第旋轉(zhuǎn)器與一外部電源電連接，所述法拉第旋轉(zhuǎn)器的旋轉(zhuǎn)角為 45。ο
[0006]進(jìn)一步的，所述LED光源為水平和垂直交錯(cuò)設(shè)置。
[0007]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型有以下有益效果:用于檢測元器件YV04晶體進(jìn)行優(yōu)良區(qū)分，LED光源輸出后經(jīng)YV04起偏作用后，通過法拉第旋轉(zhuǎn)器磁旋轉(zhuǎn)光輸出，再通過二分之一波片輸出，通過YV04檢偏作用下進(jìn)行判斷，主要可檢測光斑重合度，橢圓度，清晰度，以達(dá)到檢測元器件的配對(duì)是否合格。
【附圖說明】
[0008]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型專利進(jìn)一步說明。
[0009]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]圖中:1- LED光源；2_起偏器；3_法拉第旋轉(zhuǎn)器；4_ 二分之一波片；5_檢偏器。
【具體實(shí)施方式】
[0011]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。
[0012]如圖1所示，本實(shí)施例的一種一種YV04配對(duì)檢測裝置，其特征在于:包括一 LED光源1，所述LED光源I經(jīng)依次經(jīng)一垂直偏振的起偏器2、一法拉第旋轉(zhuǎn)器3、二分之一波片4和一檢偏器5 ;所述檢偏器5的偏振方向與所述起偏器2的偏振方向成夾角45°，所述檢偏器5和所述起偏器2的偏振片為YV04晶體。
[0013]從上述可知，本實(shí)用新型的有益效果在于:用于檢測元器件YV04晶體進(jìn)行優(yōu)良區(qū)分，LED光源I輸出后經(jīng)YV04起偏作用后，通過法拉第旋轉(zhuǎn)器3磁旋轉(zhuǎn)光輸出，再通過二分之一波片4輸出，通過YV04檢偏作用下進(jìn)行判斷，主要可檢測光斑重合度，橢圓度，清晰度，以達(dá)到檢測元器件的配對(duì)是否合格。
[0014]在本實(shí)施例中，所述法拉第旋轉(zhuǎn)器3與一外部電源電連接，所述法拉第旋轉(zhuǎn)器3的旋轉(zhuǎn)角為45°。
[0015]在本實(shí)施例中，所述LED光源I為水平和垂直交錯(cuò)設(shè)置。
[0016]下面通過對(duì)本實(shí)施例的具體工作原理對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的解釋。
[0017]LED光源I輸入后，通過YV04起偏器2輸出光垂直偏振光，當(dāng)偏振光通過法拉第旋轉(zhuǎn)器3時(shí)，開啟外部電源，法拉第旋轉(zhuǎn)器3內(nèi)部進(jìn)行切割磁感線，在磁場作用下，光偏振方向旋轉(zhuǎn)角為Φ =FHL，式中H為磁場強(qiáng)度，L為法拉第材料長度，F(xiàn)為材料的賈爾德系數(shù)，使得法拉第旋轉(zhuǎn)器3的旋轉(zhuǎn)角為45°。
[0018]如圖1，當(dāng)LED光源I輸入通過垂直偏振起偏器2后，成為垂直偏振光，經(jīng)過法拉第旋轉(zhuǎn)器3旋轉(zhuǎn)了 45°，法拉第旋轉(zhuǎn)器3旋轉(zhuǎn)的角度存在延遲度，而通過二分之一波片4補(bǔ)足法拉第旋轉(zhuǎn)器3的延遲度。檢偏器5偏振方向和起偏器I偏振方向成45°角，使得光線順利通過，而反射回來的偏振光經(jīng)過檢偏器5、法拉第旋轉(zhuǎn)器3以后，繼續(xù)沿同一方向旋轉(zhuǎn)45°，即偏振方向剛好與起偏器I偏振方向垂直，則光無法反向通過，從而可以判斷YV04晶體作為起偏器和檢偏器的偏振片是否配對(duì)合格。
[0019]綜上所述，本實(shí)用新型提供的一種YV04配對(duì)檢測裝置，不僅結(jié)構(gòu)簡單，可用于檢測光斑重合度，橢圓度，清晰度，以達(dá)到檢測元器件的配對(duì)是否合格。
[0020]上列較佳實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種YV04配對(duì)檢測裝置，其特征在于:包括一 LED光源，所述LED光源經(jīng)依次經(jīng)一垂直偏振的起偏器、一法拉第旋轉(zhuǎn)器、二分之一波片和一檢偏器；所述檢偏器的偏振方向與所述起偏器的偏振方向成45°，所述檢偏器和所述起偏器的偏振片為YV04晶體。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種YV04配對(duì)檢測裝置，其特征在于:所述法拉第旋轉(zhuǎn)器與一外部電源電連接，所述法拉第旋轉(zhuǎn)器的旋轉(zhuǎn)角為45°。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種YV04配對(duì)檢測裝置，其特征在于:所述LED光源為水平和垂直交錯(cuò)設(shè)置。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種YVO4配對(duì)檢測裝置，其特征在于：包括一LED光源，所述LED光源經(jīng)依次經(jīng)一垂直偏振的起偏器、一法拉第旋轉(zhuǎn)器、二分之一波片和一檢偏器；所述檢偏器的偏振方向與所述起偏器的偏振方向成45°，所述檢偏器和所述起偏器的偏振片為YVO4晶體。本實(shí)用新型的有益效果在于：用于檢測元器件YVO4晶體進(jìn)行優(yōu)良區(qū)分，LED光源輸出后經(jīng)YVO4起偏作用后，通過法拉第旋轉(zhuǎn)器磁旋轉(zhuǎn)光輸出，再通過二分之一波片輸出，通過YVO4檢偏作用下進(jìn)行判斷，主要可檢測光斑重合度，橢圓度，清晰度，以達(dá)到檢測元器件的配對(duì)是否合格。
【IPC分類】G01M11/02
【公開號(hào)】CN204788902
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520501926
【發(fā)明人】陳從賀
【申請(qǐng)人】福州恒光光電有限公司
【公開日】2015年11月18日
【申請(qǐng)日】2015年7月13日