技術編號:10118051
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。以往的顯微圖像顆粒粒度粒形分析儀都是在傳統(tǒng)的顯微鏡下,需要人為去移動顯微平臺來捕捉顆粒圖像信息,非常繁瑣,而且人為因素的干擾對測量結(jié)果的精度影響較大。顯微物鏡的視場有限,對于放大后超出視場范圍的大顆粒無法分析,影響了儀器單物鏡倍數(shù)下的測量動態(tài)范圍。如不具備掃描拼接功能的20倍物鏡,分析的粒徑范圍僅僅為1-100微米,不具備掃描功能的顯微顆粒分析儀測試10000個顆粒大概要幾十分鐘,并且顆粒的清晰度需要人為手動的去對焦,精度不夠,不具備實時對焦功能,圖像清晰...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。