技術(shù)編號：10282096
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。目前，公知的可控硅測試方法為測試可控硅正反向電阻值，然后門極加弱電壓，測試可控硅正反向電阻值，根據(jù)測量數(shù)值判斷可控硅好壞。但對于大型傳動系統(tǒng)的可控硅元器件，無法測試可控硅在規(guī)定的壓接力矩下性能，而封閉式安裝對于在線測量可控硅性能較為不便。一旦由于可控硅的制造工藝缺陷造成功率元件擊穿，將造成嚴重的設(shè)備事故，甚至威脅工作人員人身安全。實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種大功率可控硅測試臺，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。