技術(shù)編號(hào)：10317587
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。在長(zhǎng)光程氣體樣品池的裝調(diào)與測(cè)試中，需要不間斷的監(jiān)測(cè)出射光信號(hào)與入射光信號(hào)的強(qiáng)度比值，以評(píng)估長(zhǎng)光程樣品池的光學(xué)性能。傳統(tǒng)的測(cè)試方式是以光譜儀為測(cè)試裝置，將待測(cè)樣品池安裝在光譜儀的樣品室，分析樣品池安放前后的光強(qiáng)變化從而對(duì)樣品池性能做出評(píng)估，在裝調(diào)過程中，其存在一些不足1)傳統(tǒng)的測(cè)試方式的信號(hào)源由紅外光源經(jīng)過干涉儀得到，而干涉儀價(jià)格較高，尤其是紅外干涉儀;2)傳統(tǒng)的測(cè)試裝置樣品室結(jié)構(gòu)固定，空間狹小，樣品池測(cè)試需要配套的卡口，且位置固定，裝調(diào)極為不便;3)傳統(tǒng)的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。