技術(shù)編號(hào)：10421590
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。在集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中，集成電路測試是唯一一個(gè)貫穿集成電路生產(chǎn)和應(yīng)用全過程的產(chǎn)業(yè)。如果集成電路設(shè)計(jì)沒有通過原型的驗(yàn)證測試，就不可能投入量產(chǎn);量產(chǎn)中，如果沒有通過探針測試臺(tái)的中測，就無法在下一個(gè)工序中進(jìn)行封裝;而封裝后的成品測試(成測)又是集成電路產(chǎn)品的最后工序，只有測試合格的電路才可能作為正式的集成電路產(chǎn)品出廠。而在隨后的市場流通和工程應(yīng)用中，集成電路還必須經(jīng)過多種不同應(yīng)用目標(biāo)和不同使用條件的綜合性或特需性測試?，F(xiàn)有技術(shù)中的集成電路的檢測都是通過具有探針的測試...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。