技術(shù)編號(hào)：10470380
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 在集成電路設(shè)計(jì)過程中驗(yàn)證與測試占有重要的地位，現(xiàn)階段忍片測試的機(jī)臺(tái)廣泛 使用的測試平臺(tái)，其測試pattern (測試激勵(lì)文件）是通過波形文件轉(zhuǎn)換而來的。 在忍片的功能測試時(shí)，并不需要對時(shí)序進(jìn)行約束，那么測試激勵(lì)中的時(shí)序信息可 W忽略，目前，測試人員一般通過修改測試激勵(lì)、重新生成波形文件或者分割波形文件，將 波形文件截?cái)啵瑥亩_(dá)到修改波形文件的目的，進(jìn)而達(dá)到符合要求的測試激勵(lì)文件，但是由 于其過程繁瑣，容易造成測試效率低下的問題，運(yùn)是本領(lǐng)域技術(shù)人員所不愿看...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。