技術(shù)編號：10532251
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。 光學(xué)干涉測量方法，是利用光的干涉進行測量的，靈敏度比較高，在變形測量中占 有十分重要的地位，如電子散斑干涉、全息干涉、云紋干涉法等。干涉測量方法包含兩部分 內(nèi)容光路設(shè)置和變形條紋的信息提取。由于位移測量的靈敏度跟測量裝置中的照明光的 照射角度相關(guān)，因此不同的測量裝置，可以測量不同方向的位移分量。邁克爾遜光路只對離 面位移敏感，對稱光路只對面內(nèi)位移敏感。光路設(shè)置完成以后，來自物面的物光和直接照射 記錄介質(zhì)的參考光相干涉，形成干涉圖像;干涉圖像一般是以干涉條...
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