技術編號:10545428
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。遙控鑰匙雜散發(fā)射測試需要在全電波暗室進行,由于遙控鑰匙需要按壓才能發(fā)射信號,而市場上的機器手不僅需要通電,且大量使用金屬,如用于遙控鑰匙雜散發(fā)射測試會造成電磁波反射干擾、影響測試結果,目前一般采用人工擠按的方式開展測試,不僅費時費力、擠按頻率也不能保證、多次測試結果一致性差。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術中存在的技術問題之一。為此,本發(fā)明提供一種,目的是避免出現(xiàn)電磁波干擾,提高測試準確性。為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采取的技術方案為—種遙控鑰匙雜散發(fā)射測試...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。