技術(shù)編號：10568399
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。原位微納米力學(xué)測試技術(shù)是指在微納米尺度下對試件材料進(jìn)行力學(xué)性能測試過程中，通過電子顯微鏡、原子力顯微鏡或光學(xué)顯微鏡等成像儀器對載荷作用下材料發(fā)生的微觀變形、損傷直至失效破壞的過程進(jìn)行全程動態(tài)監(jiān)測的一種力學(xué)測試技術(shù)。掃描電鏡下的原位拉伸測試技術(shù)作為原位微納米力學(xué)測試的重要手段，是指在對試件材料進(jìn)行拉伸測試過程中，通過引入光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡等儀器對拉伸過程中材料組織及結(jié)構(gòu)發(fā)生的微觀變形、損傷失效的過程進(jìn)行在線觀測的一種技術(shù)，能夠更深入地揭示各類材料及其制品...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。