技術(shù)編號(hào)：10592181
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。由于完成一發(fā)光纖的纏繞耗時(shí)較長(zhǎng)，且纏繞件體積大，層數(shù)多，纏繞過程中光纖繞組需在一定范圍內(nèi)左右移動(dòng)，因此容易出現(xiàn)光纖爬臺(tái)、擠出、下陷、下滑、刷子毛殘留等缺陷。現(xiàn)階段光纖纏繞質(zhì)量主要靠人眼來(lái)檢驗(yàn)，容易出現(xiàn)“漏檢”的情況。針對(duì)光纖纏繞缺陷檢測(cè)，申請(qǐng)?zhí)枮?01210189025.1的中國(guó)專利公開了一種基于機(jī)器視覺技術(shù)的實(shí)時(shí)光纖繞制缺陷檢測(cè)方法，是采用機(jī)器視覺技術(shù)，按抽樣檢測(cè)方法，檢測(cè)普通光纖環(huán)的缺陷，該方法適用于體積小、纏繞速度較慢、精度低的物件。申請(qǐng)?zhí)枮?012...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。