技術(shù)編號(hào)：10593055
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。測(cè)試墊(Cell test pad)是面板設(shè)計(jì)中用來測(cè)試cell里各項(xiàng)性能的扎針用的一組大小均一的層疊導(dǎo)體塊，由第一金屬M(fèi)l，第二金屬M(fèi)2及ITO三層通過打孔交叉混合組成。由于占據(jù)面積較大，如何優(yōu)化pad的空間分布，最大化利用面板(pane I)空間，使之能更多的檢測(cè)cell的性能，以達(dá)到更好的提升產(chǎn)品質(zhì)量和研發(fā)效率?，F(xiàn)有的cell test pad布局有兩種，一種是采用pad與并排排列，如圖la，，這樣的排列方式造成空間占用過大，利用率較低。另一種是采用...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。